HIGH PRECISION MARK POSITION/ATTITUDE DETECTION SYSTEM 高精度マーク位置・姿勢検出装置 - 特許庁
mark an all‐time high 最高水準を記録する, 最高記録を示す. - 研究社 新英和中辞典
To form a recording mark with a high precision. 精度良く記録マークを高精度で形成する。 - 特許庁
To detect an alignment mark or an inspection mark formed on a substrate at high accuracy. 基板上に形成されるアライメントマークや検査マークを高精度に検出する。 - 特許庁
To enable measurement of position of a mark on a wafer with high precision. ウエハ上のマークの位置を高精度計測する。 - 特許庁
In the Heian period, Japanese literature attained its high-water mark.
平安朝には日本文学が最高点に達した - 斎藤和英大辞典
To detect positional information of a mark with high precision in a short time. 高精度かつ短時間に、マークの位置情報を検出する。 - 特許庁
A mark 28 like an arrow mark and a high reflection member 29 are provided on the leading end position index plate 26. 先端位置指標板26には、矢印状のマーク28と高反射部材29とが設けられている。 - 特許庁
To provide a mark sheet preparing program capable of preparing the mark sheet with a high freedom in which a paper with a predetermined position for a mark reading target is not required. マーク読取指標の位置を予め特定した用紙を用いる必要がない、自由度の高いマークシートを作成できる作成プログラム。 - 特許庁
To provide a register mark used for register control and having high resistance to noise included in a mark, and a method for identifying the position of the register mark. 見当合せ制御に使用するレジスタマークにおいて、マークに含まれるノイズへの耐性が高いマークと該マークの位置同定法を提供する。 - 特許庁
To read at high speed a mark more minute than an optical spot. 光学スポットよりも微小なマークを高速で読み出し可能とする。 - 特許庁
To detect the register error of a register mark with high precision. レジスターマークの見当誤差を高精度で検出できるようにする。 - 特許庁
The corpse, has a mark that she had a high level plastic surgery. 検死にかけた所 高度な 整形手術を受けた痕があった。 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
They put a mark on the wall to show the high water of the flood. 彼らは洪水の最高水位を示すために壁に印をつけた - Eゲイト英和辞典
When the engine 1 is in the high rotation side trancated chevron mark of the high load range, a sub injection ratio is set up to be large compared with the low rotation side Y-like mark. エンジン1が高負荷域の高回転側(ハ)にあるとき、低回転側(イ)に比べて副噴射割合を多く設定する。 - 特許庁
To improve recording quality by stabilizing mark formation when a very small recording mark is formed at a high speed. 微小な記録マークを高速で形成する際、マーク形成を安定させ記録品質を向上させること。 - 特許庁
To provide a charged particle beam exposure device capable of detecting an alignment mark and an inspection mark of high SN ratio. S/N比の高いアライメントマークや検査マークの検出を行える荷電粒子線露光装置を提供する。 - 特許庁
To provide an OMR mark reading method having high reliability, capable of preventing a mistake in detecting an OMR mark to correctly read the OMR mark information. OMRマークの検出ミスを防止してOMRマーク情報を正しく読み取ることができる信頼性が高いOMRマーク読み取り方法を提供する。 - 特許庁
To put a mark on the surface of a transparent resin with high visibility and high quality at a low cost. 透明な樹脂材の表面に視認性が高く高品質で低コストのマーキングを行う。 - 特許庁
Signals that are logical low (inactive) have their name preceded by an exclamation mark (!), otherwise the signal is logical high (active).
論理 low (inactive) の信号は、名前の前にエクスクラメーション (!) が付く。 付いていない信号は論理 high (active) である。 - JM
To measure the characteristics of a mark detection system in a short time with high accuracy. マーク検出系の特性を、短時間でかつ精度良く計測する。 - 特許庁
To detect a start mark with high precision, and to surely read an information code. スタートマークを精度良く検出し、情報コードを確実に読み取る。 - 特許庁
To form an alignment mark having high accuracy. 本発明は、精度の高い位置決めマークを形成することを目的とする。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR SUPPLYING ANGLE MARK SIGNAL HAVING HIGH RESOLUTION 高い解像度の角度マーク信号を供給するための方法及び装置 - 特許庁
To achieve high-accuracy alignment of a sample and high-sensitivity inspection for a semiconductor wafer having an alignment mark which is under the condition where the alignment mark is hard to be pattern-matched. パターンマッチングし難い条件にあるアライメントマークを持つ半導体ウエハについて、高精度な試料の位置合わせ、高感度な検査を実現する。 - 特許庁
If the result of the lottery is the high-probability mark, one high-probability mark is added to the display in a high-probability level display area of a variable display device 3 to terminate the process (Sb10). 抽選結果が高確率マークの場合には、可変表示装置3の高確率レベル表示領域に高確率マークが1個増加するように表示して処理を終了する(Sb10)。 - 特許庁
(C) A right arrow direction mark (11) and a left arrow direction mark (12) made of a high-brightness material are provided on both sides of the character disc, and a thanks mark (13) is provided at the bottom. ハ)文字円板の両側には、高輝度反射材で右用矢印方向マーク(11)と左用矢印方向マーク(12)を設け、下部には感謝マーク(13)を設ける。 - 特許庁
HIGH WORKABILITY HOT ROLLED STEEL SHEET FREE FROM GENERATION OF CHATTER MARK DEFECT AND ITS PRODUCTION METHOD 畳じわの発生しない高加工性熱延鋼板及びその製造方法 - 特許庁
