「method of analysis」を含む例文一覧(4661)

<前へ 1 2 .... 14 15 16 17 18 19 20 21 22 .... 93 94 次へ>
  • ANALYSIS METHOD OF BIOLOGICAL SUBSTANCE USING MICROCHIP AND ANALYZING KIT
    マイクロチップを用いた生物学的物質の分析方法及び分析キット - 特許庁
  • STRUCTURAL ANALYSIS METHOD OF DISTORTION QUANTUM WELL STRUCTURE AND ITS RECORD MEDIUM
    歪量子井戸構造の構造解析方法およびその記録媒体 - 特許庁
  • PHOTOEXCITATION CURRENT EVALUATION DEVICE AND DETERIORATION ANALYSIS METHOD OF LIGHT EMITTING ELEMENT
    光励起電流評価装置および発光素子の劣化解析方法 - 特許庁
  • To provide a method for implementing analysis of a clad on a nuclear fuel rod.
    核燃料棒上のクラッドの分析を遂行する方法の提供。 - 特許庁
  • To provide an electromagnetic field analysis method compensating the convergence of a solution.
    解の収束性を補償する電磁界解析方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an analysis method and a kit for collecting an analysis sample from an analysis object or an analysis individual by using an analysis sample collecting apparatus capable of recovering an analysis material in the sample selectively with a high recovery rate, and analyzing the analysis material in the acquired analysis sample with high specificity and excellent high sensitivity.
    被分析試料を試料中の被分析物質を選択的に高回収率にて回収し得る被分析試料採取器具を用いて被分析対象物や被分析個体から採取し、得られた被分析試料中の被分析物質を高い特異性と優れた高感度で分析する分析方法およびキットの提供。 - 特許庁
  • To provide a method for analyzing a labeled analyte that is appropriate especially for multiplex analysis of a compound sample mixture, and is used for correlation study related to genome analysis and protein analysis in the protein analysis and/or genome analysis.
    標識試薬および標識化分析物の混合物を含む、標識試薬、標識化分析物、およびそれらに由来するフラグメントイオン、ならびに標識化分析物の分析のための方法を提供すること - 特許庁
  • To provide an electronic circuit analysis device and an electronic circuit analysis method, allowing suspension/resumption of analysis of an electronic circuit on optional time when cooperating an electromagnetic wave analysis simulator and a circuit analysis simulator.
    電磁波解析シミュレータと回路解析シミュレータとを連携させる際に、電子回路の解析を任意の時刻で中断/再開させることが可能な電子回路解析装置及び電子回路解析方法を提供することを目的としている。 - 特許庁
  • To search for a particle at the boundary of an analysis model used in numerical analysis using a particle method and the like.
    粒子法等を用いた数値解析で使用する解析モデルの境界に位置する粒子を探索すること。 - 特許庁
  • To provide an analysis method of formaldehyde in a furan resin by high-performance liquid chromatography having high analysis accuracy.
    分析精度の高い、高速液体クロマトグラフィーによるフラン樹脂中のホルムアルデヒドの分析方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a biopolymer analysis chip, an analysis support device and a biopolymer analyzing method of high sensitivity.
    感度の良好な生体高分子分析チップ、分析支援装置及び生体高分子分析方法を提供する。 - 特許庁
  • OPTICAL ANALYSIS DEVICE AND OPTICAL ANALYSIS METHOD USING OPTICAL SYSTEM OF CONFOCAL MICROSCOPE OR MULTIPHOTON MICROSCOPE
    共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いた光分析装置及び光分析方法 - 特許庁
  • To provide a network analysis device, a network analysis method and a program for network analysis permitting highly accurate analysis of a network represented in a labeled directed graph.
    ラベル付き有向グラフで表現されたネットワークの分析を高い精度で行うことが可能なネットワーク分析装置、ネットワーク分析方法、およびネットワーク分析用プログラムを提供する。 - 特許庁
  • In this reuse propriety determining method, analysis such as steady analysis, characteristic value analysis and dynamic response analysis is made on the operating sound of equipment in operation to carry out stratification of sound information for every part.
    本発明の再使用可否判定方法によれば、稼働している機器の稼働音を定常解析、固有値解析、動的応答解析などの解析を行い、部品毎の音情報へと層別する。 - 特許庁
  • Thus, errors about identification of lipid decrease and the analysis speed increases, so that high throughput analysis is enabled, and an analysis method extremely useful for study of lipid analysis is provided.
    本発明により脂質の同定についてのエラーが低減し、解析速度が向上するので、ハイスループット解析が可能となり、脂質分析の研究において非常に有用な解析手法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an easy glycoprotein structure analysis method, capable of precisely and rapidly performing peptide sequence analysis, sugar chain sequence analysis and analysis of sugar chain binding sites.
