「electron microscopy」に関連した英語例文の一覧と使い方

「electron microscopy」を含む例文一覧(47)

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY EQUIPMENT
走査電子顕微装置 - 特許庁
microscopy with the use of electron microscopes
電子顕微鏡を使用する顕微鏡検査 - 日本語WordNet
Electron microscopy will advance nanotechnology.
電子顕微鏡法は、ナノテクノロジーを進歩させるだろう。 - 科学技術論文動詞集
To provide a transmission electron microscopy grid.
本発明は、透過型電子顕微鏡グリッドに関する。 - 特許庁
ANALYSIS METHOD BY OPTICAL MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPY
光学顕微鏡と電子顕微鏡とによる分析方法 - 特許庁
Transmission electron microscopy contributes to the progress of materials science.
透過電子顕微鏡法は、材料科学の進歩に貢献する。 - 科学技術論文動詞集
The accelerating voltage reaches 500 to 3000 kV in high-voltage electron microscopy.
高圧電子顕微鏡法では、加速電圧は500〜3000kVに達する。 - 科学技術論文動詞集
ELECTRON BEAM DOSE CONTROL FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND CRITICAL DIMENSION MEASUREMENT EQUIPMENT
走査電子顕微鏡法および臨界寸法測定機器のための電子ビーム線量制御 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY
透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法および装置 - 特許庁
This assumption was supported by transmission electron microscopy studies.
この仮定は透過型電子顕微鏡（TEM）の研究によって支持された。 - 英語論文検索例文集
This website database was searched for Cryo-EM publications since 1990 using the Endnote software with keywords such as electron cryomicroscopy, cryoelectron microscopy, cryoEM and cryo-EM.
このウェブサイトが1990年以降のクライオEM法に関する出版物を求めて(見つけるために)、electron cryomicroscopy、cryoelectron microscopy、cryoEMおよびcryo-EMというキーワードによって検索された。 - 科学技術論文動詞集
SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND THREE-DIMENSIONAL SHAPE MEASURING DEVICE USING IT
走査電子顕微鏡およびそれを用いた三次元形状測定装置 - 特許庁
Fraunhofer in-line holography has been tested in electron microscopy.
フラウンホーファー・インラインホログラフィーが、電子顕微鏡法において試験されてきた。 - 科学技術論文動詞集
Carbon nanotubes have been widely studied by electron microscopy.
カーボンナノチューブは、電子顕微鏡法によって幅広く研究されてきた。 - 科学技術論文動詞集
The physics of scanning electron microscopy has been examined in another book.
走査電子顕微鏡法の物理は、別の本の中で考察されている。 - 科学技術論文動詞集
The proceedings of the ICEM were consulted for a better understanding of electron microscopy.
電子顕微鏡法のより良い理解のために、ICEMの会議録が調べられた。 - 科学技術論文動詞集
Images of a pattern feature are acquired by the scanning electron microscopy (700).
パターン特徴の画像が走査型電子顕微鏡法により取得される（７００）。 - 特許庁
This section begins with the recent development in high-resolution electron microscopy.
この節は、高分解能電子顕微鏡法の最近の発展から(説明が)始まる。 - 科学技術論文動詞集
ELECTRON MICROSCOPY, AND ELECTRON MICROSCOPE, BIOLOGICAL SAMPLE INSPECTING METHOD AND BIOLOGICAL INSPECTING DEVICE USING THE SAME
電子顕微方法及びそれを用いた電子顕微鏡並び生体試料検査方法及び生体検査装置 - 特許庁
A modern TEM equipped with an omega filter performs energy-filtering transmission electron microscopy.
オメガフィルタを装備した近代のTEMは、エネルギーフィルタ透過電子顕微鏡法を成し(やり)遂げる。 - 科学技術論文動詞集
HREM, electron holography, Lorentz microscopy and STEM can function satisfactory with a Schottky emitter.
HREM、電子線ホログラフィー、ローレンツ顕微鏡法およびSTEMは、ショットキー・エミッタによって満足に機能する。 - 科学技術論文動詞集
To provide a new method for phase contrast imaging in transmission electron microscopy.
透過型電子顕微鏡法における位相コントラスト結像のための新しい方法を提供すること。 - 特許庁
Three techniques of electron diffraction, microscopy and EELS can be combined in a single instrument without sacrifice of performance.
