「alignment error」を含む例文一覧(213)

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  • To avoid alignment error.
    アライメントエラーを回避することができるようにする。 - 特許庁
  • ELEMENT FOR MEASURING ALIGNMENT ERROR OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置のアライメント誤差の測定用素子 - 特許庁
  • OPTICAL RECEIVER FOR WHICH ALLOWABLE RANGE OF COMPONENT CHARACTERISTIC ERROR AND ALIGNMENT ERROR IS WIDE
    部品の特性誤差及びアライメント誤差の許容範囲が広い光レシーバ - 特許庁
  • To provide an alignment error detection apparatus for detecting a position detection error of an alignment mark due to change of alignment distribution of scattering light from the alignment mark, and to provide an alignment error detection method.
    アライメントマークからの散乱光の配向分布が変化することによるアライメントマークの位置検出誤差を検出することができるアライメント誤差検出装置およびアライメント誤差検出方法を提供する。 - 特許庁
  • GOLF CLUB DISPLAYING ERROR OF ALIGNMENT ANGLE (OPENING OF SHOULDER)
    照準角度（肩の開き）の誤差を表示したゴルフクラブ - 特許庁
  • To improve a calculating method for an alignment beam angle of an alignment system, and a verification method for front surface-rear surface alignment (FTBA) error.
    アライメントシステムのアライメントビームの角度を算出、表面−裏面アライメント（FTBA）エラーの検証方法を改善する。 - 特許庁
  • To reduce a trouble caused by a position alignment error in the position alignment synthesis of a plurality of images.
    複数の画像の位置合わせ合成において、位置合わせミスの弊害を軽減する。 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR ALIGNMENT ERROR DETECTION
    アライメント誤差検出装置およびアライメント誤差検出方法 - 特許庁
  • To more accurately indicate an alignment error due to vibration and to compensate such an error.
    振動に起因するアライメント誤差をより正確に表し、かつ、そのような誤差を補償する。 - 特許庁
  • The capacitance value of the capacitor 15 is small when no alignment error occurs and therefore the alignment error can be high- accurately measured.
    アライメント誤差がない状態ではキャパシタ１５の容量値は小さいので、アライメント誤差を高精度に測定することができる。 - 特許庁
  • An operation was not defined or error in page alignment.
    操作が定義されていない。 またはページ・アラインメントでエラーが発生した。 - JM
  • ALIGNMENT ERROR DETECTION METHOD, AND EXPOSURE PROCESSING METHOD USING THE SAME
    アライメントエラー検出方法およびそれを用いた露光処理方法 - 特許庁
  • To provide an alignment apparatus which is capable of easily resetting alignment parameters to the optimal ones in a short period of time when an alignment error occurs.
    アライメントエラーが生じた際、最適なアライメントパラメータを短時間のうちに容易に再設定できるアライメント装置を提供する。 - 特許庁
  • There is provided: the alignment substrate that can prevent an alignment layer from occurring due to error in alignment when performing substrate coupling; the liquid crystal display panel including the same; and the method of manufacturing the alignment substrate.
    基板結合のとき、整列誤差による配向膜を防ぐことのできる配向基板、これを含む液晶表示パネル、及び配向基板の製造方法が開示される。 - 特許庁
  • To decrease a fault error in a position alignment in a microelectronic machine system.
    微小電子機械システムにおける位置合わせ不良誤差を低減する。 - 特許庁
  • To obtain the arrangement of marks for measurement capable of measuring the error quantity of an alignment error with high accuracy.
    アライメント誤差の誤差量を高精度に測定することができる測定用マークの配置を提供する。 - 特許庁
  • All of the plurality of sub-alignment parts are formed on one substrate, thereby preventing orientation error of the alignment layer from occurring due to the error in alignment, which can be generated when performing the substrate coupling.
    複数のサブ配向部が全て１つの基板に形成されるため、基板結合のときに発生されることのできる整列誤差による配向膜の配向誤差を防ぐことができる。 - 特許庁
  • An oscillation frequency is chosen corresponding to the maximum value of an alignment error.
    位置合わせ誤差の最大値に応じて振動周波数が選択される。 - 特許庁
  • The estimated alignment angle and a sensor error are cumulatively added and updated successively by an alignment angle addition part 107 and a sensor error addition part 108 respectively.
