「Unit test」を含む例文一覧(1133)

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  • The test cell is turned back at the subscriber side end of the ATM terminating apparatus 2 and when the private unit 4 confirms that the test cell pattern is normal and has no error, an LP2 release cell is transmitted from the private unit 4 to the ATM terminating apparatus 2.
    この試験用セルは、ＡＴＭ終端装置２の加入者側末端で折り返され、自社局内装置４にて、この試験用セルパタンに誤りがなく正常であると確認されると、自社局内装置４からＡＴＭ終端装置４へＬＰ２解除セルが送信される。 - 特許庁
  • The inspection device for ISPs is provided with a placing unit for placing an ISP on for testing, an inspection portion which performs an electric and image test of the ISP, with a lens and a light source arranged above the ISP, and a controlling and processing unit, having a tester module for performing the electric and image test of the ISP.
    ＩＳＰの検査装置は、ＩＳＰがテストのために載置される載置ユニットと、ＩＳＰの上部にレンズ及び光源を設けて前記ISPを電気及びイメージテストする検査部と、ＩＳＰの電気及びイメージテストを行うテスターモジュールを有する制御及び処理ユニットと、を備える。 - 特許庁
  • To provide a testing method by which the deterioration state of the sealing part of a double-glazing unit may be recognized with a smaller number of test specimens for a durability test for investigating such deterioration of the double-glazing unit with lapse of time that a desiccant gradually absorbs moisture and dew condensation is liable to occur in a hollow layer.
    乾燥剤が徐々に吸湿して、中空層が結露しやすくなるという複層ガラスの経年劣化を調べるための耐久性試験について、少ない試験体数で、耐久性試験による複層ガラスの封着部の劣化状態が把握できる試験方法を提供する。 - 特許庁
  • Since a data base 14 has plural pieces of fault data respectively corresponding to plural faults, the test unit 13 can specifically test the cause of the individual fault on the basis of the fault data corresponding to the individual fault detected by the fault detection unit 10.
    データベース１４は、複数の障害にそれぞれに対応する複数の障害データを有しているので、試験ユニット１３は、障害検出ユニット１０が検出した個別的障害に対応する障害データに基づいて個別的障害の原因を具体的に試験することができるようになる。 - 特許庁
  • When it is judged that the top read unit 1081 has read the test chart recording surface, the top read data are sampled and when it is judged that the reverse read unit 1,082 has read the test chart recording surface, the reverse read data are sampled.
    そして、表面読み取り部１０８１がテストチャート記録面を読み取っていたと判定した場合、表面読み取りデータのサンプリング処理を行い、裏面読み取り部１０８２がテストチャート記録面を読み取っていたと判定した場合、裏面読み取りデータのサンプリング処理を行う。 - 特許庁
  • If an RGB ratio calculated by a control unit 11 using R, G and B values of pixels of the test pattern in the captured image is not within a predetermined target range, the image processing unit 15 continuously adjusts the R, G and B values of the pixels of the test pattern until said ratio becomes a ratio within the predetermined target range.
    撮像画像中のテストパターンの各画素のＲ値、Ｇ値及びＢ値を用いて制御部１１が算出したＲＧＢ比率が所定の目標範囲内の比率でない場合、この比率となるまで、画像処理部１５はテストパターンの各画素のＲ値、Ｇ値及びＢ値を調整する。 - 特許庁
  • When an ATM terminating apparatus 2 receives an LP2 detection cell (loop detection cell) from a private unit 4 through an electric communication enterpriser 3, a transition is made to a turn back test mode and a test cell is transmitted from the private unit 4 to the ATM terminating apparatus 2.
    ＡＴＭ終端装置２において、自社局内装置４から電気通信事業者３を介してＬＰ２検出セル（ループ検出用セル）が受信されると、折り返し試験モードに移行され、自社局内装置４からＡＴＭ終端装置２へ試験用セルが送信される。 - 特許庁
  • A tester part 31 has a testing unit 32 composed of a plurality of cards mounted with an LSI in the same as the inspection object LSI, and electrically connected to the test card by removing one card among these cards, a PC 33 for controlling operation of the testing unit, and a test program 34.
