「fringe pattern」を含む例文一覧(96)
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縦縞干渉模様投影レンズ - 特許庁 - A Young fringe pattern was superimposed on the main pattern of the diffractograms.
ヤング縞パターンが、ディフラクトグラムの主なパターンの上に重ね焼きされた。 - 科学技術論文動詞集 - FRINGE SCAN INTERFERENCE PATTERN MEASUREMENT METHOD, AND INTERFEROMETER
フリンジスキャン干渉縞計測方法および干渉計 - 特許庁 - To provide a vertical fringe interference pattern projection lens having high light intensity and capable of projecting a vertical fringe interference pattern at a wide angle.
光強度が大きく縦縞干渉模様を広角に投影可能な縦縞干渉模様投影レンズを提供する。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR FORMING INTERFERENCE FRINGE PATTERN
干渉縞パターン形成方法、及び干渉縞パターン形成装置 - 特許庁 - In this method, a fringe pattern is projected on the object (2).
この方法において、物体（２）上にフリンジパターンが投影される。 - 特許庁 - To automatically acquire a fringe wave number even for a discontinuous portion of a fringe in a lattice pattern projective method.
格子パターン投影法において縞の不連続部分に対しても縞波番号を自動的に取得する。 - 特許庁 - METHOD FOR FORMING CONCAVO-CONVEX PATTERN ON PHOTOSENSITIVE SUBSTRATE AND EXPOSURE APPARATUS FOR INTERFERENCE FRINGE PATTERN
感光性基板に凹凸パターンを形成する方法及び干渉縞パターン露光装置 - 特許庁 - FRINGE PATTERN BIOLOGICAL MEMBRANE CARRIER AND BIOLOGICAL MEMBRANE CONTACT OXIDATION WATER CLEANING METHOD
フリンジ型生物膜担体および生物膜接触酸化水浄化法 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING DEVIATION, PATTERN ROTATION, DISTORTION, AND POSITIONAL DEVIATION BY USING MOIRE FRINGE
モアレ縞を用いたずれ、パタ−ンの回転、ゆがみ、位置ずれ検出方法 - 特許庁 - This interference fringe changes pattern, according to the oscillation mode of the laser beam.
この干渉縞は、レーザ光の発振モードに応じてそのパターンを変化させる。 - 特許庁 - The Young fringe pattern confirms the excellent mechanical and electrical stability of the total lens system.
そのヤング縞パターンは、レンズ系全体の卓越した機械的・電気的安定性を裏付ける。 - 科学技術論文動詞集 - In an intra-oral imaging apparatus 10, a fringe pattern generator emits a fringe pattern 50 having a predetermined spatial frequency with light in the approximate 350-500 nm range, a polarizer provides the fringe pattern illumination as linearly polarized light, and the incident light toward a tooth 20 is projected through a projection lens.
約３５０〜５００ｎｍの波長域に属する照明光に口腔内撮像装置１０のフリンジパターン発生器で所定空間周波数のフリンジパターン５０を付与し、偏光器で直線偏向させた後に投射レンズを介し歯牙２０に向け照射する。 - 特許庁 - An inspected object 50 is irradiated with an irradiation light 111 with a fringe-like pattern 190, and a defect pattern 195 appeared in response to the defective part of the inspected object is detected from the fringe-like pattern transmitted through the inspected object.
縞状のパターン１９０にてなる照射光１１１を被検査物５０へ照射し、被検査物の通過した縞状パターンから、被検査物の欠陥部に応じて現れた欠陥パターン１９５を検出する。 - 特許庁 - To sensitively and accurately detect an interference fringe pattern, regardless of the parallelism between an optical sensor and the interference fringe pattern, and to accurately position a magnetic head using it.
光学センサと干渉縞パターンとの間の平行度を気にすることなく干渉縞パターンを高感度かつ高精度に検出し、それを用いて、磁気ヘッドの位置決めも高精度に行う。 - 特許庁 - The profile measuring apparatus (12) includes a fringe projecting device (32) so constituted as to project the fringe pattern onto the object (22) and the optical unit (34) so constituted as to acquire the image of the distorted fringe pattern modulated by the object (22).
