「configuration testing」を含む例文一覧(78)

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  • # /etc/init.d/totd start# rc-update add totd default Client configuration and testing
    クライアントの設定と確認 - Gentoo Linux
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT OF TESTING CONFIGURATION
    テスト構成の半導体集積回路 - 特許庁
  • DEVICE FOR SETTING SYSTEM CONFIGURATION OF IC TESTING DEVICE
    ＩＣ試験装置のシステム構成設定装置 - 特許庁
  • DUPLEX BUS CONFIGURATION SYSTEM AND COMMUNICATION/TESTING METHOD
    二重化バス構成システムおよび通信・試験方法 - 特許庁
  • CONFIGURATION MANAGEMENT TESTING METHOD AND PROGRAM FOR SERVER SYSTEM
    サーバシステムの構成管理試験方法及びプログラム - 特許庁
  • To provide a test board and a testing method which enables high-speed testing, using simple configuration.
    簡単な構成で高速試験を可能にしたテスト基板とテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a memory testing method using a universal testing program independent of the internal configuration of a memory.
    メモリの内部構成に依存しない汎用的な試験プログラムによるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a socket for testing a BGA integrated circuit of simple configuration.
    簡単な構成のＢＧＡ集積回路装置試験用ソケットを提供する。 - 特許庁
  • To reduce cost by simplifying the configuration of a device for testing a heat retaining property of a futon.
    布団用保温性試験装置の構成を単純化し、コストを低減する。 - 特許庁
  • To provide a testing device which is capable of efficiently programming a configuration of a programmable circuit.
    プログラマブル回路の構成を効率よくプログラムできる試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a transformer testing device of high operational speed and simple circuit configuration.
    動作速度が速く回路構成が簡単な変成器試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • To materialize a toroidal type continuously variable transmission testing apparatus in an inexpensive and small configuration.
    安価で小型に構成できるトロイダル型無段変速機用試験装置を実現する。 - 特許庁
  • The testing device for testing a device to be tested is provided, which includes: a testing board equipped with a programmable circuit and testing the device to be tested by operation of the programmable circuit; and a control board equipped with a configuration memory which stores configuration data for programming a circuit configuration of the programmable circuit.
    被試験デバイスを試験する試験装置であって、プログラマブル回路を搭載し、プログラマブル回路の動作により被試験デバイスを試験する試験ボードと、プログラマブル回路の回路構成をプログラムするためのコンフィギュレーションデータを記憶するコンフィギュレーションメモリを搭載する制御ボードと、を備える試験装置を提供する。 - 特許庁
  • RECEIVER CONFIGURATION FOR RECEIVE FREQUENCY MODULATION WIRELESS SIGNAL, AND METHOD FOR TESTING RECEPTION BRANCHES OF THE RECEIVER CONFIGURATION THROUGH THEIR ADAPTATION
    周波数変調無線信号を受信するための受信機構成及び受信機構成の受信ブランチを適合させテストする方法 - 特許庁
  • To enhance expandability of a parallel testing system by miniaturizing its entire configuration.
    並列試験システム全体の構成を小型にし、当該並列試験システムの拡張性を高める。 - 特許庁
  • To provide a testing device for performing various function tests in a comparatively simple configuration.
    比較的簡易な構成により多様なファンクションテストを行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing apparatus for apnea capable of precisely classifying the apnea in a simple configuration.
    簡易構成で無呼吸の種別を精度良く判定できる無呼吸検査装置の提供。 - 特許庁
  • To provide a testing apparatus capable of keeping a power supply voltage constant by a simple configuration.
    簡便な構成により電源電圧を一定に保つことが可能な試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To output results of testing different storage devices from different output terminals, when simultaneously testing the storage devices having the same configuration.
    同一構成の記憶装置を複数同時にテストする際、異なる記憶装置のテスト結果を互いに異なる出力端子から出力させる。 - 特許庁
  • An analysis device 30 is provided, which analyzes the result of the testing of a plurality of devices under test, having the same configuration by a testing device.
    同一の構成を有する複数の被試験デバイスを試験装置により試験した試験結果を解析する解析装置３０を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing machine for enabling a user to easily edit and prepare contents of a confirmation message in accordance with the configuration or the like of the testing machine even after software for testing machines is installed.
    試験機用ソフトウエアがインストールされた後においても、ユーザが試験機の構成等に応じて容易に確認メッセージの内容を編集および作成することが可能な試験機を提供する。 - 特許庁
  • To perform ejection testing of a specific nozzle with a simple configuration regardless of usage of other nozzles.
