「fixed sample」を含む例文一覧(447)
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 次へ＞- To provide a method for measuring the presence or concentration of a fixed analyte in a fixed sample by spectrophotometry.
分光測光法により一定のサンプル中の一定の分析物の存在または濃度を測定するための方法を提供する。 - 特許庁 - With this, the lock shaft is fixed in all directions of x, y and z, so is a sample stage in contact-fixed with the lock shaft, and mechanical vibration of the sample stage is restrained.
これによってロック軸はｘ，ｙおよびｚの全ての方向で固定され、ロック軸に接触固定された試料ステージも固定され、試料ステージの機械的振動が抑制される。 - 特許庁 - As a result, by pressing the sample from a crosswise direction instead of from an upper direction, the sample with an arbitrary shape and thickness can be fixed regardless of the shape and thickness of the sample.
これによって、試料を上方から押えることに代えて試料を横方向から押えることによって、試料の形状や厚みに係わらず、任意の形状や厚みの試料を固定する。 - 特許庁 - The image forming apparatus has a fixed sample output function that fixes a toner image of a predetermined sample pattern in a plurality of different fixing conditions (sample A to E) and outputs the result.
画像形成装置は、所定のサンプルパターンのトナー像を、複数の異なる定着条件（ｓａｍｐｌｅ Ａ〜Ｅ）で定着させて出力する定着サンプル出力機能を有している。 - 特許庁 - A preliminary processing method for a sample used on atom probe apparatus includes the steps of: cutting the desired observing part of the sample into a block using an FIB equipment; transferring the sample block onto a sample substrate and fixing the sample block in place; and processing the sample block fixed onto the sample substrate into a needle-point shape by FIB etching.
本発明のアトムプローブ装置用試料の予備加工は、ＦＩＢ装置を用いて試料所望観察部位をブロック状に切り出すステップと、該ブロック状の切り出し試料を試料基板上に移送して固定するステップと、該試料基板上に固定されたブロック状の試料をＦＩＢエッチング加工によって針先形状に加工するステップとからなる。 - 特許庁 - The sample observation method using the electron microscope includes a fixing process for placing the sample 1 on a sample stand 2 and heating the metal joining material 3 while subjecting the same to ultrasonic vibration not only to join and fix the sample 1 and the sample stand 2 but also to electrically connect both of them and the sample 1 is observed using the electron microscope as it remains fixed on the sample stand 2.
試料台２上に試料１を載置し、金属接合材３を超音波振動させながら加熱することで試料１と試料台２とを金属接合材３により接合して固定すると共に電気的に接続する固定工程を備え、試料台２上に試料１を固定した状態で電子顕微鏡を用いた観察を行う。 - 特許庁 - The sample 12 is formed with the wiring pattern and is fixed onto the sample stage 11, and an electronic beam is made incident on a surface thereof from the irradiation part 1.
試料１２は、配線パターンが形成され、試料ステージ１１に固定され、表面に照射部１から電子ビームが入射される。 - 特許庁 - In this state, a sample-and-hold transistor 221 is turned off, and then the sample-and-hold capacity 223 is read as correction data of the vertical fixed pattern noise.
この状態で、サンプルホールドトランジスタ２２１をオフした後、サンプルホールド容量２２３を読み出して縦線固定パターンノイズの補正データとする。 - 特許庁 - The sample storage device 1 includes a main case 2 fixed and attached to a processing chamber 21 of a sample preparing device 20 and a detachable case 10.
試料保存装置１は、試料作製装置２０の加工室２１に固定して取り付けられたメインケース２と、脱着型ケース１０とからなる。 - 特許庁 - An L-shaped stress-transmitting member is mounted to a sample holder, and a sample is fixed to the L-shaped stress-transmitting member.
試料ホルダーにＬ字型応力伝達部材が取り付けられていると共に、当該Ｌ字型応力伝達部材に試料が固定されている。 - 特許庁 - A sensor part 5 for detecting the tactile feeling with respect to the sample surface is fixed onto a bottom face of the crossbar 8.
横木８の底面に、試料表面との触感を検知するセンサー部５を固着する。 - 特許庁 - Thereafter, a sample 10a is fixed onto a flat plate 13 and mirror-ground with a rotary grinder.
その後、試料１０ａを平坦な板１３に固定し、回転研磨機で鏡面研磨する。 - 特許庁 - Next, the bulk 4 is fixed through epoxy resin to the tip of a cylindrical pin 6 as a sample stand.
次に、バルク４を試料台である円筒状のピン６の先端にエポキシ樹脂で固定する。 - 特許庁 - The sample loop 1 is fixed in the vicinity of a channel change-over valve 3 and connected to an injection port 2.
