「laser interferometer」を含む例文一覧(225)

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  • LASER INTERFEROMETER
    レーザ干渉計 - 特許庁
  • LASER INTERFEROMETER
    レーザー干渉計 - 特許庁
  • a laser interferometer
    レーザー干渉計 - Weblio英語基本例文集
  • LASER SCANNING INTERFEROMETER
    レーザ走査干渉計 - 特許庁
  • MULTI-BEAM LASER INTERFEROMETER
    マルチビーム・レーザ干渉計 - 特許庁
  • TRACKING-TYPE LASER INTERFEROMETER
    追尾式レーザ干渉計 - 特許庁
  • LENGTH-MEASURING LASER INTERFEROMETER
    測長用レーザ干渉計 - 特許庁
  • LASER-INTERFEROMETER TYPE DISPLACEMENT GAUGE
    レーザ干渉計型変位計 - 特許庁
  • LASER INTERFEROMETER LENGTH MEASUREMENT APPARATUS
    レーザ干渉計測長装置 - 特許庁
  • LASER INTERFEROMETER AND ALIGNER
    レ—ザ干渉計及び露光装置 - 特許庁
  • OPTICAL-AXIS DEFLECTION TYPE LASER INTERFEROMETER
    光軸偏向型レーザ干渉計 - 特許庁
  • OPTICAL FIBER HOMODYNE LASER INTERFEROMETER
    光ファイバ式ホモダインレーザ干渉計 - 特許庁
  • TRACKING TYPE LASER INTERFEROMETER AND RESETTING METHOD OF THE TRACKING TYPE LASER INTERFEROMETER
    追尾式レーザ干渉計および追尾式レーザ干渉計の復帰方法 - 特許庁
  • TRACKING TYPE LASER INTERFEROMETER AND METHOD OF CONTROLLING TRACKING TYPE LASER INTERFEROMETER
    追尾式レーザ干渉計および追尾式レーザ干渉計の制御方法 - 特許庁
  • WAVELENGTH STABILIZED LASER AND INTERFEROMETER
    波長安定化レーザおよび干渉計 - 特許庁
  • LASER INTERFEROMETER, AND LASER INTERFEROMETRY
    レーザ干渉測長装置及びレーザ干渉測長方法 - 特許庁
  • METHOD OF ESTIMATING ABSOLUTE DISTANCE IN TRACKING LASER INTERFEROMETER, AND TRACKING LASER INTERFEROMETER
    追尾式レーザ干渉計の絶対距離推定方法及び追尾式レーザ干渉計 - 特許庁
  • METHOD OF STABILIZING OUTPUT OF TRACKING LASER INTERFEROMETER, AND THE TRACKING LASER INTERFEROMETER
    追尾式レーザ干渉計の出力安定化方法および追尾式レーザ干渉計 - 特許庁
  • The laser interferometer gravitationalwave observatory.
    レーザー干渉計 重力波観測所です - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • To improve measurement accuracy of a laser interferometer.
    レーザ干渉計の計測精度を改善する。 - 特許庁
  • ALIGNER COMPRISING LASER INTERFEROMETER
    レーザ干渉干渉計システムを含む露光装置 - 特許庁
  • STAGE POSITIONING DEVICE USING LASER INTERFEROMETER
    レーザ干渉計を用いたステージ位置決め装置 - 特許庁
  • HOLDER OF PROFILE IRREGULARITY MEASUREMENT WITH LASER INTERFEROMETER
    レーザー干渉計での面精度計測保持具 - 特許庁
  • ESTIMATION METHOD OF DISTANCE BETWEEN TRACKING TYPE LASER INTERFEROMETER AND TARGET, AND TRACKING TYPE LASER INTERFEROMETER
    追尾式レーザ干渉計と標的間距離の推定方法及び追尾式レーザ干渉計 - 特許庁
  • WAVELENGTH ESTIMATION METHOD OF TRACKING LASER INTERFEROMETER
    追尾式レーザ干渉計の波長推定方法 - 特許庁
  • LASER INTERFEROMETER AND MEASURING APPARATUS USING THE SAME
    レーザ干渉計、及びそれを用いた測定装置 - 特許庁
  • This laser interferometer measures a length based on laser light interference.
    レーザ干渉測長装置は、レーザ光に基づき測長を行う。 - 特許庁
  • MULTI-BEAMS LASER INTERFEROMETER AND LAYER-BUILT OPTICAL ELEMENT
    マルチビーム・レーザ干渉計及び積層型光学素子 - 特許庁
  • To improve a measurement accuracy of a laser interferometer system.
