「Writing Test」を含む例文一覧(262)

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  • By such constitution, the time required for reading/writing the test data is shortened, and the inspecting time of the semiconductor device is reduced.
    これらの構成により、テストデータの読み書きに要する時間が短縮され、半導体装置の検査時間短縮が可能となる。 - 特許庁
  • To provide a magnetic random access memory (MRAM) in which the set value of writing current in a writing test mode is switched to a value smaller than and a value larger than those in normal use to realize evaluation of an erroneous margin or a writing margin resulting in the high reliability of the MRAM.
    ＭＲＡＭにおいて、書き込みテストモードにおいて書き込み電流の設定値を、通常使用時よりも小さい値と大きい値を切り替えて誤書き込みマージンや書き込みマージンを評価することを可能とし、高信頼性を実現する。 - 特許庁
  • To secure a sufficient test writing area in each recording layer while eliminating adverse effect caused by interference between layers produced by a recording condition optimization process in the test writing area of other recording layers in a multilayer optical recording medium of three or more layers.
    ３層以上の多層光記録媒体において、他の記録層の試し書き領域における記録条件最適化プロセスによって生じる層間干渉による悪影響を排除するとともに、各記録層で十分な試し書き領域を確保できるようにする。 - 特許庁
  • At the time of data writing test to the EEPROM of a non- contact or contact type IC card, a writing data generation program and a command are transmitted from an IC card tester to the IC card (603).
    非接触型または接触型ＩＣカードのＥＥＰＲＯＭへのデータ書き込み試験において、ＩＣカードテスタから、ＩＣカードに対して書き込みデータ発生プログラムおよびコマンドを送信する（６０３）。 - 特許庁
  • During the disturbance test of the bit lines 17, the constant current writing is executed in the dummy cells 15D to imitate a voltage generated through the bit lines 17.
    ビット線１７でのディスターブテストの際、ダミーセル１５Ｄに定電流書き込みを行い、ビット線１７に発生する電圧を模擬する。 - 特許庁
  • To provide an apparatus and method for testing a device by which a test can be speeded up by shortening time for writing data.
    データの書込み時間を短縮することで試験の高速化を可能とするデバイス試験装置およびデバイス試験方法を提供する。 - 特許庁
  • A circuit part, being exclusive for all the functions required for programming, writing of test instructions, and operation of a memory device is common to both arrays.
    プログラミング、試験指示の書込みおよびメモリデバイスの動作に必要な全機能に専用である回路部分は、両アレイに共通である。 - 特許庁
  • The operator performs soldering with the soldering robot, circuit check, and data writing while the function test unit performs its process.
    作業員は、ファンクションテスト装置が処理している間に、はんだ付けロボットによるはんだ付け処理、サーキットチェック及びデータ書込処理を行う。 - 特許庁
  • The flip flop for writing in normal operation, and that used for scan flip flops in the logic test are shared.
    通常動作時における書き込み用フリップフロップと、ロジックテストにおけるスキャンフリップフロップに用いられるフリップフロップとを兼用することができる。 - 特許庁
  • In the recording and reproducing method, test writing is performed in a groove track and a target signal is formed from a reproduced signal of the groove track and stored.
    本発明の記録再生方法は、グルーブトラックに試し書きし、その再生信号から目標信号を生成して記憶する。 - 特許庁
  • The information recording medium is provided with: a user information storage area for storing user information; an expandable test writing area for performing the test writing of the information; an expandable alternative area capable of performing the alternative storage of the user information; and a recording position management information area containing recordable range information expressing a range recordable on the test writing area and the alternative area.
    情報記録媒体が、ユーザ情報を記憶するユーザ情報記憶領域と、拡張可能であって、かつ情報の試し書きのための試し書き領域と、拡張可能であって、かつユーザ情報の代替え記憶が可能な代替え領域と、前記試し書き領域および前記代替え領域に記録可能な範囲を表す記録可能範囲情報を含む記録位置管理情報領域と、を具備する。 - 特許庁
  • A trial writing processing part 8 records and reproduces a test signal avoiding the area, where the deviation is detected, with reference to the memory 11.
