「in-test loop」を含む例文一覧(54)

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  • CLOCK SWITCHING DEVICE IN CASE OF LOOP TEST
    ループ試験時のクロック切替装置 - 特許庁
  • To automate a hardware-in-the-loop test.
    ハードウェア・イン・ザ・ループ試験を自動化する。 - 特許庁
  • To provide a method and a system of loop back test by which a loop back test is executed between devices in a LAN (local area network).
    ＬＡＮ内の装置間でループバックテストを実行することができるループバックテスト方法及びループバックテストシステムを提供する。 - 特許庁
  • LOOP BACK TEST SYSTEM, IN-HOUSE APPARATUS, CENTER APPARATUS, AND PROGRAM
    折り返し試験システム、宅内装置、及びセンター装置、並びにプログラム - 特許庁
  • To perform an open loop test of a PLL circuit and a closed loop test including a lock-up time in the same inspection process.
    ＰＬＬ回路の開ループテストおよびロックアップタイムを含めた閉ループテストを同一の検査工程で実施できるようにすること。 - 特許庁
  • METHOD OF PURIFYING TEST BODY OR THE LIKE IN HIGH TEMPERATURE HIGH PRESSURE LOOP, AND APPARATUS FOR THE SAME
    高温高圧ループにおける試験体等の純化方法及びその装置 - 特許庁
  • To reduce the number of testing members required for a test in conducting an instrumentation loop test of a digital controller or the like.
    デジタル制御装置等の計装ループ試験を行なう場合に、その試験に必要な試験員の人数を減らす。 - 特許庁
  • In addition, the communication device includes a test frame transmission unit and a loop detection unit.
    さらに、通信装置は、試験フレーム送信部およびループ検出部を有している。 - 特許庁
  • A test processing part 3 sets a transfer route in a router 1 into a loop shape.
    試験処理部３によりルータ１における転送経路がループ状に設定される。 - 特許庁
  • To restrain the peeling of an electrode pad by suppressing stress concentration in a loop pull test.
    ループプル試験時に応力集中を抑制し、電極パッドの剥がれを抑制する。 - 特許庁
  • Make sure that your ineer loop reps are2 or greater in order to exercise this test fully (see -reps). -modify1
    このテストを完全に行うために、必ず2回以上ループを繰り返すこと(-reps オプションを参照)。 - XFree86
  • To test the connection of a clock and all circuits in a CDR circuit at a high speed, in a loop back test of a two-way communication circuit having the CDR circuit.
    ＣＤＲ回路を有する双方向通信回路のループバックテストにおいて、クロックの結線及びＣＤＲ回路内の全回路を高速でテスト可能とする。 - 特許庁
  • In addition to a 1st loop back point that loops back the test data as they are at a remote end of a speech line, a 2nd loop back point and a 3rd loop back point are provided in a high efficiency code CODEC 4.
    通話路の遠端において試験データをそのまま折り返す第１折り返しポイントの他に、高能率符号ＣＯＤＥＣ４内に第２折り返しポイントと第３折り返しポイントを設ける。 - 特許庁
  • To perform a loop back test precisely in which a jitter proof strength of a device to be tested is tested with a sufficient accuracy and a simple constitution.
    簡易な構成で、被試験デバイスのジッタ耐力を試験するループバック試験を精度よく行う。 - 特許庁
  • To prevent both controllability and observability from being lowered in a scanning test, and to prevent a loop of test signals from being generated caused by a bidirectional terminal.
    スキャンテスト時に制御性および観測性の双方の低下がない上に、双方向端子に起因するテスト信号のループの発生がないこと。 - 特許庁
  • To provide a loop piping type sprinkler piping installation in which piping for terminal test valves required for a water supply test can be executed at a low cost.
    ループ配管式スプリンクラー配管設備において、送水試験に必要な末端試験弁用配管を低コストで施工できるようにする。 - 特許庁
  • To quickly perform a recovery process in the occurrence of a failure by performing the margin test of a device connected to a fiber channel loop to improve the reliability of the whole loop.
