「cycle testing」を含む例文一覧(65)

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  • TEMPERATURE CYCLE TESTING DEVICE
    温度サイクル試験装置 - 特許庁
  • POWER-CYCLE TESTING DEVICE AND POWER-CYCLE TESTING METHOD
    パワーサイクル試験装置およびパワーサイクル試験方法 - 特許庁
  • HIGH PRESSURE CYCLE TESTING DEVICE
    高圧サイクル試験装置 - 特許庁
  • MACHINE FOR TESTING HIGH-CYCLE MATERIAL
    高サイクル材料試験機 - 特許庁
  • COMBINED CYCLE TESTING APPARATUS AND COMBINED CYCLE TESTING METHOD
    複合サイクル試験装置及び複合サイクル試験方法 - 特許庁
  • TEMPERATURE CYCLE TESTING APPARATUS AND TEMPERATURE CYCLE TESTING METHOD
    温度サイクル試験装置および温度サイクル試験方法 - 特許庁
  • CYCLE TESTING DEVICE AND CYCLE TEST METHOD
    サイクル試験装置及びサイクル試験方法 - 特許庁
  • HEAT CYCLE TESTING DEVICE AND HEAT CYCLE TEST METHOD
    熱サイクル試験装置及び熱サイクル試験方法 - 特許庁
  • HEAT CYCLE TESTING METHOD AND JIG FOR HEAT CYCLE TEST
    熱サイクル試験方法および熱サイクル試験用治具 - 特許庁
  • CYCLE TESTING APPARATUS AND METHOD
    サイクル試験装置及びサイクル試験方法 - 特許庁
  • HEAT CYCLE TESTING DEVICE FOR SHAPE MEMORY ALLOY
    形状記憶合金の熱サイクル試験装置 - 特許庁
  • SYSTEM FOR TESTING CYCLE OF BATTERY FOR ELECTRIC VEHICLE
    電気自動車用バッテリのサイクル試験システム - 特許庁
  • CYCLE LIFE TESTING METHOD OF LITHIUM SECONDARY BATTERY
    リチウム二次電池のサイクル寿命検査方法 - 特許庁
  • IMPROVED ACCELERATION CLIMATIC TESTING DEVICE WITH IMMERSION CYCLE
    浸漬サイクル付き改良促進耐候試験装置 - 特許庁
  • STRAIN CONTROL TYPE SUPER-HIGH CYCLE FATIGUE TESTING METHOD AND FATIGUE TESTING APPARATUS
    ひずみ制御型超高サイクル疲労試験方法および疲労試験装置 - 特許庁
  • TEST PIECE FOR HIGH PRESSURE AIR-TIGHT TESTING DEVICE AND REFRIGERATING CYCLE
    高圧気密試験装置の供試体及び冷凍サイクル - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING WEATHER RESISTANCE OF LOW ALLOY STEEL ACCELERATED BY COMBINED CYCLE
    低合金鋼の複合サイクル促進耐候性試験方法 - 特許庁
  • To provide a cycle life testing method for a lithium secondary battery which can shorten duration of existing cycle life testing.
    既存のサイクル寿命検査の期間を短縮することができるリチウム二次電池のサイクル寿命検査方法を提供する。 - 特許庁
  • HEAT-CYCLE CREEP FATIGUE TEST PIECE AS WELL AS APPARATUS AND METHOD FOR TESTING THE SAME
    熱サイクルクリープ疲労の試験片、その試験装置、及び、その試験方法 - 特許庁
  • To provide a strain control type super-high cycle fatigue testing method and a fatigue testing apparatus therefor, which can carry out a super-high cycle fatigue test for a short period of time.
    超高サイクル疲労試験を短時間で実施することができるひずみ制御型超高サイクル疲労試験方法および疲労試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a heater capable of obtaining better results in both runaway testing and heat cycle testing.
    暴走試験およびヒートサイクル試験の双方においてよりよい結果を得ることができるヒータを提供すること。 - 特許庁
  • A power cycle testing device 1 comprises a resistor part DE and a power supply unit 10.
    パワーサイクル試験装置１は、抵抗部ＤＥと電源部１０とを備える。 - 特許庁
  • To provide a cycle testing device and a cycle test method for acquiring an accurate cycle lifetime to a repeated impact load of an electronic component requiring reliability in radio communication.
    無線通信の信頼性が要求される電子部品の繰り返し衝撃負荷に対する正確なサイクル寿命を知ることが出来るサイクル試験装置及びサイクル試験方法を提供する。 - 特許庁
  • Two timings are generated at a prescribed interval n2 which is shorter than 1/2 of a minimum cycle as the lower limit of an operating cycle so as to correspond to the operating cycle of this semiconductor testing apparatus.
