「compression testing」を含む例文一覧(36)
- COMPRESSION CREEP-TESTING MACHINE
圧縮クリープ試験機 - 特許庁 - COMPRESSION CREEP TESTING DEVICE
圧縮クリープ試験装置 - 特許庁 - COMPRESSION FATIGUE TESTING METHOD
圧縮疲労試験方法 - 特許庁 - CONCRETE COMPRESSION TESTING DEVICE
コンクリート圧縮試験装置 - 特許庁 - COMPRESSION TESTING METHOD, COMPRESSION TESTING MACHINE, AND PROGRAM
圧縮試験方法及び圧縮試験機、並びにプログラム - 特許庁 - MACHINE FOR TESTING IMPACT COMPRESSION
衝撃圧縮試験装置 - 特許庁 - OPERATION PANEL AND TENSILE TESTING MACHINE, COMPRESSION TESTING MACHINE OR TENSILE/COMPRESSION TESTING MACHINE HAVING IT
操作パネル及びこれを有する引張試験機、圧縮試験機又は引張・圧縮試験機 - 特許庁 - IMPACT COMPRESSION TESTING DEVICE FOR CERAMICS
セラミックス用衝撃圧縮試験装置 - 特許庁 - PAPER IMPACT COMPRESSION TESTING DEVICE AND TESTING METHOD USING DEVICE
用紙衝撃圧縮試験装置及び該装置を用いた試験方法 - 特許庁 - COMPRESSION/SHEAR TEST METHOD AND ITS TESTING DEVICE
圧縮・剪断試験方法及びその試験装置 - 特許庁 - COMPRESSION/TENSILE TESTING APPARATUS AND OUTPUT ADJUSTING DEVICE
圧縮・引張試験装置および出力調整装置 - 特許庁 - TEST PIECE FOR BIAXIAL LOAD TEST OF TENSION AND COMPRESSION, TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD
引張と圧縮の二軸負荷試験用試験片及び試験装置並びに試験方法 - 特許庁 - MEASURING/TESTING METHOD OF UNIAXIAL COMPRESSION VISCOSITY AND INSTRUMENT THEREFOR
一軸圧縮粘度の測定試験方法及びその装置 - 特許庁 - PARTICLE COMPRESSION TESTING MACHINE AND SAMPLE TABLE FOR THE SAME
粒子圧縮試験機及び粒子圧縮試験機用試料台 - 特許庁 - DATA OUTPUT COMPRESSION CIRCUIT FOR TESTING CELL IN BANK AND ITS METHOD
バンク内のセルをテストするためのデータ出力コンプレス回路及びその方法 - 特許庁 - GENERATION OF COMPRESSION TEST PLAN FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST SERIES GENERATION AND TEST
集積回路のテストのための圧縮テストプランの生成、テスト系列生成およびテスト - 特許庁 - WC value (compression energy value) of the wavy processing region part measured by means of a KES compression testing machine is 0.25-1.5 gf.cm/cm^2.
前記波状加工領域部分のＫＥＳ圧縮試験機によるＷＣ値（圧縮エネルギー値）が０．２５〜１．５gf・cm/cm^2である。 - 特許庁 - To provide a compression creep testing device capable of measuring precisely a displacement of a sample in a direction applied with a compression load.
圧縮荷重を加えた方向における試料の変位を高精度に測定することができる圧縮クリープ試験装置の提供。 - 特許庁 - To provide a compression tester capable of applying a low-pressure load, and easily testing a sample with high accuracy.
より低圧の負荷が可能で、試験が簡易で高精度で試験できる圧縮試験機を提供する。 - 特許庁 - COMPRESSION/DECOMPRESSION METHOD FOR PATTERN DATA FOR SEMICONDUCTOR-TESTING APPARATUS AND TEST PATTERN- COMPRESSING/EXPANDING APPARATUS
半導体試験装置用パタ—ンデ—タのコンプレッション・デコンプレッション方法及びテストパタ—ン圧縮・伸張装置 - 特許庁 - To provide a semiconductor device capable of reducing electric power consumption at testing and easily attaining compression scan test.
テスト時の消費電力の低減と共に圧縮スキャンテストを容易に実現可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁 - To propose a tool for performing a compression test by utilizing a tensile testing machine that is widely in use as it is.
広く普及している引張試験機をそのまま利用して圧縮試験を実施できる治具を提案する。 - 特許庁 - To provide a compression/shear test method and its testing device capable of testing a performance test of compression deformation and/or shear deformation of a large-size sample piece without using large-scale equipment or a device.
大型の供試体の圧縮変形及び／または剪断変形の性能試験を大掛かりな設備や装置を用いることなく試験することが出来る圧縮・剪断試験試験方法及びその試験装置を提供することにある。 - 特許庁 - To realize an efficient data compression test by a smaller number of wirings in a data compression testing technique of a memory chip.
本発明は、メモリチップのデータ圧縮テスト技術に関し、より少ない配線数で、効率の良いデータ圧縮テストを実現できるようにすることを最も主要な特徴とする。 - 特許庁 - In this compression fatigue testing method, the non-contact state of an indenter and a sample is provided one or more times during measurement.
