「analysis sample」を含む例文一覧(1976)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 39 40 次へ＞- SAMPLE STAGE FOR SPECTROSCOPIC ANALYSIS, SOLID SAMPLE COOLING DEVICE, GAS SAMPLE SYNCHRONOUS PRESSURE DEVICE, LASER LIGHT CONVERGENCE IRRADIATION DEVICE FOR ANALYSIS, AND ANALYSIS CHAMBER
分光分析のための試料ステージ、固体試料冷却装置、気体試料同期加圧装置、分析用レーザー光収束照射装置、及び分析チャンバー - 特許庁 - In the biological sample analysis chip 100, analysis light is reflected multiple times inside the biological sample analysis chip 100.
生体試料分析チップ１００では、分析光を生体試料分析チップ１００の内部において複数回反射させる。 - 特許庁 - To provide a small-sized analysis sample holding apparatus and sample analysis device suitable for analyzing a predetermined sample in a colorimetric manner.
所定の試料を比色分析するのに適した、小型の分析試料保持装置及び試料分析装置を提供する。 - 特許庁 - NEEDLE-LIKE SAMPLE FOR LOCAL ANALYSIS, SAMPLE HOLDER ASSEMBLY, LOCAL ANALYZER AND METHOD FOR MANUFACTURING NEEDLE-LIKE SAMPLE FOR LOCAL ANALYSIS
局所分析用針状試料，試料ホルダ組立体，局所分析装置，及び局所分析用針状試料の作製方法 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR AUTOMATED ANALYSIS OF SAMPLE
試料の自動分析のためのシステムおよび方法 - 特許庁 - PREPARING METHOD OF SAMPLE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS
蛍光Ｘ線分析用試料の作成方法 - 特許庁 - PREPARATION OF OIL SAMPLE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS
蛍光Ｘ線分析用の油試料の調製 - 特許庁 - ICP ANALYSIS SAMPLE INLET DEVICE AND METHOD THEREFOR
ＩＣＰ分析用試料導入装置及び方法 - 特許庁 - QUANTITATIVE ANALYSIS DEVICE OF NONUNIFORM COMPOSITE TISSUE SAMPLE
不均一複合組織試料の定量分析装置 - 特許庁 - SAMPLE MEASURING SUBSTRATE FOR NEAR FIELD SPECTRAL ANALYSIS
近接場分光分析用の試料測定基板 - 特許庁 - To provide an electrochemical cell for sample analysis.
サンプル分析用の電気化学的セルを提供する。 - 特許庁 - SAMPLE FOR QUANTITATIVE ANALYSIS AND PREPARING METHOD THEREOF
定量分析用試料およびその作製方法 - 特許庁 - MEASURING DEVICE FOR SAMPLE ANALYSIS, AND MEASURING METHOD
試料分析用測定装置および測定方法 - 特許庁 - NANOPORE-BASED ANALYZER AND CHAMBER FOR SAMPLE ANALYSIS
ナノポア式分析装置及び試料分析用チャンバ - 特許庁 - METHOD FOR PREPARING PROTEIN SAMPLE FOR STRUCTURAL ANALYSIS
構造解析用タンパク質試料の調製方法 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS, AND PRESSURIZING AND MOLDING FIXTURE OF SAMPLE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS
蛍光Ｘ線分析用試料の作製方法及び蛍光Ｘ線分析用試料加圧成形治具 - 特許庁 - MEASUREMENT METHOD AND ANALYSIS METHOD OF SAMPLE SURFACE, AND MEASURING DEVICE AND ANALYSIS DEVICE OF SAMPLE SURFACE
試料表面の測定方法及び分析方法並びに試料表面の測定装置及び分析装置 - 特許庁 - To provide a sample container which enables highly accurate analysis of a sample in an X-ray analysis.
Ｘ線分析において試料を高精度に分析することが可能な試料容器を提供する。 - 特許庁 - SAMPLE-COOLING DEVICE FOR X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS
Ｘ線分析装置の試料冷却装置及びＸ線分析装置 - 特許庁 - SAMPLE ANALYZER, MEASURING UNIT AND SAMPLE ANALYSIS SYSTEM USING THESE
試料分析装置と測定ユニットおよびそれらを用いた試料分析システム - 特許庁 - To provide an analysis method and a kit for collecting an analysis sample from an analysis object or an analysis individual by using an analysis sample collecting apparatus capable of recovering an analysis material in the sample selectively with a high recovery rate, and analyzing the analysis material in the acquired analysis sample with high specificity and excellent high sensitivity.