    レーザ干渉計システムの計測精度を向上させる。 - 特許庁
  • COHERENT LIGHT SOURCE, SEMICONDUCTOR EXPOSURE DEVICE, LASER THERAPY EQUIPMENT, LASER INTERFEROMETER AND LASER MICROSCOPE
    コヒーレント光光源、半導体露光装置、レーザ治療装置、レーザ干渉計装置、レーザ顕微鏡装置 - 特許庁
  • HETERODYNE LASER INTERFEROMETER FOR MEASURING PARALLEL DISPLACEMENT OF WAFER STAGE
    ウェハステージの平行移動を測定するヘテロダインレーザ干渉計 - 特許庁
  • LIGHT SOURCE UNIT, SEMICONDUCTOR EXPOSURE DEVICE, LASER MEDICAL TREATMENT DEVICE, LASER INTERFEROMETER DEVICE, AND LASER MICROSCOPE DEVICE
    光源装置、半導体露光装置、レーザー治療装置、レーザー干渉計装置およびレーザー顕微鏡装置 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR MEASURING BY TRACKING LASER INTERFEROMETER
    追尾式レーザ干渉計による測定方法および測定装置 - 特許庁
  • HETERODYNE LASER DOPPLER INTERFEROMETER WITH OPTICAL EXCITATION FUNCTION FOR SAMPLE
    試料の光励振機能を有するヘテロダインレーザドップラー干渉計 - 特許庁
  • POSITION MEASUREMENT DEVICE OF OBJECT USING LASER INTERFEROMETER SYSTEM
    レーザー干渉計システムを用いた対象物の位置の測定装置 - 特許庁
  • HIGH-PRECISION RING LASER INTERFEROMETER USING EXTERNAL RESONATOR TYPE RING LASER, AND OPTICAL SENSING DEVICE
    外部共振器型リングレーザーを用いた高精度リングレーザー干渉計及び光センシング装置 - 特許庁
  • DYNAMIC LINEARITY MEASURING METHOD USING LASER INTERFEROMETER OF LASER DISPLACEMENT METER, AND MEASUREMENT DEVICE
    レーザ変位計のレーザ干渉計を用いた動的線形性計測方法及び計測装置 - 特許庁
  • To provide a laser interferometer which detects a mode hop.
    モードホップがわかるレーザ干渉計を実現することを目的にする。 - 特許庁
  • To provide a laser-interferometer type displacement gauge, provided with a ring laser resonator as a dual-frequency ring laser light source.
    リングレーザ共振器を2周波リングレーザ光源として具備するレーザ干渉計型変位計を提供する。 - 特許庁
  • To provide a correction method for measurement values of a laser interferometer that does not require a laser interferometer for correcting measurement values, other than a laser interferometer where the measurement values are corrected, and that has a different structure from the conventional structures.
    計測値が補正されるレーザ干渉計の他に、計測値を補正するためのレーザ干渉計を設置する必要がなく、従来の構成と異なるレーザ干渉計の計測値の補正方法を提供する。 - 特許庁
  • To realize high accuracy of wavelength correction using a laser interferometer for measuring range.
    レーザ干渉計測長器で高い波長補正精度を実現する。 - 特許庁
  • To eliminate the influence of errors of a laser interferometer used for coordinate measurements.
    座標測定に用いるレーザ干渉計のエラーの影響をなくする。 - 特許庁
  • A laser interferometer is used for measuring the position of a stage for mounting a sample thereon.
    試料が載置されるステージの位置の測定にレーザ干渉計を用いる。 - 特許庁
  • The selecting part 81 does not newly switch the used laser interferometer after the laser interferometer is switched last time and until a predetermined time elapses.
    選択部81は、前回レーザ干渉計を切り替えた後、所定時間経過するまでの間は、使用するレーザ干渉計の新たな切り替えを行わない。 - 特許庁
  • To improve repeatability when determining a substrate position by a laser interferometer.
    基板の位置をレーザー干渉計で求める際の再現性を改善すること。 - 特許庁
  • HETERODYNE LASER INTERFEROMETER EQUIPPED WITH PORRO PRISM FOR MEASURING DISPLACEMENT OF STAGE
    ステージの変位を測定するためのポロプリズムを備えたヘテロダイン・レーザ干渉計 - 特許庁
  • To reduce glitch for a more accurate laser interferometer measurement system.
    より正確なレーザ干渉計測定システムのためのグリッチ低減を行なう。 - 特許庁
  • A laser beam Lout from a laser light source 10 is split into two light paths OP1 and OP2 in an interferometer, having a constitution according to Mach-Zehnder interferometer.
    レーザ光源10からのレーザ光Loutを、マッハ・ツェンダ干渉計に準ずる構成の干渉計において、2つの光路OP1,OP2に分離する。 - 特許庁
  • Output laser light of a laser diode 20 is input to an optical IQ multiplexer, having a Mach-Zehnder interferometer structure.
    レーザダイオード20の出力レーザ光は、マッハツェンダ干渉計構造の光IQ多重装置22に入力する。 - 特許庁
  • ERROR CORRECTION METHOD IN FREQUENCY ANALYSIS BY USING WAVELENGTH SCANNING LASER INTERFEROMETER
    波長走査レーザ干渉計を用いた周波数解析における誤差補正方法 - 特許庁
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