    テスタ部３１は、被検査ＬＳＩと同じＬＳＩが実装されている複数枚のカードから構成され、その中でカード１枚を取り除いてテストカードに電気的に接続されるテスト用ユニット３２と、テスト用ユニットを動作制御するＰＣ３３と、テストプログラム３４を有する。 - 特許庁
  • To provide a receptacle to test a display panel with which an adjustment of a contact position of an electrode terminal of a display panel with a contact unit of a wiring substrate can be properly performed and which can be used for an accurate test.
    表示パネルの電極端子と配線基板の接触子との接触位置の調整を適正に行うことができ、正確な検査に供することができる表示パネル検査用ソケットを提供すること。 - 特許庁
  • The machine language data is read through an external bus IF5 and carried out by the CPU 4 to generate a test pattern to the memory chip 2 through a memory IF 6, and the CPU 4 carries out the unit test of the memory chip 2.
    そして、この機械語データをＣＰＵ４が外部バスＩＦ５を介して読み込んで実行し、メモリＩＦ６を介してメモリチップ２へテストパターンを発生させ、ＣＰＵ４がメモリチップ２の単体検査を実施する。 - 特許庁
  • The main control unit also makes changes in order to change a change result of a test value changed by the expected value changing data on the basis of change method information associated with the extracted third test value.
    また、主制御部は、前記抽出した第３検査値に対応付けられた変更方法情報に基づいて、期待値変更用データで変更した検査値の変更結果を変化させるための変更を行う。 - 特許庁
  • A test piece manufacturing apparatus 10 includes a stage 220 where a board is placed, and a laser beam unit 260 which irradiates the board placed on the stage 220 with a laser beam and cuts a test piece including an analysis area out of the board.
    試片製造装置１０は、基板が置かれるステージ２２０と、前記ステージ２２０に置かれた前記基板にレーザービームを照射し、前記基板から分析領域を含む試片を切り出すレーザービームユニット２６０とを含む。 - 特許庁
  • A test module part 22 of the display unit 2 selectively transfers the change notification of a preregistered picture or picture configuration components with a test procedure execution engine part 12, and the engine part 12 performs operation confirmation.
    同表示器２内の試験モジュール部２２は、予め登録された画面又は画面構成部品の表示変更通知を選択的に試験手順実行エンジン部１２との間でやり取りし、同部１２は動作確認を行う。 - 特許庁
  • The frequency band converting circuit 30 limits the frequency band of the input signal of the frame length from the unit length dividing circuit 20 to a frequency band testable by a test circuit 40 and passes it to the test circuit 40.
    帯域変換回路３０は単位長分割回路２０からのフレーム長の入力信号が持つ周波数帯域を、検定回路４０が検定可能な周波数帯域に制限し検定回路４０に渡す。 - 特許庁
  • To provide a communication system in which a time for maintenance or test can be shortened by improving efficiency in the maintenance or the evaluation test in the communication system provided with a communication control unit, a base station device, a terminal device and attached devices.
    回線制御装置、基地局装置、端末装置、付属装置を含む通信システムにおいて、保守作業や評価試験の効率化を図り、保守作業や試験時間の短縮化が可能な通信システムを提供する。 - 特許庁
  • The test unit 1 can test the transmission reception relation between one optical sector 5a and the directivity antenna 3a whose position corresponds to the sector 5a in one to one correlation so as to avoid interference from the other sectors 5d-5f.
    任意の１つのセクタ５ａとそれに位置対応する指向性アンテナ３ａとの間の送受信関係が１対１の対応で試験され、他のセクタ５ｂ〜５ｆとの干渉を回避した試験が可能になる。 - 特許庁
  • The projector 1 projects, onto a screen 3, a white or gray test pattern (color adjustment image) formed on a projection device 14 by an image processing unit 15, and the test pattern projected on the screen 3 is imaged by a camera 12.
    プロジェクタ１は画像処理部１５が投射デバイス１４上に形成させた白又は灰色系のテストパターン（色調整用画像）をスクリーン３へ投射し、スクリーン３に投射されたテストパターンをカメラ１２で撮像する。 - 特許庁
  • To provide an element array apparatus for a semiconductor element test handler capable of shortening a mounting time on a test tray by arraying semiconductor elements with a constitution capable of driving separately an aligner and a lower part pushing unit.
