To provide an evaluation method which enables the simple and rapid evaluation of the insulation reliability of a two-layered flexible substrate easy to produce a microquantity of ion migration in place of a conventional HHBT test method. 微量のイオンマイグレーションが発生しやすい2層フレキシブル基板の絶縁信頼性について、従来のHHBT試験方法に代えて、簡単且つ迅速に実施できる評価方法を提供する。 - 特許庁