    特定のノズルの吐出検査を、簡素な構成で、且つ、他のノズルの使用状況にかかわらずに行なう。 - 特許庁
  • To provide a method for testing memory which utilizes a general memory test program independent of an internal memory configuration.
    メモリの内部構成に依存しない汎用的な試験プログラムによるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To obtain a circuit testing device which tests a logic circuit without stopping a system using the logic circuit, with a simple configuration.
    簡易な構成で論理回路を用いたシステムを停止させることなく論理回路の試験を行なう回路試験装置を得ること。 - 特許庁
  • To provide a bending fatigue testing device that is miniaturized by giving bending stress with a simple configuration.
    簡素な構成で曲げ応力を与えるようにすることにより、小型化を図ることができる曲げ疲労試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test circuit and test method for differential data driver, capable of precisely testing a differential signal, using a simple configuration.
    簡素な構成で精度良く差動信号のテストが可能な差動型データドライバのテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • The message transmitting/receiving part 12 rewrites a circuit configuration based on the testing program 133 to rewrite a configuration of a memory table so as to be able to perform operations of a plurality of slave stations.
    メッセージ送受信部１２は、試験用プログラム１３３に基づいて回路構成を書き換え、複数台分の子局の動作を行えるようにメモリテーブルの構成を書き換える。 - 特許庁
  • Also, even when internal configuration is unknown, the memory testing program can be used universally for various memories by estimating its internal configuration.
    また、内部構成が不明である場合であっても、その内部構成を推定することを可能とすることで、各種メモリに対して、メモリ試験プログラムを汎用的に使用することができるようになる。 - 特許庁
  • To provide a leak testing device which has a simple configuration to allow the reduction in cost and is capable of changing arrangements with the simple configuration when changing a type of a work.
    シンプルな構成とすることによりコストが削減できるとともに、簡易な構成でワークの種類を変更する際の段取り替えを行うことができる、リークテスト装置を提供する。 - 特許庁
  • One method may comprise the steps of: saving existing network configuration settings for at least one network interface of the network-capable device; receiving network configuration parameters from at least one configuration server; testing at least one network interface utilizing received network configuration parameters; and restoring the existing saved network configuration settings, if the step of testing determines that the received network configuration parameters are incorrect.
    １つの方法は、ネットワーク対応機器の少なくとも１つのネットワーク・インタフェースについての既存のネットワーク環境設定を保存するステップと、少なくとも１つの環境設定サーバからネットワーク環境設定パラメータを受け取るステップと、受け取ったネットワーク環境設定パラメータを利用して少なくとも１つのネットワーク・インタフェースをテストするステップと、テストするステップで受け取ったネットワーク環境設定パラメータが誤っていると判断された場合に、保存されている既存のネットワーク環境設定値に復旧するステップを含む。 - 特許庁
  • To provide a probe card for an integrated circuit of a two-piece configuration, which can be applied to testing of integrated circuit elements having many pads.
    パッド数の多い集積回路素子の試験に適用することができるツービース構成を採用した集積回路用プローブ・カードを提供する。 - 特許庁
  • To provide a logic circuit having a testing function for accurately detecting the inner state of the logic circuit by a simple circuit configuration.
    簡単な回路構成により論理回路の内部状態を正確に検出することができるテスト機能を有する論理回路を提供する。 - 特許庁
  • To provide a seabed cone penetration testing machine capable of simplifying its configuration and reducing its weight and its testing method for reducing cost and time required by a seabed cone penetration test conducted in a very deep area of the sea.
    大水深域で実施されるコーン貫入試験において、構成の簡素化と軽量化を図ったコーン貫入試験機と、試験の実施にかかる費用と時間とを低減できる試験方法とを提案する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor-testing apparatus for efficiently and easily increasing the number of devices to be tested simultaneously corresponding to the bit configuration of the I/O pin of the device to be tested when simultaneously testing the plurality of devices to be tested.
    本発明は、複数の被試験デバイスを同時試験する場合に、被試験デバイスのＩ／Ｏピンのビット構成に対応して同時試験個数を効率よく容易に増加できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method of earthquake resistance testing for an elevating body of an elevator which allows to carry out an earthquake resistance testing that is equivalent to a conventional earthquake resistance testing with a simpler configuration, in which a vibration of a car or of a counterweight is evaluated by forcibly vibrating and displacing a hoistway itself with a vibration table.
    この発明は、加振テーブルにより昇降路自体を強制変位加振して、かご、あるいはつり合いおもりの振動を評価する従来の耐震試験と等価の耐震試験を、より簡便な構成で実施できるエレベータの昇降体の耐震試験方法を得る。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device and a testing method thereof wherein complexity in configuration for testing can be reduced, in a circuit to be tested corresponding to a signal terminal in which inter-chip wiring is formed, and a test equivalent to the case of testing a single semiconductor chip can be performed.
