「measuring errors」を含む例文一覧(321)
1 2 3 4 5 6 7 次へ＞- ANALYSIS METHOD FOR STATISTICAL ERRORS OF MEASURING DATA
測定データの統計的誤差解析方法 - 特許庁 - The measurement is repeated by the required number of times and measuring errors are recorded.
必要な回数繰り返して測定誤差を記録する。 - 特許庁 - To provide a method of measuring glycated albumin capable of reducing the errors in measuring operation.
測定操作の誤差を小さくできる糖化アルブミンの測定方法の提供を課題とする。 - 特許庁 - To provide a liquefied gas flow measuring system for reducing measuring errors due to a gas-liquid mixed phase at a flow measuring part.
流量計測部での気液混相による測定誤差の低減を図る液化ガス流量計測システムの提供。 - 特許庁 - To provide a radar apparatus capable of measuring angular errors in an elevation direction, in addition to an azimuth direction and measuring the angular errors, even if a platform is moving.
方位方向に加えて仰角方向の角度誤差を測定でき、プラットフォームが移動していても角度誤差を測定できるレーダ装置を得る。 - 特許庁 - To correct errors by calculations to improve the accuracy of measuring a Stokes parameter.
誤差を計算により補正し、ストークスパラメータ測定精度を向上させる。 - 特許庁 - All errors of stage drive control including measurement errors in the position measuring system is incorporated in the displacement (ΔX_ijk, ΔY_ijk).
位置ずれ（ΔＸ_ijk，ΔＹ_ijk）には、位置計測系の計測誤差を含め、あらゆるステージ駆動制御の誤差が取り込まれる。 - 特許庁 - To provide a displacement measuring interferometer which minimizes nonlinear errors and errors induced by diffraction, and is superior in expandability.
非線形誤差及び回折で誘発される誤差を最小化し、拡張性に優れた変位測定干渉計を提供する。 - 特許庁 - To provide an instrument for measuring absolute reflectivity, capable of measuring even a small angle of incidence with few errors of measurement.
測定誤差が少なく入射角が小さくても測定できる絶対反射測定装置を提供する。 - 特許庁 - The means 4 for detecting the drive errors detects the drive errors of the driving device 2 by copying and scanning on measuring planes 321A, 321B of the holder 3A for measuring the accuracy.
駆動誤差検出手段４は、精度測定用治具３Ａの測定用平面３２１Ａ、３２１Ｂ上を倣い走査して駆動装置２の駆動誤差を検出する。 - 特許庁 - In a measuring error removing step, a forecasted characteristic value wherein only the measuring error ν among the process errors w and measuring errors ν is removed from the measuring characteristic value can be computed with a measuring error removing unit 14, on the basis of the computed characteristic value and the measured characteristic value.
計測誤差除去工程では、計測誤差除去部１４によって、演算特性値と計測特性値とに基づいて、プロセス誤差ｗおよび計測誤差νのうち計測誤差νだけを計測特性値から除去した予測特性値を演算することができる。 - 特許庁 - To provide a measuring method and a measuring apparatus for maintaining power saving and greatly reducing measurement errors.
省電力を維持しつつ測定誤差を極力小さくすることを可能にする計測方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an accurate and stable torsion angle measuring instrument which does not present measurer's personal errors.
測定者の個人誤差がなく、正確で、しかも、安定なねじれ角測定器を提供する。 - 特許庁 - To provide a residual luminance measuring device and a residual luminance measuring system capable of measuring residual luminance with improved accuracy by correcting errors caused by stray light.
本発明は、迷光による誤差を補正することによって、より精度よく残留輝度を測定し得る残留輝度測定装置および該システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a distance measuring device and distance measuring method, capable of reducing measurement errors due to surface conditions of a measuring object.
測定対象の表面状態によって生じる計測誤差を低減することができる距離測定装置および距離測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an antenna measuring device and a measuring method capable of measuring precisely excitation amplitudes and phases of each antenna element in consideration of amplitudes and phase errors of phase shifters.
移相器の振幅・位相誤差を考慮し、各アンテナ素子の励振振幅・位相を精度よく測定できるアンテナ測定装置および測定方法を得る。 - 特許庁 - To provide a method and a device for measuring the flatness of a flat plate while minimizing errors by having the inherent errors of equipment being scaling errors and spatial torsion in a non-contact three-dimensional measuring instrument.
