「distributed defect」を含む例文一覧(18)
- The defect density generated by a lattice mismatching is reduced, and the defect distribution can be distributed.
格子不整合によって発生する欠陥密度を減少させ、欠陥分布を分散させることができる。 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a silicon wafer which allows effective acquisition of an IG effect even in a defect-free silicon wafer in which defect-free regions [P] are distributed in the entire area.
無欠陥領域［Ｐ］が全域に分布する無欠陥のシリコンウェーハであっても、ＩＧ効果が有効に得られるシリコンウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁 - Consequently, a peak of crystal defect density is nearby the top main surface of the n-type semiconductor substrate 2 and the crystal defect density is distributed gradually decreasing toward the reverse main surface.
この結果、結晶欠陥密度のピークはｎ型半導体基板２の上主面近傍となり、結晶欠陥密度は下主面に向かって漸減するように分布する。 - 特許庁 - To solve the defect of a conventional technology related with the transmission of force feedback over a long distance, especially, the developed situation of a distributed virtual world and a telepresence system.
長い距離にわたる力フィードバックの伝送に関し、特に、分散された仮想世界およびテレプレゼンス・システムの展開の状況に関し、従来技術の欠点を解消する。 - 特許庁 - In this semiconductor device, point defects 24 are included in a region 32 where defect factor impurity included in a silicon substrate 12 is distributed with low concentration.
半導体デバイスにおいて、シリコン基板１２に含まれる欠陥要因不純物が低い濃度で分布した領域３２に、点欠陥２４を含むことを特徴とする。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a semiconductor laser device capable of suppressing a defective product from being distributed in a market by positively removing a crystal-defect section thereof generated by the adhesion of particles.
パーティクルの付着によって発生する結晶欠陥部を積極的に除去して、市場への不良流出を抑制できる半導体レーザ素子の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a laminated inductor wherein lead conductors can be formed without defect in respective layers, a lamination work be reduced, and a change in distributed inductance between a substrate and itself be also prevented.
引き出し導体を該当各層において不良なく形成でき、積層の工程作業の手間を低減でき、基板との分布インダクタンスの変動を防止できる積層インダクタを提供すること - 特許庁 - Then respective pixel outputs in the point defect image are measured, the output values are distributed in accordance with previously determined classes, and the output values are accumulatively counted in each class to prepare the frequency distribution of pixel outputs.
次に点欠陥画像の各画素出力を測定し、あらかじめ定めた階級に従って、その出力値を割り振り、階級毎に累積カウントしてゆき、画素出力の度数分布を作成する。 - 特許庁 - To provide a stacked LC composite part of a configuration reducing of distributed capacitance between elements without the difficulty of material selection or a possibility that an internal defect occurs and without bringing about dimension increase.
材料選択の困難や内部欠陥の発生のおそれがなく、かつ寸法増大を招くことなく、素子間の分布容量を低減できる構成の積層型ＬＣ複合部品を提供する。 - 特許庁 - To provide the method of forming a diffraction grating which can reduce a defect in the pattern of the diffraction grating without strongly pushing a mold to a resin body, and the method of manufacturing a distributed feedback semiconductor laser.
モールドを樹脂体に強く押し付けなくとも回折格子のパターン欠陥を低減できる回折格子の形成方法および分布帰還型半導体レーザの製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a distributed protection relay in which availability is improved without unnecessarily halting a protection function by eliminating or minimizing influences of data missing caused by a transmission defect of data transmission from an analog input section.
アナログ入力部からのデータ伝送の伝送不良によるデータ欠落の影響をなくすあるいは極小にすることで、保護機能を不要に停止させることなく、可用性を高めた分散形保護リレーを提供する。 - 特許庁 - By making the angles of incidence and refraction uniform, ultrasonic wave is distributed uniformly inside the piping 20 in the depth direction and the presence, the location and the size of the defect on the inner peripheral face of the piping 20 can be determined.
入射角又は屈折角を一様にした構成により、超音波は配管２０内部をその厚さ方向に一様に分布し、配管２０の内周面の欠陥の存在の有無、位置及び大きさが判定できる。 - 特許庁 - Consequently, there is not a risk that the low-melting-point fusible alloy 2 between the pair of lead conductors 1, 1 has a defect in blowout due to a rise in ambient temperature of the temperature fuse or is unevenly distributed on the lead conductor 1 to one side along the width.
