When shmoo plot measurement, function data log measurement and fail bit map measurement are performed, part of a command included in a device test program, which is to be transferred to the thermostatic bath part 20 or tester part 20, is skipped (not transferred) according to the information stored in a shmoo condition table storage part 13 (or a structure corresponding thereto). 但し、シュムプロット測定、ファンクションデータログ測定、及びフェイルビットマップ測定を行う場合には、シュム条件テーブル記憶部13(又はこれに相応する構成)に記憶された情報に応じて、デバイステストプログラムに含まれ、恒温槽部20又はテスタ部30に転送する命令の一部をスキップする(転送しない)。 - 特許庁