    ファイバチャネルループに接続されたデバイスのマージンテストを行い、ループ全体の信頼性の向上を図り、障害発生の際の回復処理を迅速に行う。 - 特許庁
  • Just as Fortran-77 introduced the zero-trip loop in order to remove the need to test on a zero iteration loop, so Fortran 90 removes the need for further testing on zero.
    Fortran-77がゼロ繰り返しループをテストする必要をなくすためにゼロトリップループを導入したのと同様に、Fortran 90はゼロのさらなるテストの必要をなくしている。 - コンピューター用語辞典
  • To solve a problem that the output timing of effective output data is not constant for every test in a test employing automatic test equipment (ATE) for a data output circuit in an LSI (large scale integrated circuit) comprising a PLL (phase locked loop) circuit or the like.
    ＰＬＬ回路等を含むＬＳＩ中のデータ出力回路に対する自動テスト装置（ＡＴＥ）を用いたテストでは、有効な出力データの出力タイミングがテスト毎に一定でない。 - 特許庁
  • To provide a media converter, a loop testing method and a loop testing program with which transmission normality can be confirmed in two ways in a loop test using the media converter for converting media between different transmission media.
    異なる伝送媒体間の媒体変換を行うメディアコンバータを用いたループ試験の際に、双方向にて伝送正常性を確認させることが可能なメディアコンバータ、ループ試験方法及びループ試験プログラムを提供する。 - 特許庁
  • To enable a loop-back test in an interface in which phase relations between data signals and strobe signals for sampling the data are different in the inputs and the outputs.
    データと該データをサンプリングするためのストローブ信号の位相関係が入力と出力で異なるインタフェースにおいて、ループバック試験を可能とする。 - 特許庁
  • Test signal transmitting power in accordance with the call connection number for radio terminals which are connected to a radio base station unit upon the loop back test is obtained at a control circuit 1, and the transmitting power TSTP is output to channel circuits used for the transmission of the loop back test signal.
    制御回路１で、折り返し試験の際に当該装置に呼接続されている無線端末の呼接続数に応じた試験信号の送信電力を求め、その送信電力ＴＳＴＰを、折り返し試験信号の送信に用いているチャネル回路へ出力する。 - 特許庁
  • Some tests, such as -modify1,-await, -abort, and -redefine, perform additional steps within the test function inner loop, as required by the element being tested, or in an attempt to make the test more visually appealing.
    テストによっては(-modify1,-await, -abort, -redefine 等)、テスト関数の内部ループ内で追加のステップを実行する。 これはテストされる要素の要求に応じるためや、テストの見栄えを良くするために行われる。 - XFree86
  • A closed loop is formed to supply an output data of the digital filter 1 to an input side by multiplexers 2, 3 of the test device, a controller 8 sets the test data in the input side of the digital filter 1 under the condition where the closed loop is formed, and arithmetic processing is executed to carry out a functional test automatically.
    テスト装置１９のマルチプレクサ２及び３によって、デジタルフィルタ１の出力データを入力側に与えるように閉ループを形成し、コントローラ８は、閉ループを形成した状態でデジタルフィルタ１の入力側にテストデータを設定し、演算処理を実行させて機能テストを自動的に行なう。 - 特許庁
  • To provide a DDR-SDRAM interface circuit in which the loop-back test can be more exactly performed, and its testing method and its testing system.
    ループバック試験をより正確に行うことが可能なＤＤＲ−ＳＤＲＡＭインターフェース回路、その試験方法、その試験システムを提供すること。 - 特許庁
  • The current applying test system 1 includes a CT (Current Transformer) 3 for a conductor for sending a current into a conductor 20 of a test cable 2 arranged in a closed loop shape, and a dummy cable 4 for conductor current application utilized for measurement of a conductor 20 temperature.
