「defect model」を含む例文一覧(42)
- CARTILAGE DEFECT MODEL
軟骨欠損モデル - 特許庁 - Model defect reproduction information for reproducing the image of the model defect prepared in the preparation process ST100 is stored in a model defect reproduction information storage process ST200.
モデル欠陥再現情報記憶工程ＳＴ２００においてモデル欠陥作成工程ＳＴ１００にて作成されたモデル欠陥の画像を再現するためのモデル欠陥再現情報を記憶する。 - 特許庁 - To provide bone prosthesis filling equipment which can produce an animal model with a bone defect having a stable quality by using a single tool without requiring the skill for producing the animal model with the bone defect.
骨欠損動物モデルの作成に熟練を要することなく、単一の工具で安定した品質の骨欠損動物モデルを作成する。 - 特許庁 - In this case, preferably, a defect model corresponding to each type of welding defects is held, and by comparing the defect model with defect information corresponding to an actually detected welding defect, the type of the detected welding defect is identified and treatment corresponding to the identified result is performed.
この場合、溶接欠陥の種類ごとに対応する欠陥モデルを保持しておき、この欠陥モデルと、実際に検出された溶接欠陥に対応する欠陥情報とを比較することで、検出された溶接欠陥の種類を特定し、その特定結果に応じた処理を行うことが好ましい。 - 特許庁 - To reproduce the influence of soil particle fracture using a simple particle defect model in distinct element method.
個別要素法において、簡易な粒子欠損モデルにより、土粒子の破砕の影響を再現する。 - 特許庁 - Then, when an inspector adjusts the threshold of the amount of feature of a section 2 for adjusting the threshold of the amount of feature on the screen, the shape of the model expressed by the defect model image is changed on the screen so that the defect model image is included in the range of the threshold after adjustment.
そして、検査者が、画面上の特徴量閾値調整部２の特徴量の閾値が調整した時には、欠陥モデル画像が調整後の前記閾値の範囲に含まれるように前記欠陥モデル画像が表すモデルの形状を画面上で変化させる。 - 特許庁 - As a result, out of the data of the feature quantities f51-f100 of the second group, the defect data, for which the learning model A cannot specify the defect type "C1" or "C2", are defined as discard class data.
この結果、第２群の特徴量ｆ５１〜ｆ１００のデータのうち、学習モデルＡでは疵種「Ｃ１」、「Ｃ２」を特定できない疵データを棄却クラスのデータとする。 - 特許庁 - The print head model based upon the scan is compared with the activated print head model to discriminate and store a print head defect in order to correct a future bar code scan.
スキャンに基づく印刷ヘッド・モデル及び活性化印刷ヘッド・モデルが比較されて、印刷ヘッド欠陥を識別して、将来のバーコード・スキャンを修正すべく保存される。 - 特許庁 - Thus, an actual CAD model which is more faithful to the shape of the prototype can be created by positioning the actually measured CAD model with the reference CAD model 32 by using a positioning processing part 22 and compensating a defect part of the actually measured CAD model by the shape information of a corresponding part of the reference CAD model 32 by using a model correction processing part 24.
そこで、位置合わせ処理部２２で実測ＣＡＤモデルと基準ＣＡＤモデル３２とを位置合わせし、モデル修正処理部２４にて実測ＣＡＤモデルの欠落部分を基準ＣＡＤモデル３２の対応部分の形状情報で補完することにより、試作品の形状により忠実な実物ＣＡＤモデルを作成することができる。 - 特許庁 - In the feature quantities for which the learning model A cannot specify the defect type "C1" or "C2", a learning model B is formed, by generating a plurality of partial feature quantity spaces for associating the group of the values of the feature quantity with the defect types "C1" and "C2".
そして、学習モデルＡでは疵種「Ｃ１」、「Ｃ２」を特定できない特徴量について、当該特徴量の値の組と疵種「Ｃ１」、「Ｃ２」とを対応付けるための複数の部分特徴量空間を生成して学習モデルＢを形成する。 - 特許庁 - To provide a specification defect verification system for operating a state transition model describing product specifications with all parameters, and for easily verifying a defect to be prevented for security.