流路切り替えバルブ３の近傍でサンプルループ１を固定し、インジェクションポート２に接続する。 - 特許庁 - A single-crystal substrate 10 is fixed on a sample fixing stand 1 by using an inclination correcting device 20.
単結晶基板１０を傾斜補正治具２０を用いて試料固定台１に固定する。 - 特許庁 - To provide a plate for a centrifugal device and the centrifugal device, capable of moving a liquid sample, by a centrifugal force to determine quantitatively the liquid sample in a sample holding part, and capable of making the liquid sample of fixed amount surely flow into a flow passage.
液体試料を遠心力によって移動させて、液体試料を試料保持部内で定量化を行い、確実に一定量の液体試料を流路内に流入する遠心装置用プレート、及び遠心装置を提供する。 - 特許庁 - In the sample analyzing method wherein the probe is brought into contact with the surface of the sample and scanned to measure the surface physical properties of the sample, the sample is fixed to a sample stand by an adhesive or a pressure sensitive adhesive.
試料の表面に、プローブを接触させ、前記プローブを走査することにより、前記試料の表面物性を測定する分析方法において、前記試料を、接着剤ないし粘着剤により試料台に固定することを特徴とするプローブを用いる試料分析方法である。 - 特許庁 - Since the installed sample containers 30 held in the container holder 22 are fixed by presser plate 23, the sample is crushed by the operation of the crusher.
装着された容器ホルダ２２に保持された試料容器３０は押圧板２３により固定されるので、破砕機の運転により試料が破砕される。 - 特許庁 - When a fine wire sample S is inserted in these holes to be fixed by fixing screws 9, 11, the longitudinal direction of the sample S coincides with the direction A of load.
この孔に細線試料Ｓを差し込んで固定ネジ９と１１で固定すると試料Ｓの長手方向と負荷の方向Ａは一致することとなる。 - 特許庁 - In this scratch machining method, a work (a sample 1) is fixed to a support bed 2, a polishing turning tool is confronted with the sample 1, and a magnetic polishing liquid 4 is supplied to a narrow gap between them.
支持台２に加工対象（試料１）を固定し、試料１には研磨バイト３を対面させ、両者の狭間へ磁気研磨液４を供給する。 - 特許庁 - The micro sample piece S is fixed onto any of the fourth stage 14-54 of the micro sample block 10, and a three ways of fixing positions are allowed therein as follows.
微小試料片Ｓは、微小試料台１０の第４段１４〜５４のいずれかに固定されるが、固定する位置としては、次の３通りがある。 - 特許庁 - The sample comprising a transparent substrate is subjected to laser interference exposure in a state where tensile stress is applied to the sample fixed on a roll to carry out stretching.
透明基板からなるサンプルは、延伸するためにロールに固定され引っ張り応力が加えられた状態で、レーザ干渉露光が行われる。 - 特許庁 - To provide a sample temperature measuring device and a sample temperature measuring method capable of performing thermal analysis in a state that fine particles of a sample in liquid such as a solution are fixed at each fine particle.
溶液等の液体中の試料である微粒子を微粒子１個ごとに固定した状態で熱分析を可能とする試料温度測定装置及び試料温度測定方法を提供する。 - 特許庁 - In the present invention, the cycle time from sample injection to the next sample injection is fixed in liquid chromatographic analysis, and a sample is injected before a column is brought into an equilibrium by an eluent.
本発明は、液体クロマトグラフ分析において、試料注入から次の試料注入までのサイクル時間を一定とし、カラムが溶離液により平衡化する前に試料を注入することに関する。 - 特許庁 - The sample stand 10 is made held by the holding part 33 so that the spring 32 is inserted into either of the insertion holes 11, 12, to position the sample 20 by a stopper 41, and then, the sample stand 10 is fixed.
バネ３２が挿入穴１１，１２のいずれかに挿入されるように、試料台１０を保持部３３に保持させて、ストッパ４１によって試料２０を位置決めした後、試料台１０が固定される。 - 特許庁 - An analytical sample is hybridized with respect to many sample probes arranged and fixed at fine intervals on the sample chip.
低濃度の解析用ＤＮＡを使用して解析作業を高精度に行うことができると共に解析コストを低減することができる試料チップのハイブリダイジング方法及びディハイブリダイジング方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample holder for Raman spectrometry and a Raman spectrometric analytical method capable of changing a direction of a sample itself to carry out polarization Raman measurement, under the condition where the sample is fixed.
試料を固定したまま、試料自体の向きを変更し、偏光ラマン測定を行うことの出来るラマン分光測定用試料ホルダおよびラマン分光分析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a method using fixed limited amount of MBTH in order to detect a fixed participation amount (POI) of aldehyde(ALD) in a sample.