    試し書き処理部８は、メモリ１１を参照して、デビエーションを検出した領域を回避してテスト信号を記録及び再生する。 - 特許庁
  • Thereby, even if thermal drift is caused between the magnetic disk and the magnetic head, a region in which test data has been written is secured in the prescribed track by writing of the test data of a plurality of round.
    このことで、磁気ディスクと磁気ヘッドとの間で熱ドリフトが発生したとしても所定のトラックには複数周分テストデータの書込みによりテストデータの書込まれた領域を確保することができる。 - 特許庁
  • To provide a method for adjusting recording power, capable of achieving test writing processing for securing high stability and high accuracy by removing an area failed to be erased to adjust recording power in test writing processing for a rewritable optical disk, and an optical disk apparatus.
    本発明は書換え可能な光ディスクに対する試し書き処理において、消去できなかった領域を排除して記録パワーを調整することで、高い安定性と高い精度を確保できる試し書き処理を実現する記録パワーの調整方法及び光ディスク装置を提案する。 - 特許庁
  • A test writing position movement control means decides temporarily a track position of a desired recording track T2 to read a servo area, and performs control so that a magnetic head is aligned with a predetermined test writing position at which the position is displaced by half pitch Tp/2 of track pitch Tp from the temporarily decided track position.
    試し書き位置移動制御手段は、サーボ領域を読み取ることで所望とする記録トラックＴ２のトラック位置を仮決めし、その仮決めされたトラック位置からトラックピッチＴｐの半ピッチ分Ｔｐ／２ずれた所定の試し書き位置に磁気ヘッドを合わせるように制御する。 - 特許庁
  • The IC card analyzes the command (606), and operates the command processing of the data writing test (607), and repeats data writing/reading/comparison judgment from a start address to an end address (608-613), and transmits only a final test result to an IC card tester (614).
    ＩＣカードは、コマンドを解析し（６０６）、データ書き込み試験のコマンド処理を行い（６０７）、開始アドレスから終了アドレスまでのデータ書き込み／読み出し／比較判定を繰り返し（６０８〜６１３）、最終的な試験結果のみをＩＣカードテスタに対して送信する（６１４）。 - 特許庁
  • The control section writes the test data output from the test-data output section into the memory, in the same writing sequence as a writing sequence of the pixel data outputted from the pixel array section into the memory, reads the test data written into the memory from the memory, in the same reading sequence as a reading sequence of the pixel data outputted from the pixel array section from the memory, and outputs the test data via the external interface.
    制御部は、テストデータ出力部から出力されたテストデータを、画素アレイ部から出力された画素データの前記メモリへの書き込み順序と同じ書き込み順序でメモリに書き込み、メモリに書き込まれたテストデータを、画素アレイ部から出力された画素データの前記メモリからの読み出し順序と同じ読み出し順序で前記メモリから読み出し、外部インタフェースを介して出力する。 - 特許庁
  • Determination of a test light power for trial writing in a test track of a magneto-optical disk 2 and operation of an actual recording power in each zone of the magneto-optical disk 2, based on the test light power are executed by the control of the drive controller 11 in a recording power operation circuit 13.
    ドライブコントローラ１１の制御により記録パワー演算回路１３では、光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、テストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の記録パワーの演算とを実行する。 - 特許庁
  • Determination of a test light power for trial writing in a test track of a magneto-optical disk 2 and operation of an actual elimination power in each zone of the magneto-optical disk 2, based on the test light power are executed by the control of the drive controller 11 in a power operation circuit 13.
    ドライブコントローラ１１の制御によりパワー演算回路１３では、光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、テストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の消去パワーの演算とを実行する。 - 特許庁
  • Determination of a test light power for trial writing in a test track of a magneto-optical disk 2 and operation of an actual recording power in each zone of the magneto-optical disk 2 based on the test light power are executed by the control of the drive controller 11 in a recording power operation circuit 13.
