「defects」を含む例文一覧(10270)

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  • He is blind to his own defects.
    彼は自分の欠点が分からない。 - Tanaka Corpus
  • He is blind to his own defects.
    彼は自分の欠点が分からない。 - Tatoeba例文
  • description of the defects in goods
    商品の欠点を知らせる表示 - EDR日英対訳辞書
  • To efficiently detect via defects and contact defects, and thereby easily presuming causes of defects.
    ビア欠陥やコンタクト欠陥を効果的に検出し、これによって不良原因を容易に推測することができる。 - 特許庁
  • METHOD OF REPAIRING DEFECTS OF WIRING SUBSTRATE
    配線基板の欠陥補修方法 - 特許庁
  • SOLID FORM DETECTOR FOR DEFECTS
    欠陥の立体形状検出装置 - 特許庁
  • METHOD FOR CLASSIFYING DEFECTS, PROGRAM, COMPUTER STORAGE MEDIUM, AND DEVICE FOR CLASSIFYING DEFECTS
    欠陥分類方法、プログラム、コンピュータ記憶媒体及び欠陥分類装置 - 特許庁
  • Defects detected from the image Qb are almost all actual defects.
    この画像Ｑｂから検出される欠陥は、ほぼすべて実欠陥になる。 - 特許庁
  • Consequently, the effect due to the bright defects and the wide range of defects are excluded.
    これにより、明欠陥や広範囲の欠陥の影響が排除される。 - 特許庁
  • TESTING STRUCTURE FOR INTERCONNECTION DEFECTS DETECTION AND INTERCONNECTION DEFECTS DETECTION METHOD
    配線不良検出用試験構造体及び配線不良検出方法 - 特許庁
  • goods which can not be offered for sale because of low quality or defects
    売り物にならない商品 - EDR日英対訳辞書
  • METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING DEFECTS
    欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁
  • The inspection system is specifically intended and designed for second optical wafer inspection for such defects as metallization defects, such as scratches, voids, corrosion and bridging, as well as diffusion defects, passivation layer defects, scribing defects, glassivation defects, chips and cracks from sawing, solder bump defects, and bond pad region defects.
    この検査システムは、特に、スクラッチ、ボイド、腐食およびブリッジング、などの金属化欠陥、ならびに拡散欠陥、被覆保護層欠陥、書きこみ欠陥、ガラス絶縁欠陥、切込みからのチップおよびクラック、半田隆起欠陥、ボンドパッド領域欠陥、などの欠陥のための第二の光学的ウェハ検査のために意図され、そして設計される。 - 特許庁
  • The inspection system is specifically intended and designed for a second optical wafer inspection for such defects as metalization defects, such as scratches, voids, corrosion and bridging, as well as diffusion defects, passivation layer defects, scribing defects, glassivation defects, chips and cracks from sawing, solder bump defects, and bond pad area defects.
    この検査システムは、特に、スクラッチ、ボイド、腐食およびブリッジング、などの金属化欠陥、ならびに拡散欠陥、被覆保護層欠陥、書きこみ欠陥、ガラス絶縁欠陥、切込みからのチップおよびクラック、半田隆起欠陥、ボンドパッド領域欠陥、などの欠陥のための第二の光学的ウェハ検査のために意図され、そして設計される。 - 特許庁
  • The inspection system is specifically intended and designed for a second optical wafer inspection for such defects as metalization defects, such as scratches, voids, corrosion and bridging, as well as diffusion defects, passivation layer defects, scribing defects, glassivation defects, chips and cracks from sawing, solder bump defects, and bond pad area defects.
    この検査システムは、特に、スクラッチ、ボイド、腐食およびブリッジング、などの金属化欠陥、ならびに拡散欠陥、被覆保護層欠陥、書きこみ欠陥、ガラス絶縁欠陥、切込みからのチップおよびクラック、半田隆起欠陥、ボンドパッド領域欠陥、などの欠陥のための第二の光学的ウェハ検査のために意図され、そして設計される。 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING STAIN DEFECTS
    シミ欠陥検出方法及び装置 - 特許庁
  • This system has obvious defects.
    このシステムには明らかな欠陥がある。 - Tanaka Corpus
  • This system has obvious defects.
    このシステムには明らかな欠陥がある。 - Tatoeba例文
  • METHOD AND DEVICE FOR DETECTING DEFECTS OF BOTTLE
    壜の欠陥検査方法および装置 - 特許庁
  • The number of pit defects of the chamfer part as a measurement result is five defects/mm^2 or less.
    計測結果の面取り部のピット欠陥数は、５個／ｍｍ^２以下である。 - 特許庁
  • To detect defects of a data line, and defects of a TFT inner circuit as well.
    データラインの欠陥や、ＴＦＴ内部回路不良の欠陥も検出すること。 - 特許庁
  • A defect data analytic method analyzes the defect distribution state based on defect location coordinates detected by the inspection apparatus and categorizes the defect distribution state into one of distribution feature categories including repetitive defects, aggregate defects, circular distribution defects, radial distribution defects, linear distribution defects, ring or cluster distribution defects and random defects.