測定中に圧子と試料が非接触である状態を１回以上設けることを特徴とする圧縮疲労試験方法。 - 特許庁 - To reduce costs for a test by shortening time for testing a semiconductor memory having an error correction function and a data compression test function.
誤り訂正機能およびデータ圧縮試験を有する半導体メモリの試験時間を短縮し、試験コストを削減する。 - 特許庁 - The test pattern compression method performs compression on a plurality of test patterns for testing a circuit and is configured so as to simultaneously test the logic paths which cross each other activated by each test pattern.
回路をテストする複数のテストパターンに対して圧縮を行うテストパターンの圧縮方法であって、前記各テストパターンで活性化された論理パスが交差するものを同時にテストするように構成する。 - 特許庁 - Also the semiconductor testing apparatus 10 comprises: a data compression section 16a for compressing the fail data FD according to a prescribed rule; and region fail memories 17, 18 for storing the fail data compressed by the data compression section 16a.
また、この半導体試験装置１０は、フェイルデータＦＤを所定の規則に従って圧縮するデータ圧縮部１６ａと、データ圧縮部１６ａで圧縮されたフェイルデータを記憶するリージョンフェイルメモリ１７，１８とを備える。 - 特許庁 - The method for impact response testing comprises the step of elastically telescopically mounting an impact hammer 4 to a cylindrical body 5 via a compression spring in a direction of an axial center of the body 5 (directions of arrows A, B).
筒状の本体５に圧縮バネ１０を介して打撃ハンマー４を当該本体５の軸心方向（矢印Ａ、Ｂ方向）に弾性的に進退自在に取り付ける。 - 特許庁 - In a control method in a material testing device, a material test piece 1 is housed in a chamber 2, and the pressure in the chamber is made higher than atmospheric pressure and compression load is applied to the material test piece by a compression actuator 9.
材料試験装置における制御方法は、材料試験片（１）をチャンバー（２）内に収納するとともに、チャンバー内の圧力を大気圧よりも高くし、かつ、前記材料試験片に圧縮用アクチュエータ（９）で圧縮荷重を加えている。 - 特許庁 - To provide a method for testing concrete capable of molding a sample with secured parallelism in both ends, without requiring end face finishing of the sample, and capable of executing a compression test of the concrete under the condition where the quality of the molded sample is maintained, and to provide further a mold for the sample used favorably in the testing method for the concrete.
供試体の端面仕上げを要することなく、両端の平行度が確保された供試体を成型し、成型された供試体の品質を維持した状態で、コンクリートの圧縮試験を行うことを可能としたコンクリートの試験方法を提案すること。 - 特許庁 - To provide a microcompression testing machine capable of sequentially and automatically performing a compression test with respect to the granular sample scattered on a lower pressure plate at random and reducing the load of an operator.
下部圧盤上にランダムにばら撒かれた粒状試料に対し、逐次自動的に圧縮試験行うことができ、オペレータの負担を軽減することのできる微小圧縮試験機を提供する。 - 特許庁 - To provide an impact testing device capable of removing a load increase caused by compression of air in the buckling deformation, and capable of easy measurement of essential load characteristics of the honeycomb block test piece, by securing permeability between the inside of a honeycomb block test piece and the open air.
ハニカムブロック供試体の内部と外気との通気性を確保することにより、座屈変形時の空気の圧縮による荷重増加を排除でき、ハニカムブロック供試体本来の荷重特性を容易に測定できる衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁 - The metallic microsphere preferably shows a deformation resistance of ≤3,500 mN for a displacement magnitude of 10% when measured at room temperature using a micro compression testing machine comprising an upper trapezoid diamond indenter and a lower pressure plate made of an SKS plate.
また、本発明の金属微小球は上部台形型ダイアモンド圧子とＳＫＳ平板である下部加圧板とからなる微小圧縮試験器を用い、室温において測定した際の変位量１０％における変形抵抗が３５００ｍＮ以下であることが好ましい。 - 特許庁 - To provide a compression test device for stably arranging a pedestal member used as the base of a test piece, obtaining a more reliable test result, easily and surely adjusting the position of the pedestal member in a preliminary test, and reducing the workload of a person in charge of testing.
試験体の土台として使用される台座部材を下部ロッド上に安定配置し得、より信頼性の高い試験結果が得られると共に、予備試験における台座部材の位置調整を容易且つ確実に行うことができ、試験担当者の負担軽減を図り得る圧縮試験装置を提供する。 - 特許庁 - The molding method for the alicyclic structure-containing thermoplastic resin is characterized in using the injection molding machine made of a material showing a contact angle of 77 to 87 degrees with water, and peeling strength of not more than 127 N when 10 to 30 mg of the alicyclic structure-containing thermoplastic resin is melted for 30 minutes at 350°C and peeled by a compression testing machine.
水との接触角が７７〜８７度の範囲にあり、且つ、脂環式構造含有熱可塑性樹脂１０〜３０ｍｇを３５０℃、３０分間溶融し、圧縮試験機によって剥離した時の剥離強度が１２７Ｎ以下の材質を有する射出成形機を用いた該脂環式構造含有熱可塑性樹脂の成形方法。 - 特許庁
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