METHOD FOR TESTING WHOLE CHANNEL LOOP BACK TESTING METHOD FOR RELAY AND SWITCHING DEVICE 中継器用全チャネルループバック試験方法及び切替装置 - 特許庁
FRICTION TESTING METHOD AND DEVICE 摩擦試験方法および装置 - 特許庁
PNEUMATIC TYPE VIBRATION TESTING DEVICE 空気圧式振動試験装置 - 特許庁
IMMUNITY TESTING DEVICE 妨害排除能力試験装置 - 特許庁
WATER FLOW TYPE FISH TESTING APPARATUS 流水式魚類試験装置 - 特許庁
STRENGTH TESTING MACHINE OF STRUCTURE 構造体の強度試験装置 - 特許庁
ANALYTE TESTING METHOD AND SYSTEM 検体試験方法及びシステム - 特許庁
TESTING CIRCUIT FOR LSI PROVIDED WITH FUNCTIONAL BLOCK, AND TESTING METHOD THEREFOR 機能ブロックを備えたLSIのテスト回路及びテスト方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND APPARATUS FOR IMPROVING YIELD RATIO OF TESTING OF MEMBERS 部材の検査歩留りを向上させる検査方法と装置 - 特許庁
HYDRAULIC SERVO TYPE MATERIAL TESTING MACHINE 油圧サーボ式材料試験機 - 特許庁
ENGINE TESTING METHOD AND DEVICE エンジン試験方法および装置 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR DATA STORAGE DEVICE データ記憶装置の試験装置 - 特許庁
SOIL-FILLED COLUMN TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD USING THE SAME 土壌充填カラム試験装置及びそれを用いた試験方法 - 特許庁
POWER SUPPLY CIRCUIT AND TESTING APPARATUS 電源回路及び試験装置 - 特許庁
POWER SOURCE DEVICE, AND TESTING DEVICE 電源装置及び試験装置 - 特許庁
POWER CIRCULATION TYPE TESTING APPARATUS 動力循環式試験装置 - 特許庁
To provide testing device, test method and integrated circuit for testing a circuit having a counter, in a short time. カウンタを有する回路のテストを短時間で行うこと。 - 特許庁
admit to testing or proof
検査あるいは試験を認める - 日本語WordNet
the testing of an idea
ある考えを試してみること - 日本語WordNet
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING TIME OPTIMIZING METHOD 半導体テスト装置および半導体テスト時間最適化方法 - 特許庁
EVALUATION TESTING ARRANGEMENT AND EVALUATION TESTING METHOD OF FOULING INHIBITOR ファウリング防止剤の評価試験装置および評価試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE 半導体集積回路装置の試験方法および試験装置 - 特許庁
TESTING SUPPORT DEVICE, FALSE ACTIVE CALL DEVICE, TESTING SUPPORT DEVICE CONTROL PROGRAM, AND TRANSMISSION PROCESSING APPARATUS TESTING METHOD 試験支援装置、疑似呼装置、試験支援装置制御プログラム、及び、通信処理装置試験方法 - 特許庁
This testing device for the automobile 1 is an automobile testing device for testing the performance of the automobile as a testing object X. この自動車用試験装置1は、自動車を試験対象Xとして性能試験を行う自動車用試験装置である。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR CIRCUIT AND TESTING METHOD 半導体回路と試験方法 - 特許庁
THERMOSTATIC DEVICE FOR TESTING AND PERFORMANCE-TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER 試験用恒温装置及び半導体ウエハの性能試験装置 - 特許庁
TEST PIECE GRIPPING TOOL FOR MATERIAL TESTING MACHINE AND MATERIAL TESTING MACHINE 材料試験機用試験片つかみ具および材料試験機 - 特許庁