「light microscopes」を含む例文一覧(6)
- The detector apparatus is especially suitable for detecting light emitted from a sample in microscopes, especially, laser scanning microscopes.
本検出器装置は、顕微鏡、特にレーザ走査型顕微鏡において、特に、試料から放出される光を検出するのに適している。 - 特許庁 - light microscope that uses scattered light to show particles too small to see with ordinary microscopes
普通の顕微鏡で見るには小さすぎるものを見せるために散乱光を使用する光学顕微鏡 - 日本語WordNet - The fundamental principles of optics govern the design and operation of both the light and electron microscopes.
光学の根本をなす原理は、光学顕微鏡および電子顕微鏡の両方の設計と操作を支配する。 - 科学技術論文動詞集 - Electron Microscopes (EMs) function exactly as their optical counterparts except that they use an electron beam instead of light to image the specimen.
電子顕微鏡(EM)は、試料を「結像する」ための光の代わりに電子ビームを使うことを除けば、その光学的な対応機器(光学顕微鏡)と同じように機能する。 - 科学技術論文動詞集 - An optical system 15 for microscopes for detecting an index previously applied to the measuring surface d1 of the object to be inspected by the telecentric object lens 7 and performing projection to the light-receiving part 11 by the object lens 10 is formed.
また被検体測定面ｄ１に予め施した指標をテレセントリック対物レンズ７で検出して対物レンズ１０で受光部１１に投影する顕微鏡用光学系１５を形成する。 - 特許庁 - When the pattern of a reticle R is exposed to light via a projection optical system PL, the position of the reference marks 34A and 34B is detected by TTL-system reticle alignment microscopes 5A and 5B, and a wafer stage 23A is driven based on the detection result and the relative position being obtained before.
レチクルＲ１のパターンを投影光学系ＰＬを介して露光する際には、ＴＴＬ方式のレチクルアライメント顕微鏡５Ａ，５Ｂによって基準マーク３４Ａ，３４Ｂの位置を検出し、この検出結果と先に求めた相対位置とに基づいてウエハステージ２３Ａを駆動する。 - 特許庁
