「interface test」を含む例文一覧(289)
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インタフェース試験装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TEST INTERFACE
半導体テストインタフェース - 特許庁 - DIGITAL INTERFACE TEST DEVICE
ディジタル・インタフェース試験装置 - 特許庁 - New Test Runner interface for displaying test results
テスト結果を表示するための新しいテストランナーインタフェース - NetBeans - OPERATIONAL TEST APPARATUS FOR USB INTERFACE
ＵＳＢインターフェースの動作試験装置 - 特許庁 - TEST INTERFACE DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE, AND POSITIONING DEVICE FOR TEST INTERFACE DEVICE
半導体装置のテストインタフェイス装置およびテストインタフェイス装置の位置決め装置 - 特許庁 - MEMORY INTERFACE CIRCUIT, AND MEMORY TEST DEVICE
メモリインターフェース回路及びメモリ試験装置 - 特許庁 - INTERFACE DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT TEST EQUIPMENT
電子部品試験装置用のインタフェース装置 - 特許庁 - To flexibly perform test of an interface circuit.
インタフェース回路のテストをフレキシブルに行う。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING TEST INTERFACE APPARATUS
テストインターフェース装置を有する半導体デバイス - 特許庁 - SOUND INTERFACE MECHANISM, COUPLER FOR SPEECH TEST, AND SPEECH TEST DEVICE
音響インタフェース機構、通話試験用カプラ及び通話試験装置 - 特許庁 - COMMUNICATION TEST CIRCUIT, COMMUNICATION INTERFACE CIRCUIT, AND COMMUNICATION TEST METHOD
通信試験回路及び通信インタフェース回路並びに通信試験方法 - 特許庁 - COMPUTER SYSTEM AND TEST METHOD OF INTERFACE CIRCUIT
コンピュータシステム及びインターフェース回路のテスト方法 - 特許庁 - COMPUTER SYSTEM, INTERFACE CIRCUIT, EXTERNAL DEVICE, AND TEST METHOD OF INTERFACE CIRCUIT
コンピュータシステム、インターフェース回路、外部装置およびインターフェース回路のテスト方法 - 特許庁 - CIRCUIT DEVICE WITH SERIAL TEST INTERFACE AND SERIAL TEST MODE PROCEDURE
シリアルテストインターフェースを有する回路構成、およびシリアルテスト作動モード手順 - 特許庁 - To easily test an interface part.
インターフェース部のテストを簡易に行うことを課題とする。 - 特許庁 - INTERFACE APPARATUS, AND METHOD FOR CONDUCTINUITY TEST BETWEEN INTERFACE DEVICE PIN AND SUBSTRATE TERMINAL
インターフェース装置、及びインターフェースデバイスピンと基板端子間の導通試験方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND INTERFACE TEST CONTROL CIRCUIT AND TEST METHOD
半導体集積回路装置、インターフェース試験制御回路および試験方法 - 特許庁 - VoIP INTERFACE APPARATUS AND TEST METHOD OF ECHO CANCELLER
ＶｏＩＰインタフェース装置及びエコーキャンセラの試験方法 - 特許庁 - TEST INTERFACE FOR SOFTWARE-BASED SEQUENCE OF EVENT RECORDING SYSTEMS
ソフトウェアベースのイベント列記録システムためのテストインタフェース - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR CONDUCTING TEST ON SUBSCRIBER LOOP INTERFACE
加入者ル—プインタ—フェ—スを試験するための装置及び、方法 - 特許庁 - Test results are read out by the test interface circuit from the scan register through the test signal chain and outputted externally.
テスト結果はスキャンレジスタからテスト信号チェーンを介してテストインタフェース回路に読み込まれて、外部に出力される。 - 特許庁 - The portable train monitor test apparatus 4 comprises a test control unit 40 and an interface card.
可搬型列車モニタ試験装置４は、試験制御部４０及びインタフェースカードから構成される。 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR POSITIONING INTERFACE UNIT OF AUTOMATIC TEST SYSTEM
自動試験システムのインタフェースユニットを位置付ける装置及び方法 - 特許庁 - The semiconductor device 10 is provided with a test terminal 16 for outputting a signal (TEST) for prestarting a test of the memory interface 11 differently from the command signal.
半導体装置１０は、コマンド信号とは別に、予めメモリインターフェイス１１の試験を開始させる信号（TEST）を出力するテスト端子１６を備える。 - 特許庁 - The class presents the interface needed by the test runner to allow it to be run as any other test case, but all the contained tests and test suites are executed.
通常のテストケースと同じようにテストランナーで実行すると、テストスイート内の全てのテストケースとテストスイートを実行します。 - Python - BUILT-IN DATA ACCESS DEVICE AND METHOD IN BOUNDARY SCANNING TEST INTERFACE
境界走査試験インタフェース中の内蔵データアクセス装置及び方法 - 特許庁 - A test automation is executed to activate the user interface of a target device.
テストオートメーションを実行してターゲットデバイスのユーザインタフェースを作動させる。 - 特許庁 - To facilitate the determination of an interface circuit in a memory operation test.
