「X-Rays」を含む例文一覧(2048)
＜前へ 1 2 .... 7 8 9 10 11 12 13 14 15 .... 40 41 次へ＞- Solar slits 2, 6 have plural sheets of metal foil 9 piled up with gaps therebetween and are disposed in the optical paths of X-rays R1, R2 to limit the divergence of the X-rays.
互いに間隔をおいて積層された複数の金属箔９を有し、Ｘ線Ｒ１，Ｒ２の光路に配置されてそのＸ線の発散を制限するソーラスリット２，６である。 - 特許庁 - To provide a negative type chemical amplification type resist composition for use in electron beams or X-rays capable of achieving both high sensitivity and rectangular profile when electron beams or X-rays are used.
電子線又はＸ線の使用に対して高感度及び矩形プロファイルを両立することができる電子線又はＸ線用ネガ型化学増幅系レジスト組成物を提供する。 - 特許庁 - A measured rocking curve is obtained by measuring the intensity of diffracted X-rays by making X rays impinge on the surface of the thin film by an incident angle α with respect to the surface, and performing those measurements changing the incident angle α.
薄膜の表面に対して入射角αでＸ線を入射して回折Ｘ線の強度を測定し，入射角αを変化させて測定ロッキングカーブを得る。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus capable of properly searching for fluorescence X-rays or component to be used in the overlap correction of analytic rays in fluorescence X-ray analysis to display the same.
蛍光Ｘ線分析において、分析線の重なり補正に用いるべき蛍光Ｘ線または成分を適切に検索して表示できる方法および装置を提供する。 - 特許庁 - In a case where the sample 10 is of aluminum, the dose rate of the X-rays 103 is larger than in a case where it is of lead or iron, and the larger the dose rate is, the larger the reflection angle of the X-rays 103 is.
反射Ｘ線103における線量率は、サンプル１０がアルミニュームであるとき、鉛や鉄であるときよりも大きく、また反射Ｘ線103の反射角度が大きいほど大きい。 - 特許庁 - When each hollow container 3 is conveyed along the guide part 4 and located in the prescribed position to be irradiated with X-rays, the X-rays penetrate the hollow container 3.
この場合、中空容器３がガイド部４に沿って搬送され、所定位置２０に配置されるときに中空容器３全体にＸ線を照射すると、Ｘ線が中空容器３を透過する。 - 特許庁 - In a transmitted image acquiring part 8, the substrate 20 is irradiated with X rays from one direction to acquire the transmitted image corresponding to the transmitted X rays on the other side opposed through the substrate 20.
透過画像取得部８は、基板２０に対して一方からＸ線を照射し、基板２０を介して対向する他方において、透過したＸ線に応じた透過画像を取得する。 - 特許庁 - To provide a negative type chemical amplification type resist composition for electron beams or X-rays capable of ensuring both high sensitivity and rectangular profile when electron beams or X-rays are used.
電子線又はＸ線の使用に対して高感度及び矩形プロファイルを両立することができる電子線又はＸ線用ネガ型化学増幅系レジスト組成物を提供する。 - 特許庁 - Next, the intensity of X rays from the unknown sample is corrected by a formula for imparting the attenuation quantity of the intensity of X rays due to the conductive film on the surface of the unknown sample to calculate the approximate value of a quantitative analytic value.
次に表面の導電性膜によるＸ線強度の減衰量を与える式により、該未知試料からのＸ線強度を補正し定量分析値の近似値を求める。 - 特許庁 - To provide a negative type chemical amplification type resist composition for electron beams or X-rays which satisfies sensitivity and resolution, resist shape characteristics to the use of electron beams or X-rays.
電子線またはＸ線の使用に対して感度と解像性・レジスト形状の特性を満足する電子線またはＸ線用ネガ型化学増幅系レジスト組成物を提供する。 - 特許庁 - When X-rays having different angles of diffraction or different energies are focused on a sample to be measured, the X-rays are dispersed again with a certain angle and reach a detector 23.