電子回折、顕微法、EELSの3つの技法は、性能の犠牲なしに1つの装置の中に結合できる。 - 科学技術論文動詞集
A number of instruments have been designed to advance the study of materials by electron microscopy.
多くの装置が、電子顕微鏡法による材料の研究を推進するために設計されてきた。 - 科学技術論文動詞集
The increasing application of electron microscopy has led to rapid developments in specimen preparation techniques.
電子顕微鏡法の増えつづける応用が、試料作製技法における急速な発展につながった。 - 科学技術論文動詞集
This book expresses the contents of electron microscopy theories in language accessible to the normal user.
この本は、電子顕微鏡法の理論の内容を「通常の」ユーザが利用しやすい言語で表現している。 - 科学技術論文動詞集
The book presents the theory of image and contrast formation, and the analytical modes in transmission electron microscopy.
その本は、透過電子顕微鏡法における像とコントラスト形成の理論および分析の方法を示す。 - 科学技術論文動詞集
Many ceramics and minerals are difficult to prepare thin enough for 100 kV electron microscopy.
多くのセラミクスや鉱物は、100kV電子顕微鏡法用に十分薄く試料作製(調製)することは難しい。 - 科学技術論文動詞集
Soon after the first observation of dislocations, several important developments in electron microscopy took place.
最初の転位の観察のすぐ後に、電子顕微鏡学におけるいくつかの重要な発展が起こった。 - 科学技術論文動詞集
To measure a concentration of an optional element in a sample containing a plurality of elements while maintaining high spatial resolution in an electron energy spectroscope (energy-filter)-transmission electron microscope.
電子線エネルギー分光器(Energy−Filter)−透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscopy)において高い空間分解能を維持しながら複数の元素を含む試料中の任意の元素濃度を測定する。 - 特許庁
In a method of producing samples for transmission electron microscopy, a sample is prepared from a substrate (110) of a sample material.
透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法の場合、サンプルはサンプル材料の基材（１１０）から準備される。 - 特許庁
TDS stands for thermal diffuse scattering and HAADF-STEM (stands) for high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy.
(略語の)TDSは熱散漫散乱を表わし、そしてHAADF-STEMは高角度円環状暗視野走査透過電子顕微鏡法を表わす。 - 科学技術論文動詞集
The author wrote this book with the hope that it will be a guide to a deeper understanding of the physical background of electron microscopy.
筆者は、この本が電子顕微鏡法の物理的背景のより深い理解への手引きになることを願って、この本を書いた。 - 科学技術論文動詞集
The method for analyzing core-shell particles further includes the steps of: confirming that the carrier having the core-shell particle supported thereon has a core-shell structure by an electron microscopy; and analyzing the composition of the carrier having the core-shell particle supported thereon by the electron microscopy.
このコアシェル粒子の分析法には、更に、コアシェル粒子が担持された担体を電子顕微鏡によりコアシェル構造であることを確認する工程、及びコアシェル粒子が担持された担体を電子顕微鏡により組成分析する工程を付加することができる。 - 特許庁
To provide a sample for observing a pore and a skeleton section of an inorganic porous body with sufficient contrast, using an electron microscopy.
無機多孔体の細孔と骨格部とを電子顕微鏡を用いてコントラストよく観察するための試料を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide an analysis method of observing, with an electron microscopy, a specific matter itself observed with an optical microscope.
光学顕微鏡で観察された特定の物質それ自体を電子顕微鏡で観察することを可能とする分析方法を提案すること。 - 特許庁
The present book is aimed at satisfying the need for fairly advanced instruction in the electron microscopy of crystalline specimens.
今回の本は、結晶性試料に関する電子顕微鏡法のかなり高度な知識に対するニーズを満足させることを狙ったものである。 - 科学技術論文動詞集
Reversal-domain nucleation near grain boundaries is elucidated in the micrograph taken by the Foucault imaging mode in Lorentz electron microscopy.
粒界付近の反転分域の核生成が、ローレンツ電子顕微鏡法におけるFoucault結像モードで取得された顕微鏡像の中で解明される。 - 科学技術論文動詞集
The cobalt hydroxide particles are characterized in that the primary particle in-plane average diameter is 0.05-0.7 μm when observed by SEM (scanning electron microscopy) and the particle shape is flaky.
