「batch test」を含む例文一覧(39)
- To reduce test man-hours for a batch application program AP as a test object.
テスト対象のバッチＡＰのテスト工数を低減をする。 - 特許庁 - A process execution part 14 fetches data about the batch AP as the test object from a program data storage part 21 and executes a program test.
処理実行部１４は、プログラムデータ記憶部２１から、テスト対象のバッチＡＰのデータを取り出して、プログラムテストを実行する。 - 特許庁 - After the test cycle, the sensor devices of a batch are sequentially fed back to the turret handler again.
試験サイクルの後で、バッチの中のセンサデバイスは、タレットバンドラに連続的に再び供給される。 - 特許庁 - The yield can be improved by performing a threshold value test of a memory cell after batch stress applying tests of a plurality of kinds.
複数種類の一括ストレス印加試験後にメモリセルの閾値検査を行うことで歩留向上が図れる。 - 特許庁 - Then, a test condition is set, a screen transition tree is displayed from the screen transition information, and a range to be registered is specified while considering the combination of the test target screen and the test condition to achieve batch registration.
そして、テスト条件の設定、画面遷移情報から画面遷移ツリー表示を行い、テスト対象画面とテスト条件の組み合わせを考慮して登録する範囲を指定し、一括登録を行うことを可能とする。 - 特許庁 - To provide a data replication system by roll back utilizable in various applications, such as data mining, data sharing, data backup, a software test, batch processing, etc.
データの多重アクセスに於ける現行システムでのデータの再ロード、その他の不便を回避するシステムと方法が必要である。 - 特許庁 - A test lot P is selected from a batch A which finished a process 2, an epitaxial growth process and the test lot P is subjected to a process 3 to a final inspection process precedent to other lots of the batch A, and a finished product of a semiconductor laser device is manufactured.
エピタキシャル成長工程である工程２を終えたバッチＡから、先行ロットＰを選択し、この先行ロットＰを、バッチＡの他のロットに先行して工程３から最終検査工程までを進ませて、半導体レーザ装置の完成品を製作する。 - 特許庁 - The instrument is equipped with a vacuum station receiving the carrier so as to load fluid samples to be tested in a batch to the test devices.
器具は、試験装置に試験される流体試料を一括して装填するように担体を受け取る真空ステーションを備えている。 - 特許庁 - To provide a sample test system and a sample test method that can simply and reliably batch-change the setting conditions of a plurality of test apparatuses to the same setting conditions, in facilities, such as a testing center having a plurality of test apparatuses of the same type.
検査センターなどの同一種類の検査装置を複数台有する施設において、複数の検査装置の設定条件を労することなく確実に、かつ一括してその設定条件を同一設定条件に変更できる検体検査システムおよび検体検査方法を提供する。 - 特許庁 - When an operator inputs via a keyboard 6 the application to be tested and a batch file, the CPU 7a of an IC card test apparatus 3 reads from an HDD 8 a profile and a batch file that correspond to the designated application A, and creates a batch file that is characteristic of the application A.
オペレータによってキーボード６を介してテストを実施するアプリケーションとバッチファイルが入力されると、ＩＣカード試験装置３のＣＰＵ７ａはＨＤＤ８から指定されたアプリケーションＡに対応するプロファイル、バッチファイルを読み出し、アプリケーションＡ固有のバッチファイルを作成する。 - 特許庁 - When receiving a forenotice of online batch for the test from the online systems and the input telegraphic messages match between the online systems, the information processing device interrupts the input of the telegraphic messages and notifies each online system of an execution command of the online batch.
オンラインシステムからテスト用のオンラインバッチの予告通知を受信した際、投入済みの電文がオンラインシステム間で一致している場合、電文投入を中断し、オンラインバッチの実行指示を各オンラインシステムに通知する。 - 特許庁 - A memory 128 is provided, and the measurement data of the IDDQ test in the plurality of times are accumulated in the memory 128, and transferred in batch to an LSI tester.
また、メモリ１２８が設けられおり、このメモリ１２８に、複数回のＩＤＤＱテストの測定データを蓄積し、一括してＬＳＩテスタに転送する。 - 特許庁 - Further, the user can automatically take a batch of measurements only by describing the file names of command files and test ID in the condition definition file.
