「compression test」を含む例文一覧(165)
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圧縮試験装置 - 特許庁 - COMPRESSION TEST APPARATUS
圧縮試験装置 - 特許庁 - TOOL FOR COMPRESSION TEST
圧縮試験用治具 - 特許庁 - TEST APPARATUS FOR COMPRESSION IN ENGINE
エンジンの圧縮試験装置 - 特許庁 - COLLECTING CONTAINER FOR TEST PIECE FOR CONCRETE COMPRESSION TEST
コンクリート圧縮試験用供試体採取容器 - 特許庁 - TRIAXIAL CELL, TRIAXIAL COMPRESSION TEST DEVICE, AND TRIAXIAL COMPRESSION TEST METHOD
三軸セル、三軸圧縮試験装置及び三軸圧縮試験方法 - 特許庁 - COMPRESSION CREEP TEST APPARATUS OF REFRACTORY
耐火物の圧縮クリープ試験装置 - 特許庁 - MEMORY CIRCUIT HAVING COMPRESSION TEST FUNCTION
圧縮テスト機能を有するメモリ回路 - 特許庁 - To perform a high-temperature compression test of a test piece by heating two surfaces of the test piece to different temperatures.
供試体の２面を異なる温度に加熱して試験できるようにする。 - 特許庁 - COMPRESSION STRENGTH TEST CONTROL METHOD OF CONCRETE
コンクリートの圧縮強度試験管理方法 - 特許庁 - A test in a compression direction can also be performed simultaneously with a tensile test.
引張試験と同時に圧縮方向の試験も可能とする。 - 特許庁 - A compression breaking strength test is performed by use of this test piece.
このテストピースを用いて圧縮破壊強度試験を行う。 - 特許庁 - DATA MEMORY COMPRESSION IN EVENT TYPE TEST SYSTEM
イベント型テストシステムにおけるデータメモリ圧縮 - 特許庁 - GENERATION OF COMPRESSION TEST PLAN FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST SERIES GENERATION AND TEST
集積回路のテストのための圧縮テストプランの生成、テスト系列生成およびテスト - 特許庁 - COMPRESSION/SHEAR TEST METHOD AND ITS TESTING DEVICE
圧縮・剪断試験方法及びその試験装置 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR CHARACTERISTIC TEST TO COMPRESSION SPRING
圧縮バネの特性試験方法および装置 - 特許庁 - TEST PATTERN COMPRESSION METHOD AND APPARATUS, TEST PATTERN COMPRESSION PROGRAM, AND MEDIUM WITH THE PROGRAM STORED
テストパターンの圧縮方法および装置、並びに、テストパターンの圧縮プログラムおよび該プログラムを記録した媒体 - 特許庁 - A test series is generated by substituting the test pattern of each circuit element into the compression test plan.
圧縮テストプランに各回路要素のテストパターンを代入することで、テスト系列を生成する。 - 特許庁 - To provide a stress test fixture for preventing a test piece from being buckled in a tensile and compression stress test, and a tensile and compression stress test method using it.
引張圧縮応力試験において座屈の発生を防止できる応力試験治具及びこれを用いた引張圧縮応力試験方法の提供。 - 特許庁 - COMPRESSION DEVICE FOR TEST PATTERN SET, ITS METHOD AND RECORDING MEDIUM
テストパタンセット圧縮装置、方法及び記録媒体 - 特許庁 - To correctly decide a compression parameter by which a target compression rate is attained by only a few test compression times by calculating the proper compression parameter to obtain the target compression rate and compressing image data through the use of the calculated compression parameter.
本発明は、電子カメラまたは画像処理プログラムの画像圧縮動作において、所望の目標圧縮率を的確に達成することを目的とする。 - 特許庁 - To accurately perform the compression test of a fine linear sample.