回折角の異なる、あるいは異なるエネルギーを持つＸ線を測定試料上で収束させると、Ｘ線は再び任意の角度で分散し検出器２３に到達する。 - 特許庁 - That is, since the gold 7c of the mesh 7 is a material with a high absorption coefficient of X rays over the whole wavelength region, the primary X rays 15 are absorbed by the gold 7c to be cut off.
すなわち、メッシュ７の金７ｃは全波長領域にわたってＸ線吸収係数が高い材料なので、１次Ｘ線１５はその金７ｃで吸収されて遮断される。 - 特許庁 - The image intensifier 4 detects X-rays, (a) which transmits only through the metal plate 12 but will not transmit through the subject 3, and X-rays b, c which transmit through the metal plate 12 and the inside of the subject 3.
イメージインテンシファイア４は、金属板１２のみを透過して被検体３を透過しないＸ線ａと、金属板１２と被検体３の内部を透過したＸ線ｂ、ｃを検出する。 - 特許庁 - The apparatus for analysis of a sample includes a radiation source, which is adapted to direct a converging beam of X-rays toward a surface of the sample and to direct a second collimated beam of the X-rays toward the surface of the sample.
試料分析装置は、第１のＸ線収束ビームを試料表面に向け、第２のＸ線平行ビームを試料表面に向けるように構成された照射源を含む。 - 特許庁 - To provide a radiation inspection system that can normally inspect an object by protecting the leakage of X-rays at an entrance and an exit of a belt conveyor, and shielding the conveyed object from X-rays, without obstructing it.
ベルトコンベアの出入口でＸ線漏洩を防護し、搬送される被検査物の邪魔にならずにＸ線遮蔽をし、正常に検査できる放射線検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a negative type chemical amplification type resist composition for electron beams or X-rays which satisfies characteristics such as sensitivity, resolution and resist shape in the use of electron beams or X-rays.
電子線またはＸ線の使用に対して感度と解像性・レジスト形状の特性を満足する電子線またはＸ線用ネガ型化学増幅系レジスト組成物を提供する。 - 特許庁 - A method for inspection of the sample includes directing a beam of X-rays toward the sample and configuring an array of detector elements to capture the X-rays scattered from the sample.
その試料の検査方法は、試料に向かってＸ線ビームを誘導する段階と、試料から散乱させられたＸ線を捕捉すべく検出器素子のアレイを構成する段階とを含む。 - 特許庁 - The radiation filter 14 is formed of a material having a large atomic number in order to remove X-rays having low energy and X-rays having high energy through a subject 16 by filtering.
放射線フィルタ（１４）は、撮影対象物（１６）を介した低エネルギのＸ線及び高エネルギのＸ線をフィルタリングして除くために、大きい原子番号の材料から形成される。 - 特許庁 - The CT imaging system (10) includes: a first x-ray emission source (90, 190) attached to a rotatable gantry (12) and configured to emit x-rays toward the object, and a second x-ray emission source (92, 192) attached to the rotatable gantry (12) and configured to emit x-rays toward the object.
ＣＴイメージング・システム（１０）が、回転式ガントリ（１２）に取り付けられており、対象（２２）に向かってＸ線を放出するように構成されている第一のＸ線放出源（９０、１９０）と第二のＸ線放出源（９２、１９２）とを含んでいる。 - 特許庁 - The X-ray diagnostic apparatus adapted to display X-ray moving images by irradiating a subject with X-rays and detecting the X-rays transmitted through the subject, includes selecting means and display means.
上記課題を解決するために、実施形態に係るＸ線診断装置は、被検体にＸ線を照射すると共に前記被検体を透過したＸ線を検出することにより、Ｘ線動画像を表示するものであり、選出手段、及び、表示手段を有する。 - 特許庁 - X-rays 2a which the expanded to the longitudinal direction of a line focus are taken out by the monochromator 30, the X-ray scattering face of the monochromator 30 is crossed with the X-ray scattering face of the sample 3, and the surface 3a of the sample is irradiated with the X-rays 2a.
