「attenuated total reflection」を含む例文一覧(31)
- SENSOR UNIT UTILIZING ATTENUATED TOTAL REFLECTION AND MEASUREMENT METHOD UTILIZING ATTENUATED TOTAL REFLECTION
全反射減衰を利用するセンサユニット及び全反射減衰を利用する測定方法。 - 特許庁 - APPARATUS FOR IMMOBILIZING SENSOR UTILIZING ATTENUATED TOTAL REFLECTION
全反射減衰を利用するセンサの固定装置 - 特許庁 - SPECIMEN CUP HOLDER FOR SENSOR UTILIZING ATTENUATED TOTAL REFLECTION
全反射減衰を利用したセンサの検体カップホルダ - 特許庁 - APPARATUS AND CHIP FOR MEASUREMENT MAKING USE OF ATTENUATED TOTAL REFLECTION
全反射減衰を利用した測定装置および測定チップ - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT USING ATTENUATED TOTAL REFLECTION
全反射減衰を利用した測定方法および測定装置 - 特許庁 - ATTENUATED TOTAL REFLECTION SPECTROMETRY AND DEVICE AT TERAHERTZ FREQUENCY
テラヘルツ周波数における全反射減衰分光測定法及び装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR MEASUREMENT OF INFRARED ABSORPTION SPECTRUM BY ATTENUATED TOTAL REFLECTION METHOD
減衰全反射法による赤外吸収スペクトルの測定方法及び装置 - 特許庁 - To detect a total reflection cancellation angle with high accuracy when a sample is temperature-adjusted to two or more mutually different specific temperatures so as to detect an attenuated total reflection state in a sensor using attenuated total reflection.
全反射減衰を利用したセンサーにおいて、試料を互いに異なる２以上の特定の温度に温調して全反射減衰の状態を検出する際に、全反射解消角をより高い精度で検出する。 - 特許庁 - In a measuring part 61, the state of the attenuated total reflection is detected on the basis of the signal S'.
測定部61では、この補正出力信号Ｓ’に基づいて全反射減衰の状態を検出する。 - 特許庁 - To inhibit a measurement efficiency from lowering in a measuring apparatus using attenuated total reflection.
全反射減衰を利用した測定装置において、測定における効率の低下を抑制するようにする。 - 特許庁 - By this sensor, the component concentration in body fluid can be measured based on the principle of ATR (attenuated total reflection).
このセンサにより体液中の成分濃度を全反射減衰（ＡＴＲ）の原理で測定することができる。 - 特許庁 - To inhibit the rise of a temperature of the sample liquid and to improve the measuring accuracy under a condition of the attenuated total reflection in a sensor utilizing the attenuated total reflection by the surface plasmon resonance and the like, by reducing the total light intensity of the optical beam entering into a measurement chip without impairing S/N.
表面プラズモン共鳴等による全反射減衰を利用したセンサーにおいて、Ｓ／Ｎを悪化させることなく、測定チップに入射する光ビームの総光量を低減して、試料液の温度上昇を抑制し、全反射減衰の状態の測定精度を向上する。 - 特許庁 - To control a temperature of a sensing substance and/or sample liquid to a predetermined temperature in a sensor utilizing an attenuated total reflection.
全反射減衰を利用したセンサーにおいて、センシング物質および／または試料液の温度を、所定の温度に制御する - 特許庁 - To obtain high S/N measurement data by means of a measuring instrument, such as the surface plasmon resonance measuring instrument, etc., utilizing attenuated total reflection.
表面プラズモン共鳴測定装置等の、全反射減衰を利用した測定装置において、高Ｓ／Ｎの測定データを得る。 - 特許庁 - A sample liquid 11 is dropped onto measuring tips 9A and so on, and an angle change amount of the attenuated total reflection angle is found in each prescribed time from a measurement start.
試料液１１を測定チップ９Ａ…内に滴下し、測定開始から所定時間毎に全反射減衰角の角度変化量を求める。 - 特許庁 - Although attenuation arises in the light intensity distribution by attenuated total reflection, the reaction of the sample can be caught by detecting variation of the dark line position.
光強度分布には、全反射減衰によって減衰が生じるがその暗線位置の変化を検出することで試料の反応を捉えることができる。 - 特許庁 - In the apparatus for immobilizing the sensor used in assaying utilizing attenuated total reflection, an immobilizing process of a ligand is carried out by sending the ligand onto a thin film to be used as a sensor face.
全反射減衰を利用した測定に使用されるセンサの固定装置は、センサ面となる薄膜にリガンドを送液してリガンドの固定処理を行なう。 - 特許庁 - To obtain an attenuated total reflection(ATR) apparatus by which an ATR measurement can be performed with high accuracy by a method wherein a sample on the surface of an ATR crystal is pressed by a pressure force from the vertical direction.
ＡＴＲ結晶上面の試料を垂直な方向から適切な押圧力で押圧し、ＡＴＲ測定を高精度で行えるようにすること。 - 特許庁 - Prior to measurement, in a mixer 52, a concentrated solvent or PBS is mixed with the reference liquid 11', to adjust the attenuated total reflection angle of the reference liquid 11' detected in a total reflection attenuation angle detector 53 so as to be much the same as that of the sample liquid 11 detected in a total reflection attenuation angle detector 43.