また、ユーザーは、条件定義ファイルに、コマンドファイルのファイル名とＴｅｓｔＩＤを記述するだけで、一括した測定を自動的に実施することができる - 特許庁 - In a post-wafer-sorting stage of device manufacture, a plurality of flash memory devices which each include a flash controller die related to a common housing and at least one flash memory die are passed to a test process such as a batch test process or mass test process.
デバイス製造のポスト・ウェファ・ソート・ステージ中に、共通ハウジングに関連づけられたフラッシュコントローラ・ダイおよび少なくとも一つのフラッシュメモリ・ダイを各々が含む複数のフラッシュメモリ・デバイスを、例えば、バッチ・テスト・プロセスまたはマス・テスト・プロセス等のテスト・プロセスへ通す。 - 特許庁 - The failure block detection circuit 10 is activated in the initial stage of test control sequence when batch write test is performed in units of batch erase or write for unit erase of the memory cell array 1 and a control circuit 7 controls interruption of drive voltage supply to a failure memory cell based on the output from the failure block detection circuit 10 in the test sequence thereof.
不良ブロック検出回路１０は、メモリセルアレイ１の消去単位での一括消去又は書き込み単位での一括書き込みのテストを行う際にそのテスト制御シーケンスの初期に活性化され、制御回路７はそのテストシーケンスにおいて、不良ブロック検出回路１０の検出出力に基づいて不良メモリセルへの駆動電圧供給の停止を制御する。 - 特許庁 - A disclosed example method includes: identifying, using a processor, an execution path through a batch configuration of a process control system; generating a test plan for the execution path; stimulating the process control system to execute the test plan; and recording a result of the test plan.
開示される例示的方法は、プロセッサを使用して、プロセス制御システムのバッチ構成を通して、実行経路を識別することと、実行経路のための試験計画を生成することと、試験計画を実行するようにプロセス制御システムを促進することと、試験計画の結果を記録することと、を含む。 - 特許庁 - Furthermore, the design supporting device 10 is provided with: a testing part 38 which determines whether or not the reference data can execute the processing group in a batch based on a test item preliminarily set according to the design procedure; and an output part which outputs the test result of the testing means as a test result report 44.
さらに、予め設計手順に応じて設定された検査項目に基づいて、基準データが処理群の一括実行が可能かを判断する検査部３８と、検査手段による検査結果を検査結果レポート４４として出力する出力部と、を有する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device and a wafer burn-in method, wherein wafer burn-in test having reliability can be executed with alignment precision to some degree, in the case that the number of terminals which make contact in batch in the state of wafer is increased, and the cost for test is low.
ウェハ状態で一括して接触する端子数が多くなっても、ある程度の位置合わせ精度で信頼性のあるウェハバーンイン試験が実施でき、安価なテストコストで済む半導体装置及びウェハバーンイン方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a continuous abrasion testing device capable of performing an abrasion test not in a batch style but continuously in succession without opening a lower tank or an upper tank, and improving efficiency.
バッチ式ではなく、下部タンクや上部タンクを開放せずに連続的に継続して摩耗試験を行うことができ、効率向上を図り得る連続式摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁 - A tester 1 and a plurality of sensors 2-1-2-n are provided with functions for performing the test of the plurality of sensors 2-1-2-n in a batch or continuously by a single operation in the tester 1.
試験器１および複数の感知器２−１〜２−ｎは、試験器１における単一操作で、複数の感知器２−１〜２−ｎの試験を、まとめて、あるいは、連続して、行なう機能を有している。 - 特許庁 - A series of batch tests was carried out to test the hypothesis that the same enzymes are used to attack chlorophenols with the same position-specific dechlorination reactions, resulting in competition between these compounds.
位置特異的な同じ脱塩反応によって，同じ酵素が700フェノールを攻撃し，これらの化合物の間の競合反応をもたらす，という仮説をテストするために一連のバッチ試験が行われた。 - 英語論文検索例文集 - Based on the characteristic batch file, a script file 8a is referred to and commands are transmitted sequentially to the IC card 1 as data outputted from the IC card 1 are compared to thereby execute test processes.