製品仕様を記述した状態遷移モデルを、全パラメータにより動作させ、セキュリティ上の起こるべきではない欠陥を、簡易に検証する仕様欠陥検証システムを提供する。 - 特許庁 - To form an image having a pattern similar to an image of a model, and having a size larger than that of the image of the model, using the image serving as the model, and to restrain a defect of a pattern from being generated in the formed image.
モデルとする画像を利用して、同様の模様を有し、かつサイズが大きい画像を作成することが可能であると共に、作成した画像に柄癖が発生することを抑えた画像作成方法およびシステムを提供する。 - 特許庁 - Image data obtained by imaging the reproduced model defect by an imaging means of the inspection device are acquired in an image processing process.
撮像工程において、再現されたモデル欠陥を検査装置の撮像手段によって撮像した撮像データを取得する。 - 特許庁 - A digital virtual test system including a semiconductor simulation model and an LSI tester simulation model includes a determination means for comparing and determining whether an address signal for accessing a memory function model in the semiconductor simulation model accesses a predetermined address in an address range of the memory function model or not to detect a defect of a test pattern using the LSI tester or the LSI tester simulation model.
半導体シミュレーションモデルとＬＳＩテスタシミュレーションモデルを含むデジタルヴァーチャルテストシステムにおいて、半導体シミュレーションモデルのメモリ機能モデルをアクセスするアドレス信号が、メモリ機能モデルのアドレス範囲のうち所定のアドレスをアクセスしたかどうかを比較判定する判定手段を設けてＬＳＩテスタまたはＬＳＩテスタシミュレーションモデルを使用したテストパターンの不備を検出する。 - 特許庁 - The obtained defect parts 3 become pinholes, having uniform particle sizes in the thin film 2 and parts from which the fine particles are not released become protruded model defects.
得られた欠損部３は薄膜２に形成される径の揃ったピンホールとなり、微粒子が脱離しなかった部分は突起状のモデル欠陥となる。 - 特許庁 - According to the method, impurity pile up on the Si/SiO2 interface which can not be represented by a conventional Fair model can be represented without solving the diffusion equation related to point defect (i.e., without using a conventional pair diffusion model).
この方法によれば，従来のＦａｉｒモデルでは表せなかったＳｉ／ＳｉＯ_２界面における不純物パイルアップを，点欠陥に関連した拡散方程式を解くことなく（すなわち従来のペア拡散モデルを用いず）表すことが可能となる。 - 特許庁 - To provide a video display device wherein a display defect compensating circuit is applied without model section, and noise due to superimposing of dither patterns being different from each other is decreased.
表示欠陥補償回路をモデル区分なしに適用することができ、互いに異なるディザパターンの重畳によるノイズを減少させることができる映像表示装置を提供する。 - 特許庁 - An actually measured CAD model obtained by the scanning results does not always express the shape of the prototype completely exactly due to a partial image defect, etc., in a CT tomogram.
この結果得られた実測ＣＡＤモデルは、ＣＴ断層画像における部分的な画像欠落などにより、試作品の形状を完全に正しく表しているとは限らない。 - 特許庁 - A defect is detected by identifying online the relation between an inspection reference pattern image and an objective pattern image for inspection during inspection, constructing a mathematical model absorbing (fitting) displacement of pixels, expansion or contraction noise, or sensing noise of an image, and further comparing a new inspection reference pattern image (model image) obtained by the simulation of the obtained model with the objective pattern image for inspection.
検査基準パターン画像と被検査パターン画像との関係を検査中にオンラインで同定して、画像の画素ズレや伸縮ノイズ、センシングノイズを吸収（フィッティング）した数式モデルを構築し、そのモデルのシミュレーションによって得られる新たな検査基準パターン画像（モデル画像）と被検査パターン画像とを比較することによって欠陥を検出する。 - 特許庁 - An actual vehicle test is conducted using an ECU to analyze characteristics (S22), durability deterioration simulation is performed using a model while changing parameters (oil temperature TATF, etc.), to estimate gear shift defect event occurring in the simulation from model behavior changes (S26, S28), and endurance deterioration simulation is repeated until the gear shift defect event is removed to correct control algorithm (S30).