    質量分析装置を用いて、ペプチドシーケンス解析、糖鎖シーケンス解析、及び糖鎖結合部位の解析を正確に且つ迅速に行うことができる、簡便な糖タンパク質の構造解析方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an FEM (finite element method) analysis job management system, capable of automatically estimating the execution time of calculation job of FEM analysis, on the basis of an actual measurement value by an analysis processor, and of notifying the user of the executing time.
    FEM解析の計算ジョブの実行時間を解析処理装置での実測値を基に自動的に見積って利用者に通知することが可能なFEM解析ジョブ管理システムを提供する。 - 特許庁
  • In the case the stationary analysis is performed by using this initial model, the stationary analysis is performed by making the most of feature of conventional mixed analysis method and streamline integration method and by parameter setting of the rate.
    さらに、この初期モデルを使用して定常解析を行う場合には、従来の「混合解析法」と「流線積分法」の特徴を生かし、その割合をパラメータ設定して定常解析を行う。 - 特許庁
  • To provide an automatic analysis device capable of turning off power automatically without any need for attendance of an operator, and to provide an automatic analysis system and a method of automatically turning off the power of the automatic analysis system.
    オペレータの立会いを要することなく、自動で電源オフすることができる自動分析装置、自動分析システムおよびその自動電源オフ方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a source code analysis method which reduces the working load of a developer and can perform a source code analysis with high accuracy in source code analysis work during software development, and to provide a source code analysis support system for executing the source code analysis method.
    ソフトウェア開発時のソースコード解析作業において、開発者の作業負荷軽減を図るとともに、精度の高いソースコード解析を行うことができるソースコード解析方法、およびこれを実施するソースコード解析支援システムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a quantitative analyzing method of asbestos which enables the execution of the quantitative analysis of asbestos in an extremely short time, while keeping high analysis accuracy.
    高い分析精度を維持しつつ、非常に短時間で分析を行うことができるアスベストの定量分析方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and an analysis device for obtaining a residual stress distribution of an complicated shape by an elasticity analysis by using a universal analysis code.
    汎用解析コードを用いて、弾性解析により複雑な形状の残留応力分布を求める方法および解析装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide an information analysis device, its control method and a program that support an analysis of operation history information on a terminal, and provide a useful analysis result.
    端末の操作履歴情報の分析を支援し、有用な分析結果を提供する情報分析装置及びその制御方法、プログラムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a human network analysis system capable of protecting privacy and sharing a public human network, and to provide a human network analysis server and a human network analysis method.
    プライバシーの保護を可能とし、公的な人的ネットワークの共有を可能とする人的ネットワーク分析システム、分析サーバ及び分析方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a platelet analysis method and a platelet analysis system which realize an analysis of a single platelet in thrombus formation induced artificially.
    人為的に誘発した血栓形成における単一の血小板の解析を実現する血小板解析方法及び血小板解析システムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a process analysis support apparatus and a process analysis support method capable of effectively supporting process analysis by providing proper information.
    適切な情報を提示することにより、プロセス解析を効果的に支援できるプロセス解析支援装置およびプロセス解析支援方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a circuit evaluation method, an evaluation device and an evaluation program, wherein device analysis and circuit analysis are cooperated, allowing high-accuracy analysis of a circuit.
    デバイス解析と回路解析を連携させた、精度の高い回路の解析が可能な回路評価方法、評価装置及び評価プログラムを提供する。 - 特許庁
  • To provide an analysis method, an analysis device and an analysis program for surely predicting the scatter of toner in accordance with various conditions in a transfer process.
    転写プロセスにおける各種条件に応じたトナーの飛び散りを正確に予測することができる解析方法、解析装置及び解析プログラムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a specific binding analysis method for accurately performing the qualitative analysis and the quantitative analysis of an analyte in a sample without being influenced by a prozone phenomenon.
    プロゾーン現象の影響がなく、試料中の分析対象物を正確に定性および定量することができる特異結合分析方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a fund analysis device, a fund analysis program and a fund analysis method allowing an enterprise proprietor to intuitively comprehend financial contents of an enterprise.
    企業経営者に対して企業の財務内容が直感的に把握できる資金分析装置、資金分析プログラムおよび資金分析方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a word of mouth information analysis method capable of collecting the word of mouth information of a large number of persons to provide a high-reliability analysis report.
    多数の人の口コミ情報を収集して、信頼性の高い解析レポートを提供することができる口コミ情報解析方法を提供する。 - 特許庁
  • In the domain L of this analysis system, the behavior of the solid wall 1, that of the fluid 2, and that of the coat 3 are analyzed by means of a Lagrangiantic flow analysis method.
    この解析体系のうち領域Lではラグランジアン的な流動解析法により固体壁1と流体2と皮膜3との挙動を解析する。 - 特許庁
  • To provide an analysis method for waveforms by the method of Fourier transformation which can surely suppress analysis errors.
    本発明は、解析誤差を確実に抑えることのできるフーリエ変換法による波形解析方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The method is for simulating performance of a tire performing numerical analysis of the tire using a computer.
