SIZE MEASURING METHOD BY LIGHT WAVE INTERFEROMETER 光波干渉計における寸法測定方法 - 特許庁
SUPPORTING METHOD FOR REFERENCE PLATE FOR LIGHT WAVE INTERFEROMETER 光波干渉計用基準板の支持方法 - 特許庁
ULTRAVIOLET LIGHT SOURCE UNIT, INTERFEROMETER USING IT, AND ADJUSTING METHOD OF INTERFEROMETER 紫外光光源ユニット及びこれを用いた干渉計並びに干渉計の調整方法 - 特許庁
TWO-LIGHT FLUX INTERFEROMETER AND METHOD FOR MEASURING SHAPE OF OBJECT TO BE MEASURED USING INTERFEROMETER 二光束干渉計及び同干渉計を用いた被測定物の形状測定方法 - 特許庁
SUPPORT DEVICE OF REFERENCE PLATE FOR LIGHT WAVE INTERFEROMETER 光波干渉計用参照基準板の支持装置 - 特許庁
LUMINOUS ENERGY RATIO REGULATION FILTER FOR INTERFEROMETER UNIT, INTERFEROMETER UNIT, AND LIGHT INTERFERENCE MEASURING METHOD 干渉計装置用光量比調整フィルタ、干渉計装置および光干渉測定方法 - 特許庁
The interferometer is constituted of a light branching unit 3 and a light synthesizer 7 for the measured light and reference light. 被測定光と参照光は光分岐器3と光合波器7とで干渉計を構成する。 - 特許庁
LIGHT-WAVE INTERFEROMETER DEVICE AND ITS DATA PROCESSING METHOD 光波干渉計装置、及び該装置におけるデータ処理方法 - 特許庁
The data are converted to light intensity modulation signals at a reception end by a lightinterferometer. 受信端で光干渉計により、光強度変調信号に変換する。 - 特許庁
To provide an interferometer in which a fiber that introduces light from a light source to an interferometer body part is easily attached/detached from the light source part. 干渉計において、光源部からの光を干渉計本体部に導入するファイバを光源部に対して容易に着脱することができるようにする。 - 特許庁
REFLECTION TYPE BLOOD SUGAR MEASURING INSTRUMENT USING LOW COHERENT LIGHTINTERFEROMETER 低コヒーレンス光干渉計を用いた反射式血糖測定装置 - 特許庁
This laser interferometer measures a length based on laser light interference. レーザ干渉測長装置は、レーザ光に基づき測長を行う。 - 特許庁
POLARIZATION DEPENDENCY MEASURING METHOD AND DEVICE OF 2-LIGHT FLUX INTERFEROMETER 2光束干渉計の偏波依存性測定方法および装置 - 特許庁
To provide an interferometer suppressing decline of measurement accuracy of the interferometer caused by ghost light. ゴースト光に起因した干渉計の測定制度の低下を抑制することができる干渉計を提供する。 - 特許庁
To reduce the size and power consumption of an interferometer and, at the same time, to quickly turn on/off the light emission from the interferometer. 干渉計を小型化すると共に消費電力を小さくし、且つ迅速な発光のオンオフを可能にする。 - 特許庁
WAVE FRONT MEASURING INTERFEROMETER UNIT, AND LIGHT BEAM MEASURING INSTRUMENT AND METHOD 波面測定用干渉計装置、光ビーム測定装置および方法 - 特許庁
When an incoming fiber 17 receives light from an interferometer 26 and transmits the light to the reflecting surfaces 12 and 14, the surfaces 12 and 14 return the light to the interferometer 26 by reflection. 入射ファイバ(17)が干渉計(26)から光を受入れ、そしてその光を反射面(12、14)に伝送すると、反射面は光を反射して干渉計(26)に戻す。 - 特許庁
To provide an interferometer capable of stably forming interference light, and a spectrophotometer including the interferometer. 安定的に干渉光を形成することができる干渉計と、干渉計を有する分光分析装置を提供する。 - 特許庁
A laser beam Lout from a laser light source 10 is split into two light paths OP1 and OP2 in an interferometer, having a constitution according to Mach-Zehnder interferometer. レーザ光源10からのレーザ光Loutを、マッハ・ツェンダ干渉計に準ずる構成の干渉計において、2つの光路OP1,OP2に分離する。 - 特許庁
The laser interferometer 104 irradiates the retroreflector 106 with measuring light and detects interference light intensity between the reflected light of the measuring light and reference light. レーザ干渉計104は、測定光を再帰反射体106に照射し、その反射光と参照光との干渉光強度を検出する。 - 特許庁
While no workpieces W are arranged, the wire grid 220 in the first optical interferometer 200 reflects light from the second optical interferometer 300 to generate object light, and the wire grid 320 in the second optical interferometer 300 reflects light from the first optical interferometer 200 to generate object light. ワークWが配置されない状態では、第1光学干渉計200のワイヤーグリッド220が第2光学干渉計300からの光を反射して物体光を生成し、第2光学干渉計300のワイヤーグリッド320が第1光学干渉計200からの光を反射して物体光を生成する。 - 特許庁