被分析試料を試料中の被分析物質を選択的に高回収率にて回収し得る被分析試料採取器具を用いて被分析対象物や被分析個体から採取し、得られた被分析試料中の被分析物質を高い特異性と優れた高感度で分析する分析方法およびキットの提供。 - 特許庁 - INSTRUMENT AND METHOD FOR CLEANING SAMPLE FOR ANALYSIS
分析用試料の洗浄器具および洗浄方法 - 特許庁 - METHOD FOR HOLDING SOLID SAMPLE FOR SECONDARY ION MASS ANALYSIS
二次イオン質量分析の固形試料保持方法 - 特許庁 - ANALYSIS SYSTEM FOR ANALYZING SAMPLE ON TEST ELEMENT
試験エレメント上の試料の分析用の分析システム - 特許庁 - ANALYSIS OF SAMPLE USING ANTI-RESONANT WAVEGUIDE SENSOR
反共振導波路センサを用いた試料の分析 - 特許庁 - GAS-LIQUID TWO PHASE SAMPLE ANALYZER AND ANALYSIS METHOD
気液２相試料分析装置及び分析方法 - 特許庁 - SAMPLE INTERFERENCE FRINGE REDUCTION TOOL FOR INFRARED SPECTROSCOPIC ANALYSIS
赤外分光分析用試料干渉縞低減冶具 - 特許庁 - APPARATUS FOR AUTOMATIC ANALYSIS OF SAMPLE ON GEL CARDS
ゲルカード上の試料を自動分析するための器械 - 特許庁 - SAMPLE CONTAINER FOR THERMAL ANALYSIS AND MANUFACTURING METHOD OF THE CONTAINER
熱分析用試料容器及びその製造方法 - 特許庁 - MASS ANALYSIS METHOD, AND METHOD AND DEVICE FOR MANUFACTURING SAMPLE FOR MASS ANALYSIS
質量分析法、質量分析用試料の作製方法および作製装置 - 特許庁 - To easily grasp the analysis region of a sample surface for performing spectral analysis.
分光分析を行う試料表面の分析領域の把握を容易にする。 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD OF SAMPLE FOR ANALYSIS OF INCLUSION INCLUDED IN METAL ALUMINIUM SAMPLE
金属アルミニウム試料に含まれる介在物の分析用サンプルの製造方法 - 特許庁 - ANALYSIS METHOD OF LIGAND IN SAMPLE, AND ANALYZING APPARATUS OF LIGANDS IN SAMPLE
サンプル中のリガンドの分析方法およびサンプル中のリガンドを分析する装置 - 特許庁 - To provide an analysis sample preparing device permitting the automation of an operator's work in preparing a sample for analysis such as polishing the sample.
試料研摩等の分析用試料調製の際、オペレータ作業の自動化を可能とする分析試料調製装置を提供する。 - 特許庁 - X-RAY ANALYSIS METHOD FOR ADHESIVE SAMPLE, AUXILIARY SAMPLE-HOLDING IMPLEMENT USED FOR THE SAME AND SAMPLE HOLDER
粘着性試料のＸ線分析方法、これに用いる試料保持用の補助具および試料ホルダ - 特許庁 - To provide a sample analysis system for eliminating the need for management of the remaining number of reagents by the user of a sample analysis apparatus, the sample analysis apparatus and a server used for the system.
試料分析装置の使用者による試薬の残数管理が不要な試料分析システムおよびそのシステムに使用される試料分析装置およびサーバを提供する。 - 特許庁 - FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS METHOD OF LEAD IN POWDER SAMPLE
粉末試料中の鉛の蛍光Ｘ線分析法 - 特許庁 - SAMPLE EXTRACTING VESSEL, AND EXTRACTION-ANALYSIS METHOD USING VESSEL
試料採取容器および容器抽出・分析方法 - 特許庁 - FILTER METHOD, FILTER DEVICE AND SAMPLE ANALYSIS PRETREATMENT APPARATUS
ろ過方法、ろ過装置及び試料分析前処理装置 - 特許庁 - CELL AND METHOD FOR ELECTRO CHEMICAL ANALYSIS OF SAMPLE
サンプルの電気化学的分析のためのセルおよび方法。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR SAMPLE ANALYSIS AND TEST PIECE
試料分析方法、試料分析装置、および試験片 - 特許庁 - AUTOMATIC ANALYSIS APPARATUS AND TEMPERATURE MANAGEMENT METHOD OF LIQUID SAMPLE
自動分析装置と液体試料の温度管理方法 - 特許庁 - To perform analysis without destroying an internal structure of a sample.
試料の内部構造を破壊することなく分析する。 - 特許庁 - APPARATUS FOR INJECTING SAMPLE OIL FOR GAS ANALYSIS IN VIAL
ガス分析用試料油のバイアルへの注入装置 - 特許庁 - AUTOMATIC SAMPLE HANDLER FOR SUPPLYING CONTAINER TO INSTRUMENT FOR ANALYSIS
容器供給のための分析機器用自動サンプルハンドラ— - 特許庁 - PREPARATION METHOD OF OIL SAMPLE FOR FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS
蛍光Ｘ線分析用の油試料の調製法 - 特許庁 - COMPOSITION ANALYZER AND METHOD FOR GENERATING SAMPLE FOR ANALYSIS
組成分析装置および分析用試料生成方法 - 特許庁 - SEALED SAMPLE PAN FOR AUTOMATIC SAMPLER OF THERMOGRAVIMETRIC ANALYSIS APPARATUS
熱重量分析装置のオートサンプラ用密封サンプル・パン - 特許庁 - POWDER SAMPLE MOLDING METHOD FOR X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS
蛍光Ｘ線分析用の粉体試料成形方法 - 特許庁 - TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD
透過型電子顕微鏡装置および試料解析方法 - 特許庁
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