細い線状の試料を精度よく圧縮試験する。 - 特許庁 - TEST PIECE HOLDING APPARATUS FOR TENSION/COMPRESSION TEST OF NON-PRINCIPAL AXIS COMBINED MATERIAL, AND TEST METHOD USING THE SAME
非主軸複合材の引張・圧縮試験用の試験片掴み装置及びそれを用いた試験方法 - 特許庁 - MULTI-SHELL STRUCTURE MATERIAL AND ITS UNCONFINED COMPRESSION TEST METHOD
多殻構造材料及びその一軸圧縮試験方法 - 特許庁 - To facilitate centering of a test piece on a compression platen.
圧縮圧盤上で試験片のセンタリングを容易に行う。 - 特許庁 - TEST PIECE FOR BIAXIAL LOAD TEST OF TENSION AND COMPRESSION, TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD
引張と圧縮の二軸負荷試験用試験片及び試験装置並びに試験方法 - 特許庁 - To preclude a data of an indefinite value from being taken from an indefinite value generation circuit into a test result compression part therefor, in a scan test using the test result compression part.
テスト結果圧縮部を使用するスキャンテスト時に不定値発生回路からの不定値のデータがそのテスト結果圧縮部に取り込まれないようにする。 - 特許庁 - To reduce the time of an I/O compression test at low cost.
Ｉ／Ｏ圧縮テスト時間を短縮かつ低コストで実現する。 - 特許庁 - To provide a test piece manufacturing method which enables a compression test to be performed with respect to a test piece in a state near to actual construction time.
実際の施工時に近い状態の供試体で圧縮試験を行うことができる供試体作成方法を得る。 - 特許庁 - NONDESTRUCTIVE COMPRESSION TEST METHOD AND DEVICE FOR CONCRETE
コンクリートの非破壊圧縮試験方法及び非破壊圧縮試験装置 - 特許庁 - The test pattern compression method performs compression on a plurality of test patterns for testing a circuit and is configured so as to simultaneously test the logic paths which cross each other activated by each test pattern.
回路をテストする複数のテストパターンに対して圧縮を行うテストパターンの圧縮方法であって、前記各テストパターンで活性化された論理パスが交差するものを同時にテストするように構成する。 - 特許庁 - TEST HAMMER FOR UNDERWATER EVALUATION AND CONCRETE COMPRESSION STRENGTH EVALUATION METHOD
水中評価用テストハンマおよびコンクリート圧縮強度評価方法 - 特許庁 - To provide test data compression method applicable to System-on Chip (SoC) which can attain maximum compression, while shortening the test run time.
試験実行時間を短縮するとともに最大圧縮を達成可能な、システムオンチップ（ＳｏＣ；System-on Chip）チップに適用可能なデータ圧縮方法を提供する。 - 特許庁 - INFORMATION PROCESSOR, TEST PATTERN DATA COMPRESSION METHOD FOR INFORMATION PROCESSOR, AND PROGRAM
情報処理装置、情報処理装置のテストパターンデータ圧縮方法及びプログラム - 特許庁 - By independently heating the upper and lower press plates, the high-temperature compression test of the test piece TP can be performed in a state that a temperature difference is provided between the upper and under surfaces of the test piece TP.
このように上下圧盤を独立に加熱することで、供試体ＴＰの上下面に温度差を持たせての高温圧縮試験が可能となる。 - 特許庁 - A test facilitating circuit is structured so that the test result of an IP 12 is extracted to the outside the SOC 11 via a test result storage circuit 15, which subjects the test result of the IP 12 to signature-compression.
本発明は、ＩＰ１２のテスト出力をシグネチャ圧縮するテスト結果格納回路１５を介して、ＩＰ１２のテスト結果をＳＯＣ１１の外部に取り出すように構成される。 - 特許庁 - The test plan of each circuit element for composing a data path is subjected to scheduling in parallel in a form to be compressed, and a compression operation is made to generate a compression test plan (step 1006).
データパスを構成する各回路要素のテストプランを圧縮可能な形で並列にスケジューリングし、圧縮演算を施して圧縮テストプランを生成する（ステップ１００６）。 - 特許庁 - A test mode for performing data compression of test output data from a memory core part and transferring the test output data to a data input-output node 50 includes a normal mode and a fine mode, the degree of data compression of which is lower than that of the normal mode.