    ドライブコントローラ１１の制御により記録パワー演算回路１３では、光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、テストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の記録パワーの演算とを実行する。 - 特許庁
  • In a recording power arithmetic circuit 13, the decision of the test write power for the trial writing in a test track of a magneto-optical disk 2 and the calculation of the actual recording power in each zone of the magneto-optical disk 2 based on the test write power are carried out by the control of a drive controller 11.
    ドライブコントローラ１１の制御により記録パワー演算回路１３では、光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、テストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の記録パワーの演算とを実行する。 - 特許庁
  • A laser combination selection unit 17 selects a combination of writing laser light sources which corresponds to a test chart with the evaluation value being in an allowable range.
    レーザ組み合わせ選択部17が、該評価値が許容範囲内であるテストチャートに対応する、書き出しレーザ光源の組み合わせを選択する。 - 特許庁
  • In S14, timing is started in accordance with the performance of the test writing data transfer in S32, and in S15, the timing is finished by completion processing in S33.
    Ｓ３２の試し書きデータの転送の実行に伴いＳ１４で計時を開始し、完了処理Ｓ３３によりＳ１５で計時を終了する。 - 特許庁
  • To execute a self diagnosis test for detecting a failure of a head or circuit which depends on the frequency of writing/reading signals to/from a user area.
    ユーザ領域の書き込み／読み出し周波数に依存するヘッドや回路の不具合を検出する自己診断テストを行うことを課題とする。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor memory in which writing of a test pattern by which short circuit between storage nodes of a memory cell can be detected can be performed quickly.
    メモリセルのストレージノード同士のショートの検出が可能なテストパターン書込を迅速行なうことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
  • The generator also creates a migration file for creating the model's database table,and creates unit test and fixture stubs for writing model tests.
    ジェネレータでは、モデルのデータベース表を作成するためのマイグレーションファイル、単体テスト、およびモデルテストを記述するためのフィクスチャースタブも作成されます。 - NetBeans
  • A plurality of different test condition data A-N are successively outputted from a test controller 1, the output number of the test condition data is counted by a counter circuit 3, and the data writing clock outputted from the test controller 1 according to the counted value is distributed by a clock distributing circuit 4 to write corresponding test condition data in analog and digital characteristic measuring circuits 61-6n, respectively.
    テストコントローラ１から順次複数の異なる試験条件データ「Ａ」〜「Ｎ」を出力し、カウンタ回路３にて試験条件データの出力数を計数し、その計数値に応じてテストコントローラ１から出力されるデータ書込クロックをクロック分配回路４によって分配して、各アナログ・ディジタル特性測定回路６１〜６ｎに夫々対応する試験条件データを書き込ませる。 - 特許庁
  • This function verification device is provided with a register arbitration module 107 by which register writing requests from respective test scenarios 102 and 103 to a model 50 are received successively, and after notification notifying that register writing from a CPU bus model 106 to the model 50 is finished is checked, the succeeding register writing request is processed.
    各テストシナリオ１０２，１０３からのモデル５０へのレジスタ書き込み要求を順次受け付け、ＣＰＵバスモデル１０６からのモデル５０へのレジスタ書き込みが終了したことの通知を確認してから、次のレジスタ書き込み要求を処理するレジスタ調停モジュール１０７を備える。 - 特許庁
  • In a test pattern for scan-designed LSIs, the generator performs a scan-out process 315 for picking up logic values from each flip flop and a scan-in process 316 for writing logic values for the next test in each flip flop at the same time.
    スキャン設計されたＬＳＩに対するテストパターンにおいて、各フリップフロップから論理値を取り出すスキャンアウト処理３１５と、各フリップフロップへ次のテスト用の論理値を書き込むスキャンイン処理３１６とを同時に行う。 - 特許庁
  • In the optical disk recording and reproducing method, when reproducing a test recording area where the test recording is executed, DC erasing power in which a reproduced signal is a predetermined amplitude value is operated in each writing power condition.