    課通電試験システム1は、閉ループ状に配置された供試ケーブル2の導体20に電流を流す導体用CT3と、導体20の温度の測定に利用される導体通電用ダミーケーブル4とを具える。 - 特許庁
  • To provide an evaluation method for a circuit with a built-in PLL (Phase Locked Loop), an evaluation system, and a circuit with a built-in PLL, for enhancing the reliability of evaluation results without increasing the number of test patterns.
    テストパターン数を増やすことなく、評価結果の信頼性を高くできるＰＬＬ内蔵回路の評価方法、評価システム、及びＰＬＬ内蔵回路を提供する。 - 特許庁
  • To realize a test device having a loop antenna of which the size can be easily changed corresponding to the change of the size of a tested device, with respect to the test device having the plurality of loop antennas mounted in X, Y and Z axial directions so as to surround the tested device placed on a pedestal.
    台座上に置かれた被試験装置の周囲をかこむようにＸ、Ｙ、Ｚ軸方向に設けられた複数のループアンテナを有する試験装置において、被試験装置の大きさの変化に対し容易に大きさを変えられるループアンテナを有する試験装置を実現する。 - 特許庁
  • In a test stage, intermediate test signals IFtest are supplied to the correlation stage 7 so as to perform a test representative of the correlation stage in closed loop operation more quickly than a signal modulated by a 2nd code of a shorter repetition length than that of the 1st code and modulated by the 1st code.
    試験段階においては、第１コードより短い反復長の第２コードによって変調され、かつ第１コードによって変調された信号の場合より速く閉ループ動作の相関段を表す試験を実施するように中間試験信号ＩＦｔｅｓｔが相関段７に供給される。 - 特許庁
  • To provide a digital exchange device and its method for controlling test line connection for realizing at least one of reliable loop connection and shortening of line recovery time in a test in digital exchange using a cross connect function.
    クロスコネクト機能を用いたディジタル交換における試験にて確実なループ接続および回線復旧の時間短縮化の少なくとも一方を実現するディジタル交換装置およびその試験回線接続制御方法の提供。 - 特許庁
  • A testing sever sends a test pattern that a voice signal is encoded into a signal loop-back means installed at an exchange interface side in the TGW through a voice encoding section and a packet assembling section in the TGW, and receives the test pattern sent from the signal loop-back means through the voice encoding section and the packet assembling section, again.
    試験サーバより、ＴＧＷの音声符号化部とパケット化部を介して、ＴＧＷ内の交換機インタフェース側に設けた折り返し手段へ、音声信号を符号化して得た試験パターンを送り、その信号折り返し手段からの試験パターンを、再度、音声符号化部とパケット化部を介して試験サーバで受信する。 - 特許庁
  • By short-circuiting the top of the transmission line with the sample, a test signal of high current density is applied to the sample so that a loop of the current standing wave is located in the position of the sample.
    試料によって伝送線路先端を短絡することで、試料の位置を電流定在波の腹として、高電流密度の試験信号を印加する。 - 特許庁
  • In a network processor 42, the test processing part 3 suppresses subtraction of a TTL (time to live) value to set a routing table 421 so that data is sequentially transmitted along the transfer route in the loop shape.
    ネットワークプロセッサ４２において、試験処理部３により、ＴＴＬ値の減算が抑止され、データがループ状の転送経路に沿って順に送信されるようにルーティングテーブル４２１が設定される。 - 特許庁
  • A test terminal 4 sends the Etherframe(R), in which a destination MAC address is a MAC address of the present terminal and a source MAC address of a MAC address of a loop-back testing apparatus 2, onto a network.
    試験用端末４は、宛先ＭＡＣアドレスが自端末のＭＡＣアドレス、送信元ＭＡＣアドレスがループバック試験装置２のＭＡＣアドレスであるイーサフレームをネットワーク上に送出する。 - 特許庁
  • The optical communication system is provided with a backup interface provided on a station side apparatus, an optical loop back means for recognizing the normality of the backup interface, and a detecting means for detecting that the backup interface is in a normal state on the basis of a result of an optical loop back test executed by the backup interface via the optical loop back means.