    アライナと下部プッシングユニットが別に駆動するように構成して半導体素子を整列することでテストトレイに装着する時間を短縮できるようにした半導体素子のテストハンドラ用素子整列装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a charge and discharge control circuit and a rechargeable power unit provided with a charge and discharge control terminal having a test function and capable of switching among a normal application state, a charge and discharge state and a test state.
    テスト機能を兼有する充放電制御端子を備え、通常応用状態、充放電禁止状態及びテスト状態を切り替えることが可能な充放電制御回路及び充電式電源装置の提供。 - 特許庁
  • A semiconductor storage includes a first generation unit for generating signals for selecting a test from a plurality of tests, a potential generation unit for generating potential based on the signals, one wiring connected to the potential generation unit, an extraction unit connected to the wiring for extracting the signals based on the potential of the wiring, and a second generation unit for generating test signals based on the converted signals.
    本実施形態の半導体記憶装置は、複数のテストからテストを選択する信号を生成する第１生成部と、前記信号に基づいた電位を生成する電位生成部と、前記電位生成部に接続された１の配線と、前記配線と接続され、前記配線の電位に基づいた前記信号を抽出する抽出部と、変換された前記信号に基づいてテスト信号を生成する第２生成部とを備えることを特徴とする。 - 特許庁
  • The test tube preparation device for pasting labels to test tubes necessary for inspecting patients includes a test tube storage in the lower side of a device body, a label pasting unit having a label printer and a label pasting means after printing in the upper side of the device body, and a tray unit for recovering test tubes after pasting labels every patient in the intermediate portion of the device body.
    患者の検査に必要な試験管にラベルを貼着し、ラベル貼着後の試験管を患者ごとにトレイへ収納して準備する試験管の準備装置において、装置本体の下部側に試験管収容部を配置し、装置本体の上部側にラベルプリンター及び印字後のラベル貼付手段を備えたラベル貼付ユニットを配置し、装置本体の中間部にラベル貼着後の試験管を患者ごとに回収するトレイユニットを配置する。 - 特許庁
  • Each address of a normal unit to be replaced is stored by memory units corresponded to redundant units respectively, a self-test unit performs a function test of a memory cell by the prescribed holding time of contents of a memory cell, successively, analysis that which of normal units is to be replaced by which of redundant unit is performed.
    冗長ユニットにそれぞれ対応付けられているメモリユニットにより、置換すべき通常のユニットの各々のアドレスを記憶し、自己テストユニットは、メモリセル内容の所定の保持時間を以てメモリセルの機能検査を実施し、それに引き続いて、通常のユニットのうちどれを、冗長ユニットのどれと置換するべきであるかの解析が実施される。 - 特許庁
  • A disposable test unit 20 is installed on a carrying tape 18 that can be taken up, the carrying tape is taken up on a unwinding coil 14, and it is connected to a take-up coil 16, so that the test unit can be continuously supplied to a user by unwinding the carrying tape in the method for manufacturing the diagnostic tape unit.
    巻上可能の搬送テープ１８上に使い捨てテストユニット２０が取り付けられ、かつ搬送テープが巻戻コイル１４上に巻き付けられ、かつ巻付コイル１６に接続され、その結果、テストユニットが利用者に対して搬送テープの巻戻しによって連続的に供給可能である診断用テープユニットの製造方法を提案する。 - 特許庁
  • The remote maintenance system of dental chair unit is constituted such that the dental chair unit of a user, the testing device and the maintenance test conducting device of the remote maintenance center are connected to each other by computer network, and the maintenance test conducting device of the remote maintenance center and a maintenance technical expert conduct or support maintaining work of the chair unit to be maintained of the user site through the network.
    ユーザーの歯科用チェアユニット及びテスト装置と、遠隔保守センタの保守テスト処理装置との間をコンピュータネットワークで結び、ユーザサイトの保守対象チェアユニットの保守作業を、遠隔保守センタの保守テスト処理装置及び保守専門技術者が、ネットワークを介して実施あるいは支援する歯科用チェアユニットの遠隔保守システム。 - 特許庁
  • To check the display operation of a display unit in detail, based on test display data stored beforehand in a performance image memory device.