輪郭測定装置（１２）は、対象物（２２）上に縞パターンを投影するように構成されている縞投影デバイス（３２）と、対象物（２２）によって変調された歪み縞パターンの画像を取得するように構成されている光学ユニット（３４）とを含む。 - 特許庁 - Also, the ink layer 30 made into a linear shape is formed along the rim of the circular pattern 20 to fringe the outline of the pattern 20.
また、厚盛りインキ層３０を面状の模様２０の輪郭を縁取るように線状に設けたことを特徴とする。 - 特許庁 - To provide a method and device for forming an interference fringe pattern where a fine interference fringe pattern almost the same as the wavelength can be easily formed on a large area at high precision.
大きな面積に波長と同程度の微細な干渉縞パターンを精度良く容易に形成することが可能な干渉縞パターン形成方法、及び干渉縞パターン形成装置を提供する。 - 特許庁 - The interference fringe pattern is generated by the ± first order diffraction beam of an applied light beam.
格子１２３に照射された光ビームの±１次回折光によって干渉縞パターンが作成される。 - 特許庁 - A detector behind the second grating receives a fringe pattern produced by the second grating.
第２のグレーティングに隠れた検出器が、第２のグレーティングによって精製されたフリンジパターンを受け取る。 - 特許庁 - For improving such a method, the above fringe pattern is projected on the object (2) by an imaging element.
このような方法を改良するために、前記フリンジパターンは、結像素子によって物体（２）上に投影される。 - 特許庁 - A particular fringe pattern appears on the surface form of the weld zone when a blow hole is generated in the weld zone 4.
溶接部４にブローホールが発生すると、溶接部の表面形状には独特の縞模様が現れる。 - 特許庁 - A controller 50 to which the electric signal of the interference fringe pattern is input is connected to the light receiving section 47.
前記受光部４７には、干渉縞パターンの電気信号が入力される制御装置５０を接続している。 - 特許庁 - This building board 10 forming a pattern by a paint film on its surface is provided, and a projecting weir part 15 is formed along an outer peripheral fringe of a pattern part 14 desiring clear division from the other pattern by colors.
表面に塗膜による模様を形成した建築板１０であって、他の模様と明確に色分けされることを望む模様部分１４の外周縁に沿って凸状堰１５が形成されている。 - 特許庁 - The interval between center of two photodetectors 16 and 17 is an (N/2+1/4) times (N is an integer) a pitch A of the interference fringe pattern.
２つのホトディテクタ１６と１７の中心の間隔は干渉縞パタンのピッチΛの（Ｎ／２＋１／４）倍（Ｎは整数）である。 - 特許庁 - In the hologram master plate 10 for duplication which has an interference fringe pattern 3 consisting of a light shielding material on the surface of a transparent substrate and which has a transmittance controlling layer 5 on the interference fringe pattern 3, a metal thin film is used as the transmittance controlling layer 5.
透明基板１の表面に遮光材料からなる干渉縞パターン３が設けられ、その干渉縞パターン３上に透過率調整層５が設けられた複製用ホログラム原版１０において、透過率調整層５として金属薄膜が用いられている。 - 特許庁 - The image sensor 48 reads the interference fringe pattern within the fixed area B of the paper P being periodically transferred.
イメージセンサー４８は、周期的に搬送中の用紙Ｐの前記一定領域Ｂ内の干渉縞パターンを読み取るように構成されている。 - 特許庁 - The system comprises a projection system (14), operable to project a fringe pattern (18) having a reference mark onto the object (12).
このシステムは、基準マークを有する干渉縞パターン（１８）を物体（１２）上に投影するように動作可能な投影システム（１４）を備える。 - 特許庁 - At the contact part of a copper foil pattern (3) with a printed board mounting screw (6) on a printed board, the exposed part (2) of the pattern (3) with a base material is formed in a fringe state, and a resist is extracted (4).