    また前記テスト記録を実施したテスト記録領域を再生した際、再生信号が所定の振幅値となるDC消去パワーを書込みパワー条件毎に演算することを特徴とする光ディスク記録再生方法。 - 特許庁
  • Data are written into a prescribed area of user data by a memory controller 3 on the basis of a writing test command from the memory access device 6, and its speed is measured.
    メモリアクセス装置６からの書き込みテストコマンドに基づいてメモリコントローラ３でユーザデータの所定の領域にデータを書き込んでその速度を測定する。 - 特許庁
  • Further, test writing and the recording of user data to an actual RAM layer are carried out under the same conditions to obtain optimum recording parameters.
    さらに、試し書きの条件と実際のＲＡＭ層へのユーザデータ記録時条件を同一化することで、記録最適パラメータの取得を可能にした。 - 特許庁
  • Laser power which is determined to achieve the target modulation degree in a test writing is made laser power being appropriate for recording data in the optical disk 50.
    そして、テスト書込みにおいて当該目標変調度を達成すると判断されたレーザパワーが、光ディスク５０へのデータの記録に適切なレーザパワーとされる。 - 特許庁
  • An amplitude measuring part 15 measures the amplitude (m) of the reproduced signal of recorded data recorded in the test writing area of an optical disk while changing recording power P.
    振幅測定部１５は、光ディスク２の試し書き領域にパワーＰを変化させながら記録した記録データの再生信号の振幅ｍを測定する。 - 特許庁
  • Test writing is performed by using two laser powers formed by thus adding or subtracting the A(L) to or from the recording laser power Pw(L) and recording laser power is adjusted according to the result.
    かかるＡ（Ｌ）を記録レーザパワーＰｗ（Ｌ）に加減算した２つのレーザパワーでテストライトを行い、その結果に応じて、記録レーザパワーを調整する。 - 特許庁
  • Additional information is recorded appropriately by determining recording conditions such as laser power and a strategy in forming the holed mark by this test writing.
    この試し書きにより穴空きマークを形成する際のレーザパワーやストラテジ等の記録条件を決定することで、追加情報が適切に記録されるようにする。 - 特許庁
  • To improve the evaluation reliability of disturbance test by properly imitating a voltage generated by a bit line in the nonvolatile storage device of a constant current writing type.
    定電流書き込み型の不揮発性記憶装置において、ビット線で発生する電圧を適切に模擬し、ディスターブテストの評価の信頼性を向上する。 - 特許庁
  • To provide a laser power adjusting method and an optical recording and reproducing apparatus in which optimum laser power can be set smoothly and appropriately with less number of times of test writing.
    少ない試し書き回数にて円滑且つ適正に最適レーザパワーを設定できるレーザパワー調整方法および光記録再生装置を提供する。 - 特許庁
  • The lap sequence in the actual working state is selected by the primary factor such as the writing performance of the tape, etc., and not suited for the read/write test.
    実際の稼働状態でのラップ・シーケンスは、テープの書き込み性能などの要因で選定されており、リード・ライト試験に適したものではなかった。 - 特許庁
  • To more effectively utilize a test writing area in an OPC processing performed by various information recording devices, for example.
    例えば、各種多様な情報記録装置によって行われるＯＰＣ処理において、試し書き領域をより効率的に利用することを可能ならしめる。 - 特許庁
  • A clock control part 31 stops the writing of the address bus information and the data bus information to the dedicated test RAM when it receives the underflow state signal.
    クロック制御部３１は、アンダーフロー状態信号を受けると、テスト専用ＲＡＭへのアドレスバス情報及びデータバス情報の書き込みを停止させる。 - 特許庁
  • Moreover, the test writing area 95 and the write-once area 94 are prepared at a physically near location like the outer periphery side and an inner periphery side sandwiching the lead out area.