    演出画像記憶装置に予め記憶させておいたテスト表示データに基づいて表示器の表示動作を詳細にチェックすることができる。 - 特許庁
  • To provide a POS probe unit which can severely test a communication state at each sampling period and to provide a testing system of the same.
    サンプリング期間毎の通信状況を厳密に試験することができるＰＯＳプローブ装置及び当該装置の試験システムを提供する。 - 特許庁
  • To make a flash memory, etc., of multiple bit configuration a basic element and to reduce test cost of a memory card performing an input-output operation of data in one-bit unit.
    多ビット構成のフラッシュメモリ等を基本素子とし、１ビット単位でデータの入出力動作を行うメモリカードの試験コストを低減する。 - 特許庁
  • A peer control part 21 starts a peer processor 3 until it reaches the number of peers by unit of starting period on the basis of the test condition initialization signal S1.
    ピア制御部２１は試験条件初期化信号Ｓ１をもとにピア処理装置３を起動周期単位にピア数に達するまで起動する。 - 特許庁
  • A diagnostic unit 21 is provided in a test control part 20 and is connected with driver/comparator circuits 26 through a connecting cable in a thermostat 10.
    診断ユニット２１は、テスト制御部２０内に設けられ、ドライバ／コンパレータ回路２６と、恒温槽１０内で接続ケーブル１１により接続される。 - 特許庁
  • A laser combination selection unit 17 selects a combination of writing laser light sources which corresponds to a test chart with the evaluation value being in an allowable range.
    レーザ組み合わせ選択部17が、該評価値が許容範囲内であるテストチャートに対応する、書き出しレーザ光源の組み合わせを選択する。 - 特許庁
  • PAD UNIT HAVING TEST LOGIC CIRCUIT AND METHOD OF DRIVING SYSTEM INCLUDING THE SAME
    ノイズ除去機能を有する鎖テストのためのテストロジック回路が付加されたパッドおよびテストロジック回路が付加されたパッドを用いるシステムの駆動方法 - 特許庁
  • An erasure pointer generating unit 132j in a read channel generates the erasure pointer pointing out a position of an error in the reproduced test data.
    リードチャネル１３２内のイレージャーポインター生成器１３２ｊは、再生されたテストデータ中の誤りの位置を示すイレージャーポインターを生成する。 - 特許庁
  • The supply unit 10 has a tension-imparting means 15 for imparting a tension to the strip film 40 to be supplied to the test landing portion 7.
    供給装置１０は、テスト着弾部７に供給する帯状フィルム４０に張力を与える張力付与手段１５を有している。 - 特許庁
  • If the write-in voltage does not reach the prescribed voltage at the time of finish of the test period, the high voltage detection unit activates a disable signal.
    テスト期間終了時に書き込み電圧が所定の電圧に達していない場合、高電圧検出部は、ディスエーブル信号を活性化する。 - 特許庁
  • The first power supply unit 22 is connected to a control circuit 12 so as to supply a predetermined voltage waveform to the control circuit 12 during the period of operation test.
    第１電源ユニット２２は、動作試験時に、制御回路１２と接続されかつ該制御回路１２に所定の電圧波形を供給する。 - 特許庁
  • To provide a power voltage fluctuation analysis device certifying the whole power wiring of LSI in a cell unit without using a test pattern.
    テストパターンを用いることなくセル単位でＬＳＩ全体の電源配線の検証を可能にする電源電圧変動解析装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for testing the keying durability of a touch panel structure in a state close to an actual use form and a test unit for that method.
    実際の使用形態に近い状態でタッチパネル構造体の打鍵耐久性を試験する方法及びそのための試験機を提供する。 - 特許庁
  • The rotating shaft S1 of the drive unit 50 is parallel to one 9a of two cross-side planes 9a, 9b of the test head 9 (heavy load).
    駆動ユニット５０の回転軸Ｓ１は、テストヘッド９（重量物）の交差する２側平面９ａ、９ｂの一方９ａに平行である。 - 特許庁
  • The generator also creates a migration file for creating the model's database table,and creates unit test and fixture stubs for writing model tests.