Patterning of a mark 11a-2 can be carried out in the planar surface with a high degree of precision. 平面部には、マーク11a−2を高精度にパターニングすることができる。 - 特許庁
HIGH WORKABILITY HOT ROLLED STEEL SHEET FREE FROM GENERATION OF CHATTER MARK DEFECT AND ITS PRODUCTION METHOD 腰折れの発生しない高加工性熱延鋼板及びその製造方法 - 特許庁
Thereby, the position of the alignment mark on the object is detected with high accuracy. これにより、対象物上のアライメントマークの位置が高精度に検出される。 - 特許庁
To provide a phase transition optical recording medium having a high erasure rate at a high linear speed, high recording sensitivity and high stability of a recording mark. 高線速における消去率が高く、さらに、高記録感度及び高い記録マーク安定性を有する相変化光記録媒体を提供する。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus for mark recognition which can recognize a mark on an object such as a substrate with high precision. 基板などの対象物上のマークを高精度で認識することが可能なマーク認識方法および装置を提供する。 - 特許庁
A mark signal processing device 5 is provided with a mark right/wrong determination section 52 and a mark synchronization calculation section 53 executing software A of a low-speed task, and a mark output section 54 executing software B of a high-speed task. マーク信号処理装置5は、低速タスクのソフトウェアAを実行するマーク良否判定部52及びマーク同期計算部53、並びに、高速タスクのソフトウェアBを実行するマーク出力部54を備える。 - 特許庁
To detect a predetermined mark printed on a surface of the recording paper by a mark sensor with high accuracy even in detecting the predetermined mark printed on the surface of the recording paper of high gloss. 光沢の強い記録紙の表面に印刷された所定のマークを検出する場合においても、当該記録紙の表面に印刷された所定のマークをマーク・センサーが高精度で検出することができるようにする。 - 特許庁
To obtain an in jet recording sheet having ink jet recording suitability, no spur mark or roll mark when conveyed by maintaining high gloss and high smoothness obtained by a casting method. キャスト法により得られる高光沢、高平滑面を維持し、かつインクジェット記録適性及び搬送時の拍車跡、コロ跡のないインクジェット記録用用紙を得る。 - 特許庁
A road surface mark can be recognized with high accuracy in this way. こうすることによって、路面標示を高い位置精度で認識することができる。 - 特許庁
Such an inspecting mark is narrower in the monitoring range than the conventional inspecting mark, and an accurate alignment can be performed with high accuracy and with small aberration. このような検査マークは従来の検査マークより、モニター範囲が狭くなり、収差が小さく高精度な位置合わせができる。 - 特許庁
To detect position information of a mark to be detected provided in a rear surface of an object with high accuracy. 物体の裏面に設けられた被検マークの位置情報を高精度に検出する。 - 特許庁
To provide a method of forming an ID mark with high distinguishability in a semiconductor chip. 半導体チップに関し、識別性の高いIDマークの形成方法を提供する。 - 特許庁
Even in the high density recording, the shortest mark in the modulation code can be favorably formed. 高記録密度時にも、変調符号における最短マークを良好に形成できる。 - 特許庁
To realize a high-accurate alignment in high contrast even when an alignment mark that is low in a level difference is used in a CMP process. CMPプロセス等における段差の低いアライメントマークに対しても高いコントラストで高精度なアライメントを達成する。 - 特許庁
To provide a mark which allows high-precision and stable image recognition and detection, related to an alignment mark for image recognition which is provided to a semiconductor element. 半導体素子に付される画像認識用のアライメントマークにおいて、高精度で安定した画像認識・検出が可能なマークを提供する。 - 特許庁
To provide a marking device for forming a mark of high accuracy when manufacturing an external layer circuit with respect to a mark formed on an internal layer circuit. 内層回路に形成されたマークに対して高精度のマークを外層回路作製時に形成することができるマーキング装置を提供する。 - 特許庁
When the engine 1 is in a high rotation side trancated chevron mark of the high load range, the sub injecting operation and the main injecting operation of the injector 5 is respectively advanced, and, on the other hand, delayed in the low rotation side Y-like mark. エンジン1が高負荷域の高回転側(ハ)にあるとき、インジェクタ5の副噴射及び主噴射作動をそれぞれ進角させる一方、低回転側(イ)では遅角させる。 - 特許庁
To provide a super high density optical recording method by suppressing fluctuation in a recording mark shape due to the fluctuation of recording sensitivity and controlling the recording mark shape with high precision. 本発明の目的は、記録感度の変動による記録マーク形状の変動を抑制し、高精度に記録マーク形状を制御して超高密度光記録方法を提供することである。 - 特許庁
To detect a position of an alignment mark on a mask and a position of an alignment mark in a base pattern of a substrate with high accuracy by acquiring sharp images of the alignment mark on the mask and of the alignment mark in the base pattern of the substrate and carrying out an image recognition process. マスクのアライメントマークの画像及び基板の下地パターンのアライメントマークの画像をそれぞれ鮮明に取得して画像認識を行い、マスクのアライメントマークの位置及び基板の下地パターンのアライメントマークの位置を精度良く検出する。 - 特許庁
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