「evaluating」を含む例文一覧(11294)
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散乱特性評価装置 - 特許庁 - SUBSTRATE FOR EVALUATING SEMICONDUCTOR
半導体評価用基板 - 特許庁 - LINE QUALITY EVALUATING DEVICE
回線品質評価装置 - 特許庁 - EVALUATING METHOD AND EVALUATING DEVICE OF NITRIDE SEMICONDUCTOR
窒化物半導体の評価方法及び評価装置 - 特許庁 - SLEEP EVALUATING DEVICE, SLEEP EVALUATING SYSTEM, AND PROGRAM
睡眠評価装置、睡眠評価システムおよびプログラム - 特許庁 - DEGREE OF EXCITEMENT EVALUATING METHOD AND DEGREE OF EXCITEMENT EVALUATING APPARATUS
興奮度評価方法及び興奮度評価装置 - 特許庁 - LITHOGRAPHY MARGIN EVALUATING METHOD
リソグラフィマージン評価方法 - 特許庁 - OPTICAL DISK EVALUATING METHOD
光ディスクの評価方法 - 特許庁 - EVALUATING APPARATUS FOR DISK CHARACTERISTICS
ディスク特性評価装置 - 特許庁 - NC PROGRAM EVALUATING METHOD
ＮＣプログラム評価方法 - 特許庁 - SYSTEM FOR EVALUATING ANTENNA CHARACTERISTICS
アンテナ特性評価システム - 特許庁 - BEARING FUNCTION EVALUATING METHOD
軸受機能評価方法 - 特許庁 - HEMODYNAMICS EVALUATING APPARATUS
循環動態評価装置 - 特許庁 - SPECTACLE LENS EVALUATING METHOD
眼鏡レンズの評価方法 - 特許庁 - EVALUATING METHOD OF ARTHRALGIA
関節痛の評価方法 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING PIEZOELECTRIC ELEMENT
圧電素子の評価方法 - 特許庁 - SEAL STRESS EVALUATING METHOD
シールのストレス評価方法 - 特許庁 - RADIATION EXPOSURE EVALUATING SYSTEM AND EVALUATING METHOD THEREFOR
放射線被曝量評価システム及びその評価方法 - 特許庁 - DEVICE FOR EVALUATING HUB UNIT AND METHOD FOR EVALUATING HUB UNIT
ハブユニットの評価装置およびハブユニットの評価方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR LASER EVALUATING DEVICE
半導体レ—ザ評価装置 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING LIPID METABOLISM
脂質代謝評価方法 - 特許庁 - DEFECT EVALUATING DEVICE BY PLASMA OR ARC, AND EVALUATING METHOD
プラズマ・アークによる損傷評価装置と評価方法 - 特許庁 - OPTICAL PICKUP EVALUATING DEVICE
光学ピックアップ評価装置 - 特許庁 - TEG CHIP, AND EVALUATING DEVICE AND EVALUATING METHOD THEREFOR
ＴＥＧチップ及びその評価装置及び評価方法 - 特許庁 - VIBRATION ABRASION EVALUATING DEVICE AND VIBRATION ABRASION EVALUATING METHOD
振動摩耗評価装置、及び、振動摩耗評価方法 - 特許庁 - COMBINED INSTRUMENT EVALUATING APPARATUS AND COMBINED INSTRUMENT EVALUATING METHOD
複合計器評価装置、及び、複合計器評価方法 - 特許庁 - SOFTWARE QUALITY EVALUATING DEVICE
ソフトウェア品質評価装置 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING VASCULITIS
脈管炎の評価方法 - 特許庁 - SOUND SOURCE POSITION EVALUATING METHOD
音源位置標定方法 - 特許庁 - SOFTWARE QUALITY EVALUATING METHOD AND QUALITY EVALUATING SYSTEM
ソフトウェアの品質評価方法及び品質評価システム - 特許庁 - METHOD OF EVALUATING PIEZOELECTRIC MAGNETIC DEVICE
圧電磁器の評価方法 - 特許庁 - AGITATION EVALUATING DEVICE, AGITATION EVALUATING METHOD AND IMAGE FORMING APPARATUS
攪拌評価装置、攪拌評価方法および画像形成装置 - 特許庁 - NETWORK QUALITY EVALUATING DEVICE
ネットワーク品質評価装置 - 特許庁 - IMPACT STRENGTH EVALUATING METHOD
衝撃強さ評価方法 - 特許庁 - QIGONG DETECTING AND EVALUATING APPARATUS
気功検出・評価装置 - 特許庁 - A metal contamination evaluating method is used for evaluating metal contamination in a semiconductor substrate.
半導体基板中の金属汚染評価方法。 - 特許庁 - IMAGE EVALUATING METHOD, IMAGE EVALUATING DEVICE, AND PRINTER
画像評価方法、画像評価装置、及び印刷装置 - 特許庁 - HEAT TREATMENT EVALUATING METHOD AND DEVELOPMENT PROCESSING EVALUATING METHOD
熱処理評価方法及び現像処理評価方法 - 特許庁 - APPARATUS FOR EVALUATING NUMBER OF MICROORGANISM
微生物数評価装置 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING SEMICONDUCTOR CIRCUIT AND DEVICE FOR EVALUATING SAME
半導体回路の評価方法及びその評価装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR RELIABILITY EVALUATING DEVICE AND EVALUATING METHOD
半導体信頼性評価装置およびその評価方法 - 特許庁 - POWER QUALITY EVALUATING SYSTEM
電力品質評価システム - 特許庁 - INTERFERENCE MEASUREMENT EVALUATING SYSTEM
干渉測定評価システム - 特許庁 - OPTICAL ELEMENT EVALUATING METHOD
光学素子の評価方法 - 特許庁 - METHOD FOR EVALUATING ANTIFUNGAL AGENT
抗真菌剤の評価法 - 特許庁 - FINANCIAL MERCHANDISE EVALUATING SYSTEM
金融商品評価システム - 特許庁 - MATERIAL CHARACTERISTICS EVALUATING DEVICE
材料特性評価装置 - 特許庁 - SILICON-SUBSTRATE EVALUATING METHOD
シリコン基板の評価方法 - 特許庁 - DIOXIN CONCENTRATION EVALUATING METHOD
ダイオキシン濃度評価方法 - 特許庁 - CREEP LIFETIME EVALUATING METHOD
クリープ寿命評価方法 - 特許庁
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