    推定アライメント角とセンサ誤差とはそれぞれアライメント角加算部１０７とセンサ誤差加算部１０８とで、順次累積加算、更新されていく。 - 特許庁
  • To provide an optical receiver for which an allowable range for a component characteristic error range and an alignment error range is wide.
    部品特性誤差範囲及びアライメント誤差範囲に対する許容範囲が広い光レシーバを提供する。 - 特許庁
  • ALIGNMENT ERROR REDUCING METHOD AND SYSTEM IN MEDIUM FEEDING SHAFT DRIVING SYSTEM
    媒体送り軸駆動システムにおける位置合わせ誤差低減方法及びシステム - 特許庁
  • INSTALLATION ERROR MEASURING INSTRUMENT FOR BUILDING, LEVELING ERROR MEASURING METHOD FOR FLOOR FACE, AND ALIGNMENT ERROR MEASURING METHOD FOR WALL SURFACE OR JUXTAPOSED PILLAR
    建築物用の施工誤差測定装置並びに床面の水平誤差測定方法並びに壁面や並設する柱の出入り誤差測定方法 - 特許庁
  • The correspondence relationship between the amount of generation of an alignment error and the amount of generation of aberration is obtained by computer simulation, and the actual amount of generation of the alignment error is measured.
    アライメント誤差の発生量と収差の発生量との対応関係を、コンピュータシミュレーションにより求めるとともに、アライメント誤差の実際の発生量を測定する。 - 特許庁
  • To provide an alignment error detection method detecting an error with high accuracy, and also to provide an exposure processing method using the detection method.
    高精度なエラー検出が可能なアライメントエラー検出方法およびそれを用いた露光処理方法を提供する。 - 特許庁
  • An alignment error at each measurement point is detected, using the error between the obtained measurement deviation and the calculation deviation.
    求められた計測ズレ量と計算ズレ量との誤差に基づき、各計測点におけるアライメントエラーを検出する。 - 特許庁
  • The alignment mark 26 is referred when the apparatus 10 is mounted on the substrate, and alignment error is compensated.
    固体撮像装置１０を基板上に実装する際にアライメントマーク２６を参照して、アライメント誤差を補償するようにする。 - 特許庁
  • To provide a projection aligner which can achieve alignment with high accuracy and no alignment error and which eliminates retreating of a work on alignment, to reduce the tact time.
    アライメント誤差がなく精度の良いアライメントが可能であると共に、アライメントの際ワークの退避が不要であることからタクトタイムを短くできる投影露光装置を提供する - 特許庁
  • To provide an efficient inspection by preventing the occurrence of quasi-defects due to a position alignment error.
    位置合わせミスによる擬似欠陥の発生を抑制し、効率の良い検査を行うこと。 - 特許庁
  • (a) Those in which mean error radius after normal alignment is 0.8 nautical miles per hour or less
    イ　ノーマルアライメント後における平均誤差半径が一時間につき〇・八海里以下のもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide a semiconductor device manufacturing method in which influence of alignment error is reduced.
    アライメント誤差の影響を低減した半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method of a semiconductor device wherein the effect of an alignment error is reduced.
    アライメント誤差の影響を低減した半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an efficient inspection by preventing the occurrence of false defects caused by a position alignment error.
    位置合わせミスによる擬似欠陥の発生を抑制し、効率の良い検査を行うこと。 - 特許庁
  • To easily and rapidly obtain the primary factor of an error on the measurement of a mark detection system such as an alignment sensor or the error at every primary factor.
    アライメントセンサのようなマーク検出系の計測誤差の要因又は要因別の誤差を、容易にかつ迅速に求める。 - 特許庁
  • To suppress the influence of an error in the dimension of a high-resistance region when the error in position alignment accuracy inherently exists.
    本質的に位置合わせ精度に誤差が存在する場合に、高抵抗領域の寸法の誤差による影響を抑制する。 - 特許庁
  • In each photolithography process, an alignment error of a photo resist pattern generated in the photolithography process is measured and then an exposure correction value (alignment correction value) for the photolithography process is calculated from the measured alignment error.
