「Transmission Electron Microscopy」に関連した英語例文の一覧と使い方

「Transmission Electron Microscopy」を含む例文一覧(12)

To provide a transmission electron microscopy grid.
本発明は、透過型電子顕微鏡グリッドに関する。 - 特許庁
Transmission electron microscopy contributes to the progress of materials science.
透過電子顕微鏡法は、材料科学の進歩に貢献する。 - 科学技術論文動詞集
This assumption was supported by transmission electron microscopy studies.
この仮定は透過型電子顕微鏡（TEM）の研究によって支持された。 - 英語論文検索例文集
METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY
透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法および装置 - 特許庁
A modern TEM equipped with an omega filter performs energy-filtering transmission electron microscopy.
オメガフィルタを装備した近代のTEMは、エネルギーフィルタ透過電子顕微鏡法を成し(やり)遂げる。 - 科学技術論文動詞集
To provide a new method for phase contrast imaging in transmission electron microscopy.
透過型電子顕微鏡法における位相コントラスト結像のための新しい方法を提供すること。 - 特許庁
TDS stands for thermal diffuse scattering and HAADF-STEM (stands) for high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy.
(略語の)TDSは熱散漫散乱を表わし、そしてHAADF-STEMは高角度円環状暗視野走査透過電子顕微鏡法を表わす。 - 科学技術論文動詞集
The book presents the theory of image and contrast formation, and the analytical modes in transmission electron microscopy.
その本は、透過電子顕微鏡法における像とコントラスト形成の理論および分析の方法を示す。 - 科学技術論文動詞集
In a method of producing samples for transmission electron microscopy, a sample is prepared from a substrate (110) of a sample material.
透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法の場合、サンプルはサンプル材料の基材（１１０）から準備される。 - 特許庁
To measure a concentration of an optional element in a sample containing a plurality of elements while maintaining high spatial resolution in an electron energy spectroscope (energy-filter)-transmission electron microscope.
電子線エネルギー分光器(Energy−Filter)−透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscopy)において高い空間分解能を維持しながら複数の元素を含む試料中の任意の元素濃度を測定する。 - 特許庁
To provide a method of producing a sample for transmission electron microscopy that effectively restricts the zone of the sample, is rapidly produced in a reproduced form, and hardly causes breakage in many different sample materials, and a device appropriate for executing the method.
サンプルが、効果的に区域限定されかつ再現されるような形で迅速に作成されることを可能にすると共に、多数の異なるサンプル材料に関して損傷を殆ど引き起こさない透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法、および該方法を実施するのに適した装置を提供する。 - 特許庁
To provide a standard sample for evaluating silicon single crystal wafers containing octahedral BMD (bulk micro defects) in high density, of which the sizes can be found by LST (laser scattering tomography) and which can be measured by TEM (transmission electron microscopy) for size definition, its manufacturing method, and an evaluating method by using the correlation sample.
ＬＳＴで欠陥サイズを求めることができ、かつサイズ定義に必要なＴＥＭで測定できる八面体のＢＭＤを高密度で含むシリコン単結晶ウェーハ評価用の標準サンプル、その製造方法及び標準サンプルを用いた評価方法を提供する。 - 特許庁

「Transmission Electron Microscopy」を含む例文一覧(12)

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