「X-ray photoelectron spectroscopy」を含む例文一覧(87)

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  • Photoelectron spectroscopy can be carried out with incident X-rays (XPS: X-ray photoelectron spectroscopy) or ultraviolet radiation (UPS: ultraviolet photoelectron spectroscopy).
    光電子分光は、入射X線(XPS: X線光電子分光)または紫外放射線(UPS: 紫外光電子分光)で行うことができる。 - 科学技術論文動詞集
  • The oxide layer of W is measured by XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) and is a region of not less than 20 AC%.
    上記Wの酸化層は、XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy:X線光電子分光法)により測定され、20AC%以上の領域をいう。 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
    X線光電子分光装置およびX線光電子分光法 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
    X線光電子分光装置及びX線光電子分光方法 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
    X線光電子分光装置およびX線光電子分光方法 - 特許庁
  • The film thickness of the oxide film is instantiated by an elliptic polarization analytical method or an X-ray photoelectron spectroscopy.
    前記酸化膜の膜厚は楕円偏光解析法またはX線光電子分光法が例示される。 - 特許庁
  • In addition, binding energy of 3d5/2 by XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) of a molybdenum ion contained in the coating layer is structured to be ≤232.4 eV.
    なお、被覆層に含有されたモリブデンイオンのXPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy;光電子分光測定)による3d5/2の結合エネルギーが232.4eV以下となるように構成する。 - 特許庁
  • To provide an X-ray photoelectron spectroscopy device and an X-ray photoelectron spectroscopy method capable of accurately acquiring the energy spectrum of photoelectrons discharged from a measurement object in a short time.
    測定対象物から放出された光電子のエネルギースペクトルを短時間に正確に取得することができるX線光電子分光装置およびX線光電子分光方法を提供する。 - 特許庁
  • In XPS (X-ray photoelectron spectroscopy) measurement, the XPS peaks may display chemical shifts which reveal the oxidation state of each element in a specimen.
    XPS(X線光電子分光)測定において、XPSピークは、試料中の個々の元素の酸化状態を明らかにする化学シフトを示す(ことができる)。 - 科学技術論文動詞集
  • (a) A Ps value of the compound by X-ray photoelectron spectroscopy is 70 or more, and a P(+IV) value is practically zero.
    (イ)該化合物のX線光電子分光法分析によるPs値が70以上であり、且つ、P(+IV)値が実質的に0である。 - 特許庁
  • (b) The Ps value of the compound by X-ray photoelectron spectroscopy is 70 or more and a P(O) value is 20% or less.
    (ロ)該化合物のX線光電子分光法分析によるPs値が70以上であり、且つ、P(0)値が20%以下である。 - 特許庁
  • The analyses by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and glow-discharge light emission spectroscopy reveals that the coupling state of the active material is constant as a whole and Si-Ox-Cy(x=1.29).
    XPSおよびグロー放電発光分光分析による解析は活物質の結合状態は、全体に一定であり、Si−Ox−Cy(X=1.29)である。 - 特許庁
  • In the sealing film 5, oscillation energy of Al-O measured by infrared spectroscopy is 940 cm^-1 or more, and binding energy of A12p electron measured by X-ray photoelectron spectroscopy is 74.4 eV or more.
    この封止膜5において、赤外線分光法で測定されるAl−Oの振動エネルギーが940cm^-1以上であり、X線光電子分光法で測定されるAl2p電子の結合エネルギーが74.4eV以上である。 - 特許庁
  • As a surface analysis method, an XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) analysis method or the like is enumerated, and when being used together with an ICP-AES (Inductively Coupled Plasma-Atomic Emission Spectroscopy) analysis, a result which is unmeasurable in the ICP-AES analysis can be supplemented.
    表面分析方法としては、XPS分析法等が挙げられ、ICP−AES分析と併用すれば、ICP−AES分析では測定不可能だった結果を補足することも出来る。 - 特許庁
  • In the Si dispersed vitreous carbon material, Si is uniformly dispersed and combined in the structure of the vitreous carbon in atomic level and the bound energy of 2p orbit of Si atom, which is determined from the peak value of a photoelectron spectrum by an X-ray photoelectron spectroscopy(XPS), is 101-103 eV.
