「chip-testing」を含む例文一覧(253)
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検査用チップ - 特許庁 - CHIP TESTING DEVICE
チップ試験装置 - 特許庁 - CHIP COUNTERMEASURE TESTING MACHINE
切粉対策試験機 - 特許庁 - CHIP TESTING DEVICE AND SYSTEM
チップテスト装置とシステム - 特許庁 - METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CHIP
半導体チップのテスト方法 - 特許庁 - TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR CHIP
半導体チップの試験装置 - 特許庁 - MICROBIOLOGICAL TESTING CHIP AND MICROBIOLOGICAL TESTING INSTRUMENT
微生物検査チップ及び微生物検査装置 - 特許庁 - MICROORGANISM TESTING DEVICE AND MICROORGANISM TESTING CHIP
微生物検査装置及び微生物検査チップ - 特許庁 - TESTING METHOD OF CHIP SCALE PACKAGE
チップスケールパッケージのテスト方法 - 特許庁 - BARE CHIP CARRIER AND METHOD FOR TESTING BARE CHIP USING THE BARE CHIP CARRIER
ベアチップキャリアとこれを用いたベアチップの検査方法 - 特許庁 - MICROORGANISM TESTING DEVICE AND MICROORGANISM TESTING CHIP
微生物検査装置及び微生物検査用チップ - 特許庁 - METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CHIP
半導体チップを検査する方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR CHIP TESTING APPARATUS AND OPERATING PROCEDURE FOR SEMICONDUCTOR CHIP TESTING APPARATUS
半導体チップテスト装置及び半導体チップテスト装置の操作手順 - 特許庁 - MULTI-CHIP MODULE AND METHOD FOR TESTING CONNECTION BETWEEN CHIP
マルチチップモジュール及びそのチップ間接続テスト方法 - 特許庁 - CHIP TESTING DEVICE USING PRINTED CIRCUIT BOARD
プリント回路基板によるチップテスト装置 - 特許庁 - TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT CHIP
半導体集積回路チップ試験方法 - 特許庁 - DEVICE FOR TESTING TEMPERATURE CHANGE IN SEMICONDUCTOR CHIP
半導体チップの温度変化試験装置 - 特許庁 - MULTI-CHIP PACKAGE CAPABLE OF SHORTENING TESTING TIME
テストタイムを短縮できるマルチチップパッケージ - 特許庁 - DNA CHIP AND DNA TESTING METHOD
ＤＮＡチップおよびＤＮＡ検査方法 - 特許庁 - INTEGRATED CHIP TESTING DEVICE
集積されたチップをテストするための装置 - 特許庁 - TESTING TERMINAL OF CHIP TYPE ELECTRONIC PART AND TESTING METHOD AND TESTING DEVICE USING IT
チップ型電子部品の検査端子とそれを用いた検査方法および検査装置 - 特許庁 - Also provided are a microbiological testing instrument and a testing method to use the microbiological testing chip 10.
また、該微生物検査チップ１０を使用する微生物検査装置と、検査方法。 - 特許庁 - To provide a chip testing device capable of doubling test efficiency and allowing application even to the testing work of a micro-chip.
試験効率を二倍にし、且つ微小なチップの試験作業にも適用できる。 - 特許庁 - LSI CHIP AND ITS JUNCTION TESTING METHOD
ＬＳＩチップおよびその接合試験方法 - 特許庁 - BURN-IN TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR CHIP, BURN-IN TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP USED FOR BURN-IN TESTING METHOD
半導体チップのバーンイン試験方法、バーンイン試験装置及びバーンイン試験方法に使用する半導体チップ - 特許庁 - MULTI-CHIP MODULE, SEMICONDUCTOR CHIP, AND METHOD OF TESTING INTERCHIP CONNECTION IN MULTI-CHIP MODULE
マルチチップモジュール、半導体チップ及びマルチチップモジュールのチップ間接続テスト方法 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP
半導体チップの試験装置および試験方法 - 特許庁 - METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP, AND SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体チップの試験方法，半導体装置 - 特許庁 - METHOD OF TESTING IC CHIP AND TEST DEVICE THEREFOR
ＩＣチップのテスト方法及びそのテスト装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR CHIP AND TESTING METHOD THEREFOR
半導体チップおよび半導体チップのテスト方法 - 特許庁 - ONE-CHIP MICROCOMPUTER, AND OVERVOLTAGE IMPRESSION TESTING METHOD FOR ONE-CHIP MICROCOMPUTER
ワンチップマイクロコンピュータ及びワンチップマイクロコンピュータの過電圧印加試験方法 - 特許庁 - To manufacture a testing chip and analyze measurement data obtained by the testing chip in easy manner.
