「component testing」を含む例文一覧(253)

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  • COMPONENT TRANSFER APPARATUS, SURFACE-MOUNTING APPARATUS, AND COMPONENT TESTING APPARATUS
    部品搬送装置、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁
  • COMPONENT TRANSFER APPARATUS, SURFACE MOUNTING MACHINE, AND COMPONENT TESTING DEVICE
    部品搬送装置、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁
  • FLEXIBLE SUBSTRATE AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE
    フレキシブル基板及び電子部品試験装置 - 特許庁
  • SUBSTRATE FOR MANUFACTURING OR TESTING ELECTRONIC COMPONENT
    電子部品の製造または試験用基板 - 特許庁
  • BLOWING SYSTEM AND DEVICE FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT
    送風装置及び電子部品試験装置 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT
    電子部品の試験方法及び試験装置 - 特許庁
  • MEASURING BOARD FOR ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE
    電子部品試験装置用の測定用ボード - 特許庁
  • EVALUATION TESTING TOOL AND EVALUATION TESTING ELECTRODE FOR ELECTRONIC COMPONENT
    電子部品の評価試験用治具及び評価試験用電極 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR COMPONENT MOUNTING DEVICE AND TESTING DEVICE
    半導体部品取付装置及び試験装置 - 特許庁
  • TESTING DEVICE FOR CONSTITUTIVE COMPONENT OF VEHICLE DRIVING SYSTEM
    車両駆動系構成部品の試験装置 - 特許庁
  • SHEET CONNECTOR, SOCKET FOR ELECTRONIC COMPONENT, AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE
    シート状コネクタ、電子部品用ソケット及び電子部品試験装置 - 特許庁
  • COMPONENT RECOGNITION DEVICE, COMPONENT RECOGNITION METHOD, SURFACE MOUNTING MACHINE AND COMPONENT TESTING DEVICE
    部品認識装置、部品認識方法、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁
  • ELECTRONIC COMPONENT TRAY, ELECTRONIC COMPONENT TRAY CARRIER AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS
    電子部品用トレイ、電子部品用トレイ搬送装置および電子部品試験装置 - 特許庁
  • COMPONENT-RECOGNIZING METHOD, COMPONENT-RECOGNIZING DEVICE, SURFACE MOUNTING EQUIPMENT AND COMPONENT-TESTING EQUIPMENT
    部品認識方法、部品認識装置、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁
  • This component testing device includes two conveyance hands 50A, 50B for conveying the electronic component T to a component testing part.
    部品試験装置は部品試験部に電子部品Ｔを搬送する２つの搬送ハンド５０Ａ，５０Ｂを有する。 - 特許庁
  • TESTING METHOD AND TESTER FOR SEMICONDUCTOR COMPONENT
    半導体部品の試験方法及び試験装置 - 特許庁
  • COMPONENT RECOGNITION DEVICE, SURFACE MOUNTING MACHINE AND COMPONENT TESTING DEVICE
    部品認識装置及び表面実装機並びに部品試験装置 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR COMPONENT
    半導体部品の試験方法および試験装置 - 特許庁
  • To provide a testing device of an electronic component which is capable of correctly controlling the temperature of the electronic component and testing the component at a desired testing temperature.
    電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができる電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁
  • ADAPTER AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE PROVIDED WITH THE SAME
    アダプタ及びそれを備えた電子部品試験装置 - 特許庁
  • TESTING MACHINE FOR MECHANICAL CHARACTERISTICS OF TRANSMISSION LINE WITH OPTICAL COMPONENT
    光部品付伝送線の機械的特性試験機 - 特許庁
  • TESTING APPARATUS FOR HIGH-FREQUENCY CHARACTERISTIC OF CHIP-TYPE ELECTRONIC COMPONENT
    チップ型電子部品の高周波特性試験装置 - 特許庁
  • TEST SECTION UNIT, TEST HEAD, AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE
    テスト部ユニット、テストヘッドおよび電子部品試験装置 - 特許庁
  • EDDY CURRENT INSPECTION SYSTEM FOR TESTING COMPONENT
    構成部品を試験するための渦電流検査システム - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR TESTING CONTINUITY OF ELECTRONIC COMPONENT
    電子部品の導通試験装置及び該試験方法 - 特許庁
  • LIGHTING DEVICE, COMPONENT RECOGNITION DEVICE, SURFACE MOUNTING MACHINE AND COMPONENT TESTING DEVICE
    照明装置、部品認識装置、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR TESTING OF ELECTRONIC COMPONENT
