「microprobe」を含む例文一覧(45)
- MICROPROBE
マイクロプローブ - 特許庁 - MICROPROBE PIN
マイクロプローブピン - 特許庁 - METHOD OF MANUFACTURING MICROPROBE GUIDE, MICROPROBE UNIT USING MICROPROBE GUIDE, AND STAGGERED TYPE MICROPROBE UNIT
マイクロプローブガイドの製造方法、マイクロプローブガイドを用いるマイクロプローブユニット及び千鳥配置型マイクロプローブユニット - 特許庁 - MICROPROBE MANUFACTURING METHOD
マイクロプローブの製造方法 - 特許庁 - MICROPROBE, RECORDING APPARATUS, AND METHOD OF MANUFACTURING MICROPROBE
マイクロプローブ、記録装置、及びマイクロプローブの製造方法 - 特許庁 - ION BEAM EQUIPMENT AND AUGER MICROPROBE
イオンビーム装置およびオージェマイクロプローブ - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH MAGNETIC MICROPROBE
磁性マイクロプローブを具備した電子顕微鏡 - 特許庁 - MICROPROBE ANALYSIS DEVICE AND ENZYME ANALYZING METHOD
微小分析デバイスと酵素の分析方法 - 特許庁 - He analyzed the data obtained from the microprobe.
彼はミクログローブから得たデータを分析した。 - Weblio英語基本例文集 - MICROPROBE AND APPARATUS FOR MEASURING SURFACE OF SAMPLE
マイクロプローブおよび試料表面測定装置 - 特許庁 - A staggered type microprobe unit 40 is constituted by combining back to back an upper side microprobe unit 42 and a lower side microprobe unit 44.
千鳥配置型マイクロプローブユニット４０は、上側マイクロプローブユニット４２と下側マイクロプローブユニット４４とを背中合わせで組み合わされて構成される。 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRICAL CIRCUIT CHECKING MICROPROBE
電気回路検査用マイクロプローブの製造方法 - 特許庁 - MICROPROBE, MANUFACTURING APPARATUS THEREOF, AND METHOD
マイクロプローブ並びにその製造装置及び方法 - 特許庁 - MICROPROBE AND SCANNING PROBE DEVICE USING IT
マイクロプローブおよびそれを用いた走査型プローブ装置 - 特許庁 - MICROPROBE AND ELECTRICAL MEASUREMENT SYSTEM USING THE SAME
マイクロプローブ及びこれを用いた電気的測定システム - 特許庁 - OPTICAL MICROPROBE AND SPECTRAL ANALYSIS METHOD OF MATERIAL
光学的微細プローベ及び材料のスペクトル分析方法 - 特許庁 - MICROPROBE DEVICE WITH ELASTIC ELECTRIC CONTACT AND ITS MANUFACTURE
弾性電気接点微小プローブ装置及びその製法 - 特許庁 - The lower side microprobe unit 44 has a similar configuration.
下側マイクロプローブユニット４４も同様の構成である。 - 特許庁 - MICROPROBE SUPPORT COMPONENT, MICROPROBE DEVICE, OPTICAL COMPONENT, ELECTRONIC CONTROL COMPONENT, PATTERNING MASK AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
マイクロプローブ支持部品、マイクロプローブ装置、光学部品、電子制御部品、パターニング用マスク及びそれらの製造方法 - 特許庁 - To implement a microprobe having a useful protective layer on its surface.
表面に有用な保護層をもったマイクロプローブを実現する。 - 特許庁 - The microprobe 15 is to be movable in up-and-down and back-and-forth directions.
該マイクロプローブ１５は上下前後方向に移動可能とする。 - 特許庁 - The upper side microprobe unit 42 is constituted of a microprobe guide 70 having a plurality of grooves 72, and microprobes 50 arranged respectively on each groove 72.
上側マイクロプローブユニット４２は、複数の溝７２を有するマイクロプローブガイド７０と、各溝７２にそれぞれ配置されるマイクロプローブ５０とから構成される。 - 特許庁 - To provide a microprobe capable of easily manufacturing a probe tip part with low costs.
プローブ先端部を安価かつ容易に製造できるマイクロプローブを提供する。 - 特許庁 - The sample component is analyzed using a microprobe while the deposited state on the plate is kept.
