「electron-microscope」を含む例文一覧(1821)
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電子顕微鏡の試料ホルダ - 特許庁 - SCANNING PROBE ELECTRON MICROSCOPE
走査型プローブ電子顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE TABLE FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用試料台 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE AND PHOTOGRAPHING METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON IMAGE IN ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡および電子顕微鏡における透過電子像撮影方法 - 特許庁 - WAFER HOLDER AND ELECTRON MICROSCOPE
ウエハホルダおよび電子顕微鏡 - 特許庁 - ELECTRON/SECONDARY ION MICROSCOPE DEVICE
電子・２次イオン顕微鏡装置 - 特許庁 - OBJECTIVE LENS FOR ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM
電子顕微鏡システム用対物レンズおよび電子顕微鏡システム - 特許庁 - METHOD OF PREVENTING CHARGE UP OF ELECTRON MICROSCOPE, AND ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡のチャージアップ防止方法および電子顕微鏡 - 特許庁 - TESTPIECE DEVICE OF ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の試料装置 - 特許庁 - ANALYTICAL TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
分析透過型電子顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING X-RAY ELECTRON MICROSCOPE
走査Ｘ線電子顕微鏡 - 特許庁 - MESH FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過電子顕微鏡用メッシュ - 特許庁 - SAMPLE STAGE OF ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の試料ステージ - 特許庁 - SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用試料ホルダ - 特許庁 - SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用試料ホルダ。 - 特許庁 - SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE
走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁 - OBJECTIVE LENS FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用対物レンズ - 特許庁 - ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM AND ELECTRON MICROSCOPE
電子線描画装置および電子顕微鏡 - 特許庁 - ELECTRON BEAM DISPERSING DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE
電子線分光装置および電子顕微鏡 - 特許庁 - ELECTRON BEAM INTERFERENCE DEVICE AND ELECTRON MICROSCOPE
電子線干渉装置および電子顕微鏡 - 特許庁 - LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
低真空走査電子顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用試料ホルダー - 特許庁 - REFLECTION IMAGING ELECTRON MICROSCOPE
反射結像型電子顕微鏡 - 特許庁 - IMAGING DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用撮像装置 - 特許庁 - SAMPLE STAGE FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用試料ステージ - 特許庁 - DOWNSIZED SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
小型の走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - ENERGY FILTER AND ELECTRON MICROSCOPE
エネルギフィルタ及び電子顕微鏡 - 特許庁 - FOCUSING METHOD FOR ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡における焦点合わせ方法および電子顕微鏡 - 特許庁 - DRAW GEAR FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用の引張装置 - 特許庁 - METHOD FOR REGULATING ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡の調整方法 - 特許庁 - LOW-ENERGY REFLECTION ELECTRON MICROSCOPE
低エネルギー反射電子顕微鏡 - 特許庁 - MIRROR ELECTRON MICROSCOPE, AND INSPECTION DEVICE USING MIRROR ELECTRON MICROSCOPE
ミラー電子顕微鏡およびミラー電子顕微鏡を用いた検査装置 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND DISTORTION CALIBRATION OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE
走査電子顕微鏡および走査電子顕微鏡像の歪み校正 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE ALIGNMENT METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
走査型電子顕微鏡の調整方法、及び走査電子顕微鏡 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER, AND ELECTRON MICROSCOPE
試料ホルダ及び電子顕微鏡 - 特許庁 - TRANSMISSION TYPE INTERFERENCE ELECTRON MICROSCOPE
透過型干渉電子顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
走査透過電子顕微鏡装置 - 特許庁 - STAGE, AND ELECTRON MICROSCOPE DEVICE
ステージ及び電子顕微鏡装置 - 特許庁 - DIRECT IMAGING ELECTRON MICROSCOPE
直接写像型電子顕微鏡 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE AND ENERGY FILTER
電子顕微鏡及びエネルギーフィルタ - 特許庁 - ENERGY FILTER AND ELECTRON MICROSCOPE
エネルギーフィルタ及び電子顕微鏡 - 特許庁 - MICRO-MANIPULATOR FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用マイクロマニピュレータ - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE IMAGE RECONSTRUCTION SYSTEM, AND ELECTRON MICROSCOPE IMAGE RECONSTRUCTION METHOD
電子顕微鏡，電子顕微鏡用画像再構成システム、および電子顕微鏡用画像再構成方法 - 特許庁 - ELECTRODE RING AND ELECTRON MICROSCOPE
電極リング及び電子顕微鏡 - 特許庁 - IMAGE PICK-UP DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用撮影装置 - 特許庁 - FIELD EMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE
電界放出型電子顕微鏡 - 特許庁 - SPIN POLARIZATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
スピン偏極走査電子顕微鏡 - 特許庁 - PRETREATMENT DEVICE FOR ELECTRON MICROSCOPE
電子顕微鏡用前処理装置 - 特許庁 - SAMPLE HOLDER, AND ELECTRON MICROSCOPE
試料ホルダー及び電子顕微鏡 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE AND INSPECTION METHOD
電子顕微鏡及び検査方法 - 特許庁
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