ＥＣＵを用いて実機テストを行って特性を解析し（Ｓ２２）、パラメータ（油温ＴＡＴＦなど）を変化させつつ、モデルを用いて耐久劣化シミュレーションを実行し、よって生じる変速不具合事象をモデル挙動変化から予測し（Ｓ２６，Ｓ２８）、変速不具合事象が解消されるまで、耐久劣化シミュレーションを繰り返しつつ、制御アルゴリズムを修正する（Ｓ３０）。 - 特許庁 - A pattern collation part 18 compares the model of the source code object storage part 15 with defective pattern information of a defective pattern information storage part 16, and outputs a corresponding object as defect detection information 9.
パターン照合部１８は，ソースコードオブジェクト記憶部１５のモデルを不良パターン情報記憶部１６の不良パターン情報と比較し，該当するオブジェクトを不良性検出情報９として出力する。 - 特許庁 - The effective critical area value therefor, defect density in the production line of the target product, and a specified yield model are used to calculate yield of the target product.
前記対象製品の回路要素別の実効クリティカルエリア値と、前記対象製品の製造ラインにおける欠陥密度と、所定の歩留まりモデルとを用いて、前記対象製品の歩留まりを算出する。 - 特許庁 - To provide a crystal analysis method in material science for use in a computer which accurately, quickly and sterically analyzes a deformation mode and a lattice defect of a material indicated by an atom model.
原子模型で表示される物質の変形モード及び格子欠陥を正確、迅速且つ立体的に解析可能な計算機援用材料科学における結晶解析方法を提供する。 - 特許庁 - Eprosartan or the salt thereof expresses excellent improved activity in a corneal disorder model, and is useful as a therapeutic agent for corneal/conjunctival disorders such as dry eye, corneal ulcer, keratitis, conjunctivitis, superficial punctuate keratopathy, corneal epithelial defect, conjunctival epithelial defect, keratoconjunctivitis sicca, superior limbic keratoconjunctivitis, filamentary keratitis and the like.
エプロサルタンまたはその塩は、角膜障害モデルにおいて優れた改善効果を発揮し、ドライアイ、角膜潰瘍、角膜炎、結膜炎、点状表層角膜症、角膜上皮欠損、結膜上皮欠損、乾性角結膜炎、上輪部角結膜炎、糸状角膜炎などの角結膜障害の治療剤として有用である。 - 特許庁 - The production pathway navigation system is configured to calculate the percentage of defect-free product for every manufacturing history and model based on manufacturing history information transmitted from a manufacturing process management device and inspection history information transmitted from the inspection process management device, and determines the optimal production pathway from the calculated percentage of defect-free product.
この生産経路ナビゲートシステムは、まず、製造工程管理装置から送信された製造履歴情報と、検査工程管理装置から送信された検査履歴情報とに基づいて、製造履歴、機種毎に直行率を算出し、算出した直行率から最適な生産経路を決定しておく。 - 特許庁 - To provide an image display device and image display program capable of facilitating the detection of incomplete parts in a virtual model, such as to be estimated as a defect in the case of rendering the virtual model created for the purpose of being displayed on a display screen of particular specifications in accordance with a display screen of other specifications.
特定の仕様の表示画面での表示を目的として作成された仮想モデルを、他の仕様の表示画面に合わせてレンダリングした場合に、欠陥と評価されるような仮想モデルにおける不完全な部分の発見を容易化できる画像表示装置及び画像表示プログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a rubber for correcting a tire pattern model applicable for the production of a silicone rubber mold with a silicone rubber composition without causing vulcanization defect in the production of the rubber mold and enabling the correction and repair of the mold.
シリコーンゴム組成物を用いたシリコーンゴム型の製造に適用し得るタイヤパターンモデルを、ゴム型製作時における加硫不良を生ずることなく、修正、修繕することができるタイヤパターンモデル修正用ゴムを提供する。 - 特許庁 - A management server transmits detail information 57 of product name, product model number, production time, standard price, defective information, compensation information compensating the defect, sales value and image for the initially defective product to a terminal.
管理サーバは、初期欠点製品についての製品名、製品型番、製造時期、標準価格、欠点情報、この欠点を補う補填情報、販売価格及び画像の詳細情報５７を端末機に送信する。 - 特許庁 - As for feature quantities f1-f50 of a first group, a learning model A is formed, by generating a plurality of partial feature quantity spaces for associating the group of values of the feature quantities f1-f50 of the first group with defect types "C1" and "C2".
