「method of analysis」を含む例文一覧(4662)
＜前へ 1 2 .... 27 28 29 30 31 32 33 34 35 .... 93 94 次へ＞- To provide a graphite crucible of using for analysis by alkaline fusion method which is composed with inexpensive material, even if sample contains platinum and alloying component, and to provide an analysis method, capable of performing efficient analysis with high precision by alkaline fusion method by using the graphite crucible concerned.
安価な材料からなり、試料が白金と合金化する成分を含んでいても、アルカリ溶融法による分析に使用することが可能な黒鉛坩堝、および該黒鉛坩堝を使用してアルカリ溶融法により効率よく精度の高い分析を行うことが可能な分析方法を提供する。 - 特許庁 - In a correction method when analyzing the plurality types of analysis items from a single type of specimen, the plurality of analysis items having similar reaction conditions in the analysis out of the plurality types of analysis items are corrected based on the same blank measurement result.
１種類の試料から複数種類の分析項目について分析を行う場合に、各分析項目を分析する際に補正を施す方法において、複数種類の分析項目のうち、分析時における反応条件が類似する複数の分析項目については、同一のブランク測定の結果に基づいて補正を施す。 - 特許庁 - WEARING STATE ANALYSIS METHOD OF ASSEMBLY STRUCTURE, MANUFACTURE OF CLOTHING ACCESSARIES AND MANUFACTURING SUPPORTING DEVICE
組立構造体の着装状態解析方法ならびに衣料服飾品の製造方法および製造支援装置 - 特許庁 - ANALYSIS METHOD OF VERY SMALL AMOUNT OF Pd, Rh AND Ru AND HIGH-FREQUENCY PLASMA MASS ANALYZER USED THEREIN
微量Ｐｄ、Ｒｈ及びＲｕの分析方法及び該方法に用いる高周波プラズマ質量分析装置 - 特許庁 - To provide a technique which enables the more accurate analysis of the constitution of a friction material in a friction material analyzing method.
摩擦材の分析方法に関し、摩擦材の構成をより正確に分析可能な技術を提供する。 - 特許庁 - To provide a method in which the sensitivity of a laser spectroscopic analysis is enhanced by the multiple reflection of a laser beam.
レーザ分光分析において、レーザ光の多重反射により分光分析の感度を飛躍的に向上させる。 - 特許庁 - The method for inspecting the allergic disease severity, based on the result of analysis obtained by analyzing the expression amount of the NLRP3 gene is also provided.
NLRP3遺伝子の発現量を分析し、該分析結果に基づいてアレルギー疾患劇症化を検査する方法。 - 特許庁 - To provide an image analysis method of RICS for mapping the number of molecules or a diffusion constant to display the same.
分子数または拡散定数をマッピングして表示するＲＩＣＳの画像解析方法を提供する。 - 特許庁 - The position of the imaged reflected light on the display can be specified by a method of well-known image analysis.
撮像した反射光のディスプレイ上での位置は、公知の画像解析の手法により特定することができる。 - 特許庁 - The amount of solvent, capable of permeating through the film or the coating, can be measured by polarization analysis method, mass spectrometry, or the like.
膜またはコーティングを浸透できる溶媒の量は、偏光解析法、質量分析法などで測定できる。 - 特許庁 - To provide a particle behavior analysis method capable of accurately determining the behavior of particles and elastic structure.
粒子と弾性構造物の挙動を精度良く求めることができる粒子挙動解析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method capable of performing accurately quantitative analysis of a CaO-containing inclusion in a steel.
鋼中のＣａＯ含有介在物の定量分析を精度よく行うことのできる方法を提案する。 - 特許庁 - To provide an apparatus and method for analysis of a semiconductor device, capable of easily specifying defect locations.
不具合箇所を容易に特定することのできる半導体装置の解析装置及び解析方法の提供。 - 特許庁 - LOCATING METHOD AND SYSTEM OF BORING ROD, PROGRAM FOR DRILLING LOCUS ANALYSIS OF BORING ROD, AND STORAGE MEDIUM
ボーリングロッドのロケーティング方法、ボーリングロッドのロケーティングシステム、ボーリングロッドの掘削軌跡解析用プログラム及び記憶媒体 - 特許庁 - A copy number of a gene before the initiation of PCR can be accurately determined by this data analysis method.