    コンピュータを用いてタイヤの数値解析を行うタイヤのシミュレーション方法である。 - 特許庁
  • The method is especially suited for analysis of silicon nitride etchants comprising a high concentration of phosphoric acid.
    特に、高濃度のリン酸を含む窒化ケイ素エッチング剤の分析に好適である。 - 特許庁
  • QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD OF STEERING CHARACTERISTICS FOR HANDLING STABILITY OF VEHICLE/TIRE
    車両/タイヤの操縦安定性のためのステア特性の定量的な分析方法 - 特許庁
  • METHOD FOR ANALYSIS, CONTROL, AUTOMATION AND INFORMATION MANAGEMENT OF LIFE-CYCLE-PROCESS OF TECHNICAL PRODUCT
    技術製品のライフサイクルプロセスの分析、制御、自動化及び情報管理方法 - 特許庁
  • METHOD FOR COLLECTING INORGANIC MINERAL COATING OF STEEL SHEET EXCELLENT IN QUANTITATIVITY OF COMPOSITION ANALYSIS
    組成分析の定量性に優れた鋼板の無機鉱物質皮膜採取方法 - 特許庁
  • SYSTEM AND METHOD FOR DEFECT ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR AS WELL AS MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR
    半導体不良解析システムおよびその方法並びに半導体の製造方法 - 特許庁
  • STANDARD SUBSTANCE FOR ANALYSIS OF FOUR KINDS OF HALOGEN AND SULFUR, AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME
    4種のハロゲン及び硫黄分析用の標準物質及びその製造方法 - 特許庁
  • METHOD OF QUANTITATIVE ANALYSIS ON ASPECT OF TISSUE BY ULTRASOUND DIAGNOSTIC EQUIPMENT AND ULTRASOUND
    超音波診断装置及び超音波による組織性状の定量解析方法 - 特許庁
  • SYSTEM FOR SITUATION ANALYSIS OF MAIL USE, SUPPORT SYSTEM, METHOD AND PROGRAM FOR IMPROVEMENT OF JOB EFFICIENCY
    メール利用状況分析システム、業務効率化支援システム、方法、及び、プログラム - 特許庁
  • To provide an analysis method and an analysis device capable of improving the convergence of analysis based on an electromagnetic field in a space where multiple reflection occurs, and of reducing a calculation time to be spent on analysis.
    多重反射が生じている空間内の電磁界に基づく解析の収束性が良くなり、解析にかかる計算時間が削減できる解析方法および解析装置を提供することを課題としている。 - 特許庁
  • To provide an analysis device capable of reducing the amount of operations in analyzing contact of objects with each other, to provide an analysis method, an analysis processing program and a recording medium with the analysis processing program recorded thereon.
    物体同士の接触について解析する場合に演算量を低減させることができる解析装置、解析方法、解析処理プログラムおよび解析処理プログラムを記録した記録媒体を提供する。 - 特許庁
  • In that case, the radio wave propagation analyzer 12 does not perform the radio wave propagation analysis in the same analysis method on all of the radio wave reception nodes, but is able to change the analysis method of the radio wave propagation analysis for each radio wave reception node.
    その際、電波伝搬解析部12は、全ての電波受信ノードに対して同じ解析方法で電波伝搬解析を行うのではなく、電波受信ノードごとに電波伝搬解析の解析方法を異ならせることができる。 - 特許庁
  • To provide a complex model analysis device capable of stably performing analysis even though lateral deformation is applied to a complex model, and to provide a complex model analysis method, a complex model analysis program, a method of manufacturing a tire, and a pneumatic tire.
    複合体モデルに横変形を与えた場合でも安定して解析することができる複合体モデル解析装置、複合体モデル解析方法、複合体モデル解析プログラム、タイヤ製造方法、及び空気入りタイヤを提供する。 - 特許庁
  • A a mechanical learning method adopts data on an MS peak acquired by MS analysis of metabolite (mass analysis of protein).
    代謝物のMS解析(蛋白質の質量分析)から得られるMSピークのデータを用いて機械学習法に適用する。 - 特許庁
  • To provide an analysis method, an analyzer and an analysis program capable of stopping the operation of a program at a desired point.
    所望の位置でプログラムの動作を停止することができる解析方法、解析装置及び解析プログラムを提供すること。 - 特許庁
  • To provide a defect analysis method for a semiconductor device that takes defect analysis of a plurality of devices formed on a wafer with high precision.
    ウェハに形成される複数の装置について高い精度で装置の不良解析を行う不良解析方法を提供する。 - 特許庁
  • SUBSTRATE NOISE ANALYSIS METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SUBSTRATE NOISE ANALYSIS DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
    半導体集積回路の基板ノイズ解析方法、半導体集積回路および半導体集積回路の基板ノイズ解析装置 - 特許庁
<前へ 1 2 .... 14 15 16 17 18 19 20 21 22 .... 93 94 次へ>

例文データの著作権について

  • 特許庁
    Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.