そして、モノクロメータ３０によりラインフォーカスの長手方向に拡大したＸ線２ａを取り出するとともに、モノクロメータ３０のＸ線散乱面と試料３のＸ線散乱面とを交差させてＸ線２ａを試料表面３ａに照射する。 - 特許庁 - The radiation inspection apparatus 1 is equipped with an X-ray source 9 which radiates X-rays, and a radiation detection unit 65 which is a gamma ray detection unit which outputs the detected signal of a gamma ray, and is also an X-ray detection unit which outputs the detected signal of the X-rays.
放射線検査装置１は、Ｘ線を放射するＸ線源９，γ線の検出信号を出力するγ線検出部でありＸ線の検出信号を出力するＸ線検出部である放射線検出部６５を備える。 - 特許庁 - In the sample fixing method of X-ray diffraction measurement, a sample is pasted to one surface of a base having a hollow exceeding an X-ray irradiation area for irradiating the sample with X rays from a target and capturing and counting diffracted X rays from the sample.
Ｘ線回折測定における試料固定方法は、ターゲットからＸ線を試料に照射し、試料からの回折されたＸ線を捕捉して計数するために、Ｘ線照射面積を越える中空を有する土台の片面に試料を貼るものである。 - 特許庁 - To provide an X-ray analyzer capable of performing accurate analysis by appropriately maintaining temperature during detection according to a sample in X-ray analysis for irradiating the sample with primary X-rays and detecting secondary X-rays generated from the sample.
試料に１次Ｘ線を照射して、試料から発生する２次Ｘ線を検出するＸ線分析において、試料に応じて検出中の温度を適切に維持することにより、より正確な分析を行うことができるＸ線分析装置を提供する。 - 特許庁 - The molded articles are irradiated with energy, such as X-rays or electromagnetic waves, and characteristic fluorescence X-rays or excitation light radiated by excitation of the discrimination material 1 is detected, to thereby discriminate it from molded articles that do not contain the discrimination material 1 and does not radiate the fluorescence X-rays or excitation light.
この成形体にＸ線や電磁波などのエネルギーを照射し、識別物質１の励起により放射される特有の蛍光Ｘ線や励起光を検出することで、識別物質１を含まずに前記蛍光Ｘ線や励起光を放射しない成形体と識別する。 - 特許庁 - To provide a positive type resist composition for electron beams or X-rays which enhances performance in the microfabrication of a semiconductor device using electron beams or X-rays and satisfies such characteristics as sensitivity, resolution and resist shape when electron beams or X-rays are used.
電子線又はＸ線を使用する半導体素子の微細加工における性能向上を目指すものであり、電子線又はＸ線の使用に対して感度と解像度、レジスト形状の特性を満足する電子線又はＸ線用ポジ型レジスト組成物を提供すること。 - 特許庁 - To enhance performance in the microfabrication of a semiconductor device using electron beams or X-rays and to provide a positive type resist composition for electron beams or X-rays which satisfies sensitivity, resolution and resist shape to the use of electron beams or X-rays.
電子線又はＸ線を使用する半導体素子の微細加工における性能向上を目指すものであり、電子線又はＸ線の使用に対して感度、解像度とレジスト形状の特性を満足する電子線又はＸ線用ポジ型レジスト組成物を提供することである。 - 特許庁 - The spectroscope includes an incidence slit 4 to let in soft X rays, a concave mirror 5 to converge the incident soft X rays 9, a multilayer film grating 1 illuminated with the converged soft X rays, a fixed-position exit slit 8 and a multilayer plane mirror 7 to guide the soft X rays diffracted by the grating 1 to the exit slit 8.
本発明の分光装置は、軟Ｘ線を入射させる入射スリット４と、入射軟Ｘ線を収束させる凹面鏡５と、収束された軟Ｘ線９により照明される多層膜回折格子１と、位置が固定された出口スリット８と、回折格子１により回折された軟Ｘ線を出口スリット８に導くための多層膜平面鏡７と、を備える。 - 特許庁 - The X-ray beam 2' is incident on an XZ surface, and an X-axis is moved to determine the position in the surface of the sample 1 on the basis of X-coordinates X1 and X2 that has diffracted X rays 2a suddenly changed in the intensity.
