A test waveform and measuring points set at a graphic editor part 12 are transmitted to a compiler part 13 as a waveform information, thereafter the waveform information is converted to a waveform image and a test program, then loaded in the memory of each pin card, respectively by a pin card waveform image load part 16. グラフィックエディタ部12によって設定されたテスト波形、および測定ポイントは、波形情報としてコンパイラ部13に送られ、該コンパイラ部13によって波形情報が波形イメージ、およびテストプログラムに変換され、ピンカード波形イメージロード部16によって各ピンカードのメモリにそれぞれローディングされる。 - 特許庁