    光通信システムは、局側装置に設けられる予備系インタフェースと、予備系インタフェースの正常性を確認するための光ループバック手段と、光ループバック手段を介して実施される予備系インタフェースによる光ループバック試験の結果を基に、当該予備系インタフェースが正常であることを検知する検知手段とを備える。 - 特許庁
  • When a transmission source MAC address of the test frame (a) in each of learning tables T1 to T4 of respective MAC bridging apparatuses is learned by a port which is not a port direction nearest to the testing apparatus 6 logically from a MAC bridging apparatus, the loop generating direction judgment apparatus judges the loop exists in the direction.
    該ループ発生方向判定装置は、各MACブリッジング装置の学習テーブルＴ１〜Ｔ４における試験フレームの送信元MACアドレスが、そのMACブリッジング装置から見て論理的に試験装置６に最も近いポート方向ではないポートに学習されている場合に、その方向にループがあると判定する。 - 特許庁
  • To provide a technology, capable of suppressing the interruption of communication with an external communication device and performing a loop-back test, in a communication device which performs communication by a TDD system.
    ＴＤＤ方式により通信を行う通信装置において、外部通信装置との通信の中断を抑えてループバック試験を行うことが可能な技術を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • A test data pattern is transmitted from the electronic circuit cards 130, 140 to the electronic circuit card 150 at the next stage while changing delay time of the variable delay elements 134, 144 in step to judge propriety of the test data pattern returned from the electronic circuit card 150 at the next stage via a loop return path.
    可変遅延素子１３４、１４４の遅延時間を段階的に変えながら、試験データパターンを電子回路カード１３０、１４０から次段の電子回路カード１５０に送信し、次段の電子回路カード１５０からループリターンパスを経由して返信された試験データパターンの正否を判定する。 - 特許庁
  • To prevent a network abnormality occurrence caused by returning a MAC frame in a loop-back test, regarding a transmission apparatus for transmitting a SONET/SDH frame obtained by multiplexing a supervisory-control signal of the MAC frame on an overhead.
    オーバーヘッドにＭＡＣフレームの監視・制御信号を多重化したＳＯＮＥＴ／ＳＤＨフレームを伝送する伝送装置に関し、ループバック試験時のＭＡＣフレームの折り返しによるネットワーク異常発生を防ぐ。 - 特許庁
  • To provide an apparatus in which mounting cost and power consumption are reduced by reducing the number of high-speed signal lines connecting a group of transmission circuits to a group of reception circuits which are necessary, in performing a loop-back test of a signal transmission/reception apparatus for signal communication.
    信号通信用の信号送受信装置のループバックテストを行う際に、必要な送信回路群と受信回路群を繋ぐ高速信号線を削減し、実装コストと消費電力の低減する装置を提供することである。 - 特許庁
  • To provide a phase locked loop (PLL) circuit capable of facilitating a test as to whether or not delay elements of phase shifters of the PLL circuit are normally in operation at desired delay values while suppressing variations in phase relations among R, G, B signals.
    Ｒ／Ｇ／Ｂの各信号間の位相関係のばらつきを抑制した上で、ＰＬＬ回路の移相器に備わる遅延素子が所望の遅延値で正常に動作しているか否かのテストの容易化が可能なＰＬＬ回路を提供する。 - 特許庁
  • The integrated circuit 1 is provided with an AGC signal input changeover switch 30 for switching between the case in which an internal signal by an automatic gain control loop outputted by the circuit unit 20 is used and the case in which the automatic gain control loop is disconnected and an AGC signal for test is is directly given, as the input of an AGC signal to the amplifier 11 and the amplifier 13 in the section 10.
    ＲＦ回路部１０内のＲＦ可変増幅器１１及びベースバンド可変利得増幅器１３へのＡＧＣ信号の入力として、デジタル復調回路部２０が出力する自動利得制御ループによる内部信号を用いる場合と、自動利得制御ループを切り離して、テスト用ＡＧＣ信号を直接与える場合とを切り替えるＡＧＣ信号入力切替スイッチ３０が設けられている。 - 特許庁
  • To match and adjust a drift on a bit line to a high-speed system execution mode or low-power test mode in accordance with a feed voltage by using a small skew invertor with a switchable PFET feedback loop.