Ｘ線ビーム２’をＸＺ面に入射し、Ｘ軸を移動して回折Ｘ線２ａ強度が急変するＸ座標Ｘ１、Ｘ２を基準として試料１面内の位置を決定する。 - 特許庁 - In this X-ray radiation anode 10 provided with the X-ray radiation layer 11, that produces X-rays by radiation of electron beam, the surface of the X-ray radiation layer 11 has been processed with burnishing.
電子ビームの照射によってＸ線を発生するＸ線放射層１１が設けられたＸ線発生陽極１０において、Ｘ線放射層１１の表面がバニッシング加工されている。 - 特許庁 - To provide an X-ray detection element that can exclude scattered X rays efficiently with a simple structure, has high sensitivity, and integrates a collimator, and to provide an X-ray detector using the X-ray detection element.
簡単な構造で効率的に散乱Ｘ線を排除することができ、かつ高感度の、コリメータを一体に設けたＸ線検出要素及びこれを用いたＸ線検出装置を提供する。 - 特許庁 - The x-ray topography apparatus obtains a planar diffraction image by detecting x-rays diffracted by a sample 11 when scanning the sample 11 with a linear x-ray by an x-ray detector 28.
試料１１を線状のＸ線で走査したときに試料１１で回折したＸ線をＸ線検出器２８によって検出して平面的な回折像を得るＸ線トポグラフィ装置である。 - 特許庁 - To provide an X-ray generator, an X-ray inspection device and an X-ray generating method that can automatically focus energy beams such as electron beams for generating X-rays, on a target.
Ｘ線を発生させるための電子ビームなどのエネルギービームを、ターゲットに対して自動的にフォーカシングすることが可能なＸ線発生器、Ｘ線検査装置およびＸ線発生方法を提供すること。 - 特許庁 - To control the generation of X rays in the case where the positional relation of an X-ray generation part and an X-ray sensor is collapsed while ensuring the positional relation of them in an X-ray photographing apparatus for performing fluoroscopic photographing.
透視撮影を行うＸ線画像撮影装置において、Ｘ線発生部とＸ線センサの位置関係を確保しながら位置関係が崩れた場合にＸ線発生を制御する。 - 特許庁 - Crystals used in WDS spectrometers generally have curved rather than flat surfaces, thus increasing the efficiency of focusing the Bragg diffraction X-rays into the X-ray detector.
WDS分光器で使われる結晶は、一般的に平面というよりは湾曲していた(湾曲に作られてきた); その結果、X線検出器の中にブラッグ回折X線を集光する効率を増大させた。 - 科学技術論文動詞集 - To reduce the influence of scattered radiation originating from X-rays from the X-ray tube of the other pair in an multi-tube type X-ray CT apparatus including a plurality of pairs of X-ray tubes and detectors.
Ｘ線管と検出器との複数のペアを装備するマルチチューブタイプＸ線ＣＴ装置において、他方のペアのＸ線管からのＸ線に由来する散乱線の影響を低減すること。 - 特許庁 - To provide an X-ray CT apparatus irradiating a subject with X-rays from a plurality of X-ray tubes and capturing the image with appropriate time resolution and FOV (Field of View) suited to a purpose.
複数の管球から被検体にＸ線を照射し、目的に応じた時間分解能およびＦＯＶで画像を撮像することが可能なＸ線ＣＴ装置である。 - 特許庁 - To provide a scintillator for X rays, having good image resolution and X-ray conversion efficiency, and to provide a plane X-ray image detecting device using the scintillator.
画像分解能とＸ線変換効率が良好となるＸ線用のシンチレータと、当該シンチレータを用いた平面型Ｘ線画像検出装置を提供する。 - 特許庁 - The X-ray shielding layer 2 comprises a plurality of X-ray shielding granular bodies 11 for shielding X-rays while being arranged along the direction of the plate surface on the first substrate 10.
