「generation test」を含む例文一覧(735)

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  • TEST DATA GENERATION DEVICE
    テストデータ生成装置 - 特許庁
  • TEST DATA GENERATION APPARATUS
    テストデータ生成装置 - 特許庁
  • TEST DATA GENERATION DEVICE
    テストデータ作成装置 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION DEVICE
    テストパターン生成装置 - 特許庁
  • TEST CASE GENERATION METHOD
    テストケース生成方法 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION APPARATUS
    テストパターン生成装置 - 特許庁
  • TEST DATA GENERATION PROGRAM
    テストデータ生成プログラム - 特許庁
  • TEST PROGRAM GENERATION SYSTEM
    テストプログラム生成システム - 特許庁
  • TEST MODEL GENERATION APPARATUS AND TEST MODEL GENERATION METHOD
    テストモデル生成装置とテストモデル生成方法 - 特許庁
  • TEST DATA GENERATION METHOD, TEST DATA GENERATION DEVICE, AND TEST DATA GENERATION PROGRAM
    テストデータ生成方法、テストデータ生成装置及びテストデータ生成プログラム - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION SYSTEM, TEST PATTERN GENERATION METHOD, AND TEST PATTERN GENERATION PROGRAM
    テストパタン生成システム、テストパタン生成方法、およびテストパタン生成プログラム - 特許庁
  • TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION METHOD AND TEST CASE GENERATION PROGRAM
    テストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラム - 特許庁
  • TEST DATA GENERATION DEVICE
    テストデータの作成装置 - 特許庁
  • TEST DATA GENERATION SYSTEM, TEST DATA GENERATION METHOD, AND TEST DATA GENERATION PROGRAM
    テストデータ生成システム、テストデータ生成方法及びテストデータ生成プログラム - 特許庁
  • TEST-SIGNAL GENERATION CIRCUIT
    テスト信号生成回路 - 特許庁
  • TEST ITEM GENERATION DEVICE
    テスト項目生成装置 - 特許庁
  • TEST PROGRAM GENERATION DEVICE AND TEST PROGRAM GENERATION METHOD
    テストプログラム作成装置及びテストプログラム作成方法 - 特許庁
  • TEST-DATA GENERATION APPARATUS
    試験用データ生成装置 - 特許庁
  • SCAN TEST CIRCUIT, TEST CIRCUIT GENERATION METHOD AND TEST PATTERN GENERATION METHOD
    スキャンテスト回路、テスト回路生成方法およびテストパタン生成方法 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION METHOD, TEST PATTERN GENERATION SYSTEM, AND TEST PATTERN GENERATION DEVICE
    テストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置 - 特許庁
  • SUPPORT TEST CASE GENERATION DEVICE AND TEST CASE GENERATION METHOD
    支援テストケース作成装置及びテストケース作成方法 - 特許庁
  • Test generation of events.
    \\-ImportObscuredEvent through \\-ExportAvailableイベントをテスト生成する。 - XFree86
  • TEST CASE GENERATION DEVICE, TEST CASE GENERATION METHOD, AND TEST CASE GENERATOR
    テストケース生成装置、テストケース生成方法及びテストケース生成プログラム - 特許庁
  • TEST ITEM GENERATION DEVICE, TEST ITEM GENERATION METHOD, AND TEST ITEM GENERATION PROGRAM
    試験項目生成装置及び試験項目生成方法及び試験項目生成プログラム - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION APPARATUS AND GENERATION METHOD
    テストパターン作成装置及び作成方法 - 特許庁
  • AUTOMATIC TEST PROGRAM GENERATION SYSTEM
    テストプログラム自動生成システム - 特許庁
  • TEST SPECIFICATION GENERATION PROGRAM AND TEST SPECIFICATION GENERATION DEVICE
    テスト仕様書生成プログラム、およびテスト仕様書生成装置 - 特許庁
  • GENERATION METHOD OF CORE TEST CIRCUIT
    コアテスト回路の生成方法 - 特許庁
  • AUTOMATIC TEST SPECIFICATION GENERATION SYSTEM
    テスト仕様自動生成方式 - 特許庁
  • PROGRAM TEST ITEM GENERATION DEVICE
    プログラムテスト項目作成装置 - 特許庁
  • TEST ITEM GENERATION SUPPORTING DEVICE
    テスト項目生成支援装置 - 特許庁
  • PARALLEL GENERATION METHOD FOR TEST PATTERN AND GENERATION APPARATUS FOR TEST PATTERN
    テストパターンの並列生成方法およびテストパターン生成装置 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION CIRCUIT AND GENERATION METHOD FOR BUILT IN SELF TEST CIRCUIT
    自己診断回路のテストパターン発生回路及び発生方法 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION MANAGING SYSTEM AND TEST PATTERN GENERATION MANAGEMENT METHOD
    テストパターン生成管理システム及びテストパターン生成管理方法 - 特許庁
  • TEST DATA GENERATION SUPPORT PROGRAM AND TEST DATA GENERATION SUPPORT METHOD
    テストデータ作成支援プログラムおよびテストデータ作成支援方法 - 特許庁
  • TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION PROGRAM AND TEST PATTERN AUTOMATIC GENERATION METHOD
    テストパタン自動生成プログラムおよびテストパタン自動生成方法 - 特許庁
  • TEST PROGRAM GENERATION METHOD AND PROGRAM
    テストプログラム生成方法、プログラム - 特許庁
  • SOFTWARE GENERATION TEST LINKING MECHANISM
    ソフトウェア生成試験連携機構 - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATOR, AND TEST PATTERN GENERATION METHOD
    テストパターン生成装置およびテストパターン生成方法 - 特許庁
  • TEST DATA GENERATION DEVICE AND METHOD
    テストデータ生成装置及び方法 - 特許庁
  • TEST DATA GENERATION METHOD AND SYSTEM
    テストデータ生成方法及びシステム - 特許庁
  • INTERLOCK TEST PROCEDURE GENERATION SYSTEM
    インターロック試験手順作成システム - 特許庁
  • GENERATION OF COMPRESSION TEST PLAN FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST SERIES GENERATION AND TEST
    集積回路のテストのための圧縮テストプランの生成、テスト系列生成およびテスト - 特許庁
  • TEST CASE GENERATION APPARATUS, GENERATION METHOD THEREFOR, AND PROGRAM FOR TEST CASE GENERATION
    テストケース生成装置およびその生成方法、ならびにテストケース生成のためのプログラム - 特許庁
  • BURN-IN TEST SIGNAL GENERATION CIRCUIT AND BURN-IN TEST METHOD
    バーンインテスト信号発生回路及びバーンインテスト方法 - 特許庁
  • To speed up a test processing or generation of test data.
    試験処理や試験データの生成を高速化すること。 - 特許庁
  • TEST CIRCUIT, PATTERN GENERATION SYSTEM, AND PATTERN GENERATION METHOD
    テスト回路、パタン生成装置、及びパタン生成方法 - 特許庁
  • To provide a test data generation system, a test data generation method and a test data generation program for efficiently generating test data to be used in a test environment.
    テスト環境において用いるテストデータを効率的に生成するためのテストデータ生成システム、テストデータ生成方法及びテストデータ生成プログラムを提供する。 - 特許庁
  • TEST SPECIFICATION GENERATION DEVICE AND PROGRAM
    テスト仕様生成装置およびプログラム - 特許庁
  • TEST PATTERN GENERATION METHOD AND PROGRAM
    テストパターン作成方法およびプログラム - 特許庁
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