この固有のバッチファイルに基づいてスクリプトファイル８ａを参照し、ＩＣカード１へ順次命令コマンドを送信／ＩＣカード１から出力されたデータを比較して、試験処理を実行する。 - 特許庁 - The process execution part 14 perform logic analysis from the lowest step toward an upper step to acquire truth/false of condition branching included in the batch AP as the test object and a boundary value for acquiring value candidate information.
処理実行部１４は、最下位ステップから上位ステップに向けてロジック解析を行い、テスト対象のバッチＡＰに含まれる条件分岐の真／偽と、境界値とを取得して値候補情報を取得する。 - 特許庁 - The IC tag reading device is constituted so that the information of the IC tag 4 can be read in a batch by moving an article (test tube 1) with the IC tag 4 attached, relative to reader/writer antennas 3A and 3B.
ＩＣタグ４を付した物品（試験管１）をリーダライタアンテナ３Ａ，３Ｂに対して相対的に移動させることにより、ＩＣタグ４の情報を一括で読み取るようにＩＣタグ読取装置を構成する。 - 特許庁 - Moreover, by providing a function, in which a heating state can be checked just before the rear-most heating chamber 1-e, and a batch type heating of the foods of just one heating chamber-quantity can be made, a test run which saves waste can be performed.
また、最後尾加熱庫１−ｅの直前で、加熱状態のチェックができ、更には１加熱庫分の食材で、バッチ式に加熱できる機能を持たせることにより、無駄を省いた試運転が可能となる。 - 特許庁 - A series of batch tests was carried out to test the hypothesis that the same enzymes are used to attack chlorophenols with the same position-specific dechlorination reactions, resulting in competition between these compounds.
位置特定の同じ脱塩反応において，同じ酵素が塩化フェノールを攻撃するために使われ，これらの化合物の間に競合反応をもたらす，という仮説をテストするために一連のバッチ試験が行われた。 - 英語論文検索例文集 - A series of batch tests was carried out to test the hypothesis that the same enzymes are used to attack chlorophenols with the same position-specific dechlorination reactions, resulting in competition between these compounds.
位置特定の同じ脱塩反応において同じ酵素が塩化フェノールを攻撃するために使われ，これらの化合物の間に競合反応をもたらす，という仮説をテストするために一連のバッチ試験が行われた。 - 英語論文検索例文集 - A series of batch tests was carried out to test the hypothesis that the same enzymes are used to attack chlorophenols with the same position-specific dechlorination reactions, resulting in competition between these compounds.
位置特定の同じ脱塩素化反応において，同じ酵素が塩化フェノールを攻撃するために使われ，これらの化合物の間に競合反応をもたらす，という仮説をテストするために一連のバッチ試験が行われた。 - 英語論文検索例文集 - A series of batch tests was carried out to test the hypothesis that the same enzymes are used to attack chlorophenols with the same position-specific dechlorination reactions, resulting in competition between these compounds.
位置特定の同じ脱塩反応において，同じ酵素が塩化フェノールを攻撃するために使われ，これらの化合物の間に競合反応をもたらす，という仮説をテストするために一連のバッチ試験が行われた。 - 英語論文検索例文集 - When the result of the test for each internal level for each FU conversion is normal, information is input from outside the software (e.g. a screen or a batch) to the FU in the new language and the FU in the old language corresponding thereto, and a test for an external level as to whether the same behavior is performed or not is performed.
各ＦＵ変換についての各内部レベルのテストの結果が異常無しであれば、新言語のＦＵとそれに対応する旧言語のＦＵに対して、ソフトウェアの外部（例えばスクリーン或いはバッチ）から情報を入力し同じ振舞いが行われたかどうかの外部レベルのテストが行われる。 - 特許庁 - The semiconductor storage device has a test mode decision circuit 40 in which a first sense amplifier external activating signal SAPE as an external signal for a first sense amplifier activating signal SAP and a word line batch write mode selection signal TEST are inputted in its peripheral circuit part and the first amplifier activating signal SAP is outputted.
半導体記憶装置は、その周辺回路部に、第１のセンスアンプ起動信号ＳＡＰの外部信号である第１のセンスアンプ外部起動信号ＳＡＰＥ及びワード線一括書き込みモード選択信号ＴＥＳＴを入力とし、第１のセンスアンプ起動信号ＳＡＰを出力するテストモード判定回路４０を有している。 - 特許庁 - This operation system for the running support road system has a system operation management device performing online-processing of daily operation monitoring of equipment constituting the running support road system at all times in a batch and is provided with functions for giving a remote diagnostic processing command for daily inspection and operation test and recording test operation by this device.