Ｘ線遮蔽層２は第１の基板１０の上に板面方向に沿って配置されたＸ線を遮蔽する複数のＸ線遮蔽粒状体１１からなる。 - 特許庁 - The X rays generated are sufficiently stabilized (t=t2) to start the scanning with the X-ray beam while an X-ray shutter is kept closed until the acceleration section 62a of a first scan line ends.
発生Ｘ線が十分に安定し（ｔ＝ｔ２）、Ｘ線ビームの走査がスタートし、第１走査ラインの加速区間６２ａが終わるまでＸ線シャッタは閉のままである。 - 特許庁 - An X-ray dose control means controls the dose of X-rays applied from the X-ray generation means on the basis of the result of detection by the working state detection means.
Ｘ線量制御手段は、作業状態検出手段の検出結果に基づいて、Ｘ線発生手段から照射するＸ線量を制御する。 - 特許庁 - To reduce a residue on a difference image due to a difference in the amplitude components of an X-ray quantum noise corresponding to the intensity of transmitted X-rays, in an X-ray diagnostic apparatus.
Ｘ線診断装置において、透過Ｘ線強度に応じたＸ線量子ノイズの振幅成分の違いによる差分像上の残差を低減すること。 - 特許庁 - An angle of the X-rays emitted from the X-ray tube 6 against the FPD 7 is altered by the above rotations of the X-ray tube 6 and the FPD 7.
Ｘ線管６およびＦＰＤ７がこのように回転することで、Ｘ線管６から照射されたＸ線とＦＰＤ７とのなす角度が変更される。 - 特許庁 - To provide a X-ray protecting panel for preventing an examination doctor from receiving X-ray radiation during examination, operation and treatment while radiating X-rays to a patient on an examination bed.
検診台上の患者にＸ線を照射しながら、検査、手術、処置等を行う際に、検診医がＸ線照射を受けないようにしたＸ線防護パネルを得る。 - 特許庁 - Additionally, an X-ray detector 4 is arranged on the opposite side of the X-ray irradiating apparatus 8 while sandwiching the tank 11 to detect X rays through the tank 11.
また、タンク１１を挟んでＸ線照射装置８の反対側にはタンク１１を透過したＸ線を感知するようにＸ線検出器４が配置されている。 - 特許庁 - To provide an X-ray source which is superior in energy efficiency and can emit X-rays stably, and can control enlargement, and a method for manufacturing the X-ray source.
エネルギ効率に優れ、安定してＸ線を放射することができ、大型化を抑制することのできるＸ線源及びＸ線源の製造方法を提供する。 - 特許庁 - The detection part 2 includes the X-ray detection element (X-ray sensor 10) containing the conversion layers 11 and 12 for converting the incident X rays to an electric signal.
検出部２には、入射したＸ線を電気信号に変換する変換層１１及び１２を含むＸ線検出素子（Ｘ線センサ１０）を備えさせる。 - 特許庁 - A center position computing part 61 computes the center position Pz (x, y) of a subject H at a position where X rays are applied to the subject H by an X-ray tube 20.
Ｘ線管２０がＸ線を被検体Ｈへ照射する位置における被検体Ｈの中心位置Ｐｚ（ｘ，ｙ）を、中心位置算出部６１が算出する。 - 特許庁 - The X-ray shielding door 20 moves between the opened state and the closed state, and prevents X-ray leakage from the irradiation space 2 of the X-rays in the closed state.
Ｘ線遮蔽扉２０は、開状態と閉状態との間を変化し、閉状態においてＸ線の照射空間２からのＸ線の漏洩を防止する。 - 特許庁 - To provide an X-ray tube which can improve dispersion of X-ray intensity, and can selectively utilize X-rays having various energy characteristics.
Ｘ線の強度のバラツキを改善することができ、多様なエネルギー特性を有するＸ線を選択的に活用することのできる、Ｘ線管を提供することを課題とする。 - 特許庁
- Copyright(C)1996-2026 JEOL Ltd., All Rights Reserved.
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
