PRODUCTION METHOD OF DOPED QUARTZ GLASS ドープ石英ガラスの製造方法 - 特許庁
DOPED LAYER FORMING METHOD ドーピング層形成方法 - 特許庁
METHOD OF FORMING DOPED SILICON FILM ドープシリコン膜の形成方法 - 特許庁
METHOD FOR PRODUCING CARBON-DOPED SINGLE CRYSTAL 炭素ドープ単結晶製造方法 - 特許庁
The polysilicon may be doped. ポリシリコンはドープしてもよい。 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING BORON-DOPED SILICON ホウ素添加シリコンの製造方法 - 特許庁
ERBIUM-DOPED OPTICAL FIBER エルビウム添加光ファイバ - 特許庁
APPARATUS FOR MANUFACTURING DOPED FULLERENE, AND METHOD FOR MANUFACTURING DOPED FULLERENE 内包フラーレンの製造装置、及び、内包フラーレンの製造方法 - 特許庁
There is provided the titania and sulfur co-doped quartz glass member, where preferably, sulfur having sulfur concentration of ≥10 ppm is co-doped. 硫黄をドープしたチタニアドープ石英ガラス部材。 - 特許庁
The second doped layer is provided higher than the first doped layer. 第2のドープ層の方が第1のドープ層よりも上に配置されている。 - 特許庁
The highly-doped back surface field layer (24) and the lightly-doped crystalline substrate (22) are similarly doped, and the doping level of the highly-doped back surface field layer (24) is higher than that of the lightly-doped crystalline substrate (22). 高濃度ドープ背面電界層(24)及び低濃度ドープ結晶質基板(22)は、同種型にドープされ、高濃度ドープ背面電界層(24)のドーピングレベルは、低濃度ドープ結晶質基板(22)のドーピングレベルよりも高い。 - 特許庁
The multifunctional material having carbon-doped hafnium oxide layer is provided with a multifunctional layer in which at least the surface layer is made of carbon-doped hafnium oxide layer or carbon-doped hafnium alloy oxide layer. 少なくとも表面層が炭素ドープ酸化ハフニウム層又は炭素ドープハフニウム合金酸化物層からなる多機能層を具備する。 - 特許庁
A third doped region of opposite conductivity type laterally separates the first doped region from the second doped region. 逆の導電型の第3ドープ領域が、横方向に第1ドープ領域を第2ドープ領域から分離する。 - 特許庁
The first N^+-doped region, the first P-doped region and the N-doped layer form the vertical NPN transistor 131 of the silicon controlled rectifier 103. 第一N+ドープト領域、第一P-ドープト領及びN-ドープト層は、SCR103のバーティカルNPNトランジスタ131を形成する。 - 特許庁
The second P-doped region, the N-doped layer and the first P-doped region form the lateral PNP transistor 132 of the silicon- controlled rectifier 103. 第二Pドープト領域、N-ドープト層及び第一Pドープト領域は、SCR103のラテラルPNPトランジスタ132を形成する。 - 特許庁
A third doped region of opposite conductivity type laterally separates the first doped region from the second doped region. 逆の導電型の第3ドープ領域が、横方向に第1ドープ領域を第2ドープ領域から分離する。 - 特許庁
The p-type silicon film 3 has a low-doped layer 31 to which p-type impurities are doped in a low concentration, a high-doped layer 32 to which p-type impurities are doped in a high concentration, and the low-doped layer 33 to which p-type impurities are doped in the low concentration successively from the i-type amorphous silicon film 2 side. p型非晶質シリコン膜3は、i型非晶質シリコン膜2側から順にp型不純物が低濃度にドープされた低ドープ層31、p型不純物が高濃度にドープされた高ドープ層32およびp型不純物が低濃度にドープされた低ドープ層33を有する。 - 特許庁
METHOD OF PRODUCING COBALT-DOPED TITANIUM DIOXIDE FILM, COBALT-DOPED TITANIUM DIOXIDE FILM, AND MULTILAYER STRUCTURE コバルトドープ二酸化チタン膜の作製方法、コバルトドープ二酸化チタン膜、及び多層膜構造 - 特許庁
The first conductive layer 12 is formed of doped polysilicon or synchronous doped polysilicon. この第1導電層はドープポリシリコン或いは同期ドープポリシリコンで形成する。 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF HIGHLY DOPED SEMICONDUCTOR WAFER AND DISLOCATION-FREE HIGHLY DOPED SEMICONDUCTOR WAFER 高度にドープされた半導体ウェハの製造法および転位のない高度にドープされた半導体ウェハ - 特許庁
