「automatic test pattern generator」を含む例文一覧(1)

  • SCAN TEST CIRCUIT, AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATOR, SCAN TEST METHOD, METHOD FOR DESIGNING SCAN TEST CIRCUIT, AUTOMATIC TEST PATTERN GENERATING METHOD, METHOD FOR EXECUTING SCAN TEST CIRCUIT DESIGN
    スキャンテスト回路、自動テストパターン生成装置、スキャンテスト方法、スキャンテスト回路設計方法、自動テストパターン生成方法、スキャンテスト回路設計方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体および自動テストパターン生成方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

例文データの著作権について

  • 特許庁
    Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.