走行支援道路システムの運用方式であって、走行支援道路システムを構成する設備機器の日常の常時動作監視を一括オンライン処理するシステム運用管理装置を有し、この装置で日常点検、動作試験のリモート診断処理指令、試験動作記録機能を具えている。 - 特許庁 - In a certifying test device, separately from magnetic head 4, a certifying zone batch magnetic field application means 10-1 and a uniaxial stage 41 for moving this means 10-1 in an up-and-down Z direction to serve as an AC demagnetization device 01.
サーティファイ試験装置に磁気ヘッド４とは別に、サーティファイ帯一括磁界印加手段１０−１と、この手段１０−１を上下のＺ方向に移動させる一軸ステージ４１とを設けて交流消磁装置０１を兼ねさせる。 - 特許庁 - All the path-fail data of a plurality of memory circuits built in a system LSI are stored in the failure analysis memory for collecting the path-fail data in a semiconductor memory test device, and the path-fail data are read from the failure analysis memory in batch (step S22).
半導体メモリのテスト装置内のパスフェイルデータ収集用不良解析メモリへ、システムＬＳＩに内蔵された複数のメモリ回路のパスフェイルデータをすべて格納し、その不良解析メモリから一括してパスフェイルデータを読み出す（ステップＳ２２）。 - 特許庁 - The test mode decision circuit 40 makes the first sense amplifier signal SAP inactive during the period of data writing in the word line batch write operation mode, and a P channel type MOS transistor Qp4 as the transistor for power supply to the sense amplifier is made to be in an inactive state.
テストモード判定回路４０は、ワード線一括書き込み動作モード時におけるデータ書き込み期間に第１のセンスアンプ起動信号ＳＡＰを非活性とすることにより、センスアンプへの電源供給用トランジスタであるＰチャネル型ＭＯＳトランジスタＱｐ４が非活性状態にされる。 - 特許庁 - In the IC test data output system 1, a data processing means 10 receives IC inspection data in a batch from a memory IC, and the data is processed into data complying with respective output formats on the basis of respective programs matching the various output formats in an output device 30.
ＩＣ試験データ出力システム１は、メモリＩＣのＩＣ試験データをデータ加工手段１０が一括して受け取り、出力装置３０における種々の出力形式に対応した各プログラムに基づいて、当該データを各出力形式に応じたデータに加工する。 - 特許庁 - To enable batch stress applying for all ferroelectric memory capacitors 3, 4 and to realize shortening of a test time in a ferroelectric memory device in which tests of applying positive electric field and negative electric field to ferroelectric memory capacitors 3, 4 alternately are performed.
強誘電体記憶キャパシタ３，４に正の電界と負の電界とを交互に印加するテストが行われる強誘電体メモリ装置において、全ての強誘電体記憶キャパシタ３，４に対する一括ストレス印加を可能にし、テスト時間の短縮を実現できるようにする。 - 特許庁 - To solve the problem that a long time and a large-scale device are required in conducting batch processing using an oven to heat a capacitor and thus release the polarization of a dielectric of the capacitor, which has been caused by a withstand voltage test under the impression of DC voltage on the capacitor.
コンデンサに対して、直流電圧印加下での耐電圧試験を実施したとき、コンデンサに備える誘電体が分極状態となり、この分極状態を解放するため、コンデンサを加熱する必要があるが、この加熱のためにオーブンによるバッチ処理を行なうと、時間がかかるとともに、大掛かりな装置を必要とする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device which has a plurality of signal batch latching means for latching external signal groups en bloc and supplying them to a prescribed internal circuit section as an internal signal group and in which yield can be improved even when dispersion in manufacturing is large, change of specification for a customer can be addressed with a low cost and in a short period, and to provide its test method.
外部信号群を一括ラッチし内部信号群として所定の内部回路部に供給する複数信号一括ラッチ手段を有する半導体装置であって、製造上のばらつきが大きい場合にも歩留を向上させことができ、且つ顧客仕様変更にも低コスト且つ短期間で対応することができる半導体装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁
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