「evaluation sample」を含む例文一覧(388)

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  • SAMPLE EVALUATION APPARATUS AND SAMPLE EVALUATION METHOD
    試料評価装置及び試料評価方法 - 特許庁
  • SAMPLE EVALUATION METHOD AND SAMPLE EVALUATING DEVICE
    試料評価方法及び試料評価装置 - 特許庁
  • SAMPLE EVALUATION METHOD AND DEVICE
    サンプル評価方法及び装置 - 特許庁
  • To raise the precision of structural analysis of evaluation patterns by making a thin filmlike evaluation sample surely contain the evaluation patterns, and moreover thinning the membrane of the evaluation sample.
    薄膜状の評価サンプルに確実に評価パターンを含ませるようにする。 - 特許庁
  • CROSS SECTION EVALUATION DEVICE OF SAMPLE AND CROSS SECTION EVALUATION METHOD OF SAMPLE
    試料の断面評価装置及び試料の断面評価方法 - 特許庁
  • EVALUATION DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE SAMPLE
    半導体デバイス試料評価装置。 - 特許庁
  • SAMPLE EVALUATION METHOD, SUBSTRATE FOR EVALUATION, AND SUBSTRATE FORMING METHOD FOR EVALUATION
    試料評価方法、評価用基板及び評価用基板形成方法 - 特許庁
  • MASK PATTERN, EVALUATION SAMPLE MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND EVALUATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR EVALUATION SAMPLE
    マスクパターン、半導体装置の評価サンプル作成方法および半導体評価サンプルの評価方法 - 特許庁
  • SURFACE EVALUATION DEVICE AND PAINTING SAMPLE
    表面評価装置及び塗装標本 - 特許庁
  • an evaluation of proteins in a sample of blood.
    血液サンプル中の蛋白質評価。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • GAS REACTOR AND SAMPLE EVALUATION DEVICE
    ガス反応装置及び供試材評価装置 - 特許庁
  • FRICTION EVALUATION DEVICE, FRICTION EVALUATION METHOD AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD
    摩擦評価具、摩擦評価方法及びサンプルの製造方法 - 特許庁
  • CERAMIC CHARACTERISTIC EVALUATION SAMPLE AND CERAMIC CHARACTERISTIC EVALUATION METHOD
    セラミック特性評価用サンプル及びセラミック特性評価方法 - 特許庁
  • To provide an evaluation device and an evaluation method capable of evaluating quickly a feature of a sample.
    試料の特徴を迅速に評価することができる。 - 特許庁
  • SAMPLE CONTAINER FOR THERMAL ANALYSIS EVALUATION AND METHOD FOR THERMAL ANALYSIS EVALUATION
    熱分析評価用試料容器及び熱分析評価方法 - 特許庁
  • CRYSTAL SAMPLE HOLDER AND CRYSTAL EVALUATION SYSTEM
    結晶試料ホルダと結晶評価システム - 特許庁
  • SAMPLE EVALUATION DEVICE AND METHOD
    試料評価装置及び試料評価方法 - 特許庁
  • SAMPLE FOR ORIENTATION STATE EVALUATION, MANUFACTURING METHOD OF THE SAMPLE FOR ORIENTATION STATE EVALUATION, AND ORIENTATION STATE EVALUATION METHOD
    配向状態評価用試料、配向状態評価用試料の製造方法、及び配向状態評価方法 - 特許庁
  • ENERGIZATION CHARACTERISTIC TESTING APPARATUS FOR EVALUATION SAMPLE
    評価用試料の通電特性試験装置 - 特許庁
  • SAMPLE EVALUATION DEVICE AND METHOD
    試料評価装置および試料評価方法 - 特許庁
  • PROBE HOLDING DEVICE, SAMPLE ACQUIRING DEVICE, SAMPLE WORKING DEVICE, SAMPLE WORKING METHOD, AND SAMPLE EVALUATION METHOD
    プローブ保持装置、試料の取得装置、試料加工装置、試料加工方法、および試料評価方法 - 特許庁
  • METALLIC COATING SURFACE EVALUATION METHOD AND DEVICE, AND EVALUATION REFERENCE SAMPLE
    メタリック塗装表面評価方法および装置並びに評価基準標本 - 特許庁
  • DECONTAMINATION CAPACITY EVALUATION METHOD, AND SIMULATION SAMPLE FOR EVALUATION USED THEREFOR
    除染能力評価方法及びこれに用いられる評価用模擬試料 - 特許庁
  • SAMPLE BASE AND SUBSTRATE EVALUATION DEVICE USING THE SAME
    試料台およびこれを用いた基板評価装置 - 特許庁
  • To provide a sample evaluation device and a sample evaluation method capable of evaluating a crystalline sample without tilting the crystalline sample.
    結晶性試料を傾斜させずに該結晶性試料を評価することが可能な試料評価装置及び試料評価方法を提供すること。 - 特許庁
  • EVALUATION METHOD OF PAINTING PATTERN AND PAINTING PATTERN SAMPLE
    塗装模様の評価方法及び塗装模様標本 - 特許庁
  • GAS REACTOR, REACTION PIPE AND SAMPLE EVALUATION APPARATUS
    ガス反応装置、反応管及び供試材評価装置 - 特許庁
  • To provide a manufacturing method of an evaluation sample capable of obtaining a precise measured result, the evaluation sample, a production method of an electronic component, the electronic component and an evaluation sample manufacturing apparatus for manufacturing the evaluation sample.