    ガラス状カーボンの組織中にSiが原子レベルで均一に分散複合し、X線光電子分光法(XPS)による光電子スペクトルのピーク値から求めたSi原子の2p軌道の束縛エネルギーが101〜103eVの範囲にあることを特徴とするSi分散ガラス状カーボン材。 - 特許庁
  • There is provided a platinum-carrying carbon catalyst produced by carrying platinum on a carbon carrier, wherein the integrated intensity ratio of sp^2/sp^3 of the photoelectron intensities of the sp^2 and sp^3 hybrid orbits of the carbon carrier measured by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is within the range of 1.8-3.3.
    白金をカーボン担体に担持させてなる白金担持カーボン触媒であって、X線光電子分光装置(XPS)で測定される、カーボン担体のsp^2混成軌道とsp^3混成軌道の光電子強度の積分強度比sp^2/sp^3が1.8〜3.3の範囲内にある白金担持カーボン触媒。 - 特許庁
  • The peak area ratio between Al_2s electron and N_1s electron (peak area of Al_2s electron/peak area of N_1s electron) is 0.65 or less in the photoelectron spectrum of the surface of an AlN substrate according to X-ray photoelectron spectroscopy at an inspection angle of 10°.
    検出角度10°でのX線光電子分光法によるAlN基板の表面の光電子スペクトルにおいて、Al_2s電子とN_1s電子のピーク面積の比(Al_2s電子のピーク面積/N_1s電子のピーク面積)が0.65以下であるAlN基板である。 - 特許庁
  • This visible light responsive photocatalyst is manufactured by being arranged so that the peak of a photoelectron spectrum is found in the range of an energy value, including WO_3 crystal, obtained by adding the value of a band gap energy to the value of valence band edge measured by X-ray photoelectron spectroscopy.
    WO_3結晶を含み、X線光電子分光によって測定される価電子帯エッジの値に、バンドギャップエネルギーの値を加えて得られるエネルギーの値の範囲中に、光電子スペクトルのピークが存在するようにして可視光応答光触媒を得る。 - 特許庁
  • Further, in the photoelectron spectrum of the Ga_xIn_1-xN substrate by X-ray photoelectron spectroscopy with a detection angle of 10°, the peak area ratio of C_1s electron to N_1s electron (peak area of C_1s electron/peak area of N_1s electron) is ≤3.
    また、検出角度10°でのX線光電子分光法によるGa_xIn_1-xN基板の表面の光電子スペクトルにおいて、C_1s電子とN_1s電子のピーク面積の比(C_1s電子のピーク面積/N_1s電子のピーク面積)が3以下であるGa_xIn_1-xN基板である。 - 特許庁
  • The carrier spent index represents a surface proportion of spent titanium on a carrier surface evaluated by XPS (X-ray photoelectron spectroscopy), and the toner external additive agglomerate index represents an amount of external additive agglomerates in the toner.
    ここでキャリアスペント指数とは、XPS(X線光電子分光法)で評価したキャリア表面のスペントチタン表面存在比率を示し、トナー外添剤凝集体指数は、トナー中の外添剤凝集体量を示す。 - 特許庁
  • The characteristic is specified by an X-ray photoelectron spectroscopy or a secondary ion time-of-flight mass spectrometry and the particle can be dispersed in a dispersing medium.
    特性はX線光電子分光法もしくは飛行時間型二次イオン質量分析法により規定され、該粒子は分散媒体中で分散することができる。 - 特許庁
  • This carbon fiber has the maximum peak within the range of 532.7 to 534.0 eV of bond energy in O1s spectrum of the surface thereof measured by X-ray photoelectron spectroscopy.
    X線光電子分光法で測定された繊維表面のO1sスペクトルが、結合エネルギー532.7〜534.0eVの間に極大ピークを有する炭素繊維である。 - 特許庁
  • In the composite oxide, the bond energy belonging to Fe2p3/2 by X-ray photoelectron spectroscopy is smaller than 710.0 eV, and/or the bond energy belonging to Fe2p1/2 is smaller than 723.5 eV.
    本発明の複合酸化物は、X線光電子分光分析によるFe2p3/2に帰属する結合エネルギーが710.0eVより小さい、および/または、Fe2p1/2に帰属する結合エネルギーが723.5eVより小さい。 - 特許庁
  • In this Sn-contg. copper alloy material, the Sn3d/Cu2p ratio in the peak area ratio of the quantitative analysis in the case the surface is measured by X-ray photoelectron spectroscopy is controlled to ≤0.3.