試料成分をプレート上で析出した状態のままマイクロプローブを使用して分析する。 - 特許庁 - To provide a microprobe capable of simplifying the constitution, improving measuring accuracy on the sample surface, and not requiring alignment adjustment in each measurement, and a scanning probe device using the microprobe.
構成を簡易にすることができるとともに、試料面の測定精度を向上させることができ、しかも測定毎のアライメント調整を不要にすることができるマイクロプローブおよびそれを用いた走査型プローブ装置を得ること。 - 特許庁 - In the correction method of a color filter substrate, a micromanipulator including a microprobe is moved to a prescribed position on the color filter substrate, and a foreign matter deposited on the color filter substrate is removed by manipulation operation of the microprobe.
マイクロプローブを備えるマイクロマニピュレータをカラーフィルタ基板上の所定の位置に移動し、マイクロプローブのマニピュレーション操作により、前記カラーフィルタ基板上に付着した異物を除去することを特徴とするカラーフィルタ基板の修正方法。 - 特許庁 - A microprobe in one embodiment includes a protective mounting, an insulation layer and an electrode layer arranged in this order in a first direction.
実施形態によれば、保護台、絶縁層、電極層がこの順番で第１の方向に配列したマイクロプローブが提供される。 - 特許庁 - Upon finishing the processing and observation, the microprobe 12 is moved and evacuated in order to separate the conductive plate 19 from above the sample 7.
加工、観察が終了したら、導電板１９を試料７上から離すため、マイクロプローブ１２を動かし、退避させる。 - 特許庁 - To provide a microprobe for a MEMS memory having wear resistance at a probe tip, while achieving stable recording/reproducing characteristics.
安定な記録／再生特性を実現することができ、かつプローブ先端に耐摩耗性を有するＭＥＭＳメモリ用マイクロプローブを提供する。 - 特許庁 - A frame-like conductive plate 19 fixed to a microprobe 12 via a fixing part 501 is grounded (touched) to an insulating sample 7.
マイクロプローブ１２に固定部５０１を介して固定された枠状の導電板１９を絶縁性試料７に接地（接触）させる。 - 特許庁 - The quantity and distribution of a specific element in the cultured tissue area analyzed with an electronic microprobe analyzer or the like to determine the implantation suitability of the cultured tissue.
培養組織の移植適性を判定するために、電子マイクロプローブアナライザ等を用いて培養組織における特定の元素の量及び分布を分析する。 - 特許庁 - A foreign substance 1 or a scraped residue 2 of the foreign substance deposited and accumulated on a foreign substance removal probe 3 to an amount analyzable for the composition is subjected to composition analysis by a laser microprobe mass spectrometry.
異物除去探針3に組成分析可能な量まで付着蓄積した異物1または異物の削り滓2をレーザーマイクロプローブ質量分析法で組成分析する。 - 特許庁 - In an electron microscope provided with electron beam bi-prisms, a microprobe 15 to shield an electron beam is installed between an electron gun 1 of the microscope and a holder to hold the sample 11.
電子線バイプリズムを備えた電子顕微鏡において、該顕微鏡の電子銃１と試料１１を保持するホルダの間に電子線を遮蔽するマイクロプローブ１５を設ける。 - 特許庁 - To provide a microprobe making the fine movement of a cantilever possible by forming a piezoelectric resistor on the cantilever and an apparatus for measuring the surface of a sample using the same.
カンチレバー上にピエゾ抵抗体を形成することで微動させることを可能にしたマイクロプローブおよびそのマイクロプローブを用いた試料表面測定装置を提供すること。 - 特許庁 - Since charges on the sample 7 move in the direction of the device via the conductive plate 19 and the microprobe 12, charge-up on the surface of the sample 7 can be prevented.
このとき、試料７上の電荷は、導電板１９及びマイクロプローブ１２を介して装置方向に移動するため、試料７の表面がチャージアップすることが防止される。 - 特許庁 - To prevent the restoration of a wiring path by freely using microprobe technique, FIB working technique, etc. and the alteration and copying of confidential information inside the semiconductor device by the generation of a pad terminal etc.
マイクロプローブ技術やＦＩＢ加工技術等を駆使した配線経路の復元や、パッド端子の生成等による半導体装置内部の機密情報の改ざん・コピーを防止可能にする。 - 特許庁 - A foreign substance 1 or a scraped residue 2 of the foreign substance is moved and gathered by a foreign substance removal probe 3 to an amount analyzable for the composition, which is then subjected to composition analysis by laser microprobe mass spectrometry.