    精密な測定結果が得られる評価試料の作製方法、評価試料、電子部品材料の生産方法、電子部品、このような評価試料を作製するための評価試料作製装置を提供する。 - 特許庁
  • The evaluation sample containing the photosynthesis sample is irradiated with the first excitation light in the first irradiation condition, when the evaluation sample is evaluated.
    評価試料を評価する場合、まず、光合成サンプルを含む評価試料に第１の励起光を第１の照射条件で照射する。 - 特許庁
  • COLOR DIFFERENCE EVALUATION METHOD AND COLORIMETRIC SYSTEM FOR ANISOTROPIC SAMPLE
    異方性試料の色差評価方法及び測色システム - 特許庁
  • SAMPLE EVALUATION METHOD USING ELECTRON BEAM AND ELECTRON BEAM DEVICE
    電子線を用いた試料評価方法及び電子線装置 - 特許庁
  • PREPARATION METHOD FOR EVALUATION SAMPLE, ANALYTICAL METHOD, PRODUCTION METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT MATERIAL, ELECTRONIC COMPONENT, AND EVALUATION SAMPLE PREPARATION DEVICE
    評価試料の作製方法、分析方法、電子部品材料の生産方法、電子部品及び評価試料作製装置 - 特許庁
  • MANUFACTURING METHOD OF EVALUATION SAMPLE, ANALYZING METHOD, PRODUCTION METHOD OF ELECTRONIC COMPONENT MATERIAL, ELECTRONIC COMPONENT AND EVALUATION SAMPLE MANUFACTURING APPARATUS
    評価試料の作製方法、分析方法、電子部品材料の生産方法、電子部品及び評価試料作製装置 - 特許庁
  • METHOD AND SERVER FOR DECIDING EVALUATION SAMPLE NUMBER FOR SUBJECTIVE EVALUATION OF TELEPHONE CALL QUALITY
    通話品質の主観評価のための評価サンプル数を決定する方法及びサーバ - 特許庁
  • To properly evaluate a photosynthesis function of a photosynthesis sample contained in an evaluation sample.
    評価試料に含まれる光合成サンプルの光合成機能を適切に評価すること。 - 特許庁
  • To provide a preparation method for an evaluation sample, capable of obtaining an accurate and precise measured result, the evaluation sample, a production method for an electronic component material, an electronic component, and an evaluation sample preparation device for preparing evaluation samples.
    精密な測定結果が得られる評価試料の作製方法、評価試料、電子部品材料の生産方法、電子部品、このような評価試料を作製するための評価試料作製装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a sample for the quality evaluation of a quartz glass crucible, a production method of the sample, an evaluation method of the quality and the like using the sample, and a production apparatus of the sample.
    石英ガラス製ルツボの品質評価用の試料およびその試料の作製方法とその試料を用いた品質等の評価方法およびその試料の作製装置とを提供する。 - 特許庁
  • MAGNETIC CHARACTERISTICS EVALUATION DEVICE AND MAGNETIC CHARACTERISTICS MEASUREMENT SAMPLE PIECE
    磁気特性評価装置および磁気特性測定用試料片 - 特許庁
  • SAMPLE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND EVALUATION METHOD
    評価用試料およびその製造方法、ならびに評価方法 - 特許庁
  • EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF ADSORBATE OR INCLUSION ON SPECIFIC PART ON SAMPLE SURFACE
    試料表面の特定部における吸着物，含有物の評価方法および評価装置 - 特許庁
  • SAMPLE SURFACE SHAPE/INFRARED SPECTROSCOPE COMBINED EVALUATION APPARATUS, EVALUATION METHOD, AND MEASUREMENT METHOD
    試料表面形状・赤外分光複合評価装置および評価方法並びに測定方法 - 特許庁
  • Finally the evaluation sample is drawn out based on the light emission quantity measured in a measuring step, and the evaluation sample is evaluated based on an evaluation value and a standard data.
    最後に、測定ステップにおいて測定された発光量に基づいて評価値を導出し、評価値と標準データとに基づいて評価試料を評価する。 - 特許庁
  • The selection point evaluation calculating means calculates an evaluation point (a selection point evaluation value) of a sample point (a selection point) of a selected delay amount.
    選択点評価計算手段は、選択された遅延量のサンプル点（選択点）の評価値（選択点評価値）を計算する。 - 特許庁
  • FLUORESCENCE X-RAY ANALYSIS METHOD AND EVALUATION METHOD OF SAMPLE STRUCTURE
    蛍光Ｘ線分析方法及び試料構造の評価方法 - 特許庁
  • METHOD OF EVALUATING PHOTOSYNTHESIS SAMPLE, AND EVALUATION PROGRAM FOR SAME
    光合成サンプルの評価方法及び光合成サンプルの評価プログラム - 特許庁
  • DEVICE EVALUATING METHOD AND EVALUATION SAMPLE USING ELECTRON-BEAM HOLOGRAPHY
    電子線ホログラフィーによる素子評価方法及び評価用試料 - 特許庁
  • EVALUATION METHOD AND DEVICE FOR CONDUCTIVE SAMPLE
    導電性試料の評価方法及び導電性試料の評価装置 - 特許庁
  • STANDARD SAMPLE FOR EVALUATION OF ANTIBACTERIAL EFFECT AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME
    抗菌効果評価用標準試料及びその製造方法 - 特許庁
  • EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TEST SAMPLE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体試料の評価方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
  • The test sample for evaluation is formed into tablets in the tableting step.
    タブレット成形工程で、評価用試料をタブレット状に成形する。 - 特許庁
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