メモリコア部からのテスト出力データをデータ圧縮した上でデータ入出力ノード５０へ伝達するテストモードは、通常モードと、通常モードよりもデータ圧縮度が低いファインモードとを含む。 - 特許庁 - By changing the number of bits (data compression rate) for distributing the first and second test data TWD 1 and 2, a data compression test to the parity memory block PMB can be carried out without increasing the number of test terminals.
第１および第２試験データＴＷＤ１−２を分配するビット数（データの圧縮率）を変えることで、試験端子の数を増やすことなく、パリティメモリブロックＰＭＢに対するデータ圧縮試験を実施できる。 - 特許庁 - COMPRESSION TEST SAMPLE OF CENTRIFUGALLY TIGHTENED AND HARDENED CONCRETE, ITS FORM, AND ITS MANUFACTURE
遠心力締固めコンクリートの圧縮試験供試体、その型枠及び製造方法 - 特許庁 - SCAN TEST SYSTEM AND TECHNIQUE WITH FULLY INDEFINITE TOLERANCE AND VERY HIGH SCAN COMPRESSION
完全に不定値許容性であって非常に高スキャン圧縮なスキャンテストシステム及び技術 - 特許庁 - TEST DATA COMPRESSION METHOD FOR SYSTEM-ON-CHIP USING RE-SEED FOR LINEAR FEEDBACK SHIFT REGISTER
線形フィードバックシフトレジスタの再シードを使用するシステムオンチップの試験データ圧縮方法 - 特許庁 - To reduce costs for a test by shortening time for testing a semiconductor memory having an error correction function and a data compression test function.
誤り訂正機能およびデータ圧縮試験を有する半導体メモリの試験時間を短縮し、試験コストを削減する。 - 特許庁 - To make generatable a simulation test bench capable of compression test pattern files of plural input signal lines into one test pattern file thereby reducing the occupied quantity of the test pattern file in a recording medium.
複数の入力信号線のテストパターンファイルを一つのテストパターンファイルにデータ圧縮し、テストパターンファイルの記録媒体における占有量を減少させるシミュレーションテストベンチ生成を可能とする。 - 特許庁 - In the storage container 11, a primary maximum compression load by a compression test prescribed by JIS Z0212 ranges from 1.5 to 20 kN.
収容容器１１は、ＪＩＳ Ｚ０２１２に規定された圧縮試験による一次最大圧縮荷重が１．５〜２０ｋＮのものである。 - 特許庁 - To provide a semiconductor test system capable of storing a test result in a small-capacity data fail memory by using a compression technique.
圧縮技術を用いて、小さな容量のデータフェイルメモリにテスト結果を格納することができる、半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁 - Test data input time series compression circuit 1-3 has a flag register, a data register and a computing unit.
テストデータ入力時系列圧縮回路１−３は、フラグレジスタ、データレジスタ、及び演算器を有する。 - 特許庁 - To provide test data for evaluating dynamic compression breaking strength of a ceramic material.
セラミックス材料の動的圧縮破壊強度を評価する試験データを得ることを可能にする。 - 特許庁 - This device is provided with a compression means for forming only the change portion from the previous pattern, while paying attention to a test pattern file used for a semiconductor test every pattern vector, to compress the test pattern file, and a memory means for storing the test pattern file compressed by the compression means.
また、半導体の試験に使用するテストパターンファイルをパターンベクタ毎に着目し、前のパターンベクタからの変更分のみをファイル化して上記テストパターンファイルの圧縮を行う圧縮手段と、該圧縮手段で圧縮されたテストパターンファイルを記憶する記憶手段とを備える。 - 特許庁 - As a material for the decorating mold 5, an elastic material of ≤25% in compression set by the compression set test in JIS K6262 is used.
加飾型５の素材は、JIS K6262の圧縮永久ひずみ試験による圧縮永久ひずみが２５％以下である弾性材が用いられている。 - 特許庁
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