サンプル中の一定関与量（ＰＯＩ）のアルデヒド（ＡＬＤ）を検出するため、一定制限量のＭＢＴＨを用いる方法を提供する。 - 特許庁 - Relative displacement hardly occurs between the charged particle generation part and a sample even when an ambient noise is applied to the column 2 or the sample chamber 3 because the column 2 and the sample stage 5 are both fixed to the sample chamber upper portion 3a and vibrate in an integrated manner.
環境音がカラム２や試料室３に加わってもカラム２と試料ステージ５が共に試料室上部３ａに固定され、互いに一体となって振動するので、荷電粒子発生部と試料との間に相対変位が生じにくい。 - 特許庁 - In order to adsorb an organic compound in a sample gas and concentrate it in a collection part 6, the sample gas is introduced from a sample gas inlet 1 to the collection part 6 through a sample passage for a fixed time, and the organic compound is adsorbed and concentrated in the collection part 6.
サンプルガス中の有機化合物を吸着して捕集部６に濃縮するために、サンプルガス入口１からサンプル流路により、サンプルガスを捕集部６に一定時間導入し、捕集部６に上記有機化合物を吸着して濃縮する。 - 特許庁 - A table 10 supporting a lower sample fixing block 60 to which the lower part of the sample S is fixed is provided on a base 1, and a block support 20 supporting an upper sample fixing block 70 to which the upper part of the sample is fixed is provided on the base while opposing the table and being free to move horizontally.
供試体Ｓの下部を固定した下部供試体固定ブロック６０を支持するテーブル１０を基台１上に設けると共に、供試体の上部を固定した上部供試体固定ブロック７０を支持するブロック支持体２０をテーブルに対峙させて水平方向に移動自在に前記基台に設ける。 - 特許庁 - The sample S is sandwiched and fixed between the X-ray transmission sheet 14 and the X-ray transmission sheet 15.
試料Ｓは、Ｘ線透過シート１４及びＸ線透過シート１５の間に挟まれて固定される。 - 特許庁 - The substrate after the contact with the sample water is dried under a condition fixed to the fixing part.
また、試料水を接触させた後の基板を基板固定部に固定された状態で乾燥させる。 - 特許庁 - To provide a head space gas sampler capable of accurately adding a fixed amount of internal standard gas to an unknown sample.
内部標準ガスを正確に一定量未知試料に添加できるヘッドスペースガスサンプラーを提供する。 - 特許庁 - A sample holder 31 is fixed to the measuring shaft 25 of the force gauge 19 through leaf springs 27 and 29.
フォースゲージ１９の測定軸２５に板バネ２７，２９を介して試料ホルダー３１が固定されている。 - 特許庁 - The pre-processing of the sample for this atom probe device is composed of a step for cutting a sample desired observation region into a block shape using an FIB device, a step for transferring the block-shaped cut sample to a sample substrate to fix the same and a step for processing the block-shaped sample fixed on the sample substrate into a needle tip shape by FIB etching processing.
本発明のアトムプローブ装置用試料の予備加工は、ＦＩＢ装置を用いて試料所望観察部位をブロック状に切り出すステップと、該ブロック状の切り出し試料を試料基板上に移送して固定するステップと、該試料基板上に固定されたブロック状の試料をＦＩＢエッチング加工によって針先形状に加工するステップとからなる。 - 特許庁 - Further, a target sample-fixing part 20 and a measurement sample-fixing part 22 are formed in a nearly flat shape being slightly lower than a surface 18a of a stand for fixing a measurement and target sample so that a target sample and a measurement sample can be securely positioned and fixed on a measurement and target sample-fixing stand 18 without any gap.
更に、測定及び対象試料固定台１８上に対象試料及び測定試料を隙間無く且つ確実に位置決め固定することができるように、対象試料固定部２０及び測定試料固定部２２を測定及び対象試料固定台の表面１８ａよりも若干低くなった略平坦状を成して構成する。 - 特許庁 - In the measurement chamber, a fixed clamp 24 and a moving clamp 26 are provided, and a measurement sample S is gripped by the fixed clamp and the moving clamp to be held.
この計測室内には、固定クランプ２４と移動クランプ２６が設けられており、計測試料Ｓが固定クランプと移動クランプに把持されて保持される。 - 特許庁 - The first parts 2d to be fixed of the sample display board 2 are fixed to the holder 3 in a manner as to be held between the holder 3 and the fixing member 4.
そして、見本表示板２の第１の被固定部２ｄ、２ｄは、ホルダー３と固定部材４とに挟まれるようにして、ホルダー３に固定される。 - 特許庁 - A thin plate of a minute thin film different from a target sample is transferred and fixed to a processing position in place of the focusing ion beam assist deposition (FIBAD) film fabricated on the surface of the sample during sample processing to be used as a protective film.