    半導体テスト装置の動作周期のそれぞれに対応させて、動作周期の下限である最少周期ｎの１／２より短い所定間隔ｎ２で２つのタイミングを発生させる。 - 特許庁
  • The sequencer 15 controls so that a transmitting circuit 18 periodically forms a cycle start packet by linking with a cycle timer-monitor 17 on the basis of the testing signal.
    シーケンサ１５は、そのテスト信号に基づき、送信回路１８がサイクルタイマ／モニタ１７と連係して周期的にサイクル・スタート・パケットを生成するように制御する。 - 特許庁
  • MEASURING APPARATUS FOR CIRCULATED OIL FLOW RATE IN FREEZING CYCLE, AND TESTING APPARATUS EQUIPPED WITH THE SAME
    冷凍サイクルのオイル循環流量測定装置及び該オイル循環流量測定装置を具備した試験装置 - 特許庁
  • To provide a high pressure cycle testing device capable of suppressing facility cost, and shortening a test time.
    設備コストが抑えることができ、しかも、試験時間を短くすることができる高圧サイクル試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing method for a non-volatile memory in which reliability is kept, a cycle time is shortened, and a manufacturing cost is reduced.
    信頼性を維持しつつ、サイクル時間短縮およびコスト削減を図った、不揮発性メモリ検査方法を提供する。 - 特許庁
  • The cycle of heating step-holding process-cooling step is repeated by a prescribed frequency, and the damage of the testing object 12 is confirmed thereafter.
    加熱工程−保持工程−冷却工程を所定回数繰り返した後、試験体１２の損傷を確認する。 - 特許庁
  • To enable semiconductor testing to be performed at a desired low-speed rate time length and cycle ratio by means of a semiconductor testing device equipped with a high-speed pattern generator and a low-speed pattern generator.
    高速パターン発生器と、低速パターン発生器とを備えた半導体試験装置で、希望する低速レート時間長とサイクル比とで半導体試験を行なえるようにする。 - 特許庁
  • To provide an intermittent energization testing device, an intermittent energization testing method, and a heat generating electronic device, which can save power supply and a wire rod cost, and shorten time of a test cycle.
    電源と線材コストを抑え、かつ試験サイクルの時間を短縮することができる断続通電試験装置、断続通電試験方法、および発熱電子デバイスを提供する。 - 特許庁
  • To provide a heat cycle testing device and a heat cycle test method capable of giving a temperature gradient to a sample, and fluctuating periodically the temperature of an evaluation object portion of the sample.
    試料に温度勾配を持たせられ、しかも試料の評価対象部位の温度を周期的に変動可能な熱サイクル試験装置及び熱サイクル試験方法を提供する。 - 特許庁
  • A sampling cycle and the threshold of data change quantity are set by a data processor 200 and are transmitted to a testing machine body 100.
    データ処理装置２００でサンプリング周期とデータ変化量のしきい値を設定し、試験機本体１００へ送信する。 - 特許庁
  • PHPUnit stands alone as a good tool for testing classes or a set of functions and will ease your development cycle and help you to avoid endless debug sessions. Work routine
    PHPUnitは、単体として、クラスや関数をテストする有効なツールであり、際限のないデバッグ作業を避けるのに有用です。 - PEAR
  • To provide a method and a device for testing charge and discharge of a secondary battery capable of easily obtaining a result of various tests in a charge cycle and a discharge cycle as a reference when testing charge and discharge, and to provide a recording medium recording a discharge test program.
    充放電試験において、充電サイクル及び放電サイクルを基準とした各種試験結果を容易に得ることが可能な二次電池の充放電試験方法、放電試験装置及び放電試験プログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and a device for holding a tire that can shorten a measuring cycle of dynamic unbalance of the tire and can simplify a tire testing machine.
    タイヤの動的不釣合測定サイクルを短くでき、タイヤ試験機を簡素化できるタイヤ保持方法及び保持装置の提供。 - 特許庁
  • To provide a test piece for a high pressure air-tight testing device and a refrigerating cycle, which may facilitate preparation of a high pressure air-tight test.
    高圧気密試験の準備作業の容易化が図れる、高圧気密試験装置の供試体及び冷凍サイクルを提供する。 - 特許庁
  • To provide a method for using automated testing by idealistically creating a test case in a design phase as fast as possible in a life cycle of a software product.
