「defect clusters」を含む例文一覧(16)
- A characteristic quantity is calculated, by extracting a defect image including the defect elements included in the respective clusters, and the defect corresponding to the respective clusters is classified.
そして、各クラスタに含まれる欠陥要素を包含する欠陥画像が抽出されて特徴量が算出され、各クラスタに対応する欠陥が分類される。 - 特許庁 - A defect image comprising defect factors included in the respective clusters is extracted to calculate characteristic values, classifying defects corresponding to the respective clusters.
そして、各クラスタに含まれる欠陥要素を包含する欠陥画像が抽出されて特徴量が算出され、各クラスタに対応する欠陥が分類される。 - 特許庁 - A cluster-forming part 56 has a binary search tree structure and forms a plurality of clusters which are clusters of the defect elements, respectively derived from the same defect.
クラスタ生成部５６では、２分探索木の構造を有し、それぞれが同一の欠陥に由来する欠陥要素の集合である複数のクラスタが生成される。 - 特許庁 - The plurality of target defect clusters obtained in S101 are classified into a known group similar to the known defect cluster and an unknown group not similar to the known defect cluster (S102).
Ｓ１０１で得られた複数の対象欠陥クラスタを、既知欠陥クラスタに類似する既知グループと既知欠陥クラスタに類似しない未知グループとに分類する（Ｓ１０２）。 - 特許庁 - A cluster generation part 56 has a binary search tree structure and generates a plurality of clusters each being a set of defect factors respectively deriving from the same defect.
クラスタ生成部５６では、２分探索木の構造を有し、それぞれが同一の欠陥に由来する欠陥要素の集合である複数のクラスタが生成される。 - 特許庁 - To provide a technology for preventing the occurrence of so-called clusters, which is a coating film defect of water-base coating material used for coating film forming for an automobile.
自動車用の塗膜形成に使用される水性ベース塗料の塗膜欠陥である、いわゆるブツの発生を防止する技術を提供する。 - 特許庁 - In this method, a means of synchronization with detection of defects to calculates amount of image features of the defect, and a means for classifying defects into clusters, depending on the calculated amount of image features are added to the high-speed pattern defect inspection system.
高速のパターン欠陥検査装置に、欠陥の検出に同期して欠陥の画像的特徴量を計算する手段と、計算された特徴量によって欠陥をクラスタに分類する手段とを付加する。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a silicon single crystal ingot which method does not allow point defect clusters to occur in the drawing direction of the ingot and can draw the ingot comprising a perfect region substantially over its entire length and diameter.
インゴットの引上げ方向に点欠陥の凝集体が発生せず、ほぼ全長及び全径にわたりパーフェクト領域となるシリコン単結晶インゴットを引上げる。 - 特許庁 - Accordingly, when a recording track is formed in the shape of spiral and a cluster is a fixed length, effects by the same defect appears cyclically for every several clusters within the range of several tracks.
このため、記録トラックがスパイラル状に形成され且つクラスタ長が固定とされる場合、数トラックの範囲内では、同じ欠陥による影響は数クラスタごとに周期的に現れる。 - 特許庁 - The target defect clusters classified as the unknown group are classified into a plurality of sub-groups, so that the groups of substrates classified as the unknown group are classified into a plurality of sub-groups (S105).
未知グループに分類された対象欠陥クラスタを複数のサブグループに分類することによって、未知グループに分類された基板群を複数のサブグループに分類する（Ｓ１０５）。 - 特許庁 - To provide a method for growing a silicon single crystal which is capable of growing a silicon single crystal which contains a region wherein dislocation clusters are produced and is reduced in the density of the LPD (light point defect) having a size of 0.09 μm or more.
転位クラスター発生領域を含み、０．０９μｍ以上のＬＰＤ密度が少ないシリコン単結晶を育成できるシリコン単結晶の育成方法を提供する。 - 特許庁 - In the disk reading device reading information from a disk having a plurality of clusters for recording dividedly information and having also substitute clusters in which the information is recorded instead of the cluster in which defect exists, the disk reading device has such constitution that first processing in which bit map data where existence of defect for each cluster on the disk is displayed with a bit map form is generated is performed.
情報が分割記録されるための複数のクラスタを有する一方、ディフェクトのあるクラスタに代わって前記情報が記録される代替クラスタをも有するディスクから、前記情報を読み取るディスク読取装置において、前記ディスク上の各クラスタについてのディフェクトの有無をビットマップ形式で表す、ビットマップデータを生成する、第１処理を実行する構成のディスク読取装置とする。 - 特許庁 - The defect is formed in units of clusters, and formed by mixing at least, any two patterns among a first pattern formed by turns for each cluster, a second pattern formed of continuous clusters, and a third pattern formed of a specific part of an optical disk for each track or for each several tracks.
欠陥は、クラスタ単位で形成され、かつ、１クラスタ毎に交互に形成される第１パターンと、連続したクラスタに形成される第２パターンと、光ディスクの特定部位に１トラック毎あるいは数トラック毎に形成される第３パターンのうち、少なくともいずれか２つのパターンを混在させて形成される。 - 特許庁 - The temporary defect management area includes a portion where a defective area list 1 constituted of clusters succeeded in first writing, a defective area list 2 constituted of clusters succeeded in writing retrial, and a defective area list 3 included in a last cluster including the structure information area are arrayed in order.
この一時的欠陥管理領域には、最初の書き込みで、書き込みに成功したクラスタからなる欠陥領域リスト(1)、書き込みのリトライで、書き込みに成功したクラスタからなる欠陥領域リスト(2)、前記構造情報を含む最後のクラスタに含まれる欠陥領域リスト(3)の順に並べられている部分がある。 - 特許庁 - A silicon single crystal ingot 20 which does not include COP (Crystal-Originated Particles) and dislocation clusters is grown by a CZ (Czochralski) method, a silicon wafer is cut out from the silicon single crystal ingot 20, and the silicon wafer as-grown is subjected to reactive ion etching, thus a grown-in defect including silicon oxide is actualized as a projection on an etching face.
ＣＺ法によってＣＯＰ及び転位クラスタを含まないシリコン単結晶インゴット２０を育成し、シリコン単結晶インゴット２０からシリコンウェーハを切り出し、as-grown状態のシリコンウェーハに対して反応性イオンエッチングを施すことにより、酸化シリコンを含むgrown-in欠陥をエッチング面上の突起として顕在化させる。 - 特許庁 - The optical disk comprises: a recording area which has the data recorded in one or more physical clusters; a defective area in which a defect occurs before or during recording the data in the optical disk capable of recording and/or reproducing the data; and a recording end area having information indicating the end of recording recorded before the defective area.
光ディスクは、少なくとも１つの物理的クラスタにデータが記録される記録領域と、データを記録及び／または再生できる光ディスクにおいて、データ記録前または使用中に欠陥が生じた欠陥領域と、前記欠陥領域前に記録の終了を示す情報が記録された記録終了領域と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁
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