非接触式３次元測定器には、スケーリング誤差や空間歪みという機器固有の誤差があるが、このような誤差を最小にしながら平面度の測定ができる平板平面度測定方法及び装置を提供することが課題である。 - 特許庁 - To avoid errors in measurement caused by invasion by unreacted liquid in a measuring device.
測定デバイスにおいて、未反応液の混入による誤測定の発生を防ぐことを目的とする。 - 特許庁 - To provide a measuring machine which can reduce the occurrence of measurement errors even against the variation of the environment.
環境変化に対しても測定誤差の発生を少なくできる測定機を提供する。 - 特許庁 - To reduce measuring errors resulting from position within a field of view by uniformizing a sensitivity distribution within the field of view.
視野内の感度分布を平坦化して、視野内の位置による計測誤差を低減する。 - 特許庁 - To enhance measuring accuracy by facilitating alignment, and preventing errors caused by distance.
簡便に位置合わせができ、距離による誤差が生じないようにして測定精度を向上する。 - 特許庁 - TARGET, METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING ASSEMBLY AND ALIGNMENT ERRORS IN SENSOR ASSEMBLY
センサアセンブリにおけるアセンブリおよび位置合わせエラーを測定するための標的、方法および装置 - 特許庁 - To provide a chromaticity measuring device capable of shortening the measurement time and preventing measurement errors.
計測時間を短縮でき、測定誤差も防止できる色度計測装置を提供すること。 - 特許庁 - To impart a function for self-diagnosis of detection errors or troubles to a device used for measuring gear noises.
ギヤノイズの測定に用いる機器に検出誤差や故障を自己診断する機能を持たせる。 - 特許庁 - To provide a coordinate measuring system free of errors, capable of accurate measurement, and capable of withstanding rapid scanning.
エラーがなく、正確に測定でき、高速走査に耐えられる座標測定システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a three-dimensional measuring method and its measuring instrument, capable of accurately measuring the surface shape of a measuring object by reducing adjustment errors in the installation angle of a light source for irradiating the measuring object with the measuring light.
計測対象物に計測用の光を照射する光源の設置角度の調整誤差を小さくし、計測対象物の表面形状を精度良く計測することができる三次元計測方法及びその計測装置を提供する。 - 特許庁 - To provide registering measuring device and method, capable of reducing abnormality in registering deviation measuring values or the generation ratio of measuring errors, independently of the size of superposition marks.
重ね合わせマークのサイズに拘わらず、重ね合わせずれ量の測定値の異常や測定エラーの発生率を低減できる重ね合わせ測定装置と方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a thickness measuring apparatus capable of reducing measuring errors to temperature changes without having to use a special material having a small linear expansion coefficient.
線膨張率の小さい特殊な材料を用いず温度変化に対して測定誤差を小さくできる厚み測定機を提供する。 - 特許庁 - To measure a liquid concentration with high accuracy by excluding measuring errors owing to the effect of liquid color.
液体色の影響に起因する測定誤差を排除して高精度で液体を濃度測定する。 - 特許庁 - To provide a method of reducing systematic measuring errors during the examination of an object, particularly a semiconductor structure.
対象物、特に半導体構造の検査時の系統的測定誤差を低減する方法の提供。 - 特許庁 - To provide a tire uniformity measuring method and a measuring apparatus capable of excluding errors and highly precisely identifying AVV characteristic waveforms.
誤差を排除して、高精度にタイヤＡＶＶ特性波形を同定することのできるタイヤユニフォーミティの測定方法および測定装置を提供する。 - 特許庁 - To reduce errors in a position measuring technique for measuring the position or the attitude of photographing and the three-dimensional position of a photographic subject, on the basis of a dynamic image.
動画像に基づいて、撮影した位置や姿勢と被写体の三次元位置とを測定する位置測定技術において、誤差を低減する。 - 特許庁 - To provide a thickness measuring method capable of correcting diagonal measurement errors and accurately measuring thickness, in the thickness measurement of a measuring object by laser type thickness gauge.
レーザ方式厚さ計による計測対象物の厚さ計測において、斜め計測誤差を補正し、正確な厚さ計測を行うことを可能にした厚さ計測方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a gas measuring device capable of instantly correcting the errors even when the errors due to the pulsation of gas are included in a flow rate measured by a sensor.
