APPARATUS AND METHOD FORTESTING INTEGRATED CIRCUIT 集積回路試験装置及び方法 - 特許庁
DISPLAY DEVICE AND METHOD FORTESTING THE SAME 表示装置およびその試験方法 - 特許庁
SHOCK TESTING APPARATUS FOR ROLLER BEARING 転がり軸受用の衝撃試験装置 - 特許庁
PRESSURE-PROOF TESTING METHOD FOR FIRE HOSE 消防用ホースの耐圧試験方法 - 特許庁
TESTING MACHINE, AND PIPING FOR THERMOSTAT 試験装置及び恒温機器用配管 - 特許庁
Procedures for operation, maintenance, inspection and testing 運転、保守、検査及び試験の手順 - 経済産業省
METHOD FORTESTING BALANCE DEVICE FOR ELEVATOR AND JIG FOR TEST エレベータの秤装置の試験方法および試験用治具 - 特許庁
TESTING DEVICE FORTESTING AT LEAST ONE ELECTRONIC CONTROL SYSTEM AND METHOD FOR OPERATING TESTING DEVICE 少なくとも1つの電子的な制御システムをテストするためのテスト装置並びにテスト装置を作動するための方法 - 特許庁
A testing service system is provided with; facilities preparing testing-kits in which testing kits the person for the medical examination can receive are installed; testing institutions which carry out testing on the specimen; a testing-service firm which is the operator and manager of the testing service system; and a cellular phone firm which collects charges for the testing on behalf of the testing-service firm. 検査サービスシステムは、受診者が入手可能な検査キットが設置された検査キット設置施設、検体サンプルの検査を行う検査機関、検査サービスシステムの運営者且つ管理者である検査サービス会社、及び、検査費用の徴収を代行する携帯電話会社を有する。 - 特許庁
METHOD FORTESTING CONCRETE, AND MOLD FOR SAMPLE コンクリートの試験方法および供試体用型枠 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FORTESTING GAS VALVE FOR CYLINDER ボンベ用ガスバルブの試験装置及び試験方法 - 特許庁
HISTORY INFORMATION RECORDER FOR DEVICE FORTESTING SEMICONDUCTOR 半導体試験装置の履歴情報記録装置 - 特許庁
METHOD FORTESTING CONDUCTION OF SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE 半導体パッケージ用基板の導通検査方法 - 特許庁
JIG FORTESTING DURABILITY OF JOYSTICK SWITCH FOR VEHICLE 車両用ジョイスティックスイッチ耐久試験用ジグ - 特許庁
ANEMOMETER FOR WEATHER/LIGHT RESISTANCE TESTING MACHINE, AND WEATHER/LIGHT RESISTANCE TESTING MACHINE USING IT 耐候光試験機用風速計及びそれを用いた耐候光試験機 - 特許庁
MATERIAL TESTING MACHINE AND METHOD FOR MEASURING TEST PIECE WIDTH OF MATERIAL TESTING MACHINE 材料試験機および材料試験機の試験片の幅測定方法 - 特許庁
APPARATUS FORTESTING SEMICONDUCTOR, AND METHOD OF TESTING PARASITIC EFFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE 半導体試験装置および半導体素子の寄生効果試験方法 - 特許庁
(iv) Division of the Testing Method for which the test shall be conducted in the testing laboratory accredited
四 登録を受けた試験所において行う試験方法の区分 - 日本法令外国語訳データベースシステム
THERMAL SHOCK TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD FOR THERMAL SHOCK TEST 冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法 - 特許庁
To provide an image sensor, and testing system and testing method for the same. イメージセンサ及びそのためのテストシステム並びにテスト方法を提供する。 - 特許庁
PULL-OUT RESISTANCE TESTING DEVICE FOR LOCK BOLT AND LOCK-BOLT PULL-OUT RESISTANCE TESTING METHOD ロックボルト用引抜抵抗試験装置及びロックボルト引抜抵抗試験方法 - 特許庁
AUTOMATIC TESTING APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROGRAM FOR AUTOMATIC TESTING APPARATUS 半導体デバイスの自動試験装置、及び自動試験装置用プログラム - 特許庁
HARDNESS TESTING MACHINE AND METHOD FOR CORRECTING STRAIN OF MACHINE BODY IN HARDNESS TESTING MACHINE 硬さ試験機及び硬さ試験機における機体歪み補正方法 - 特許庁
PRINTING TESTING METHOD OF GRAVURE INK AND PRINTING TESTING MACHINE USED FOR THE SAME グラビアインキの印刷試験方法及びそれに用いる印刷試験機 - 特許庁
SEMICONDUCTOR CHIP TESTING APPARATUS AND OPERATING PROCEDURE FOR SEMICONDUCTOR CHIP TESTING APPARATUS 半導体チップテスト装置及び半導体チップテスト装置の操作手順 - 特許庁
PARALLEL PROCESSING METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE 半導体試験装置の並列処理方法及び半導体試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SELF-DIAGNOSTIC METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS 半導体試験装置及び半導体試験装置の自己診断方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND UNIT CONNECTION METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE 半導体試験装置および半導体試験装置のユニット接続方法 - 特許庁
FLOW RATE REGULATING STRUCTURE FOR WIND TUNNEL TESTING APPARATUSES, AND WIND TUNNEL TESTING APPARATUS 風洞試験装置の流速調整構造及び風洞試験装置 - 特許庁
PATTERN GENERATOR FOR SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS 半導体試験装置のパターン発生装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FORTESTING THE SAME 半導体装置およびそのテスト方法 - 特許庁
WATER-TIGHTNESS TESTING DEVICE FOR EXISTING PIPE, WATER-TIGHTNESS TESTING SYSTEM FOR EXISTING PIPE USING THE SAME, AND WATER-TIGHTNESS TESTING METHOD FOR EXISTING PIPE USING WATER-TIGHTNESS TESTING DEVICE FOR EXISTING PIPE 既設管水密性試験装置、該装置を用いた既設管水密性試験システム及び既設管水密性試験装置を使用した既設管水密性試験方法 - 特許庁