プリント基板上の銅箔パターン と基板取り付け用ビス との接触部において、上記銅箔パターン と基材の露出部 が縞状を形成し、且つレジストを抜いた 構成。 - 特許庁 - To provide an inspection method of a pattern and an inspection device of the pattern capable of detecting accurately a defect even when an interference fringe (moire) is generated, and a manufacturing method of an electronic device.
本発明は、干渉縞（モアレ）が発生しても、欠陥の正確な検出をすることができるパターンの検査方法、パターンの検査装置および電子デバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁 - This surface shape measuring instrument of the present invention is provided with the imaging element, an optical system, having a reference face and arranged to form an interference fringe pattern on an imaging face of the imaging element, and a calculation part for calculating a surface shape of a measuring object, based on the interference fringe pattern.
本発明の表面形状測定装置は、撮像素子と、参照面を有し、干渉縞パターンを撮像素子の撮像面に形成するように配置された光学系と、干渉縞パターンに基づいて前記測定対象物の表面形状を算出する算出部と、を備える。 - 特許庁 - The template is composed of pattern parts 21a and 22a having patterns which form the patterns in products, a boundary part 23a formed between the pattern parts 21a and 22a, and fringe parts 3a formed around the pattern parts 21a and 22a.
複数の製品に模様を設ける複数の模様を有する模様部２１ａ、２２ａと、この複数の模様部２１ａ、２２ａの間に設けた境界部２３ａと模様部２１ａ、２２ａの周囲に設けられる縁部３ａとからなる。 - 特許庁 - To provide an optical article which has good adhesion between a primer layer and a hard coat layer and can suppress the occurrence of a fringe pattern.
プライマー層とハードコート層との間の密着性が良好であり、しかも、干渉縞の発生を抑制できる光学物品を提供する。 - 特許庁 - A stripe pattern A_k having a sine wave shape indispensable for three-dimensional shape measurement utilizing a phase shift method, and a space code pattern C_k for deciding a fringe order n of the stripe pattern A_k by coding a space are projected onto the measuring object simultaneously as a projection pattern P_k and imaged.
位相シフト法を利用した３次元形状計測において必須となる正弦波状の縞パターンＡ_kと、空間をコード化して縞パターンＡ_kの縞次数ｎを確定するための空間コードパターンＣ_kとを投影パターンＰ_kとして被計測物に同時に投影して撮像する。 - 特許庁 - To provide a three-dimensional measuring device, capable of removing harmonic waves contained in a deformed lattice fringe image by projecting a binary pattern to a measuring object.
バイナリパターンを被測定物体に投影することにより変形格子像に含まれる高調波を除去可能な3次元計測装置を提供する。 - 特許庁 - In addition, the paper detecting device has an image sensor for reading the interference fringe pattern of laser beam due to the irregularities on the surface of the paper by utilizing the laser beam.
前記用紙検出装置は、レーザー光を利用して、用紙表面の凹凸によるレーザー光の干渉縞パターンを読み取るイメージセンサーを有している。 - 特許庁 - The interference fringe and the diffraction grating pattern are plotted by an electron beam lithographing device based on an image data generated by calculation by a computer.
干渉縞や回折格子パターンは、コンピュータによる演算に基いて生成された画像データに基き、電子線描画装置によって描画される。 - 特許庁 - The interference fringe pattern is formed, by the interference of a reflected wave front from the face to be inspected of the measuring object with a reflected wave front from the reference face.
干渉縞パターンは、測定対象物の被検面からの反射波面と参照面からの反射波面との干渉によって形成される。 - 特許庁 - The interference fringe pattern is photographed with a CCD (charge-coupled device) camera 46 and the interference fringes are counted on the basis of the image information in an image processing step 50.
すなわち、干渉縞模様をＣＣＤカメラ４６で撮像し、画像処理工程５０において、画像情報に基づき干渉縞の数をカウントする。 - 特許庁 - To provide a photoelectric sensor, from which the influence of interference fringe is removed, and to provide a pattern-inspecting device using the sensor, a microscope and the manufacturing method of a mask.