試験用チップの製造、及び当該試験用チップより得られる計測データの解析を簡易に行う。 - 特許庁 - BIO MATERIAL ANALYSIS SYSTEM AND TESTING CHIP USED THEREFOR, TRANSFER FILM, AND MANUFACTURING APPARATUS OF FOR TESTING CHIP
生体物質解析システム、及び該システムに用いる試験用チップ、転写フィルム、試験用チップ製造装置 - 特許庁 - PROBE CARD FOR USE IN TESTING CHIP ON SEMICONDUCTOR WAFER, AND METHOD FOR TESTING CHIP ON SEMICONDUCTOR WAFER
半導体ウエハ上のチップの検査に用いるプローブカードおよび半導体ウエハ上のチップの検査方法 - 特許庁 - SYSTEM AND CASSETTE FOR TESTING SEMICONDUCTOR CHIP
半導体チップを試験するためのシステム及びカセット - 特許庁 - CHIP FOR DETECTING POLYNUCLEOTIDE AND APPARATUS FOR TESTING POLYNUCLEOTIDE
ポリヌクレオチド検出チップ及びポリヌクレオチド検査装置 - 特許庁 - TEST STRUCTURE FOR ON-CHIP REAL-TIME RELIABILITY TESTING
オン・チップ・リアルタイム信頼性試験用の試験構造 - 特許庁 - MICROREACTOR CHIP, METHOD FOR TESTING CHEMICAL REACTION, AND THIN FILM MATERIAL FOR MICROREATOR CHIP
マイクロリアクタチップ，化学反応試験方法及びマイクロリアクタチップ用薄膜部材 - 特許庁 - TESTING APPARATUS FOR HIGH-FREQUENCY CHARACTERISTIC OF CHIP-TYPE ELECTRONIC COMPONENT
チップ型電子部品の高周波特性試験装置 - 特許庁 - METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR CHIP, TESTER, AND PROBE CARD
半導体チップの検査方法、検査装置、及びプローブカード - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR CHIP SORTING DEVICE
半導体試験装置および半導体チップ選別装置 - 特許庁 - ON-CHIP MODULE, AND SYSTEM AND METHOD FOR TESTING INTERCONNECTION BETWEEN ON-CHIP MODULES
オンチップモジュ—ルおよびオンチップモジュ—ル間の相互接続をテストするシステムおよび方法 - 特許庁 - OSCILLATION CIRCUIT, PLL CIRCUIT, SEMICONDUCTOR CHIP, AND TESTING DEVICE
発振回路、ＰＬＬ回路、半導体チップ、および、試験装置 - 特許庁 - To provide a control circuit for a contact opening and closing device, and a semiconductor chip testing system and a semiconductor chip testing method using the control circuit.
接点開閉装置の制御回路及びこれを用いた半導体チップテストシステム並びにテスト方法を提供する。 - 特許庁 - MODULATION CIRCUIT, SIGNAL GENERATOR, TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR CHIP
変調回路、信号発生器、試験装置、及び半導体チップ - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE, TESTING METHOD THEREOF AND SEMICONDUCTOR CHIP
半導体装置およびその検査方法および半導体チップ - 特許庁 - SOCKET ASSEMBLY FOR TESTING IC CHIP, IC CHIP USING THE SAME, AND TESTER USING THE SOCKET ASSEMBLY
集積素子テスト用ソケット組立体、これを用いる集積素子、及びこれを用いるテスタ - 特許庁 - MULTIPLE LINE GRID FOR TESTING, SEMICONDUCTOR CHIP, AND TEST ELEMENT FOR CHECKING PERFORMANCE OF SEMICONDUCTOR CHIP
テスト用マルティプルライングリッド、半導体チップ、並びに、半導体チップの性能チェック用テスト素子 - 特許庁 - SINGLE CHIP MICROCOMPUTER, TESTING METHOD THEREFOR AND TEST PROGRAM
シングルチップマイクロコンピュータ並びにその試験方法及び試験プログラム - 特許庁 - PHYSICAL LAYER CHIP FOR IEEE1394 STANDARDS, AND TESTING METHOD THEREFOR
ＩＥＥＥ１３９４規格の物理層チップ及びそのテスト方法 - 特許庁
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