    ソフトウェア製品のライフサイクルにおいてできるだけ早く、理想的には設計フェーズにテストケースを作成し、自動テストを使用するやり方を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor storage device for selectively executing a fast random cycle writing operation and a boundary scan testing operation without increasing a circuit area.
    回路面積を大きくすることなく、高速なランダムサイクルのライト動作とバウンダリスキャンテスト動作とを選択的に実行する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a thermal shock testing device capable of shortening a time required for executing one cycle of thermal cycle, to the minimum, and capable of carrying out a thermal shock test under a stable condition, irrespective of conditions such as a heat capacity of a sample and a quantity of the sample, and a testing method for the thermal shock test.
    冷熱サイクルを１サイクル実施するのに要する時間を最小限に短縮でき、試料の熱容量や試料の数量等の条件によらず安定した条件下で熱衝撃試験を実施可能な冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁
  • The testing machine body 100 collects not only the data at the set sampling cycle, but also the data regardless of the set sampling cycle, when the data change quantity from the previously collected data exceeds the set threshold.
    試験機本体１００は、設定されたサンプリング周期でデータを採取すると共に、前回採取されたデータからのデータ変化量が設定されたしきい値を超えたときには、設定されたサンプリング周期に関わらずデータを採取する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing apparatus capable of running even at a high test cycle and being compatible with conventional systems.
    テスト周期が高速になった場合でも動作可能であって、かつ従来のシステムと互換性を保つことが可能な半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To obtain a semiconductor testing device capable of judging the output signal of an IC to be measured in each phase by one test cycle without using a pin multiplex.
    本発明は、ピンマルチプレクスを使用せずに、１回の試験サイクルで各位相における被測定ＩＣの出力信号を判定できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To prevent occurrence of cracks at solder joint portions caused by 1,000 cycle heat shock testing at -40 to 150°C in a mounted structure using a lead-free solder.
    鉛フリーはんだを用いた実装構造体において、−４０〜１５０℃のヒートショック×１０００サイクル試験によってはんだ接合部分にクラックが発生するのを防止する。 - 特許庁
  • To provide a method and a device for cold criticality tests which make it possible to shorten testing time at lower costs and to find a highly accurate reactor cycle efficiently.
    低コストで試験時間を短縮することができるとともに、高精度の炉周期を効率よく求めることができる冷温臨界試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a thermoplastic resin composition for a molded article having excellent shape-holding properties with a small deformation degree at thermal cycle testing as well as excellent molding processability, appearance, and impact resistance.
    成形加工性、成形外観、耐衝撃性及び冷熱サイクルにおける変形の度合が小さく形状保持性に優れた成形体を与える熱可塑性樹脂組成物を提供する。 - 特許庁
  • It is further measured whether or not the selected testing material causes immature chromosomal condensation in a culture cell phased to a specific stage of a cell cycle as an additional step for confirmation.
    確認のための追加工程として、選択された被験物質が、細胞周期の特定段階に同調された培養細胞に未成熟染色体凝縮を起こすか否かを測定する。 - 特許庁
  • To provide a bonding method for the production of a transparent material having thin thickness, producible at a low cost and exhibiting excellent adhesiveness, impact resistance, penetration resistance, temperature cycle testing resistance, transparency, anti-crime property, or the like.
    厚みが薄く、かつ安価で接着性、耐衝撃性、耐貫通性、耐温度サイクル性、透明性、防犯性等に優れる等の特徴をもつ透明材料を作製する際に用いられる接着方法を提供する。 - 特許庁
  • For data that need to be verified, therefore, the exposure time adopted shall be considered appropriate on condition that OECD Test Guidelines 210, US EPA 850.1500 (Fish Life Cycle) or equivalent are followed in the testing.
    したがって、信頼性の確認が必要とされたデータについては、OECDテストガイドライン210、魚類ライフサイクル試験またはこれらに相当する試験法を用いたことが明記されていれば、暴露期間は適切に設定されていると判断するものとする。 - 経済産業省
  • To provide a circuit and a method for testing a semiconductor integrated circuit, which can easily test a limitation of an operation cycle, i.e., a delay characteristic of the semiconductor integrated circuit device at an arbitrary cycle in a function test pattern of the semiconductor integrated circuit, by using the function test pattern and a relatively slow clock signal input from the outside.
    半導体集積回路の機能試験パタンと、外部からの比較的遅いクロック信号とを用いて、機能試験パタンの任意のサイクルでの動作周期の限界、つまり本半導体集積回路装置の遅延性能を容易に試験することができる半導体集積回路の試験回路およびその試験方法を提供する。 - 特許庁
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