The carbon-doped titanium oxide is a titanium oxide doped with carbon. 本発明の炭素ドープ酸化チタンは、酸化チタンに炭素原子がドープされている。 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING NITROGEN DOPED SILICON WAFER AND NITROGEN DOPED SILICON WAFER OBTAINED BY THE SAME 窒素ドープシリコンウェーハの製造方法及び該方法により得られる窒素ドープシリコンウェーハ - 特許庁
A lightly doped N- type semiconductor layer 3 is formed on a heavily doped N+ type semiconductor substrate 2. 高濃度のN+型の半導体基板2上に、低濃度のN−形の半導体層3を形成する。 - 特許庁
The lattice constant of the doped layer 103b is smaller than that of the non-doped layer 103a. ドープ層103bの格子定数はノンドープ層103aの格子定数より小さい。 - 特許庁
DOPED TYPE MICA AND PRODUCTION OF DOPED TYPE MICA COVERED WITH METAL OXIDE ドープ型雲母及び該雲母を金属酸化物で被覆したドープ型雲母の製造方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING CARBON-DOPED SILICON SINGLE CRYSTAL AND CARBON-DOPED SILICON SINGLE CRYSTAL 炭素ドープシリコン単結晶の製造方法及び炭素ドープシリコン単結晶 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF P-DOPED SILICON SINGLE CRYSTAL AND P-DOPED N TYPE SILICON SINGLE CRYSTAL WAFER Pドープシリコン単結晶の製造方法及びPドープN型シリコン単結晶ウェーハ - 特許庁
A silicon-controlled rectifier 103 comprises a N-doped layer on a substrate and the first P-doped region on it. SCR103は、基板上のN-ドープト層と、その上の第一Pドープト領域とを含む。 - 特許庁
A gate electrode 9 is doped with P and As, and a gate electrode 8 is doped only with As. ゲート電極9にはリンとヒ素が注入され、ゲート電極8にはヒ素のみが注入されている。 - 特許庁
The cantilever CL includes a non-doped layer 103a and a doped layer 103b. カンチレバーCLは、ノンドープ層103aおよびドープ層103bを有する。 - 特許庁
METHOD FOR CRYSTALLIZING METAL-DOPED TIO2 THIN FILM, AND LAMINATE HAVING METAL-DOPED TIO2 THIN FILM 金属ドープTiO2薄膜の結晶化方法及び金属ドープTiO2薄膜を有する積層体 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING DOPED SILICON FILM, METHOD OF MANUFACTURING DOPED SILICON PRECURSOR, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD ドープシリコン膜の製造方法、ドープシリコン前駆体の製造方法およびデバイスの製造方法 - 特許庁
As the another element-doped titanium oxide, it is preferable to use sulfur-doped titanium oxide. 他元素ドープ酸化チタンとしては、硫黄ドープ酸化チタンであるのが好ましい。 - 特許庁
METHOD FOR PRODUCING BORON-DOPED DIAMOND, BORON-DOPED DIAMOND, AND ELECTRODE ホウ素ドープダイヤモンドの製造方法、ホウ素ドープダイヤモンド、及び電極 - 特許庁
The mesh structure 8 is made of materials containing N-doped or P-doped silicon. メッシュ構造体8はN型又はP型にドープされたシリコンを含む材料からなる。 - 特許庁
The lightly-doped crystalline substrate (22) and the emitter layer (16) are oppositely doped. 低濃度ドープ結晶質基板(22)及びエミッタ層(16)は、反対型にドープされる。 - 特許庁
The negative electrode material is, while being doped with lithium, doped with polyvalent metal whose valence is 2 or more. この負極材料は、リチウムをドープしていると共に2価以上の多価金属をドープしている。 - 特許庁
The substrate includes an n-doped region interposing first and second p-doped regions. 基板は、第1および第2のpドープ領域にnドープ領域を介在させてなる。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING DOPED DIAMOND AND DOPED DIAMOND ドーピングダイヤモンドの製造方法及び製造装置及びドーピングダイヤモンド - 特許庁
COMPOSITION FOR PRODUCTION OF DOPED ZINC OXIDE THIN FILM, PROCESS FOR PRODUCTION OF DOPED ZINC OXIDE THIN FILM ドープ酸化亜鉛薄膜形成用組成物及びドープ酸化亜鉛薄膜の製造方法 - 特許庁