メモリ動作試験におけるインターフェース回路の判定を容易にすること。 - 特許庁 - TEST INTERFACE CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING THE SAME
テストインターフェイス回路およびこれを用いた半導体集積回路装置 - 特許庁 - BUILT-IN DATA TRANSMITTING DEVICE AND METHOD IN BOUNDARY SCANNING TEST INTERFACE
境界走査試験インタフェース中の内蔵データ伝送装置及び方法 - 特許庁 - To provide an interface circuit for facilitating implementation of a test, by reducing an overhead cycle in the test during an interface operation, and to provide a communications system.
インタフェース動作時テストにおけるオーバヘッドサイクルを削減でき、テストの実施を容易とすることが可能なインタフェース回路および通信システムを提供する。 - 特許庁 - INTERFACE DEVICE, ELECTRONIC COMPONENT TEST DEVICE PROVIDED WITH THE SAME AND ADAPTER SET
インタフェース装置及びそれを備えた電子部品試験装置並びにアダプタセット - 特許庁 - The circuit interface card 4 as the testing object is based on the test bed 2 and connected to the interface converting adapter 3.
試験対象の回線インタフェースカード４は、テストベッド２をベースにしインタフェース変換アダプタ３に接続される。 - 特許庁 - To execute a test that is the same as a terminal interface loopback test, even when using an ATM.
ＡＴＭを利用する場合であっても端末インタフェース折り返し試験と同様の試験を実行可能とする。 - 特許庁 - It is possible to reduce the number of pins of a test interface since test input and output signals can be unwired by using this means.
本手段を用いれば，テスト入出力信号を無線化できるためテストインターフェースの少ピン化を図れる。 - 特許庁 - To provide a test system using a JTAG (joint test action group) extension interface provided by expanding a conventional JTAG, making the best use of an existing resource.
既存の資源を生かして、従来のJTAGを拡張したJTAG拡張インタフェースを用いたテストシステムを提供する。 - 特許庁 - This class implements the portion of the TestCase interface which allows the test runner to drive the test, but does not provide the methods which test code can use to check and report errors. This is used to create test cases using legacy test code, allowing it to be integrated into a
このクラスではTestCaseインターフェースの内、テストランナーがテストを実行するためのインターフェースだけを実装しており、テスト結果のチェックやレポートに関するメソッドは実装していません。 既存のテストコードを - Python - To provide a test interface circuit for mixed memory in which the number of test data input/output terminals is reduced and a practicable test pattern is increased.
テストデータ入出力端子の数を低減しかつ実行可能なテストパターンを増加させる混載メモリ用テストインターフェイス回路を提供する。 - 特許庁 - This class implements the interface needed by the test runner to allow it to drive the test, and methods that the test code can use to check for and report various kinds of failures.
TestCaseクラスでは、テストランナーがテストを実行するためのインターフェースと、各種のチェックやテスト失敗をレポートするためのメソッドを実装しています。 - Python - COMMUNICATION METHOD, COMMUNICATION PROTOCOL INTERFACE, REMOTE TEST DEVICE AND SERVICE DIAGNOSTIC SYSTEM
通信方法、通信プロトコルインタフェース、遠隔試験装置及びサービス診断システム - 特許庁 - To provide a means in which a control apparatus interface can test various channel interface cards by using a common channel interface card tester.
制御装置側インタフェースが異なる多種の回線インタフェースカードの試験を、共通の回線インタフェースカード試験装置により実行する手段を提供する。 - 特許庁 - A host test interface circuit TICU transmits a test control signal TCMD externally inputted or the like to each of the test interface circuits TIC0-TIC2 or selected one of the test interface circuits TIC0-TIC2 in accordance with a memory core selecting signal MCR <1:0>.
上位テストインターフェイス回路ＴＩＣＵは、外部から入力されるテスト制御信号ＴＣＭＤ等を、メモリコア選択信号ＭＣＲ＜１：０＞に応じて、テストインターフェイス回路ＴＩＣ０〜ＴＩＣ２の各々、もしくはテストインターフェイス回路ＴＩＣ０〜ＴＩＣ２の選択された１個に対して伝達する。 - 特許庁 - A test interface circuit TICa performs an operation test based on a signal inputted to a test pin terminal group TPG by directly accessing a DRAM core.
テストインタフェース回路ＴＩＣａは、テストピン端子群ＴＰＧに入力される信号に基づく動作テストを、ＤＲＡＭコアに直接アクセスして実行する。 - 特許庁 - To provide a built-in data access device and method in a boundary scanning test interface.
境界走査試験インタフェース中の内蔵データアクセス装置及び方法の提供。 - 特許庁 - To provide various devices and methods for visualizing a user interface element within an automated user interface test environment.
自動ユーザインターフェーステスト環境内でユーザインターフェースエレメントが可視的になるようにする様々な装置および方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a device and a method for positioning an interface unit of an automatic test system.
自動試験システムのインタフェースユニットを位置付ける装置及び方法を提供すること。 - 特許庁 - A manipulator 100 is provided for positioning an interface unit of the automatic test system 104.
自動試験システム（１０４）のインタフェースユニットを位置付けるマニピュレータ（１００）を開示する。 - 特許庁 - To provide a built-in data transmitting device and method in a boundary scanning test interface.
境界走査試験インタフェース中の内蔵データ伝送装置及び方法の提供。 - 特許庁 - The main part CPU100b performs a contact check of an interface in response to the test signal.
本体ＣＰＵ１００ｂは、そのテスト信号を受けてインターフェースの接点チェックを行なう。 - 特許庁
- 特許庁
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