ＰＣＲ開始前の遺伝子のコピー数は、本発明のデータ解析方法により正確に求めることができる。 - 特許庁 - MANUFACTURE OF SAMPLE FOR ICP EMISSION ANALYSIS OF SOLDER COMPONENT AND ICP EMISSION ANALYTICAL METHOD FOR SOLDER COMPONENT
半田成分のＩＣＰ発光分析用試料の作製方法および半田成分のＩＣＰ発光分析方法 - 特許庁 - MEASURING METHOD OF SUBSTANCE TO BE INSPECTED USING COUPLING AFFINITY AND ANALYSIS CONTROL METHOD OF COUPLING AFFINITY FOR MEASURING SUBSTANCE TO BE INSPECTED
結合親和性を利用する被検物質の測定方法、及び被検物質の測定のための結合親和性解析の制御方法 - 特許庁 - In this quantity determining method, it is preferable to simultaneously measure the concentration of creatinine and that of potassium by using a near infrared analysis method.
この定量方法では、近赤外線分析法を用いてクレアチニン濃度及びカリウム濃度を同時に測定するのが好ましい。 - 特許庁 - To provide a sample container for analyzing molten zinc and an analysis method using the container, capable of analyzing accurately and simply a composition of a galvanizing bath, even if applying analysis by a quick dry method.
迅速な乾式法による分析を適用しても、亜鉛めっき浴の組成を正確かつ簡便に分析できる溶融亜鉛の分析用サンプル容器およびそれを用いた分析方法を提供する。 - 特許庁 - Further, the analysis time can be shortened to about 1/60, as compared with that in the conventional method, by applying a microchip electrophoresis method developed recently for the purpose of high-speed analysis of DNA.
また、近年ＤＮＡの高速分析を目的として開発されたマイクロチップ電気泳動法を応用することにより、従来法と比較して分析時間を約６０倍短縮することができる。 - 特許庁 - To provide a method for producing lithium iron sulfide (Li_2FeS_2) of a single phase in an XRD analysis and to provide a method for producing lithium transition metal sulfide of a single phase in an XRD analysis.
ＸＲＤ分析において単一相の硫化リチウム鉄（Ｌｉ_２ＦｅＳ_２）を製造する方法、及びＸＲＤ分析において単一相の硫化リチウム遷移金属を製造する方法を提供する。 - 特許庁 - When program analysis is executed, loading (101), the analysis and display (102, 103) of the measuring place/measuring method and work information designation (104) is carried out, and then the propriety of the analyzed measuring place/method is determined (105).
プログラム解析時には、ローディング（１０１）、計測箇所／計測方法を解析、表示（１０２、１０３）、ワーク情報指定（１０４）に続いて、解析した計測箇所／方法の良否判定を行う（１０５）。 - 特許庁 - To provide an analysis transmission service method, a service company server, a terminal and computer software, allowing reduction of time and labor necessary for analysis of a visit history of a visitor.
見学者の見学履歴の解析に要する時間と労力を削減可能とする解析送信サービス方法とサービス会社サーバ及び端末並びにコンピュータ・ソフトウエアを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for analysis of cell cycle capable of acquiring data useful for the analysis of a cell cycle, even if cells are recognized as clusters without excluding the cluster.
細胞が塊として認識されていても、それを除外することなく細胞周期解析に有用なデータを引き出すことが可能な細胞周期解析方法を提供する。 - 特許庁 - The form of this implementation is a method for performing electromagnetic field analysis of a wide range calculation or a very small model by performing independent FDTD analysis with different cell sizes a plurality of times.
本実施の形態は、セルサイズの異なる独立したＦＤＴＤ解析を複数回行うことで、広範囲の計算、もしくは非常に微細なモデルの電磁界解析を行う方法である。 - 特許庁 - To provide a Japanese morpheme analysis device for reducing a using quantity of memory capacity while keeping an advantage of the morpheme analysis device using a cost minimum method of being high in accuracy.
精度が高いというコスト最小法を用いた形態素解析装置の利点を残したままで、メモリ容量の使用量が小さい、日本語形態素解析装置を提供する。 - 特許庁 - In this database processing method, to every inquiry to the database, the syntactic analysis, the semantic analysis and the error inspection of the inquiry are performed beforehand dissociating with the time of execution of the inquiry.
データベース処理方法においては、データベースへの問合せに対して、問合せの構文解析、意味解析、及びエラー検査を該問合わせの実行時と分離して予め行う。 - 特許庁 - To provide a laser spectroscopic analysis method, in which the advantage of laser spectroscopy is utilized and which the concentration analysis of a plurality of components can be performed readily and surely, using a single laser light source.