第１群の特徴量ｆ１〜ｆ５０について、第１群の特徴量ｆ１〜ｆ５０の値の組と疵種「Ｃ１」、「Ｃ２」とを対応付けるための複数の部分特徴量空間を生成して学習モデルＡを形成する。 - 特許庁 - To solve a problem that when transmitting a test pattern from an LSI tester in the LSI tester or an LSI tester simulation model, which range of an address area in a DUT memory is accessed can not be known and a defect of the test pattern cannot be previously detected.
ＬＳＩテスタ又はＬＳＩテスタシミュレーションモデルでは、ＬＳＩテスタ側からテストパターンを送信する際に、ＤＵＴメモリのどの範囲のアドレス領域をアクセスしたかを知ることはできず、テストパターンの不備を事前に検出できない。 - 特許庁 - A compound represented by general formula (1) or a salt thereof exhibits excellent ameliorating effects in a keratoconjunctival trouble model, and is useful as the agent for treating the keratoconjunctival troubles such as dry eye, corneal ulcer, keratitis, pinkeye, superficial punctate keratitis, corneal epithelial defect, conjunctival epithelial defect, keratoconjunctivitis sicca, superior limbic keratoconjunctivitis, filamentary keratitis.
下記一般式（１）で表される化合物またはその塩は、角膜障害モデルにおいて優れた改善効果を発揮し、ドライアイ、角膜潰瘍、角膜炎、結膜炎、点状表層角膜症、角膜上皮欠損、結膜上皮欠損、乾性角結膜炎、上輪部角結膜炎、糸状角膜炎などの角結膜障害の治療剤として有用である。 - 特許庁 - The above carboxylic acid compounds and their salts exhibit excellent improving effect on a corneal disorder model and are useful as therapeutic agents for keratoconjunctive disorders such as dry eye, corneal ulcer, keratitis, conjunctivitis, superficial punctate keratopathy, corneal epithelial defect, conjunctive epithelial defect, xerotic keratoconjunctivitis, superior limbic keratoconjunctivitis and filamentous keratitis.
上記カルボン酸化合物またはそれらの塩はいずれも、角膜障害モデルにおいて優れた改善効果を発揮し、ドライアイ、角膜潰瘍、角膜炎、結膜炎、点状表層角膜症、角膜上皮欠損、結膜上皮欠損、乾性角結膜炎、上輪部角結膜炎、糸状角膜炎などの角結膜障害の治療剤として有用である。 - 特許庁 - Convolutions 88 and 100 of the economical data and the statistical model of the defect rate of the product are calculated to find an effective cost 148 of the product and an effective sales price 140 of an exchange product for the defective product.
本技術では、経済学的データと製品の欠陥率の統計モデルのコンボルーション（８８、１００）を計算して、製品の効果的なコスト（１４８）と欠陥製品に対する交換製品の効果的な販売価格（１４０）を見出すことができる。 - 特許庁 - An inspection device 1 gets a reference image obtained by picking up an image of a model having no defect prior to inspection, executes extension processing and reduction processing and stores obtained extended and reduced images in an image memory 3 built in the device 1.
検査装置１は、検査に先立ち、欠陥のないモデルを撮像して得られた基準画像を取り込み、膨張処理および収縮処理を行い、得られた膨張画像および収縮画像を装置内の画像メモリ３内に保存する。 - 特許庁 - To manufacture a three-dimensional subject model of a diseased part of accurately removing a halation area, by paying attention to the three-dimensional relationship of respective two-dimensional images, for conquering a defect possessed by the three-dimensional subject model formed by connecting the halation area corrected only by two-dimensional information from a two-dimensional tomographic photograph provided by a conventional MRI or CT scan.
従来のＭＲＩ又はＣＴスキャンにより得られる二次元断層写真からの二次元的情報のみにより修正されるハレーション領域を連結して形成される三次元実体モデルが有する欠点を克服するため、各二次元画像の立体的な関係に着目し、ハレーション領域が正確に除去された患部の三次元実体モデルを製造することを目的とする。 - 特許庁 - The SSTA executing part 5 inputs the information from the circuit net list part 1, the timing asserting part 2, the delay model part 3, and the variable factor statistical information part 4, executes statistical timing analyses, and calculates the defect probability of the semiconductor integrated circuit chip, from a variation reference specification table, generated in advance.
