This waveform measuring device, which fetches a measuring signal A/D-converted into memory as measuring data and herewith displays these measuring data as measuring wave forms on a screen, comprises a measuring area setting means for setting at least 2 places of measuring areas, a waveform parameter measuring means automatically measuring a waveform parameter in each measuring area, and a computing means for performing required computations using these measured waveform parameters automatically. 測定信号をA/D変換し測定データとしてメモリに取り込むとともに、これら測定データに基づき測定波形として画面上に表示する波形測定装置において、測定信号に対して少なくとも2個所の測定領域を設定する測定領域設定手段と、各測定領域内の波形パラメータを自動測定する波形パラメータ測定手段と、これら自動測定された波形パラメータを用いて所望の演算を行う演算手段、を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