    検査装置によって検出された欠陥位置座標に基づいて欠陥の分布状態を解析し、繰り返し欠陥、密集欠陥、円弧状分布欠陥、放射状分布欠陥、線状分布欠陥、環・塊状分布欠陥、ランダム欠陥のうちいずれかの分布特徴カテゴリに分類する。 - 特許庁
  • To detect the defects of a coating film to form the coating film free from the defects.
    被覆塗膜の欠陥を検出し、欠陥のない被覆塗膜を形成する。 - 特許庁
  • They are the defects of his qualities.
    あれが長所に伴う短所である - 斎藤和英大辞典
  • To accurately detect defects or classify defects with respect to inspecting defects in a halftone phase shift mask.
    ハーフトーン型の位相シフトマスクの欠陥検査に対して、欠陥検出や欠陥分類をより的確に行えるようにする。 - 特許庁
  • METHOD OF FORMING BUMP WITHOUT JUNCTION DEFECTS
    接合不良のないバンプの形成方法 - 特許庁
  • To efficiently detect periodic defects.
    周期性欠陥を効率よく検出する。 - 特許庁
  • To provide a high quality slab having less foaming defects and flux-caused defects.
    気泡性欠陥やフラックス性欠陥などが少ない高品質の鋳片を提供する。 - 特許庁
  • The amorphous phase 1 has defects.
    そして、アモルファス相１は、欠陥を有する。 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PATTERN DEFECTS
    パターン欠陥検査方法及びその装置 - 特許庁
  • To solve the problem wherein distinguishing of defects generated during a process cannot be made from pseudo defects.
    プロセス中で発生した欠陥と、疑似欠陥とを区別することができない。 - 特許庁
  • Causes of generation of those defects are estimated to classify the defects by the causes.
    また、それらの欠陥の発生原因を推定し，原因別に欠陥を分類する。 - 特許庁
  • Utilize others' merits to remedy your own defects.
    人の長を取って己が短を補う - 斎藤和英大辞典
  • Is this related to those defects?
    これはその不具合と関係がありますか。 - Weblio Email例文集
  • Utilize others' merits to remedy your own defects.
    人の長を取って己が短を補え - 斎藤和英大辞典
  • It is preferable that the defect determination means (18) determines the extracted defects into the dross defect and other defects based on at least one of area of the defects, image luminance of the defects, and forms of the defects.
    該欠陥判定手段（１８）は、抽出された欠陥を、該欠陥の面積、該欠陥の画像輝度、および該欠陥の形態のうちの少なくとも１つに基づいて、ドロス欠陥とその他の欠陥に判定することが好ましい。 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING THREAD DEFECTS
    糸条の欠陥検査方法および装置 - 特許庁
  • The defects are optically observed by using the observed defects and their address coordinates.
    観察された欠陥及びそのアドレス座標を用い、欠陥を光学的に観察する。 - 特許庁
  • Defects susceptible to repair include, but are not limited to: critical size defects, non-critical size defects, non-union fractures, fractures, osteochondral defects, subchondral defects, and defects resulting from degenerative diseases such as osteochondritis dessicans.
    本発明の修復に受容可能である欠損は、重症サイズ欠損、非重症サイズ欠損、非癒合性骨折、骨折、骨軟骨欠損、肋骨下欠損、および離断性骨軟骨炎のような変性疾患から生じる欠損を含むがこれらに限定されない。 - 特許庁
  • METHOD OF DETECTING COATING FILM DEFECTS AND METHOD OF FORMING COATING FILM FREE FROM DEFECTS
    被覆塗膜欠陥の検出方法および欠陥のない被覆塗膜の形成方法 - 特許庁
  • DETECTING METHOD FOR DEFECTS IN TFT ARRAY AND DETECTING DEVICE FOR DEFECTS IN TFT ARRAY
    ＴＦＴアレイの欠陥検出方法およびＴＦＴアレイの欠陥検出装置 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PATTERN DEFECTS
    パターン欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DEFECTS
    欠点検査方法及び欠点検査装置 - 特許庁
  • To facilitate analysis of defects and prevent cause study of the defects from becoming difficult.
    欠陥の解析を容易にし、欠陥の原因究明が困難になるのを防止する。 - 特許庁
  • Leads to defects in mechanical properties
    力学的性質の弱さを もたらしますが - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • There were defects in those products this time.
    今回その製品に不具合が発生した。 - Weblio Email例文集
  • METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING PATTERN DEFECTS
    パターン欠陥検査方法および検査装置 - 特許庁
  • METHOD FOR INSPECTING COATING MEMBER FOR INTERFACE DEFECTS
    コーティング部材の界面欠陥検査方法 - 特許庁
  • To heighten a correct answer ratio between genuine defects and pseudo-defects, and to improve the defect detection ratio.
    真正欠陥と疑欠陥の正答率を高め、欠陥検出率を向上させる。 - 特許庁
  • To provide a method of inspecting defects for precisely inspecting defects in wafers, and to provide a method of manufacturing semiconductor devices using the method of inspecting defects.
    ウェーハの欠陥を精度よく検査できる欠陥検査方法及びそれを用いた半導体デバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁
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