The silica is characterized in that the profile obtained by the Guinierplot for small angle X-ray scattering spectra (X-ray scattering intensity -q^2 value) shows no inflection point in the region of ≤6×10^-3 (Å^-2) of the q^2 value. 小角X線散乱スペクトルのギニエプロット(X線散乱強度−q^2値)で得られるプロフィールにおいて、q^2値が6×10^-3(Å^-2)以下の領域には変曲点が存在しないことを特徴とする。 - 特許庁
The silica is characterized in that the profile obtained by the Guinierplot for small angle X-ray scattering spectra (X-ray scattering intensity-q^2 value) shows no inflection point in the region of ≤6×10^-3(Å^-2) of the q^2 value. 小角X線散乱スペクトルのギニエプロット(X線散乱強度−q^2値)で得られるプロフィールにおいて、q^2値が6×10^−3(Å^−2)以下の領域には変曲点が存在しないことを特徴とする。 - 特許庁