    ジェネレータでは、モデルのデータベース表を作成するためのマイグレーションファイル、単体テスト、およびモデルテストを記述するためのフィクスチャースタブも作成されます。 - NetBeans
  • To provide an electric contact shoe unit capable of performing an electric characteristic test for a semiconductor device in which narrow electrode pads are disposed at narrow pitches.
    狭小な電極パッドが狭ピッチで配置された半導体デバイスの電気的特性試験が可能な電気的接触子ユニットを提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor test system and semiconductor testing method which is high in productivity per unit occupying area and is superior in effective working ratio.
    単位占有面積当りの生産性が高く、実効稼働率に優れた半導体テストシステムおよび半導体試験方法を提供する。 - 特許庁
  • IMAGE PROCESSING SYSTEM USING LINE SENSOR CCD CAMERA FOR CONVEYER INCORPORATED IN TEST HANDLER UNIT FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT SUCH AS IC CHIP
    ＩＣチップ等の電子部品を試験するテストハンドラ装置に組み込まれる搬送装置用のラインセンサーＣＣＤカメラを用いた画像処理システム - 特許庁
  • To obtain a test stage unit which allows a socket to be easily replaced and mounts the socket on the stage body at high accuracy, without damaging leads.
    ソケットの交換作業が容易に行え、リードを破損することなくソケットを高精度でステージ本体に取り付けられるテストステージユニットを得る。 - 特許庁
  • In a receiver 10, a reception local circuit 20 is composed of a reference oscillator 34, a DDS 40, and a test signal generation unit 48.
    受信機１０において、基準発振器３４、ＤＤＳ４０及びテスト信号生成部４８により受信ローカル回路２０が構成される。 - 特許庁
  • To provide a mobile probe unit mechanism 21 equipped with an adjustment function corresponding to different sizes of test subject plates and an electric inspection apparatus 1.
    異なる寸法の検査対象板に応じた調整機能を備えた可動式プローブユニット機構２１及び電気検査装置１を提供する。 - 特許庁
  • A leakage detector includes a primary pump unit, a secondary pump unit with at least one secondary pump, a gas analyzer, a test module, a calibration module, a discharge module of the secondary pump unit, a plurality of valves, and a plurality of connection parts.
    漏れ検出器は、一次ポンプユニット（１０）と、少なくとも１つの二次ポンプ（６）を有する二次ポンプユニット（５）と、ガスアナライザ（４）と、テストモジュール（８）と、校正モジュール（９）と、二次ポンプユニットの吐出モジュール（１２）と、複数のバルブ（１３）と、複数の結合部（１４）とを含む。 - 特許庁
  • Regardless of an external bus OB, set in a logical address space by control from a logical macro, the test is always performed with the physical area as a basic unit, thereby redundant remedial actions can be performed by each basic unit.
    論理マクロからの制御による論理アドレス空間で設定される外部バスＯＢに関わらず、常に物理領域を基本単位として試験が行われ基本単位ごとに冗長救済ができる。 - 特許庁
  • To provide a supervision and control unit for plant, enabling easy adjustment of a light level without need of removal and restoration of an optical connector when performing a light level measurement test of a control unit.
    制御装置の光レベル測定試験の際に光コネクタの取り外しや復元作業を必要せず、また光レベルの調整も容易に行えるプラント監視制御装置を提供することである。 - 特許庁
  • In a calibration mode, a previously stored prescribed test pattern is recorded on a recording sheet by a printer unit B, the recording sheet is carried to a reader unit A and read out by using a CCD sensor or the like (S1 to S3).
    キャリブレーションモードにおいて、予め記憶している所定のテストパターンをプリンタユニットＢにて記録紙に記録し、その記録紙をリーダユニットＡに搬送すると共にＣＣＤセンサ等を用いて読み取る(S1-S3)。 - 特許庁
  • In a data generation device, a database information acquisition unit or a screen information acquisition unit acquires a data type indicating an attribute of data for each data item used in a business application of a test target.
    開示の装置は、データベース情報取得部又は画面情報取得部が、テスト対象の業務アプリケーションによって用いられるデータの項目ごとに、当該データの属性を示すデータ種別を取得する。 - 特許庁
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