The analysis part 3 comprises an analytic circuit extraction part 8 for extracting an analytic circuit constituted of the selected circuit elements and wiring-connected thereto, a supply voltage variation calculation part 9 for inputting the analytic pattern into the analytic circuit to calculate supply voltage variation values at a plurality of points in the analytic circuit, and an error detection part 10 for comparing the supply voltage variation values with preset thresholds. 解析部3は、選択された回路素子とそれに接続された配線とで構成された解析用回路を抽出する解析用回路抽出部8と、解析用回路に解析用パタンを入力して解析用回路内の複数箇所における電源電圧変動値を算出する電源電圧変動算出部9と、電源電圧変動値と予め設定された閾値とを対比するエラー検出部10とで構成する。 - 特許庁