    チップ間配線がなされた信号端子に対応するテスト対象回路について、テストを行うための構成が複雑化することを抑制しつつ、半導体チップ単体の場合と同等のテストを行うことができる半導体装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To perform operation control in a simple program configuration when pattern data different in a plurality of sequencers are generated to perform testing.
    複数のシーケンサに対して異なるパターンデータを生成して試験を行わせる場合において、簡単なプログラム構成で動作制御を行うことを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a testing device with a simple configuration that is capable of preventing damage of a back surface of a semiconductor chip, for example, when it is applied to examining characteristics of a laser diode chip.
    試験装置に関し、例えばレーザーダイオードチップの特性を試験する場合に適用して、簡易な構成で半導体チップの裏面の傷付きを防止する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing device capable of easily changing the speed of a pattern to be applied to a DUT by an inexpensive configuration without using on-the-fly timing control.
    安価な構成でオンザフライタイミング制御によらずにＤＵＴに与えるパターンの速度を容易に変えることが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁
  • Aspects include generating a verification configuration having a verification scheme 89 applied to the firmware 14 for testing the integrity of the firmware 14.
    ファームウェア１４の整合性を試験するべく前記ファームウェア１４に適用される照合スキーム８９を備える照合コンフィグレーションを生成することを備える。 - 特許庁
  • Accordingly, the quality determination of the differential signal can be performed, without having to measure the elapsed time, and the configuration of the testing device 2 can be simplified.
    したがって、経過時間を測定することなく、差動信号の良否判定を行うことができ、テスト装置２の構成を簡素にすることが可能となる。 - 特許庁
  • Depending on the outcome of the testing by the document processing device, the configuration data received is transferred to at least one additional document processing device via a computer network.
    ドキュメント処理装置によるテスト結果次第で、受け取った設定データを、コンピュータ・ネットワークを介して、少なくとも１つの他のドキュメント処理装置に転送する。 - 特許庁
  • To provide a shaft centering device for material testing machines capable of easily adjusting the shaft center of a gripper despite a relatively small and simple configuration.
    比較的小型で簡易な構成でありながら、容易につかみ具の軸心を調整することが可能な材料試験機の軸心調整装置を提供する。 - 特許庁
  • One or more verifying scenarios are provided for testing configuration and performance of the management software at a simulated environment of the client end.
    １個または数個の検証シナリオがクライアントエンドのシミュレートされた環境においてマネージメントソフトウェアの構成および性能をテストするために提供される。 - 特許庁
  • To provide a test apparatus and a test method with a simple configuration for testing a device to be tested which outputs a plurality of modulation signals modulated by carrier signals with one and the same frequency.
    同一周波数のキャリア信号により変調された複数の変調信号を出力する被試験デバイスを簡単な構成により試験する。 - 特許庁
  • To provide a tester and testing method which enable one to test silicon wafers for dirt with a simpler configuration and more simplified information processing.
    本発明は、より簡単な構成で、より簡易な情報処理でシリコンウェハの汚れを検査し得るシリコンウェハ汚れ検査装置およびシリコンウェハ汚れ検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To measure a fine resistance value with simple configuration, concerning a testing device applied to measurement of a fine resistance related to, for example, an integrated circuit.
    本発明は、試験装置に関し、例えば集積回路に係る微小抵抗の測定に適用して、簡易な構成により微小抵抗値を測定することができるようにする。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing device offering interleaving configuration for connecting devices, reducing the number of signals connecting the devices.
    インターリーブ形態で装置間を接続する構成を備える半導体試験装置において、装置間を接続する信号本数を低減可能とする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To make a transition to a test mode easily, quickly and reliably by previously forming two electrodes for testing, which are short-circuited to each other in the test mode of a wiring board, and contriving the configuration of the two electrodes for testing.
    配線基板のテストモードで互いに短絡される２つのテスト用電極をあらかじめ基板本体に形成しておくと共に、２つのテスト用電極の構成に工夫を講じることによって、テストモードへの移行を容易かつ迅速に、しかも確実に行う。 - 特許庁
  • To provide a game machine of simple configuration and low cost in which a test signal representing that prize game balls are put out is outputted to the outside when testing the game machine.
    景品遊技媒体が払い出されたことを示す試験用の信号を遊技機の試験時に外部出力することができる簡単な構成かつ低コストの遊技機を提供する。 - 特許庁
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