「for Testing」を含む例文一覧(6752)

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  • MEASURING CONTROL APPARATUS FOR MATERIAL TESTING MACHINE
    材料試験機用計測制御装置 - 特許庁
  • DEVICE FOR TESTING AUTOMATIC TICKET HANDLING SYSTEM
    自動改札処理システムの試験装置 - 特許庁
  • a workplace for testing new equipment or ideas
    新しい装置やアイディアを試す場所 - 日本語WordNet
  • METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路の検査方法 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路の試験方法 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING LIPID METABOLISM IMPROVING AGENT
    脂質代謝改善剤の試験方法 - 特許庁
  • ELECTRODE APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体装置のテスト用電極装置 - 特許庁
  • OPERATING DEVICE FOR TESTING TORQUE WRENCH
    トルクレンチを検査するための操作装置 - 特許庁
  • ARTIFICIAL FLAME TESTING APPARATUS FOR POLYMER INSULATOR
    ポリマー碍子の人工火炎試験装置 - 特許庁
  • TIMING CALIBRATING APPARATUS FOR IC TESTING APPARATUS
    IC試験装置のタイミング校正装置 - 特許庁
  • Nitric acid is used for testing gold.
    黄金を試すには硝酸を用いる - 斎藤和英大辞典
  • METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SURFACE TREATING
    表面処理検査方法および装置 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELEMENT
    素子試験装置及び素子試験方法 - 特許庁
  • TESTING DEVICE FOR TEMPERATURE CHARACTERISTIC OF ELECTRONIC COMPONENT
    電子部品の温度特性試験装置 - 特許庁
  • SELF TESTING METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
    集積回路装置の自己テスト方法 - 特許庁
  • DRIVING/TESTING DEVICE FOR PICTURE PATTERN DISPLAY DEVICE
    図柄表示装置の駆動・試験装置 - 特許庁
  • METHOD AND MACHINE FOR TESTING MATERIAL
    材料の試験方法、材料試験機 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING RUN-FLAT DURABILITY EVALUATION
    ランフラット耐久性評価試験方法 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT
    集積回路試験装置及び方法 - 特許庁
  • DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME
    表示装置およびその試験方法 - 特許庁
  • SHOCK TESTING APPARATUS FOR ROLLER BEARING
    転がり軸受用の衝撃試験装置 - 特許庁
  • PRESSURE-PROOF TESTING METHOD FOR FIRE HOSE
    消防用ホースの耐圧試験方法 - 特許庁
  • TESTING MACHINE, AND PIPING FOR THERMOSTAT
    試験装置及び恒温機器用配管 - 特許庁
  • Procedures for operation, maintenance, inspection and testing
    運転、保守、検査及び試験の手順 - 経済産業省
  • METHOD FOR TESTING BALANCE DEVICE FOR ELEVATOR AND JIG FOR TEST
    エレベータの秤装置の試験方法および試験用治具 - 特許庁
  • TESTING DEVICE FOR TESTING AT LEAST ONE ELECTRONIC CONTROL SYSTEM AND METHOD FOR OPERATING TESTING DEVICE
    少なくとも1つの電子的な制御システムをテストするためのテスト装置並びにテスト装置を作動するための方法 - 特許庁
  • A testing service system is provided with; facilities preparing testing-kits in which testing kits the person for the medical examination can receive are installed; testing institutions which carry out testing on the specimen; a testing-service firm which is the operator and manager of the testing service system; and a cellular phone firm which collects charges for the testing on behalf of the testing-service firm.