ＳＳＴＡ実行部５は回路ネットリスト部１、タイミングアサーション部２、遅延モデル部３、及び変動要因統計情報部４から情報を入力し、統計的タイミング解析を実行し、予め作成されたバラツキ基準仕様表から半導体集積回路チップの不良確率を算出する。 - 特許庁 - The defect detection step includes: a step for capturing use cases associated with the software application, and for checking their validity; a step for providing an automatic invocation of property monitors for model checking; a step for visualizing one or more defects in the software application for diagnosis.
この欠陥検出段階は、ソフトウェアアプリケーションと関連する使用状況を捕らえ、その有効性を確認する段階と、モデルチェックのための特性モニタの自動起動を与える段階と、診断のためにソフトウェアアプリケーションにおける１又はそれ以上の欠陥を視覚化する段階とを有する。 - 特許庁 - (8) Where the decision declares the absence of one of the requirements to be met for granting protection as a utility model, as stated in a brief of opposition, the Registry shall allow the applicant a further period to be determined in the Regulations to rectify the defect or to put forward the arguments he deems relevant.
(8) 当該決定が異議申立書に述べる実用新案として保護を認めるために充足すべき要件を欠如している旨を宣言する場合は，産業財産登録庁は，当該瑕疵を除くため又は出願人が関連する意見書を提出するため，所定の追加の答弁期間を出願人に与えるものとする。 - 特許庁 - To provide a graphic processor capable of improving efficiency of design development business by previously extracting a defect shape in a vertex to reduce a time of trial and error by a user of a three-dimensional CAD (Computer Aided Design), when creating a fillet shape in a three-dimensional model by the three-dimensional CAD.
３次元ＣＡＤによる３次元モデルにフィレット形状を作成する場合において、予め、頂点における不具合形状を抽出し、３次元ＣＡＤの利用者による試行錯誤の時間を削減させ、設計開発業務の効率を向上させることができる図形処理装置を提供する。 - 特許庁 - An improvement to a model in which openings 5 and 7 are positioned in respective different regions of a casing 3 and are oriented in respective different directions makes an air inflow opening or an air outflow opening directionally adjustable in the casing so that air suctioned into the casing or emitted from the casing acts without defect during a machine operation.
開口５，７が、ケーシング３のそれぞれ異なる領域に配置されており、前記開口５，７が、それぞれ異なる方向に向けられている形式のものを改良して、ケーシングに吸い込まれるかもしくはケーシングから吐出される空気が機械の運転中に不具合なく作用するように、空気流入開口もしくは空気流出開口がケーシング内でそれぞれ方向調整可能である。 - 特許庁 - 3. When the decision intends to declare the lack of any requirement set for granting protection as utility model, as may have been alleged in some brief of opposition, the Industrial Property Registry shall grant the applicant a one-month term to overcome the defect or to file such submissions as she/he may deem pertinent.
(3) その決定が，実用新案としての保護を認めるために設定された何らかの要件を欠いていることを理由にしている場合は，何らかの異議申立書が提出されている筈なので，産業財産登録庁は，その出願人に対して，1月の猶予期間を与えて，その欠陥を克服するか，又は何らかの適切な補正書を提出することを認めるものとする。 - 特許庁 - To accredit representation, the Agent shall accompany an authorization signed by the interested party, which shall be incorporated into the official file. Such authorization shall be filed within a maximum one-month term from the date of filing the brief at the Industrial Property Registry, except in the case of patent and utility model applications, where the omission shall be considered as a formal defect and the authorization may consequently be submitted within the term indicated in Rules 18.1 and 42.3 respectively, of the present Implementing Regulations.
代表者としての地位を保証するために，当該代理人は，その関係当事者により署名された認証書を保有し，公式ファイルに収めるものとする。このような認証書は，産業財産登録庁に概略説明書を提出した日から最大1月以内に提出すべきものとし，ただしこの場合，特許及び実用新案を除くものとし，そうしなかった場合は，公式手続の欠陥とされ，従ってその認証は規則18(1)及び規則42(3)に規定された期限内に提出すべきものとする。 - 特許庁
