「blocking test」を含む例文一覧(17)
- DRAIN PIPE BLOCKING DEVICE FOR LEAKAGE TEST
排水管の漏洩試験用閉塞具 - 特許庁 - The lid member 20 is mounted on the valve blocking member 10 at the non-using time of the test hole, and the plug member 40 is mounted on the valve blocking member 10 at the using time of the test hole.
試験孔の非使用時に弁閉塞具１０に蓋具２０を取り付け、試験孔の使用時に弁閉塞具１０にプラグ具４０を取り付ける。 - 特許庁 - To provide a drain pipe blocking device for a leakage test, allowing the blocking device to be easily inserted even into a narrow insertion port after installation of terminal devices for implementation of an air-filling type leakage test.
端末機器の取付後の狭い挿入口であっても容易に閉塞具を挿入して満空式の漏洩試験を実施可能とした排水管の漏洩試験用閉塞具を提供すること。 - 特許庁 - To provide a substrate which is used for an air bag, has an excellent lightweight property, and can maintain a good air blocking property and fire retardancy before and after a heat resistance test and a moisture resistance test.
軽量性に優れ、耐熱試験および耐湿試験前後で、空気遮断性、更には難燃性を保持しうるエアバッグ用基布を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING CLOTTED BLOOD AND OTHER BLOCKING OBJECTS, SAMPLE-GATHERING SYSTEM, AND METHOD FOR SEPARATING NON-PERMISSIBLE TEST SAMPLE
血餅その他の閉塞物の検出方法、試料採取システム及び許容できない試験試料の分離方法 - 特許庁 - To provide a test method for an integrated circuit with a memory cell arranged in a circumference of a core that a conditional blocking in a test mode is applied to a clock input of the core.
テストモードにおける条件付き抑止がそのクロック入力に適用されるコアの周りに配列されたメモリセルを有する集積回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁 - Generation of moisture is prevented by thus blocking heat from a light source of a light beam to be used for the test to the chip under test cooled to a low temperature via a chuck 13.
このようにテストに用いる光線の光源からの熱をチャック１３で低温に冷却されているテスト対象チップに対して遮断することによって、水気の発生を防止する。 - 特許庁 - To provide a tester which controls the temperature of a test tank so that the temperature of a semiconductor element under test does not exceed a maximum rating, thereby blocking the temperature of the semiconductor element under test from thermal runaway over the maximum rating due to leak currents.
被試験半導体素子の温度が最大定格を超えないように試験槽の温度を制御して、被試験半導体素子の温度がリーク電流により最大定格を超えて熱暴走に至るのを防止する試験装置を提供する。 - 特許庁 - The test pattern TP has the measuring area aligned linear light blocking parts PTL in a stripe-like form so that predetermined spatial frequency are given.
テストパターンＴＰは、所定の空間周波数となるように線状の遮光部ＰＴＬがストライプ状に配列された測定領域を有する。 - 特許庁 - To provide a blocking agent for working electrode processing capable of improving greatly detection sensitivity of a test material in specific detection of the test material using a photoelectric current generated by photoexcitation of a sensitizing pigment.
増感色素の光励起により生じる光電流を用いた被検物質の特異的検出において被検物質の検出感度を飛躍的に向上できる、作用電極処理用のブロッキング剤の提供。 - 特許庁 - To prevent the occurrence of an abnormal measured value of unknown cause occurring even if a blocking agent is used in the test of allergy using solid phase sandwich immunoassay.
固相サンドイッチ免疫学的測定法によるアレルギー検査において、ブロッキング剤を使用してもなお発生する原因不明の異常測定値の発生を防止する。 - 特許庁 - A molecule including a phosphoric acid group in a molecular skeleton is used as the blocking agent used in the contact state with a working electrode 3 used for the specific detection of the test material 1 using the photoelectric current generated by photoexcitation of the sensitizing pigment 2, thereby greatly improving the detection sensitivity of the test material.
増感色素２の光励起により生じる光電流を用いた被検物質１の特異的検出に用いられる作用電極３との接触下で使用されるブロッキング剤として、分子骨格中にリン酸基を含む分子を用いる。 - 特許庁 - The semiconductor integrated circuit for performing an input/output test of data is provided with a sense amplifier detecting a level of input data and a sense amplifier controller for blocking a signal path between the sense amplifier and a memory cell when a test mode signal is activated.
本発明は、データの入出力テストを行うするための半導体集積回路において、入力されたデータのレベルを検出するセンスアンプと、およびテストモード信号が活性化されたとき、前記センスアンプからメモリセルに達する信号経路を遮断するセンスアンプコントローラを備える。 - 特許庁 - This optical filter 2 for controlling transmission and blocking of test light comprises the optical fiber 7, and a stress applying section 8 having a plurality of projecting parts 9 arranged along a predetermined direction at a predetermined cycle.
試験光の遮断および透過を制御可能な光フィルタ２は、光ファイバ７と、所定の周期で、所定の方向に沿って配列した複数の凸部９を有する応力付与部８とを備えている。 - 特許庁 - To provide a method for calculating display characteristics correction data for an image display apparatus, capable of calculating correct correction data at all times, even when abnormality data are captured as photographing data due to changes in the external light or blocking-off of photographing by an obstacle in the case of photographing a test pattern.
テストパターンの撮影時に外光が変化したり障害物で撮影が遮られて撮影データに異常なデータが取り込まれたりした場合でも、常に正しい補正データを算出できる画像表示装置の表示特性補正データ算出方法を提供する。 - 特許庁 - This circuit is composed of an inspection pulse generating circuit 10 for inputting a test signal and outputting an oscillation signal, and data selector circuits 31-35 for blocking inputs of a data input signal of an external input signal, a scanning mode control signal, a scan input signal and a scan clock signal by the test signal to output a CLK signal of the oscillation signal and an ROUT signal to a campus circuit 20.
テスト信号を入力して発振信号を出力する検査用パルス発生回路１０と、テスト信号によって、外部入力信号であるデータ入力信号，スキャンモードコントロール信号，スキャン入力信号及びスキャンクロック信号の入力を遮断し、代わりに発振信号であるＣＬＫ信号およびＲＯＵＴ信号をスキャンパス回路２０に出力するデータセレクタ回路３１〜３５とで構成する。 - 特許庁 - In blocking the test light, the plurality of projecting parts 9 are butted on the optical fiber 7 so that the predetermined direction matches with the longitudinal direction of the optical fiber 3, and stress is applied to at least one of the stress applying section 8 and the optical fiber 7, thereby forming long cycle grating to the optical fiber 7.
上記試験光の遮断の際には、上記所定の方向が光ファイバ３の長手方向と一致するように複数の凸部９を光ファイバ７に当接させて、応力付与部８および光ファイバ７の少なくとも一方に応力を加えることにより、光ファイバ７に対して長周期グレーティングを形成する。 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