INTERFEROMETER WITH TWO-RECIPROCATION REFLECTION OPTICAL SYSTEM FOR ORTHOGONAL MULTI-FREQUENCY LIGHT 直交多周波光に対する2往復反射光学系を用いた干渉計 - 特許庁
LIGHT RECEIVER AND METHOD FOR STABILIZING OPERATING POINT OF OPTICAL INTERFEROMETER FOR USE THEREIN 光受信器およびそれに用いる光干渉計の動作点安定化方法 - 特許庁
SINUSOIDAL WAVELENGTH SCANNING INTERFEROMETER AND SINUSOIDAL WAVELENGTH SCANNING LIGHT SOURCE UNIT 正弦波状波長走査干渉計及び正弦波状波長走査光源装置 - 特許庁
DISTURBANCE MEASURING DEVICE IN OPTICAL INTERFEROMETER, AND HIGH-PRECISION LIGHT INTERFERENCE MEASURING ARRANGEMENT 光干渉計における外乱の測定装置および高精度光干渉計測装置 - 特許庁
LIGHT WAVE INTERFERENCE MEASURING METHOD ON WINDING SURFACE, AND INTERFEROMETER DEVICE FOR WINDING SURFACE MEASUREMENT 迂曲面の光波干渉測定方法および迂曲面測定用の干渉計装置 - 特許庁
To introduce ultraviolet light having little aberration into an optical measuring apparatus such as an interferometer. 収差の少ない紫外光を干渉計等の光学測定機器に導入すること。 - 特許庁
This light receiving module 10 is provided with the delay interferometer 12, the balanced receiver 14, and a pair of optical fibers 20 for guiding a light emitted from the delay interferometer 12 to the balanced receiver 14. 光受信モジュール10は、遅延干渉計12と、バランスドレシーバ14と、遅延干渉計12から出射される光をバランスドレシーバ14に導く一対の光ファイバ20と、を備える。 - 特許庁
When the tilt angle of the interferometer 100 is set so as to satisfy equation Φ_0=Φ_1, the diffracted light DF is made incident on the interferometer 100. Φ_0=Φ_1となるように干渉計100の傾斜角を設定すると、干渉計100に回折光DFが入射されるようになる。 - 特許庁
Light of the light source 10 is made to interfere by a Michelson interferometer 20, and an interference signal is thinned by a PDC 40. 光源10の光をマイケルソン干渉計20により干渉させ、干渉信号をPDC40により間引きする。 - 特許庁
To provide an oblique incidence interferometer which can easily make optical axes of measurement light and reference light align with each other. 測定光および参照光の光軸を容易に一致させることが可能な斜入射干渉計を提供する。 - 特許庁
A balanced optical receiver 54 converts the interference output light from the interferometer 44 into an electric signal. バランスト光受信器54が、干渉計44の干渉出力光を電気信号に変換する。 - 特許庁
An optical filter 4 prevents incidence of light of excess wavelengths on the Fabry-Perot interferometer 2. 光学フィルタ4は、余計な波長の光がファブリペロ干渉計2に入射しないようにする。 - 特許庁
GEOMETRICALLY DESENSITIZED INTERFEROMETER PROVIDED WITH OPTICAL MECHANISM WITH HIGH STRAY-LIGHT PROCESSING CAPABILITY 高い迷光処理能力を有する光学機構を備えた幾何学的に感度抑圧された干渉計 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING THICKNESS AND PROFILE OF TRANSPARENT THIN FILM USING WHITE-LIGHT INTERFEROMETER 白色光干渉計を用いた透明薄膜の厚さ及び形状の測定装置及び方法 - 特許庁
Further, the measurement unit may include a combined light source for the encoder as well as the interferometer. さらに、測定ユニットは、エンコーダならびに干渉計用の複合光源を含むことができる。 - 特許庁
This vibration detector is constituted to include a ΔΣmodulator using a phase difference change between a reference light and a reflected light caused by an optical path change in an interferometer as a feedback parameter to the interferometer (piezoelectric oscillator driver 181). 干渉計内の光路変化による参照光と反射光との位相差変化を干渉計(ピエゾ振動子ドライバ181)への帰還パラメータとするΔΣ変調器を含むようにする。 - 特許庁
To solve the problem that it becomes difficult to perform phase control over a delay interferometer if input signal light is abnormal in a configuration that DQPSK modulated signal light is decoded by the delay interferometer and a data reproducing circuit. 遅延干渉計およびデータ再生回路によりDQPSK変調信号光を復号する構成において、遅延干渉計の位相制御が入力信号光の異常時に困難となる。 - 特許庁