センサにより測定される流量にガスの脈動による誤差が含まれていても、その誤差を即座に補正することができるガス計量装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a data error measuring circuit for a semiconductor memory which can discriminate all the 1 bit errors and mult-bit errors of input data and output data.
入力されるデータと出力されるデータの１ビットのエラーと２ビット以上のエラーをすべて判別できる半導体記憶装置のデータエラー測定回路を提供する。 - 特許庁 - To estimate mechanism parameters of a parallel mechanism machine with high precision by considering not only errors due to self-weight deformation of machine components but also thermal displacement and errors of a measuring instrument.
機械構成要素の自重変形による誤差に加えて、熱変位、測定器の誤差も加味することを可能とし、パラレルメカニズム機械の機構パラメータを高精度で推定する。 - 特許庁 - To provide an angular-decomposition scatterometer that does not indicate measuring errors due to residual defocus or that indicates them only to a smaller extent, and to provide a scatterometer measuring method.
残留デフォーカスによる測定誤差を示さないか、またはより小さい程度に示す角度分解スキャトロメータおよびスキャトロメータ測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a motional error measuring device, capable of fully accurate measuring motional errors in an optical device and an optical part having a driving part.
駆動部分を有する光学装置や光学部品の運動誤差を十分な精度で測定することが可能な運動誤差測定装置の実現を課題とする。 - 特許庁 - To arrange a measuring instrument inside a metallic cubicle or an electrical chamber, and moreover, to correct time errors of a multipoint simultaneous measurement data measured by the measuring instrument.
金属製のキュービクルや電気室内に測定器を配置でき、しかも測定器で測定した多点同時測定データの時間誤差を補正することである。 - 特許庁 - The device 300 for measuring the accuracy of the driving device 2 is provided with a holder 3A for measuring the accuracy, a means 4 for detecting the drive errors, a part 5A for calculating the drive accuracy.
駆動装置２の精度測定装置３００は、精度測定用治具３Ａと、駆動誤差検出手段４と、駆動精度演算部５Ａと、を備える。 - 特許庁 - To provide a residual stress measuring device and a method by X-ray causing little measuring errors even if the grain size of a measured material is unknown.
被測定材料の粒度が既知でなくても、測定誤差の少ないＸ線残留応力測定装置およびその測定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a process error measurement method and a process error measuring apparatus that minimize process errors, and an overlay measurement method and an overlay measuring apparatus that utilize them.
工程エラーを最少化するための工程エラー測定方法及び装置と、これを利用したオーバーレー測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a jitter measuring apparatus capable of improving the problem that measured values are buried in quantization errors and measuring large-amplitude jitter with high resolution.
測定値が量子化誤差に埋もれる問題を改善するとともに、大振幅のジッタを高分解能で測定することができるジッタ測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a noncontact voltage measuring apparatus capable of accurately measuring voltages by correcting errors of voltage measurements caused by the differences of the wire diameters of electric wires.
電線の線径の違いにより生じる電圧の測定誤差を補正して正確な電圧測定が可能な非接触電圧測定装置を実現する。 - 特許庁 - To provide a length measuring apparatus capable of making measurement errors equal and accurately measuring an object to be measured.
ヨーイング運動により生じる測定誤差を均等にし、より正確に被測定物の測定を行うことを可能とする測長装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - Measurement errors, etc. can be prevented, since correspondence between the measuring instrument and the measurement region becomes visually clarified.
測定器具と測定部位との対応関係が視覚的に明らかになり、測定ミス等を防ぐことができる。 - 特許庁 - Perfect charge balance would not be expected because of analytical errors in measuring the many parameters used.
使用された多数のパラメータを測るにあたっての分析エラーのために，完全なチャージバランスは期待されないであろう。 - 英語論文検索例文集 - Perfect charge balance would not be expected because of analytical errors in measuring the many parameters used.
多数の使用されたパラメータを測るにいたっての分析エラーのために，完全なチャージバランスは期待されないであろう。 - 英語論文検索例文集 - Perfect charge balance would not be expected because of analytical errors in measuring the many parameters used.
多数の使用されたパラメータを測るにいたっての分析エラーのために，完全なチャージバランスは期待されないであろう。 - 英語論文検索例文集 - To provide a measuring device capable of estimating errors containing in position signal with sufficient accuracy at short times and removing them.
位置信号に含まれる誤差を短期間で精度良く推定し、これを除去可能な計測装置を提供する。 - 特許庁
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