異物除去探針3で異物1または異物の削り滓2を移動させ組成分析可能な量まで寄せ集めたものにレーザーマイクロプローブ質量分析法で組成分析する。 - 特許庁 - To remarkably reduce treatment operation of a sample and a substrate in measurement and impart high reliability to analytical data in a microprobe analysis device for carrying out various kinds of calibration by utilizing enzyme activity, etc.
酵素活性等を利用して各種の検量を行なう微小分析装置において、測定に際しての試料や基質の取り扱い作業を大幅に軽減し、分析データに高い信頼性を付与できるようにする。 - 特許庁 - Performance of the contact probe and a measurement instrument using the contact probe is improved without changing the external shape by providing palladium-cobalt plating to a contact surface for a microprobe, a friction surface, and conductance constituting the contact probe.
コンタクトプローブを構成している探針、擦動面、導電の為の接触面にパラジウムコバルトメッキを施すことで外部形状を変えることなくコンタクトプローブまたはコンタクトプローブを使った計測器の性能を向上させる。 - 特許庁 - The microprobe guides 70, 71 having the plurality of grooves 72 are acquired by forming each elongate deep groove having the groove depth and the groove width corresponding to the height and the width of a shaft part of the microprobes 50, 51 by using an anisotropic dry etching method to a silicon plate.
複数の溝７２を有するマイクロプローブガイド７０,７１は、シリコンプレートに異方性ドライエッチング法を用い、マイクロプローブ５０，５１の軸部の高さと幅に対応した溝深さと溝幅で細長く深い溝を形成して得られる。 - 特許庁 - On a main surface of the microprobe formed in a second direction different from the first direction, a level difference is formed in at least the electrode layer, by which the electrode layer is divided into the first area and the second area.
前記第１の方向とは異なる第２の方向に形成された前記マイクロプローブの主面において、少なくとも前記電極層に段差が形成され、この段差により前記電極層が第１の領域と第２の領域とに区画される。 - 特許庁 - With the emission of focused ion beams, a micro sample piece is cut out of a sample substrate, and separated and picked out by a microprobe, and then the mesh held in the inclined groove of the sample stage face is inclined so that the side face of the mesh is directed perpendicular to the focused ion beams.
集束イオンビームの照射により試料基板から微小試料片を切り出し、マイクロプローブで分離摘出後、前記試料ステージ面の傾斜溝に挟み込まれたメッシュを、メッシュの側面が前記集束イオンビームに垂直な向きとなるように傾ける。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing an electrical circuit checking microprobe which ensures a good electrical contact between a surface electrode of a wiring board and a probe pin of a probe board and deals with a fine pitch regardless of parallelism between a surface of the checked wiring board and a surface of the probe board.
検査対象の配線基板表面とプローブ基板表面の平行度に拘わらず、配線基板の表面電極とプローブ基板のプローブピンとの良好な電気接触を確保し、微細なピッチに対応した電気回路検査用マイクロプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - A hydrogen-containing amorphous carbon (DLC) film layer is formed on the surface of a probe core material by means of high-frequency plasma chemical vapor deposition method, using a hydrocarbon gas as a source gas to form an electricity-insulating and highly hard protective film layer of a uniform thickness in the microprobe.
プローブ芯材の表面に、炭化水素ガスをソースガスとして用いた高周波プラズマ化学気相析出法によって水素含有アモルファス状炭素（ＤＬＣ）膜層を形成することにより、電気絶縁性、かつ高硬度性をもった均一な厚さの保護膜層を形成してなるマイクロプローブを実現できる。 - 特許庁 - A microprobe 10 is composed of a first lever part 16 having a free end on which a probe 11 is formed, a second lever part 18, having a leading end part from which the first lever part 16 is protruded and the support 15 for supporting the second lever part 18 and a piezoelectric resistor 14 for bending the second lever part 18, is provided on the second lever part 18.
探針１１が形成された自由端を有する第１のレバー部１６と、先端部において第１のレバー部１６が突出した第２のレバー部１８と、第２のレバー部１６を支持する支持部１５と、でマイクロプローブ１０を構成し、第２のレバー部１８上にその第２のレバー部１８を屈曲させるためのピエゾ抵抗体１４を設ける。 - 特許庁
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