このため、温度ヒューズの周囲の温度上昇によって一対のリード導体１、１間の低融点可溶合金２が溶断不良する虞がなく、リード導体１上において幅方向一方に偏在する虞がない。 - 特許庁 - A color image of a region on which the inspection of floating defect of the component electrode 20 is necessary, among the inspection regions determined by every soldering parts in which red, green and blue colors are distributed in the color image, is converted into a grayscale image, and the presence or absence of the floating defect is discriminated by extracting an edge from the image after the conversion.
カラー画像中で赤、緑、青の各色彩が分布するはんだ付け部位毎に設定された検査領域のうち、部品電極２０の浮き不良の検査が必要な領域を対象に、領域内のカラー画像を濃淡画像に変換し、変換後の画像からエッジを抽出することによって、浮き不良の有無を判別する。 - 特許庁 - To perform retransmission at a low cost to a destination device which can not receive data because of a receiving state defect affected by weather or the like, when the data are distributed to specified plural destinations in a system for performing massive data distribution by utilizing a communication satellite.
通信衛星を利用した大量データ配信を行うシステムにおいて特定複数の宛先に配信した場合に、天候等の影響により受信状態不良で受信できなかった宛先装置に対して、再送を低いコストで実現する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device by which a substrate floating problem and a hot carrier problem liable to occur in an SOI device can be sufficiently suppressed, and crystal defect generation in a neighboring structure of a partial separation insulating film hardly occurs even if the partial separation insulating film is widely distributed.
ＳＯＩデバイスにおいて生じやすい基板浮遊問題やホットキャリアの問題を充分に抑制することが可能で、広く分布する部分分離絶縁膜であっても周囲の構造に対し結晶欠陥を生じさせにくい半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a tungsten sputtering target by which the occurrence of particle defect in film deposition can be suppressed even if powder having a particle size of a level identical with that of now generally distributed and commercially available powder is used, i.e., a tungsten target having high density, fine grain size and low oxygen content can be easily manufactured with stability at a low cost.
現在一般的に市販・流通されている粒径の粉末を使用しても、成膜上のパーティクル欠陥の発生を抑え、すなわち、高密度・結晶粒径が微細、且つ酸素含有量が低いタングステンターゲットを低いコストで且つ安定して容易に製造できるスパッタリング用タングステンターゲットの製造方法を提供する。 - 特許庁 - Article 18 Notwithstanding the preceding Article, where a claim arises from a tort involving injury to life, body or property of others, caused by a defect in a product (meaning a thing produced or processed; hereinafter the same shall apply in this Article) that is delivered, against a producer (meaning a person who has produced, processed, imported, exported, distributed or sold a product in the course of trade; hereinafter the same shall apply in this Article) or a person who has provided a representation on the product in a manner which allows the others to recognize such person as its producer (hereinafter collectively referred to as a "Producer, etc." in this Article), the formation and effect of such claim shall be governed by the law of the place where the victim received the delivery of the product; provided, however, that if the delivery of the product at said place was ordinarily unforeseeable, the law of the principal place of business of the Producer, etc. (in cases where the Producer, etc. has no place of business, the law of his/her habitual residence) shall govern.
第十八条 前条の規定にかかわらず、生産物（生産され又は加工された物をいう。以下この条において同じ。）で引渡しがされたものの瑕疵により他人の生命、身体又は財産を侵害する不法行為によって生ずる生産業者（生産物を業として生産し、加工し、輸入し、輸出し、流通させ、又は販売した者をいう。以下この条において同じ。）又は生産物にその生産業者と認めることができる表示をした者（以下この条において「生産業者等」と総称する。）に対する債権の成立及び効力は、被害者が生産物の引渡しを受けた地の法による。ただし、その地における生産物の引渡しが通常予見することのできないものであったときは、生産業者等の主たる事業所の所在地の法（生産業者等が事業所を有しない場合にあっては、その常居所地法）による。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