レーザ分光法の利点を生かし、単一のレーザ光源で、複数成分の濃度分析を容易にかつ確実に行うことができるレーザ分光分析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an operation managing method for an analysis system capable of grasping the operation state of an analysis of a user destination without manual aid and proposing correction and praise to a user.
ユーザ先の分析システムの運用状況を人手を介することなく把握でき、ユーザに対して是正や褒賞を提案できる分析システムの運用管理方法を提供する。 - 特許庁 - ANALYSIS METHOD FOR PATTERN SELECTION, ARRANGEMENT, AND COLORING IN ART THERAPY, DIAGNOSTIC METHOD FOR PSYCHOLOGICAL SYMPTOM BY PATTERN ANALYSIS OF ART THERAPY, AND RECORDING MEDIUM RECORDING PROGRAMS FOR EXECUTING THOSE
絵画療法の模様選択及び配列、色塗り分析方法、絵画療法の模様分析による心理症状の診断方法、及びこれを行うためのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁 - To provide a structure analysis method of a crystal applicable even to a case where a peak usable as a reference peak cannot be observed near an analysis object peak in an X-ray diffraction method.
Ｘ線回折法において、基準ピークとなるようなピークが解析対象ピークの近傍に観測できないような場合にも適用できる結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁 - A characteristic finite element method characteristic analysis model 10 is produced from shape data of the structure, and individual press component data 11 are extracted from the finite element method characteristic analysis model 10.
構造体の形状データから特性有限要素法特性解析モデル１０を作成し、この有限要素法特性解析モデル１０から個別プレス部品データ１１を抽出する。 - 特許庁 - To provide a portable information storage medium capable of acquiring history of desired data and performing analysis of processing in a new method, a program therefor, and a processing analysis method for the portable information storage medium.
所望のデータの履歴を取得することができ、新たな方法で処理の解析を行うことが可能な携帯型情報記憶媒、そのプログラム及び携帯型情報記憶媒体の処理解析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a regulation method for a liquid sample for fluorescent X-ray analysis allowing the fluorescent X-ray analysis by a spot method, even in arsenic or the like of a heavy metal of a positive ion vaporized easily when dried, and a fluoride ion of a negative ion.
乾燥時に揮散しやすい＋イオンの重金属のヒ素などや−イオンのフッ素であっても、点滴法により蛍光Ｘ線分析できる蛍光Ｘ線分析用液体試料の調整方法を提供する。 - 特許庁 - The circuit simulation device 10 comprises an analysis selection part 223 selecting either of direct method and repetitive method as a solution determination method for a coefficient matrix corresponding to a circuit equation of an analysis object circuit; and analysis processing parts 224 and 225 finding a solution to the coefficient matrix by the selected solution determination method.
本発明による回路シミュレーション装置１０は、直接法と反復法のいずれかを、解析対象回路の回路方程式に対応する係数行列の求解方法として選択する解析選択部２２３と、選択された求解方法によって係数行列の解を求める解析処理部２２４、２２５とを具備する。 - 特許庁 - SILICON ELIMINATION METHOD FOR SILICON WAFER SURFACE, LIQUID SAMPLE EXTRACTION METHOD FOR REGION UNDER SURFACE LAYER OF SILICON WAFER, AND ANALYSIS METHOD FOR METAL IMPURITY IN THE REGION
シリコンウェーハ表面の珪素脱離方法、シリコンウェーハ表層下領域の液体サンプル採取方法及びその金属不純物分析方法 - 特許庁 - To simply and quickly perform thermal analysis of a substrate by creating a proper model without depending on a specialist concerning the thermal analysis of the substrate mounting a heat generation component in regard to a thermal analysis modelling method and a thermal analysis modelling program for creating the model performing the thermal analysis of the substrate mounting the heat generation component.
本発明は、発熱する部品を実装する基板の熱解析を行なうモデルを作成する熱解析モデリング方法および熱解析モデリングプログラムに関し、発熱部品を実装する基板の熱解析を専門家に依存することなく、適切なモデルを生成して簡易かつ迅速に基板の熱解析を行なうことを目的とする。 - 特許庁 - According to the method using the ICP emission spectrophotometer, a measurement over a wide quantitative range is enabled which was difficult for a conventional TOC analysis method such as dry oxidization infrared analysis or wet oxidization infrared analysis and a measurement of TOC contained in a high matrix sample solution is also enabled for which quantitative analysis was difficult for an ICP mass analysis method.