測定に先立ち、混合器52において、参照液11’に高濃度溶媒またはＰＢＳを混合して、全反射減衰角検出部53において検出された参照液11’の全反射減衰角が、全反射減衰角検出部43において検出された試料液11の全反射減衰角と略同一になるように調整する。 - 特許庁 - To provide a sensor for measuring variations in the attenuated total reflection which reduces the effect due to the difference in refractive indexes between sample liquid and reference liquid to enhance measurement accuracy.
全反射減衰の状態の変化を測定するセンサーにおいて、試料液と参照液間の屈折率差による影響を低減して、測定精度を向上する。 - 特許庁 - A tilt correction part of a data analyzer detects an angle generating the attenuated total reflection, based on respective correction signals obtained by measuring the respective sensor cells 17b for the correction.
データ解析機の傾き補正部は、まず各補正用センサセル１７ｂを測定することによって得られた各補正信号から全反射減衰が生じた角度を検出する。 - 特許庁 - To obtain a measuring apparatus which uses attenuated total reflection, whose measurement efficiency is not lowered, which reduces an influence due to irregularities in a measurement sensitivity between individual measuring tips, and whose measurement accuracy is enhanced.
全反射減衰を利用した測定装置において測定効率を低下させずに、個々の測定チップ間の測定感度のバラツキの影響を低減し、測定精度を向上させる。 - 特許庁 - The section formation method for a sample is a method for forming a measurement section 22 in a film-like sample 21 for use in an infrared spectroscopy by means of an attenuated total reflection method.
試料の断面形成方法は、減衰全反射法を利用した赤外分光法において、フィルム状の試料２１に測定用断面２２を形成するための方法である。 - 特許庁 - The attenuated total reflection spectrometry and device at terahertz frequency utilize surface waves (evanescent waves), having the terahertz frequency occurring, when the terahertz electromagnetic waves are totally reflected.
テラヘルツ周波数における全反射減衰分光測定法及び装置は、テラヘルツ電磁波が全反射する際に生じるテラヘルツ周波数を有する表面波（エバネッセント波）を利用する。 - 特許庁 - In the measuring method utilizing attenuated total reflection, a reaction of a sample on a sensor plane is measured by acquiring the light intensity distribution of the reflected light reflected on the rear face of sensor plane with a photodetector.
全反射減衰を利用する測定方法では、センサ面における試料の反応を、センサ面の裏面で反射する反射光の光強度分布を光検出器で取得して測定する。 - 特許庁 - The attenuated total infrared reflection spectroscopy (ATR method) is preferably used as the surface analytical method, and hereby the adsorption state can be determined by calculating the relative absorption intensity between the adsorbed material and the sample.
表面分析法として赤外全反射分光法（ＡＴＲ法）を用いるのが好ましく、これにより、吸着物質と試料の相対吸収強度を計算して吸着状態の判定を行うことができる。 - 特許庁 - In the propylene-based resin film 25, a surface orientation parameter obtained by a Raman spectroscopy measurement by attenuated total reflection about at least one surface out of film surfaces lies in the range of 0.66 to 1.50.
プロピレン系樹脂フィルム２５は、フィルム表面のうち少なくとも一方の面について減衰全反射法によるラマン分光法測定によって得られる表面配向パラメータが０．６６〜１．５０の範囲内である。 - 特許庁 - To improve optical characteristics of light passing areas of an entrance plane and an emission plane of a light beam for measurement in a measurement chip used in a measuring device utilizing attenuated total reflection such as a surface plasmon resonance measuring device.
表面プラズモン共鳴測定装置等の、全反射減衰を利用した測定装置に用いられる測定チップにおいて、測定用光ビームの入射面および出射面の光通過領域の光学特性を優れたものにする。 - 特許庁 - To provide a measurement method and a system for reducing affects due to the difference in sensitivity between a reference unit and a measuring unit for improving the measurement accuracy of variation in attenuated total reflection state, when using measurement results in the reference unit to compensate measured results in the measuring unit.
リファレンスユニットにおける測定結果を用いて、測定ユニットにおける測定結果を補正する際に、リファレンスユニットと測定ユニット間の感度差による影響を低減し、全反射減衰の状態の変化の測定精度を向上する。 - 特許庁 - The measuring tip used in a measurement using attenuated total reflection is provided with an optically transparent dielectric, a metal thin film formed on the dielectric, and a hydrophobic thin film formed so as to cover the metal thin film.
全反射減衰を利用した測定において用いられる測定チップであって、光透過性を有する誘電体と、該誘電体に形成されている金属薄膜と、該金属薄膜を覆うように形成されている疎水性を有する薄膜とを具備する。 - 特許庁 - To maintain high flatness in one face of a resin dielectric block formed with a thin film layer and prevent strength deterioration due to forming of a confluent face of resin in a measurement chip used in a measuring device utilizing attenuated total reflection such as a surface plasmon resonance measuring device.
表面プラズモン共鳴測定装置等の、全反射減衰を利用した測定装置に用いられる測定チップにおいて、その樹脂製誘電体ブロックの薄膜層が形成される一面の平面度を高く保ち、また、樹脂の合流面ができることによる強度低下を防止する。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