    Sn含有銅合金材料において、その表面をX線光電子分光法によって測定したときの定量分析のピ−クエリア面積比のSn3d/Cu2p比が0.3以下となるようにする。 - 特許庁
  • To provide a simple antistatic method capable of simply preventing a sample from electrostatically charged a to be an impeding factor against measurement, when measuring an insulating sample by XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy).
    XPS(X−ray Photoelectron Spectroscopy、X線光電子分光法)を用いた絶縁性試料の測定を行う際に、測定時の妨害要因となる試料の帯電を簡易的に防止し得る方法の提供。 - 特許庁
  • This carbon fiber bundle for rubber reinforcing has a ratio of silicon to carbon (Si/C) of ≤0.02 on a surface of the carbon fiber, when measured by X-ray photoelectron spectroscopy, and a knot strength of ≥500 MPa.
    本発明のゴム補強用炭素繊維束は、X線光電子分光法により測定される炭素繊維表面の珪素/炭素比(Si/C)が0.02以下であり、結節強度500MPa以上であることを特徴とするものである。 - 特許庁
  • The distribution state of a lubricant transferred from a magnetic disk is measured by X-ray photoelectron spectroscopy for each segment point of the outermost surface of a magnetic recording head as divided into segments.
    多分割した、磁気記録ヘッドの最表面の各分割点をX線光電子分光法により測定することにより、磁気ディスクから移着された潤滑剤の分布状態を算出する。 - 特許庁
  • In the substrate for sputtering, a hard coat layer is provided on an insulative substrate and the carbon - carbon bond peak value by X-ray photoelectron spectroscopy at the surface of the hard coat layer is (50,000 to 75,000) c/s.
    絶縁基板上にハードコート層を設けたスパッタリング用基板であって、ハードコート層表面のX線光電子分光法による炭素−炭素結合ピーク値が50000〜75000c/sであることを特徴とする。 - 特許庁
  • A fluorine atom content is 40 to 60 atom% when the outer circumferential surface of the tubular body is measured by X-ray photoelectron spectroscopy.
    前記管状体の外周面をX線光電子分光法により測定したときのフッ素原子含有率は、40原子%以上60原子%以下である管状体である。 - 特許庁
  • In the stainless steel for a fuel cell, a coating film having an intensity ratio [(OO/OH)/(Cr/Fe)] as determined by X-ray photoelectron spectroscopy analysis of not less than 1.0 is formed on the surface of stainless steel containing not less than 16% by mass of Cr.
    Crを16質量%以上含有するステンレス鋼の表面に、X線光電子分光分析による強度比〔(OO/OH)/(Cr/Fe)〕が1.0以上である皮膜を形成する。 - 特許庁
  • This inspection method for the atomic layer deposition film determines the result about formation of the atomic layer deposition film, by inspecting an atomic layer deposition film portion on a base by an X-ray photoelectron spectroscopy, when forming the atomic layer deposition film on the base.
    基体上への原子層堆積膜形成の際に、基体上の原子層堆積膜形成箇所をX線光電子分光法で検査することにより、原子層堆積膜形成の成否を判定する、原子層堆積膜の検査方法である。 - 特許庁
  • This coiled carbon fiber has both of a surface oxygen radical concentration (O1s/C1s) of 4.0-12.5 at.% when measured by X-ray photoelectron spectroscopy and a specific surface area of 200-1,100 m2/g.
    コイル状炭素繊維は、X線光電子分光法で測定される表面酸素基濃度(O1s/C1s)が4.0〜12.5at%であり、かつ比表面積が200〜1100m^2/gである。 - 特許庁
  • The element ratio O (oxygen)/C (carbon) which is measured by the X-ray photoelectron spectroscopy method measurement of a surface on which the deposited film is not provided of the biaxially oriented PET film, on one surface of which the inorganic oxide deposited film is provided, is 0.50 to 0.55.
    片面に無機酸化物蒸着膜を設けた二軸延伸PETフィルムの蒸着膜を設けてない面のX線光電子分光法測定で得られる元素比率O(酸素)/C(炭素)が0.50〜0.55である。 - 特許庁
  • To realize an evaluation method of a diamond-like thin film for evaluating the bonding state of carbon on the surface of the diamond-like thin film or in the diamond-like thin film using angle-resolved X-ray photoelectron spectroscopy.