    検査サービスシステムは、受診者が入手可能な検査キットが設置された検査キット設置施設、検体サンプルの検査を行う検査機関、検査サービスシステムの運営者且つ管理者である検査サービス会社、及び、検査費用の徴収を代行する携帯電話会社を有する。 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING CONCRETE, AND MOLD FOR SAMPLE
    コンクリートの試験方法および供試体用型枠 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR TESTING GAS VALVE FOR CYLINDER
    ボンベ用ガスバルブの試験装置及び試験方法 - 特許庁
  • HISTORY INFORMATION RECORDER FOR DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR
    半導体試験装置の履歴情報記録装置 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING CONDUCTION OF SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR PACKAGE
    半導体パッケージ用基板の導通検査方法 - 特許庁
  • JIG FOR TESTING DURABILITY OF JOYSTICK SWITCH FOR VEHICLE
    車両用ジョイスティックスイッチ耐久試験用ジグ - 特許庁
  • ANEMOMETER FOR WEATHER/LIGHT RESISTANCE TESTING MACHINE, AND WEATHER/LIGHT RESISTANCE TESTING MACHINE USING IT
    耐候光試験機用風速計及びそれを用いた耐候光試験機 - 特許庁
  • MATERIAL TESTING MACHINE AND METHOD FOR MEASURING TEST PIECE WIDTH OF MATERIAL TESTING MACHINE
    材料試験機および材料試験機の試験片の幅測定方法 - 特許庁
  • APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR, AND METHOD OF TESTING PARASITIC EFFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE
    半導体試験装置および半導体素子の寄生効果試験方法 - 特許庁
  • (iv) Division of the Testing Method for which the test shall be conducted in the testing laboratory accredited
    四 登録を受けた試験所において行う試験方法の区分 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • THERMAL SHOCK TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD FOR THERMAL SHOCK TEST
    冷熱衝撃試験装置、並びに、冷熱衝撃試験の試験方法 - 特許庁
  • To provide an image sensor, and testing system and testing method for the same.
    イメージセンサ及びそのためのテストシステム並びにテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • PULL-OUT RESISTANCE TESTING DEVICE FOR LOCK BOLT AND LOCK-BOLT PULL-OUT RESISTANCE TESTING METHOD
    ロックボルト用引抜抵抗試験装置及びロックボルト引抜抵抗試験方法 - 特許庁
  • AUTOMATIC TESTING APPARATUS OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROGRAM FOR AUTOMATIC TESTING APPARATUS
    半導体デバイスの自動試験装置、及び自動試験装置用プログラム - 特許庁
  • HARDNESS TESTING MACHINE AND METHOD FOR CORRECTING STRAIN OF MACHINE BODY IN HARDNESS TESTING MACHINE
    硬さ試験機及び硬さ試験機における機体歪み補正方法 - 特許庁
  • PRINTING TESTING METHOD OF GRAVURE INK AND PRINTING TESTING MACHINE USED FOR THE SAME
    グラビアインキの印刷試験方法及びそれに用いる印刷試験機 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR CHIP TESTING APPARATUS AND OPERATING PROCEDURE FOR SEMICONDUCTOR CHIP TESTING APPARATUS
    半導体チップテスト装置及び半導体チップテスト装置の操作手順 - 特許庁
  • PARALLEL PROCESSING METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
    半導体試験装置の並列処理方法及び半導体試験装置 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SELF-DIAGNOSTIC METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS
    半導体試験装置及び半導体試験装置の自己診断方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND UNIT CONNECTION METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
    半導体試験装置および半導体試験装置のユニット接続方法 - 特許庁
  • FLOW RATE REGULATING STRUCTURE FOR WIND TUNNEL TESTING APPARATUSES, AND WIND TUNNEL TESTING APPARATUS
    風洞試験装置の流速調整構造及び風洞試験装置 - 特許庁
  • PATTERN GENERATOR FOR SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS
    半導体試験装置のパターン発生装置 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME
    半導体装置およびそのテスト方法 - 特許庁
  • WATER-TIGHTNESS TESTING DEVICE FOR EXISTING PIPE, WATER-TIGHTNESS TESTING SYSTEM FOR EXISTING PIPE USING THE SAME, AND WATER-TIGHTNESS TESTING METHOD FOR EXISTING PIPE USING WATER-TIGHTNESS TESTING DEVICE FOR EXISTING PIPE
    既設管水密性試験装置、該装置を用いた既設管水密性試験システム及び既設管水密性試験装置を使用した既設管水密性試験方法 - 特許庁
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