「electron diffraction analysis」を含む例文一覧(9)
- METHOD FOR ANALYSIS OF ELECTRON BEAM DIFFRACTION IMAGE AND TRANSMISSIVE ELECTRON MICROSCOPE
電子線回折像の解析方法及び透過型電子顕微鏡 - 特許庁 - An analysis of the effects of temperature on extinction distances in electron diffraction is given by Howie and Valdre (1967).
電子回折における消衰距離に対する温度の影響の解析は、HowieとValdre (1967)によって与えられている。 - 科学技術論文動詞集 - ANGLE RESOLVING ELECTRON SPECTROSCOPE OF DIFFRACTION PLANAR APERTURE TRANSMISSIVE ENERGY CONTROL TYPE, AND ANALYSIS METHOD USING THE SAME
回折面アパチャー透過エネルギー制御方式の角度分解型電子分光器及びこの分光器を用いた分析方法 - 特許庁 - The exposed surfaces are irradiated with an electron beam by a TEM (Transmission Electron Microscope) to acquire a TEM image and an electron-beam diffraction image of the ferroelectric film, and element composition analysis etc., is carried out (step S2).
その露出させた面に対し、ＴＥＭにより電子線を照射して、その強誘電体膜のＴＥＭ像や電子線回折像の取得、元素組成分析等を行う（ステップＳ２）。 - 特許庁 - An electron density distribution is found by applying the MEM structural analysis to an X-ray diffraction data obtained experimentally, and an X-ray diffraction data not observed is predicted based thereon to find the electrostatic potential.
実験的に得られるX線回折データにMEM構造解析を適用することで詳細な電子密度分布を求め，これをもとに観測されていないX線回折データを予測することで静電ポテンシャルを求める。 - 特許庁 - Diffraction lines attributed to metallic Si and Si compound cannot be detected in the texture structure by the pattern analysis by X-ray diffraction method and granular texture is unrecognizable by the observation with a transmission electron microscope(TEM).
また、その組織構造は、Ｘ線回折法によるパターン解析により金属Ｓｉ及びＳｉ化合物に帰属する回折線が検出されず、透過型電子顕微鏡(TEM)の観察によって粒状組織が識別できない組織性状を備えている。 - 特許庁 - A considerable amount of work has been conducted on the analysis of crystal structures using point or ring electron diffraction patterns, based mainly on the kinematical theory (with some dynamical corrections).
かなりの(量の)研究が、(ある動力学的補正を伴った)主に運動学的理論に基づき、「点状の」または「環状の」電子回折図形を使って、結晶構造の解析について行われた。 - 科学技術論文動詞集 - The Ti-Al-based alloy target obtained by this method comprises 45 to 65 atomic% Al, and has at least two or more phases of Ti_3Al, TiAl, TiAl_2 and TiAl_3 upon analysis by X-ray diffraction, and in which metal Ti and metal Al as simple substances are not left upon EPMA (Electron Probe Micro Analysis).
これにより得られたＴｉ−Ａｌ系合金ターゲットは、Ａｌを４５〜６５原子％含有し、Ｘ線回折で分析したときにＴｉ_３Ａｌ，ＴｉＡｌ，ＴｉＡｌ_２，ＴｉＡｌ_３の少なくとも２種以上の相を含み、ＥＰＭＡ分析をしたときに単体の金属Ｔｉ及び金属Ａｌが残存していない。 - 特許庁 - A measuring surface S1 is scanned by an electron beam B2 and the detection of an electron beam back scattering diffraction pattern by a detection part 6 and the analysis of data D1 by a data processing part 9 are performed in relation to the respective pixels in the measuring surface S1 to obtain the two-dimensional distribution data K1 of a crystal orientation related to the measuring surface S1.
電子ビームＢ２によって測定面Ｓ１を走査し、測定面Ｓ１内の各ピクセルに関して、検出部６による電子線後方散乱回折パターンの検出、及び、データ処理部９によるデータＤ１の解析を行うことにより、測定面Ｓ１に関する結晶方位の二次元分布データＫ１が得られる。 - 特許庁
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