「automatic test pattern generation」を含む例文一覧(12)
- TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION PROGRAM AND TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD
テストパタン自動生成プログラムおよびテストパタン自動生成方法 - 特許庁 - SEQUENCE CIRCUIT AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATION SYSTEM REUSING TEST PATTERN DATA BASE
テストパターンデータベースを再利用する順序回路自動テストパターン生成システム - 特許庁 - TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD AND PROGRAM
テストパターン自動生成方法およびテストパターン自動生成プログラム - 特許庁 - To provide a scan base ATPG (automatic test pattern generation) test circuit and test method, and a scan chain reconfiguration method.
スキャンベースＡＴＰＧテスト回路、テスト方法及びスキャンチェーン再配置方法を提供する。 - 特許庁 - a genetic algorithm for automatic test pattern generation for large synchronous sequential circuits
大型同期順序回路向けテストパターン自動生成のための遺伝的アルゴリズム - コンピューター用語辞典 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, DESIGN SUPPORT SOFTWARE SYSTEM, AND AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATION SYSTEM
半導体集積回路、設計支援ソフトウェアシステム、および、テストパターン自動生成システム - 特許庁 - A test specification generation part 230 creates a test specification 303 based on these test pattern 301 and Web page 302, and an automatic test execution part 240 executes a system test based on this test specification 303.
試験仕様書生成部２３０は、これらのテストパターン３０１とＷｅｂページ３０２に基づいて試験仕様書３０３を作成し、自動試験実行部２４０は、この試験仕様書３０３に基づいてシステムテストを実行する。 - 特許庁 - A text pattern generating device 11 acquires a test pattern with pattern length based on an index value by automatic test pattern generation (ATPG) based on a net list 21 of an LSI, and extracts only a part related with a circuit function operation, and outputs it as a test pattern 18 for power analysis.
ＬＳＩのネットリスト２１をもとに、テストパターン生成装置１１は、自動テストパターン生成（ＡＴＰＧ）により指標値に基づくパターン長のテストパターンを得、そのうち回路機能動作に関する部分のみを抽出して電力解析用テストパターン１８として出力する。 - 特許庁 - The technique can be fully integrated into flows of design for testability (DFT) and automatic test pattern generation (ATPG).
記載された技術は、テスト容易化設計（ＤＦＴ）及び自動テストパターン生成（ＡＴＰＧ）のフローに完全に組込むことができる。 - 特許庁 - To make a generated test pattern satisfy a test pattern verification condition using an original net list, and to prevent a strobe error from occurring in a test pattern verification process using the original net list, even when generating the test pattern of a ROM-mixed LSI, using a test pattern automatic generation tool of handling the net list of a gate level.
ゲートレベルのネットリストを扱うテストパターン自動生成ツールを使用してＲＯＭ混在ＬＳＩのテストパターンを生成する場合であっても、生成されるテストパターンがオリジナルのネットリストを使用したテストパターン検証条件を満たすようにし、オリジナルのネットリストを使用したテストパターン検証工程においてストローブエラーが発生しないようにすることができるテストパターン自動生成方法を提供する。 - 特許庁 - Similarly, an automatic test pattern generation tool may use the defect location information to generate test data custom-tailored to check for faults corresponding to the identified defect in the specified portions of the microcircuit.
同様に、自動試験パターン生成ツールは、欠陥位置情報を用い、微小回路の指定部分内の同定された欠陥に対応する故障を検査するために特別に作成された試験データを生成し得る。 - 特許庁 - A program verifying tool installed in a computer has a program reading function 11 of reading the program for digital data casting stored in an HDD, and an automatic test pattern generation function 12 of interpreting a BML language and an ECMA script language of the program, detecting a branch caused by user operation in the program, and automatically generating a test pattern on the basis of the branch.
このコンピュータにインストールされている番組検証ツールは、ＨＤＤ内に格納されているデジタルデータ放送用の番組を読み取る番組読取機能１１と、番組のＢＭＬ言語およびＥＣＭＡＳｃｒｉｐｔの言語を解釈し、番組の中でユーザ操作に伴ない発生する分岐を検出しこの分岐に基づいて試験パターンを自動的に作成する試験パターン自動作成機能１２を有している。 - 特許庁
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