「Testing」を含む例文一覧(14414)
＜前へ 1 2 .... 42 43 44 45 46 47 48 49 50 .... 288 289 次へ＞- TESTING DEVICE FOR ACTUATOR DRIVING CIRCUIT
アクチュエータ駆動回路の試験装置 - 特許庁 - MULTI-STROBE CIRCUIT AND TESTING DEVICE
マルチストローブ回路および試験装置 - 特許庁 - DYNAMIC BALANCE TESTING MACHINE FOR PROPELLER SHAFT
プロペラシャフト用動釣合い試験機 - 特許庁 - LEAKAGE TESTING MODULE FOR FUEL STEAM
燃料蒸気の漏れ検査モジュール - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE
半導体集積回路試験装置 - 特許庁 - MICROCOMPUTER AND ITS TESTING METHOD
マイクロコンピュータ及びその試験方法 - 特許庁 - APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR, AND METHOD OF TESTING PARASITIC EFFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体試験装置および半導体素子の寄生効果試験方法 - 特許庁 - To have Portage use the testing branch, add a ~ in front of your architecture.
Portageにtestingブランチを利用させるには、アーキテクチャの前に~を追加してください。 - Gentoo Linux - # /etc/init.d/totd start# rc-update add totd default Client configuration and testing
クライアントの設定と確認 - Gentoo Linux - Testing Using a Simple Assertion
単純なアサーションを使用したテスト - NetBeans - Compare: Testing Using a Timeout (JUnit 4)
比較: タイムアウトを使用したテスト (JUnit 4) - NetBeans - Compare: Testing Using a Timeout (JUnit 3)
比較: タイムアウトを使用したテスト (JUnit 3) - NetBeans - SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING UNIT, AND SEMICONDUCTOR TESTING CIRCUIT
半導体デバイス、半導体デバイス試験ユニット及び半導体試験回路 - 特許庁 - PROBER FOR TESTING SUBSTRATE AT LOW TEMPERATURE
低温で基板を試験するプローバ - 特許庁 - AUTOMATIC TESTING APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROGRAM FOR AUTOMATIC TESTING APPARATUS
半導体デバイスの自動試験装置、及び自動試験装置用プログラム - 特許庁 - (iv) Division of the Testing Method for which the test shall be conducted in the testing laboratory accredited
四 登録を受けた試験所において行う試験方法の区分 - 日本法令外国語訳データベースシステム - PULL-OUT RESISTANCE TESTING DEVICE FOR LOCK BOLT AND LOCK-BOLT PULL-OUT RESISTANCE TESTING METHOD
ロックボルト用引抜抵抗試験装置及びロックボルト引抜抵抗試験方法 - 特許庁 - TESTING METHOD FOR SINTERED BODY, FLAW INSPECTION METHOD FOR SPECIMEN AND TESTING MACHINE
焼結体の試験方法、供試体の欠陥検査方法、試験装置 - 特許庁 - TEST BASAL PAPER AND TESTING METHOD
検査用基紙および検査方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING HYDRAULIC PRESSURE OF SOFT PIPE
軟質管の水圧検査方法 - 特許庁 - ENVIRONMENTAL TESTING EQUIPMENT FOR ELECTRONIC COMPONENT
電子部品用環境試験装置 - 特許庁 - MICRO FLUID DEVICE, METHOD FOR TESTING SOLUTION TO BE TESTED, AND SYSTEM FOR TESTING THE SAME
マイクロ流体デバイス並びに試液の試験方法および試験システム - 特許庁 - SIMPLIFIED SUBSCRIBER'S LINE TESTING SYSTEM
簡易加入者回線試験方式 - 特許庁 - TESTING APPARATUS OF POWER TRANSMISSION MECHANISM
動力伝達機構の試験装置 - 特許庁 - EXTERNAL PRESSURE LOAD-TESTING DEVICE OF STEEL PIPE
鋼管の外圧負荷試験装置 - 特許庁 - TESTING DEVICE FOR POWER TRANSMISSION DEVICE
動力伝達機構の試験装置 - 特許庁 - LIQUID TANK-TYPE HEAT SHOCK TESTING DEVICE
液槽式熱衝撃試験装置 - 特許庁 - DETECTOR AND TESTING METHOD THEREFOR
検出装置及びそのテスト方法 - 特許庁 - LIQUID VESSEL TYPE THERMAL SHOCK TESTING DEVICE
液槽式熱衝撃試験装置 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR TESTING CELL
セルをテストするシステムおよび方法 - 特許庁 - TESTING DEVICE OF POWER TRANSMISSION MECHANISM
動力伝達機構の試験装置 - 特許庁 - THERMAL SHOCK TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD FOR THERMAL SHOCK TEST
冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法 - 特許庁 - APPARATUS FOR TESTING POWER CONVERSION APPARATUS
電力変換装置の試験装置 - 特許庁 - IMMUNOLOGICAL TESTING METHOD OF SPECIMEN, AND TESTING INSTRUMENT USED THEREIN
検体の免疫学的検査方法及びその方法に用いる検査器具 - 特許庁 - TESTING DEVICE FOR CONNECTING STRUCTURE OF SECONDARY CELL, AND TESTING METHOD FOR THE SAME
二次電池用連接構造体の検査装置およびその検査方法 - 特許庁 - IC TESTING APPARATUS FOR HIGH-SPEED DEVICE
高速デバイス用ＩＣ試験装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR TESTING PATTERN
パターン検査方法及びその装置 - 特許庁 - DEVICE FOR TESTING WHEEL SUSPENSION OF VEHICLE
車両ホイールサスペンション試験装置 - 特許庁 - BATCH WISE JET STREAM TYPE TESTING EQUIPMENT
回分式噴流層試験装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED-CIRCUIT TESTING APPARATUS
半導体集積回路試験装置 - 特許庁 - PRESSURE TESTING DEVICE OF PRESSURE CONTAINER
圧力容器の耐圧試験装置 - 特許庁 - JITTER-MEASURING APPARATUS AND TESTING APPARATUS
ジッタ測定装置、及び試験装置 - 特許庁 - CONCRETE NEUTRALIZING DEPTH TESTING DEVICE
コンクリート中性化深さ検査装置 - 特許庁 - UNIT-TYPE GENERATOR LOAD-TESTING DEVICE
ユニット式発電機負荷試験装置 - 特許庁 - TESTING DEVICE, AND CONTROL METHOD THEREFOR
テスト装置、及びその制御方法 - 特許庁 - To provide a testing device capable of testing a MIMO (Multiple Input Multiple Output) radio apparatus.
ＭＩＭＯ無線機の試験を行える試験装置を提供する。 - 特許庁 - WORK CONDITION OBSERVING AND TESTING MACHINE, AND WORK CONDITION OBSERVING AND TESTING METHOD
加工状況観察試験機および加工状況観察試験方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING CHARACTERISTICS OF COMMUNICATION DEVICE
通信機器の特性試験方法 - 特許庁 - SAMPLER FOR TESTING BACTERIA
細菌検査用サンプル収集装置 - 特許庁 - The testing current is adjusted by a testing current adjustment apparatus 21.
この試験電流は試験電流調整装置２１で調整される。 - 特許庁
- 特許庁
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- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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