    また試し書きエリア９５と追記エリア９４はリードアウトエリアを挟んだ外周側と内周側というように、物理的に近い位置に設定する。 - 特許庁
  • A controller of a unit for writing and reading data to and from the optical disk, sets up all the 27 write strategies stored in a write strategy memory 152, and test writes each test signal by changing in order in a predefined period in the test area of the optical disk with an optimum power.
    光ディスクに対してデータを記録再生する装置の制御部は、ライトストラテジメモリ部１５２に記憶されている全２７通りのライトストラテジを設定し、光ディスクのテスト領域に最適記録パワーで各テスト信号を所定期間ずつ切り替えながら順次試し書きする。 - 特許庁
  • In the optical disc recording reproducing device that records a test signal in a trial writing area set in a disc 3 and sets a laser output by reproducing the recorded test signal, a reproduction operation of the test signal recorded in the trial writing area is conducted with the more increasing number of laser outputs than an usual reproduction operation.
    ディスク３に設けられている試し書き領域にテスト信号を記録し、記録されたテスト信号を再生することによりレーザー出力を設定するように構成されている光ディスク記録再生装置において、試し書き領域に記録されたテスト信号の再生動作を通常の再生動作を行うレーザー出力より増大させたレーザー出力にて行う。 - 特許庁
  • It is characterized in that the test writing in the outer periphery is performed with constant recording power calculated based on optimum recording power obtained in the inner periphery side as a method of the test writing in the outer periphery, a main cause of variation of the disk can be eliminated surely by a simple method, and the high-quality recording can be performed.
    外周での試し書きの方法としては、内周側で求めた最適記録パワーに基づいて算出された一定の記録パワーで外周での試し書きを行うことを特徴としており、容易な方法で、かつ確実にディスク要因の変動要因を除去でき、高品質な記録が可能となる。 - 特許庁
  • Thereby, when a same test writing region of the optical disk is used repeatedly in OPC operation, positions irradiated with the laser beam having high light emitting power are dispersed, consequently, deterioration of the test writing region can be delayed.
    これにより、ＯＰＣ動作で光ディスクの同じ試し書き領域を繰り返して使用するときに、試し書き領域内の同じ位置に常に発光パワーの高いレーザ光が照射されることがなく、発光パワーの高いレーザ光の照射される位置が分散され、その結果、試し書き領域の劣化を遅らせることができる。 - 特許庁
  • The main and sub-trigger signals of timing suitable for the maximum writing density and a given test pattern are generated so as to enable operations of a writing test mode such as the color shift or the like, using the period other than the transfer time of the print output image from the copy application board, to transfer the generated patterns to the LDBs adapting the patterns to the trigger signals.
    又コピーアプリからの印刷出力画像の転送時以外の期間を利用し、色ずれ等の書き込みテストモードの動作を可能にすべく、最大書き込み密度に適合するタイミングの主副トリガ信号、所定のテストパターンを生成し、生成したパターンをトリガ信号に合わせ込んでＬＤＢに転送する。 - 特許庁
  • A pulse width is calculated just before erasing and writing are carried out, and the erasing and the writing operation are performed by the optimized pulse width, then the efficient I_ref trimming test is performed in a short period of time without causing any defect.
    消去、書き込みを行う直前に、パルス幅を計算し、最適化したパルス幅で消去及び書き込み動作を行い、不良発生を惹起することなく短時間で効率良くＩ_ｒｅｆトリミング試験を実行する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit test device and its method capable of efficiently performing a test of an object of writing, reading and eliminating the data, by a unit of a block of a specific size of a flash memory and the like.
    フラッシュメモリ等の特定の大きさのブロックを単位として、データの書き込み、読み出し、及び消去を行う被試験対象の試験を効率的に行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an optical information recording apparatus which can reduce a frequency of test writing, and set a suitable wright strategy corresponding to various linear velocities.
    試し書きの回数を低減し、かつ、様々な線速度に対応した適切なライトストラテジを設定することができる光情報記録装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
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