    角度分解X線光電子分光法を用いて、ダイヤモンド様薄膜の表面及び内部における炭素の結合状態を評価するダイヤモンド様薄膜の評価方法を実現できるようにする。 - 特許庁
  • The carbon catalyst has a crystallinity degree of 41.0% or less as determined by an X-ray diffraction method, a (nitrogen atom)/(carbon atom) ratio of 0.7 or more as determined by an X-ray photoelectron spectroscopy, and oxygen reduction onset potential of 0.774 V (vs. NHE) or more.
    また、本発明に係る炭素触媒は、X線回折法により得られる結晶化度が41.0%以下であり、X線光電子分光により得られる窒素原子/炭素原子比が0.7以上であり、酸素還元開始電位が0.774V(vs.NHE)以上である。 - 特許庁
  • The composition includes (A) carbon nanotube, (B) an organic pigment derivative and (C) water, and the ingredient (A) in the composition has an oxygen content of 5-20 atom%, analyzed by X-ray photoelectron spectroscopy (ESCA).
    本発明に係る組成物は (A)カーボンナノチューブと、(B)有機色素誘導体と、(C)水を含有し、前記組成物中の前記(A)成分をX線光電子分光法(ESCA)により分析した酸素含有量が5〜20原子%である組成物である。 - 特許庁
  • The barrier film has a vapor-deposited layer of an inorganic compound on one surface of a polyamide type resin substrate film, and the other surface without the vapor deposition layer has an O(oxygen)/C(carbon) elemental ratio of 0.16-0.26, measured by the X-ray photoelectron spectroscopy with an X-ray source of MgKα and an X-ray output of 100W.
    ポリアミド系樹脂基材フィルムの片面に、無機化合物からなる蒸着層を設けたバリアフィルムにおいて、前記ポリアミド系樹脂基材フィルムの蒸着膜を設けない側の表面は、X線光電子分光法によるX線源MgKαおよびX線出力100Wの測定条件での測定で得られる元素比率O(酸素)/C(炭素)が0.16〜0.26であることを特徴とするバリアフィルム。 - 特許庁
  • When measuring the catalyst by X-ray photoelectron spectroscopy, a vanadium amount of the surface of the catalyst is 1.1-3.0 times the vanadium amount inside the catalyst.
    本発明は、チタン酸化物およびバナジウム酸化物を含む脱硝触媒であって、当該触媒をX線光電子分光法によって測定したとき、触媒表面のバナジウム量が、触媒内部のバナジウム量に比べ1.1〜3.0倍であることを特徴とする脱硝触媒である。 - 特許庁
  • The highly adhesive liquid crystal polymer film comprises a liquid crystal polymer and has nitrogen atoms on its surface of either one side or both sides wherein the density of the above nitrogen atoms is at least 2% measured by using X-ray photoelectron spectroscopy.
    液晶ポリマーからなるフィルムであって、その片側又は両側の表面部に窒素原子が存在し、X線光電子分光分析で測定した該窒素原子の濃度が2%以上であることを特徴とする高接着性液晶ポリマーフィルム。 - 特許庁
  • When atomic concentrations of constituent elements are measured in a depth direction by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), the nickel plating layer has an atomic concentration of carbon atoms in a range of 1.0 to 10.0% at a depth where an atomic concentration of the Ni element is 80%.
    ニッケルめっき層は、X線光電子分光法(XPS)によって構成元素の原子濃度を深さ方向に測定したときに、Ni元素の原子濃度が80%となる深さにおいて、炭素原子の原子濃度が、1.0%以上、かつ、10.0%以下の範囲である。 - 特許庁
  • The catalyst carrier powder 3 contains ceria and zirconia and is characterized in that the molar ratio (%) of ceria on the surface of the carrier powder measured by an X-ray photoelectron spectroscopy is 1.0-1.5 with respect to the molar ratio (%) of ceria in a raw material.
    セリア及びジルコニアを含有する触媒担体粉末3であって、原料中のセリアのモル分率(mol%)に対するX線光電子分光法で測定される担体粉末表面のセリアのモル分率(mol%)の比が1.0〜1.5である、触媒担体粉末3とする。 - 特許庁
  • Element M exhibits X-ray photoelectron spectroscopy peaks derived from an oxygen bond and a metal bond in which a peak area derived from the oxygen bond is twice or less a peak area derived from the metal bond.