そして、ＩＣＰ発光分光分析装置を用いた本発明方法によれば、乾式酸化赤外線分析、湿式酸化赤外線分析等の従来のＴＯＣ分析法では困難であった広い定量範囲の測定が可能となり、かつ、ＩＣＰ質量分析法では定量分析が困難であった高マトリックス試料液中に含まれるＴＯＣの測定も可能となる。 - 特許庁 - To provide a method for analyzing properties of bedrock which enables attainment of determination of enhanced reliability, a method for construction of a tunnel using the method for analysis and a tunnel construction support system.
より信頼度の高い判定を可能とする岩盤性状解析方法、この岩盤性状解析方法を用いるトンネル施工方法、および、トンネル施工支援システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a method of analysis by using a nucleic acid microarray, capable of detecting the change of data originated from the unevenness of amounts of probes, etc., among spots.
スポット間でのプローブ量等の不均一などに由来するデータの変動を検知しうる核酸マイクロアレイを用いた解析方法の提供。 - 特許庁 - To provide a characteristic measuring method useful for analysis of generation of a defect of an element found after shipping, and a substrate used for this method.
出荷後に発見された素子の欠陥につき、その欠陥発生の解析に有用な特性測定方法及びこの方法に用いられる基板を得る。 - 特許庁 - ANALYZING METHOD OF WORKING STATE, ANALYSIS SYSTEM OF WORKING STATE TO EXECUTE THE SAME METHOD AND MANAGING DEVICE OF WORKING STATE USING THE SAME SYSTEM
稼動状態の分析方法及びこの方法を実施する稼動状態の分析システム並びにこのシステムを使用した稼動状態の管理装置 - 特許庁 - To provide a method of identifying an immunoregulatory peptide, and more specifically, a novel method of identifying an antigen peptide by multiplex analysis of the immune response.
免疫調節ペプチドの同定方法、および、より具体的には、免疫応答の多重分析による抗原ペプチドの同定のための新規方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a semiconductor device which method contains composition distribution analysis of a vapor deposition film stuck on an inner surface of a contact hole having an aperture of deep submicron order.
ディープサブミクロンオーダーの口径のコンタクトホールの内面に付着した蒸着膜の組成分布分析を含む半導体装置の製造方法。 - 特許庁 - In this analysis method for determining composition ratio of elements constituting the solid sample using the results of element analysis, laser is applied to the solid sample containing light elements to generate ablation, and the generated gasified substance is introduced into an element analysis device by carrier gas to perform element analysis.
軽元素を含有する固体試料にレーザを照射してアブレーションを生ぜしめ、生じたガス化物をキャリアガスにより元素分析装置に誘導して元素分析を行い、元素分析の結果を用いて固体試料を構成する元素の組成比を決定する分析方法。 - 特許庁 - To provide a pretreatment column manufacturable with an easy method and capable of easily performing the analysis of an organic halogen compound, and an easy pretreatment method for the analysis of the organic halogen compound in a sample by use of the pretreatment column.
簡便な方法で作製でき、有機ハロゲン化合物の分析を簡便に行うことができる前処理カラム、およびその前処理カラムを使用した試料中の有機ハロゲン化合物の分析の簡便な前処理方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an analysis apparatus and an analysis method capable of effectively and accurately knowing the meaning, background and tendency of a number of site information items on the basis of these information items disclosed on the Internet.
インターネット上に公開された多くのサイト情報を基に、それらの情報が持つ意味や背景、傾向を効果的に正確に知ることができる分析装置及び分析方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an automatic analysis device and an automatic analysis method whereby the presence or absence of abnormalities is determined with high accuracy from reaction process data obtained during measurement of concentrations of chemical components and activity ratios of enzyme.
化学成分の濃度や酵素の活性度を測定する際に得られる反応過程データから，異常の有無を高精度に判定する自動分析装置および自動分析方法を提供する。 - 特許庁 - This calculation method for executing CAE analysis by a design of experiments is provided to allocate an experimental unit into a plurality of divided calculation nodes, and to cluster the plurality of calculation nodes of the CAE analysis.
ＣＡＥ解析を実験計画法により実行する計算方法において、実験単位を複数に分割した計算ノードに割り付けることにより、該ＣＡＥ解析の複数の計算ノードをクラスター化する。 - 特許庁 - To provide a variation analysis device and variation analysis method which are capable of analyzing efficiently distribution of circuit characteristics with the minimum number of times of circuit simulation in accordance with accuracy required by a designer.
設計者所望の精度に対して、必要最小限の回路シミュレーション回数で効率的に回路特性の分布を解析できるばらつき解析装置およびばらつき解析方法を提供する。 - 特許庁
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