    ＳＲＡＭセルからの信号の高速シングルエンド・センシングのため直流信号により制御されシステム・モードではブリーダ素子、または試験モードではキーパ素子としてセットアップ可能で２つのＰＦＥＴ帰還経路を備えた構成可能なハーフ・ラッチ。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit in which an influence of phase noise of a sampling clock on transfer characteristics of a DAC and an ADC can be detected and the quality of a loop-back test can be improved, and to provide a method of testing the same.
    サンプリングクロックの位相ノイズがＤＡＣおよびＡＤＣの変換特性に与える影響を検出することができ、ループバックテストのテスト品質を向上させることができる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an endoscopic image processor capable of giving a warning and indicating shape information, an inserting process, and operating instructions of an insertion part in accordance with its inserting motion if an insertion part forms a loop in a subject's body or a test area of the subject's body extends on an endoscopy.
    内視鏡検査時に、被検体内で挿入部がループ形成したり、また被検体の観察部位が伸展した際に、警告を発すると共に、挿入動作に応じた形状情報と挿入方法や操作指示情報を共に表示される内視鏡画像処理装置が望まれている。 - 特許庁
  • As for the primary-side pipe 7, airtightness test process and air purge process are performed, before being exchanged to a new pipe, and then the inside of the primary-side pipe 7 is put into a closed loop state; and gas is supplied from a main branch pipe 1, to thereby perform gas replacement in the primary-side pipe 7.
    一次側配管７において、新管に交換する前に、気密検査工程、空気パージ工程を行った後、一次側配管７内を閉ループにした状態で、本支管１からガスを供給することによって一次側配管７のガス置換を行う。 - 特許庁
  • The outputted signals change information is fetched by the data receiving part 107' of a logic operation model B 106, once stored in a buffer 109' for a loop with bit string data as they are and also outputted to a result log file B108 and a new test data string file B110 as data of byte format.
    出力された信号変化情報は、論理動作モデルＢ１０６のデータ受信部１０７’により取り込まれ、ループ用バッファ１０９’にビット列データのまま一旦保持されると共に、バイト形式のデータとして結果ログファイルＢ１０８、新規テストデータ列ファイルＢ１１０に出力される。 - 特許庁
  • The gain Kact of the material testing machine 12 becomes very large under test conditions and in this case, an amplification factor for an analog sensor signal SSa inputted to an A/D converter 32 of the digital signal processor 16 is adjusted to adjust a loop gain Klp to an optimum value.
    試験条件によって材料試験機１２のゲインＫact が非常に大きくなることがあり、その場合に、ディジタル信号処理装置１６のＡ／Ｄコンバータ３２へ入力するアナログセンサ信号ＳＳａの増幅率を調節することで、ループゲインＫlpを最適値に調整する。 - 特許庁
  • To provide a leased line terminating device and a state restoring method for the same, which prevent state inconsistency between a terminating device on the control side and that on the controlled side to improve maintainability even in the case of occurrence of a line fault during a remote loop back test.
    リモート・ループバック試験中に回線障害が生じた場合であっても、制御側の終端装置及び被制御側の終端装置で状態の齟齬が生じず保守性を向上させることができる専用回線終端装置及び当該装置の状態復帰方法を提供する。 - 特許庁
  • If a fault occurs in any unit with transmission and reception of the fault test signal, the monitoring following stage unit cuts off the fault unit from the loop according to a reverse portion bypass instruction signal B-x-y-z, thereby realizing lessening the load on the host unit and reducing the fault recovery time.
    この障害テスト信号の送受信により、ある装置で障害が発生した場合は、監視している後段の装置が障害装置を逆ポートバイパス指示信号Ｂ＿ｘ＿ｙ＿ｚにてループ上から切り離すことで、ホスト装置の負担軽減、障害回復時間の短縮を実現する。 - 特許庁
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