    M元素は、X線光電子分光法によるスペクトルにおいて酸素結合によるピークと金属結合によるピークとを示し、前記酸素結合によるピークの面積は、前記金属結合によるピークの面積の2倍以下であることを特徴とする。 - 特許庁
  • On the electrode catalyst carrying catalytic metal on a carrier, the ratio of (C-O peak height)/(C-C peak height) obtained by dividing the C1s peak obtained by an X-ray photoelectron spectroscopy of the catalyst is not less than 0.2.
    担持体上に触媒金属を担持してなる電極触媒において、該電極触媒のX線光電子分光法で得られるC1sピークのピーク分割により得られる(C−Oピーク高さ)/(C−Cピーク高さ)比が0.2以上であることを特徴とする燃料電池用電極触媒。 - 特許庁
  • The adhesive agent composition contains a flaky silver particle (A) having an oxygen state ratio originated from silver oxide of <15% as measured by X-ray photoelectron spectroscopy, and an alcohol or a carboxylic acid (B) having a boiling point of ≥300°C.
    本発明の接着剤組成物は、X線光電子分光法で測定される銀酸化物由来の酸素の状態比率が15%未満である片状の銀粒子(A)、及び300℃以上の沸点を有するアルコールまたはカルボン酸(B)を含む。 - 特許庁
  • A conductive particle includes a gold layer with the average film thickness of ≤300 Å formed on a nickel layer as the outermost layer, and the elemental composition ratio between nickel and gold (Ni/Au) on the surface of the conductive particle by X-ray photoelectron spectroscopy analysis is ≤0.4.
    本発明の導電粒子は、ニッケル層上に形成された平均膜厚300Å以下の金層を最外層として有する導電粒子であって、X線光電子分光分析による導電粒子の表面におけるニッケル及び金の元素組成比(Ni/Au)が0.4以下であることを特徴とする。 - 特許庁
  • This is a terminal having a barrier portion against solder rising 13, in which the percentages of detection intensities of Ni, Au and O on the surface of the barrier portion by the X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) satisfies the relationship of 30%≤Ni/Au≤60% and 50%≤O/Au at a sputtering time=0.
    半田吸い上がりバリア部13を有する端子であって、X線電子分光法(XPS)による該バリア部表面のNi、Au及びOの検出強度百分率がスパッタリング時間=0のところで30%≦Ni/Au≦60%、及び50%≦O/Auを満足する端子。 - 特許庁
  • Provided is an adhesive film with a support, produced by detachably laminating an adhesive film on a support, wherein the adhesive film with a support has a ≤4.0% silicon atom amount on the surface of the adhesive film on the support side observed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS).
    接着フィルムが剥離可能に支持体上に積層された支持体付き接着フィルムであって、前記支持体側の前記接着フィルムの表面において、X線光電子分光法(XPS)で観察されるケイ素原子の量が4.0%以下である、支持体付き接着フィルム。 - 特許庁
  • For this deposited film, the C-C bond half value width of a C1s waveform separation which is measured by the X-ray photoelectron spectroscopy method measurement of a surface on which the deposited film is not provided of the biaxially oriented PET film, on one surface of which an inorganic oxide deposited film is provided, is 1.225 to 1.554 eV.
    片面に無機酸化物蒸着膜を設けた二軸延伸PETフィルムの蒸着膜を設けてない面のX線光電子分光法測定で得られるC1s波形分離のC−C結合半値幅が1.225〜1.554eVである。 - 特許庁
  • In the determination of the acidic functional group of the polymer material using the X-ray photoelectron spectroscopy, the acidic functional group is pretreated to be substituted into a Rb salt type or Sr salt type, and a Rb 3d or Sr 3d is determined quantitatively to determine quantitatively the acidic functional group.
    X線光電子分光法を用いた高分子材料の酸性官能基の定量において、該酸性官能基をRb塩型またはSr塩型に置換する前処理を施し、かつRb3dまたはSr3dを定量することによって該酸性官能基を定量する方法。 - 特許庁
  • The thus obtained material and container have each on its inner surface 13 a silica-rich layer 20 satisfying an Si (mol%)/Na (mol%) value of at least 30 and an Si (mol%)/Ca (mol%) value of at least 10 in measurement by X-ray photoelectron spectroscopy performed while etching them in their inward directions.
    このようにして得たガラス材及びガラス容器の表面から深さ方向にエッチングしながら行うX線光電子分光分析の測定において、Si(mol%)/Na(mol%)の値が30以上であり、かつSi(mol%)/Ca(mol%)の値が10以上を満たすシリカリッチ層20が内表面13に形成される。 - 特許庁
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