    各フォトリソグラフィ工程を行った際には、当該フォトリソグラフィ工程で形成されるフォトレジストパターンの重ね合わせ誤差を測定し、測定した重ね合わせ誤差から当該フォトリソグラフィ工程での露光補正値（アライメント補正値）を算出する。 - 特許庁
  • Even when the molding error is found on the external size of the lens, the mutual alignment of the lenses or the alignment of the optical path of the lens with the center of a light transmission hole is precisely performed by the use of the alignment mark.
    レンズ外形に成形誤差があったとしても、位置合わせマーカにより、レンズ同士、あるいはレンズの光軸と光透過孔の中心等が精密に位置合わせされる。 - 特許庁
  • To provide a plasma display capable of improving a brightness step due to an alignment error.
    アライン誤差による輝度段差を改善することが可能なプラズマ表示装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide an element for measuring that can electrically and high- accurately measure an alignment error.
    アライメント誤差を電気的にかつ高精度に測定することができる測定用素子を提供する。 - 特許庁
  • To measure the shape of a test surface with high accuracy even when an alignment error exists in an optical system.
    光学系にアラインメント誤差が存在しても、被検面の形状を高精度に計測する。 - 特許庁
  • To correctly perform alignment without any carrying error even when the position dislocation of a substrate is large.
    基板の位置ずれが大きくても、搬送エラーなど無く正しくアライメントが行えるようにする。 - 特許庁
  • The difference between a GPS angular velocity and an IMU angular velocity is observed, and the alignment angle and an error factor are estimated by an alignment angle estimation part 106.
    ＧＰＳ角速度と、ＩＭＵ角速度との差分を観測し、アライメント角推定部１０６でアライメント角と誤差要因とを推定する。 - 特許庁
  • When the substrate is carried into a lithographic system, a position of an alignment mark formed on the exposure object plane is detected, and a corrected alignment mark is calculated from an error amount of mark intervals of the alignment mark and a reference alignment mark of a first plane.
    基板が描画システムに搬入されると、露光対象面に形成されたアライメントマークの位置を検出し、第１面の基準アライメントマークとアライメントマークのマーク間隔の誤差量から、補正アライメントマークを算出する。 - 特許庁
  • To provide a method and device for adjusting a vehicular wheel alignment , capable of properly adjusting wheel alignment, even if a mounting error exists in a steering gear box.
    ステアリングギヤボックスに取り付け誤差があっても、ホイールアライメントを適正に調整できる車両のホイールアライメント調整方法及び調整装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an aberration measurement and error correction method capable of correcting a measurement error generated due to an alignment error of a lens to be inspected in aberration measurement of a lens to be inspected on the basis of transmission wavefront measurement.
    透過波面測定に基づく被検レンズの収差測定において、被検レンズのアライメント誤差に起因して発生する測定誤差を補正し得る収差測定誤差補正方法を得る。 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING OPTICAL AXIS ALIGNMENT ERROR IN SAMPLE COMPRISING POLARIZING PLATE AND PHASE RETARDATION PLATE JOINED
    偏光板と位相遅延板が接合された試料の光軸整列誤差の測定装置及びその方法 - 特許庁
  • The shift is used for calculation for the alignment beam angle, and the verification method for the FTBA error is improved by the angle.
    該シフトはアライメントビームの角度の算出に使用され、この角度でFTBAエラーの検証方法を改善する。 - 特許庁
  • To provide an exposure device which is advantageous in terms of throughput in case of, for example, an alignment measurement error.
    例えば、アライメント計測エラーが発生した場合にスループットの点で有利な露光装置を提供する。 - 特許庁
  • METHOD FOR INSPECTING ALIGNMENT ERROR, APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE
    アライメント誤差検査方法、半導体装置の製造装置、半導体装置の製造方法、半導体装置 - 特許庁
  • In this case, the opening 22a is formed with sizes LX, LY based on an error in alignment between the substrate and the mask.
    基板とマスクとの位置合わせ誤差に基づく大きさＬＸ、ＬＹで開口部２２ａを形成する。 - 特許庁
  • Thereby, the alignment error generating in the optical system can be quantitatively and accurately measured in real time.
    これにより、光学系で発生しうる整列誤差をリアルタイムで定量的に正確に測定できる。 - 特許庁
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