    電子部品試験装置および電子部品の試験方法 - 特許庁
  • PROBE CARD AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE INCLUDING THE SAME
    プローブカードおよびそれを備えた電子部品試験装置 - 特許庁
  • CONTACT ARM AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE USING IT
    コンタクトアームおよびこれを用いた電子部品試験装置 - 特許庁
  • SOCKET FOR TESTING NARROW-TERMINAL ELECTRONIC COMPONENT USING FLUID PRESSURE
    流体圧を利用した狭端子電子部品試験用ソケット - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT
    電子コンポーネント試験装置及び電子コンポーネントの試験方法 - 特許庁
  • TESTING METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT WITH DRIFT OF AVERAGE VALUE TAKEN INTO CONSIRATION
    平均値のドリフトを考慮した電子部品のテスト方法 - 特許庁
  • COMPONENT RECOGNITION DEVICE, SURFACE MOUNTING EQUIPMENT, AND COMPONENTS TESTING DEVICE
    部品認識装置、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR SEMICONDUCTOR COMPONENT TESTING
    半導体部品検査方法および半導体部品検査装置 - 特許庁
  • ECCENTRICITY ERROR MEASURING METHOD, COMPONENT CARRYING METHOD, COMPONENT CARRYING APPARATUS, SURFACE MOUNT MACHINE, AND COMPONENT TESTING APPARATUS
    偏心誤差測定方法、部品搬送方法、部品搬送装置、表面実装機および部品試験装置 - 特許庁
  • COMPONENT RECOGNITION APPARATUS AND SURFACE-MOUNTING MACHINE MOUNTED THEREWITH, AND COMPONENT TESTING APPARATUS
    部品認識装置及び同装置を搭載した表面実装機並びに部品試験装置 - 特許庁
  • TESTING DEVICE FOR OPERATION CHARACTERISTIC OF COMPONENT USING SERIAL TRANSMISSION
    直列伝送を用いたコンポ—ネントの動作特性の試験装置 - 特許庁
  • ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE, SOCKET BOARD ASSEMBLY, AND INTERFACE DEVICE
    電子部品試験装置、ソケットボード組立体、及びインタフェース装置 - 特許庁
  • PROBE CARD FIXING DEVICE, AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE PROVIDED THEREWITH
    プローブカード固定装置及びそれを備えた電子部品試験装置 - 特許庁
  • METHOD AND SYSTEM FOR PARTIAL DISCHARGE TESTING OF AN INSULATION COMPONENT
    絶縁コンポーネントの部分放電テストのための方法及びシステム - 特許庁
  • INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD FOR THE SAME AND INTEGRATED-CIRCUIT COMPONENT
    集積回路、集積回路の試験方法、集積回路部品 - 特許庁
  • SUCTION STATE INSPECTION DEVICE, SURFACE MOUNTING MACHINE AND COMPONENT TESTING DEVICE
    吸着状態検査装置、表面実装機及び部品試験装置 - 特許庁
  • SPECIFIC COMPONENT TESTING DEVICE, DATA STORAGE METHOD AND DATA PROCESSING METHOD
    特定成分検査装置、データ格納方法およびデータ処理方法 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR TESTING COMPONENT BUILT IN CIRCUIT BOARD
    回路基板に組み込まれた部品を検査するための装置及び方法 - 特許庁
  • To provide an evaluation testing tool and an evaluation testing electrode for an electronic component, wherein setting the electronic component is easily set, and maintenance is performed easily.
    電子部品のセットが容易でかつメンテナンスの容易な電子部品の評価試験用治具及び評価試験用電極を提供する。 - 特許庁
  • To provide an electronic component testing device which is capable of performing a test at an accurate temperature in consideration of self-heating of an electronic component during testing.
    テスト時における電子部品の自己発熱を考慮して正確な温度で試験を行うことができる電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The testing apparatus is designed to be a component used in a durability/fatigue testing unit.
    試験装置は、耐久性／疲労の試験ユニットの中において用いられる構成要素となるように、設計されている。 - 特許庁
  • The invention is a kind of the electronic component testing system which includes many testing areas and is provided with a pick and place device in each testing area.
    本発明は一種の電子部品テストシステムであり、多数のテストエリアを包含し、各テストエリアはそれぞれ、取放（ｐｉｃｋ ＆ ｐｌａｃe）装置が設けられる。 - 特許庁
  • The electronic component testing device includes a workstation, a tester body, and a test head.
    電子部品試験装置は、ワークステーション、テスタ本体、及びテストヘッドを備える。 - 特許庁
  • CALIBRATION METHOD OF MULTIPLE COMPONENT FORCE DETECTOR INSTALLED ON ROLLING RESISTANCE TESTING DEVICE
    転がり抵抗試験機に備えられた多分力検出器の校正方法 - 特許庁
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