試料加工の際に試料表面に作製していた集束イオンビームアシストデポジション（FIBAD）膜の代わりに、対象試料とは別の微小な薄膜の薄板を加工位置に移設固定して保護膜とする。 - 特許庁 - At the time of measuring the hydrogen peroxide concentration of the sample solution, a concentration-reduced sample solution is prepared by keeping the sample solution in a decomposing tank 4 for a fixed period of time while the solution is vibrated by means of a vibrating motor 6.
試料液中の過酸化水素濃度を測定する際に、試料液を振動モータ６で振動させつつ一定時間分解槽４内に保持することにより濃度減衰試料液が調製される。 - 特許庁 - A thin film component 5 separate from a target sample is transferred and fixed to a processing position in place of the focusing ion beam assist deposition (FIBAD) film formed on the surface of the sample heretofore at the time of machining of the sample to be used as a protective film.
従来、試料加工の際に試料表面に作製していた集束イオンビームアシストデポジション（ＦＩＢＡＤ）膜の代わりに、対象試料とは別の薄膜部品５を加工位置に移設固定して保護膜とする。 - 特許庁 - The sample, such as meat having intense elastic stress, is fixed to a sample support made to undergo rotational motion, and a pressure sensor to which a hollow plunger is mounted is vertically moved, to cumulatively compress and gradually deform the sample.
肉などの弾性応力の強い試料を回転運動させた試料台に固定させ、中空プランジャーを取り付けた圧力センサーを上下運動し、積算圧縮しながら徐々に試料を変形させる。 - 特許庁 - A cell floating liquid is fixed under the development environment in which a degree of dryness as the control parameter in the sample slide manufacture of the sample is adjusted so as to obtain the optimum condition in the sample slide manufacture.
検体の標本スライド作製における制御パラメータとして乾燥度を標本スライド作製における最適条件が得られるように調整した展開環境下において、細胞浮遊液の固定を行う。 - 特許庁 - At this point, when a voltage is applied to an electrostatic chuck 4 and the wafer sample W mounted on the sample mounting face is attracted electrostatically, the wafer sample W can be attracted and fixed in a state without warpages or defliction.
ここで、静電チャック４に、電圧を印加して前記試料載置面に載置されたウエハ試料Ｗを静電吸着すると、ウエハ試料Ｗに反りや撓みのない状態で吸着固定することができる。 - 特許庁 - To eliminate use of deposition, and improve the productivity in a preparation of a sample for a transmission electron microscope, when the thin sample which is processed and prepared by a charged particle beam is fixed to a sample holder.
透過電子顕微鏡用試料の作製において、荷電粒子ビームによって加工して作製した薄片試料を試料ホルダに固定する際に、デポジションを用いないようにすることにより生産性を向上させる。 - 特許庁 - When the operating member 13 is moved from the separated position to the operating position in this state, the wafer sample pressing member separates from the positioned and fixed wafer sample W and frees the movement of the wafer sample W.
この状態で、前記作動部材１３を離隔位置から作動位置に移動させると、前記ウエハ試料押圧部材８は位置決め固定されたウエハ試料Ｗから離隔してウエハ試料Ｗの移動を自由にする。 - 特許庁 - Not less than one sample or a fraction of the sample can be separated or applied to a fixed phase (for example, affinity support) to separate a specific sample constituent based on not less than one characteristic of purposes.
一つ以上のサンプルまたはサンプルの画分は、目的の一つ以上の特徴に基づいて特定のサンプル成分を分離する目的のために、分離され得るか、または固定相（例えば、親和性支持体）へ適用され得る。 - 特許庁 - The primary beam 107 is irradiated to one point on the sample by a plurality of directions, namely, a plurality of angles against a sample wafer 115, and a reached point of the primary beam 107 on the sample is maintained at a fixed level without inclining the electrooptic system and the sample.
一次ビーム１０７は試料上の一点に対して複数の方向、すなわち試料ウェハ１１５に対して複数の角度をもって照射され、電子光学系と試料を傾斜させることなく、一次ビーム１０７の試料上到達点を一定に保つ。 - 特許庁 - The cryopreservation implement is the one for the cryopreservation of a biological sample such as a tissue piece and a cell and has a sample placing part including a graphite sheet on which a biological sample is placed and a holding part fixed at the base end part of the sample placing part.
本発明の凍結保存用具は、組織片や細胞などの生体試料を凍結保存するための凍結保存用具であって、生体試料を載置されるグラファイトシートを含む試料載置部と、試料載置部の基端部に固定された保持部とを有する。 - 特許庁
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