ＳＥＭ観察による一次粒子面方向平均径が０．０５μｍ〜０．７μｍであり、かつ粒子形状が板状であることを特徴とする水酸化コバルト粒子。 - 特許庁
In this book including the lecture in the Summer School, many of typical problems in electron microscopy have been reproduced in Appendix 6 with solutions given in Appendix 7.
サマースクールでの講義(内容)を含むこの本の中で、電子顕微鏡法における典型的な問題の多くは、付録7に与えられた回答とともに付録6に再現された。 - 科学技術論文動詞集
This observation sample is used for observing the cross section of the inorganic porous body by using electron microscopy, and the pores of the inorganic porous body are filled with a metal of secondary electron emission rate which is higher than that of the inorganic porous body.
無機多孔体の断面を電子顕微鏡で観察するための観察試料であって、前記無機多孔体よりも二次電子放出率の高い金属が前記無機多孔体の細孔に充填されていることを特徴とする。 - 特許庁
To provide a cathode luminescence measuring device capable of implementing high-resolution observation with an electron microscopy and high-resolution observation of cathode luminescence despite of simple configuration.
簡単な構成でありながら電子顕微鏡による高分解能観察及びカソードルミネッセンスの高分解能観察を可能としたカソードルミネッセンス測定装置を提供することである。 - 特許庁
At least one of the inward member 41, the outward member 43 and the rolling element 42 is made of the titanium material having the new phase 22 that a diffraction spot is present at a position deviating from that on a virtual line connecting together almost the centers of diffraction spots of adjacent parent phases on an electron diffraction pattern obtained by electron microscopy.
そして、内方部材４１、外方部材４３及び転動体４２のうちの少なくとも１つが、電子顕微鏡法によって得られた電子回折図形上で、隣り合う母相の回折斑点の略中心を結ぶ仮想線上から逸れた位置に回折斑点が存在する新相２２を有するチタン材料から成っている。 - 特許庁
To provide a technique for obtaining a situation in a cell (electron microscopy expressed by an entire biomatter) under diversified environment (morbid state) conditions by suppressing destruction of cells when producing observation samples and for correlating position information of specific substances in the same visual field.
観察試料作製時の細胞の破壊を抑制しつつ、様々の環境（病態）条件での細胞内状況（全生体物質で現される電顕像）を得るとともに、同視野での特定の物質の位置情報を相関させる技術を提供する。 - 特許庁
To provide a standard sample for evaluating silicon single crystal wafers containing octahedral BMD (bulk micro defects) in high density, of which the sizes can be found by LST (laser scattering tomography) and which can be measured by TEM (transmission electron microscopy) for size definition, its manufacturing method, and an evaluating method by using the correlation sample.
ＬＳＴで欠陥サイズを求めることができ、かつサイズ定義に必要なＴＥＭで測定できる八面体のＢＭＤを高密度で含むシリコン単結晶ウェーハ評価用の標準サンプル、その製造方法及び標準サンプルを用いた評価方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method of producing a sample for transmission electron microscopy that effectively restricts the zone of the sample, is rapidly produced in a reproduced form, and hardly causes breakage in many different sample materials, and a device appropriate for executing the method.
サンプルが、効果的に区域限定されかつ再現されるような形で迅速に作成されることを可能にすると共に、多数の異なるサンプル材料に関して損傷を殆ど引き起こさない透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法、および該方法を実施するのに適した装置を提供する。 - 特許庁
In a fluorine atom mapping image of the cross section obtained by photographing the composite tube with a magnification of 1,500 by a scanning electron microscopy, there are at least two intersections of boundary lines, which are formed between areas where fluorine elements exist and areas where fluorine elements do not exist, and straight lines parallel to the thickness direction.
そして、この複合管状物には、走査型電子顕微鏡により１５００倍の倍率で撮影した断面のフッ素原子マッピング画像において、フッ素元素が存在する領域とフッ素元素が存在しない領域との境界線と、厚み方向に平行な直線との交点が少なくとも２ヵ所以上存在する。 - 特許庁

「electron microscopy」を含む例文一覧(47)

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