干渉縞の影響を除去した光電センサと、それを用いたパターン検査装置、顕微鏡およびマスクの製造方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an element having an irregularity and a non-periodical property in such a degree that no interference fringe or no moire pattern is produced between the element and an optical device constituting a display device.
表示装置を構成する光学デバイスとの間で、干渉縞やモアレ縞を生じない程度の不規則性、非周期性を有する素子を提供する。 - 特許庁 - The system further comprises an image-processing system (26) that is operable to capture an image (20) of the fringe pattern modulated by the object (12).
このシステムはさらに、物体（１２）によって変調された干渉縞パターンの画像（２０）を取得するように動作可能な画像処理システム（２６）を備える。 - 特許庁 - A computer hologram production device 10 converts pattern data of a three-dimensional object corresponding to observation angle data input by an input part 15, to pattern data input by the input part 15 and calculates interference fringes data per interference fringe recording point from image data of the three-dimensional object whose pattern data have been converted, and records interference fringe data onto a substrate 5.
計算機ホログラム作製装置１０は、入力部１５により入力された観察角度データに対応する３次元物体の模様データを、入力部１５により入力された模様データに変換し、模様データが変換された３次元物体の画像データから干渉縞記録点毎の干渉縞データを計算し、干渉縞データを基板５上に記録する。 - 特許庁 - Otherwise, the wiring pattern for taking out the potential difference between both ends of the shunt resistance is drawn out from a land fringe part positioned on the prolonged line of a wiring pattern for the current to be detected connected to the shunt resistance mounting land.
又はシャント抵抗両端の電位差を取り出すための配線パターンを、前記シャント抵抗取付け用ランドにつながれた被検出電流用配線パターンの延長線上に位置するランド外縁部から引き出す。 - 特許庁 - To provide a hologram master plate for duplication using a layer having durability which can be easily produced as a transmittance controlling layer to be formed on an interference fringe pattern consisting of a light shielding material.
遮光材料による干渉縞パターンの上に設けられる透過率調整層として耐久性を有し作製容易なものを用いた複製用ホログラム原版。 - 特許庁 - Because of this, the diffraction beams 9a and 9b outgoing from the grating 6 form an interference fringe pattern 10 comprising light-and-dark patterns arranged in the y-direction on a detection part 7.
そのため、格子６を出射した回折光９ａ，９ｂは、ｙ方向に明暗パターンが並んだ干渉縞パターン１０を検出部７上に形成する。 - 特許庁 - A direction where the interference fringe pattern appears (the grating alignment direction of the diffraction grating) nearly coincides with the linear alignment direction of a photodetector means 61.
この干渉縞パターンの現れる方向（回折格子の格子配列方向）と受光素子手段６１の直線状の配列方向とがほぼ一致するようになっている。 - 特許庁 - When using the spatial coding method, first and second spatial code patterns in which bright and dark boundaries are shifted by +π/2, -π/2 from a boundary of each period of a fringe pattern are used.
空間コード法の利用に際して、明暗の境界が縞パターンの各周期の境界からそれぞれ＋π／２、−π／２ずれた第１、第２の空間コードパターンを用いる。 - 特許庁 - The two photodetectors 14 and 15 are set on an observation face, so that the interval between the centers of the photodetectors 14 and 15 become an (N/2+1/4) times (N is an integer) a pitch A of the interference fringe pattern.
観察面上には、２つのホト・ディテクタ１４と１５の中心の間隔が干渉縞パタンのピッチΛの（N／２＋１／４）倍（Ｎは整数）となるように置かれている。 - 特許庁 - A position of the fringe-like pattern emitted to the inspected object is changed therein to detect the defective part, irrespective of the shape and the directivity of the defective part.
このとき、被検査物に照射する縞状パターンの位置を変更することから、欠陥部の形状や方向性に関係なく欠陥部を検出することができる。 - 特許庁
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